1.分布式控制装置的测试插件，所述分布式控制装置包括数个接线端子，每个接线端子包括一个端子接线孔(22)及位于所述端子接线孔(22)内的导体(222)，其特征在于，所述测试插件(10)包括：
一个印刷电路板(12)；
数个探针，所述数个探针设置于所述印刷电路板(12)的一个表面(122)，且分别对应于所述数个端子接线孔(22)，所述数个探针由以下两种探针组成：
接触探针(162)，所述接触探针为可沿其轴向弹性伸缩的弹性探针；和
连接探针(164)，其能够伸入至所述端子接线孔(22)中与所述导体(222)接触并固定连接，且所述连接探针(164)固定连接后，能够使各所述接触探针(162)与对应的所述导体(222)弹性接触，
一个IDC插座(14)，其设置于所述印刷电路板(12)，且所述IDC插座(14)的各引脚通过所述印刷电路板(12)与各所述探针电气连接。
2.如权利要求1所述的测试插件，其特征在于，所述数个探针沿一直线间隔设置。
3.如权利要求2所述的测试插件，其特征在于，所述数个探针中包括两个连接探针(164)，所述两个连接探针(164)位于所述数个探针的首尾两端。
4.如权利要求2所述的测试插件，其特征在于，所述印刷电路板(12)包括：
一个第一表面(122)，所述数个探针设置于所述第一表面(122)的一个端部；和
一个与所述第一表面(122)背对的第二表面(124)，所述IDC插座(14)设置于所述第二表面(122)上远离所述数个探针的一端。
5.如权利要求1所述的测试插件，其特征在于，所述连接探针(164)也为弹性探针。
6.如权利要求1所述的测试插件，其特征在于，所述连接探针(164)为长度固定的探针。