专利名称：盘控制系统、盘控制装置以及盘控制方法
技术领域：
本发明涉及进行磁盘等存储装置的数据校验(以下称为"校验") 的盘控制技术。
背景技术：
近年来，作为通过把多个HDD (硬盘驱动器)结合成盘阵列，把其 作为1台HDD使用，以提高存取速度的技术，或通过对数据进行复用 来提高耐故障性的技术，采用了 RAID (Redundant Arrays of Independent Disks )技术。
例如，在这样的RAID技术中的以往的校验方法中， 一旦开始了校 验，在完成校验之前就不能停止该处理，在完成校验之前，对系统持续 附加一定的负荷，因此，存在着增加了 CPU使用率，使得其他处理的 处理速度变慢，或暂时中止的问题(例如参照专利文献l)。
作为改善这种不良情况的方法，有在CPU使用率达到一定程度以 上时，停止校验处理的CPU负荷控制处理技术(例如参照专利文献2)、 和通过细分进行校验的区域，缩短1个校验指令的处理时间的区域分割 处理技术(例如参照专利文献3)。
实施例3的盘控制系统能够任意设定进行校验的间隔。 (结构)
图7是表示实施例3的盘控制系统的结构的图。在实施例3的盘控 制系统中，在RAID控制器1的参数保存部4中能够保存表示实施校验 的间隔(时间)的校验实施间隔4d。其他的结构由于与实施例1的盘 控制系统的结构相同，所以为了说明的简单化，省略对该部分的说明。
(动作)
基于以上结构的实施例3的盘控制系统进行如下的动作。下面，结 合图8的动作流程图对该动作进行说明。
首先，在开始校验之前，读入保存在参数保存部4中的校验实施间 隔4d (步骤S20 ),根据该校验实施间隔4d,决定进行校验的间隔(时 间)(步骤S21 )，执行校验(步骤S22 )。
然后，根据该校验实施间隔4d的间隔(时间)，反复进行校验，在 整个系统的运行结束的同时结束校验。
(实施例3的效果)
如上所述，根据实施例3的盘控制系统，由于能够预先任意设定实 施校验的间隔，所以能够尽可能地减少校验对其他处理的影响。
[实施例4
实施例4的盘控制系统能够任意设定校验开始时间。 (结构)
图9是表示实施例4的盘控制系统的结构的图。在实施例4的盘控 制系统中，在RAID控制器1的参数保存部4中能够保存表示校验开始 时间(开始时间)的校验开始时间4e。其他的结构由于与实施例1的盘 控制系统的结构相同，所以为了说明的简单化，省略对该部分的说明。
(动作)
基于以上结构的实施例4的盘控制系统进行如下的动作。下面，结 合图IO的动作流程图对该动作进行说明。
首先，在开始校验之前，读入保存在参数保存部4中的校验开始时 间4e (步骤S30 )，根据该校验开始时间4e设定开始校验的时间(步骤 S31),在达到校验开始时间4e时(步骤S32 )，执行校验(步骤S32 )。 该校验开始时间由实际时间计时器进行监视，只要在达到了设定的时间 时，通过中断处理来进行校验即可。
然后，反复进行校验，在整个系统的运行结束的同时结束校验。
(实施例4的效果)
如上所述，根据实施例4的盘控制系统，由于能够任意设定开始校 验的时间，所以通过考虑系统启动后的初始设定等其他处理来设定校验 开始时间，能够尽可能地减少对其他处理的影响。
[实施例5
实施例5的盘控制系统根据CPU使用率来改变校验的频度。
(结构)
图11是表示实施例5的盘控制系统的结构的图。实施例5的盘控 制系统中，在RAID控制器1的参数保存部4中能够保存停止校验的作 为CPU使用率上限值的CPU-High (4f)、和延长校验实施间隔的作为 CPU使用率下限值的CPU-Low(4g)。其他的结构由于与实施例1的盘 控制系统的结构相同，所以为了说明的简单化，省略对该部分的说明。
另外，关于CPU使用率，通常，可通过询问OS (6)来取得。例 如，在OS ( 6 )是Windows的情况下，(Windows是美国Microsoft公 司的注册商标)，通过使用Performance Counter类等，可测定出CPU 的使用率等。
(动作)
基于以上结构的实施例5的盘控制系统进行如下的动作。下面，结 合图12的动作流程图对该动作进行说明。
首先，在开始校验之前，读入参数值CPU-High (4f)和CPU-Low Ug)(步骤S40)，在开始校验后(步骤S41)，采用上述的方法测定 CPU使用率a (步骤S42 )，根据该CPU使用率a，分别进行以下的处 理(步骤S43 )。
即，在CPU使用率a大于等于上限值CPU-High (4f)的情况下， 由于CPU处于Busy状态，所以暂时停止校验(步猓S45)，在经过了 规定时间后(步骤S46)，再次进行CPU使用率a的测定(步骤S47)， 在从上限值CPU-High ( 4f)下降了 Zch。/。左右，而成为非Busy状态时 (步骤S48)，再次开始校验(步骤S49 )。另外，作为Busy状态的判定 阈值的Zch，通常只要设定为10%~20%左右即可。
然后，在经过了规定时间后，判定是否完成了校验(步骤S55、 S56) 在未完成的情况下，返回步骤S42，测定CPU使用率a，以后反复进行 与上述同样的处理。
另一方面，在步骤S43中，在CPU使用率a小于等于下限值 CPU-Low (4g)的情况下，由于CPU处于空闲状态，所以把校验实施 间隔缩短规定时间，继续进行校验(步猓S50、 S51)。这里，作为缩短校验实施间隔的方法，可以把校验实施间隔减去规定量，也可以除以一 定的比率。
然后，定期地测定CPU使用率a (步骤S52 )，在从CPU-Low ( 4g) 上升了 Zcl。/。左右时(步骤S53)，变成Busy状态，因此使校验实施间 隔返回到初始值，在经过一定时间后，判定是否完成了校验(步骤S55、 S56)，在未完成校验的情况下，返回步骤S42，测定CPU使用率a，同 样地进行以后的处理。
另外，作为步骤S53中的判定阈值的Zcl，与上述步骤S48中的判 定阈值一样，通常可设定为10%~20%左右。
另 一方面，在步骤S43中，在CPU使用率a小于上限值CPU-High (4f)，并且大于下限值CPU-Low (4g)的情况下，由于CPU是通常 的状态，所以继续进行校验(步骤S44),在经过了一定时间后，判定 是否完成了校验，在未完成的情况下，返回到步骤S42,测定CPU使 用率a，同样地进行以后的处理(步骤S55、 S56)。
另外，以上说明了在CPU为Busy状态的情况下，在步骤S45暂时 停止校验的情况，但也可以不暂时停止，而加长校验实施间隔。另外， 说明了在CPU从空闲状态逐渐变为Busy状态的情况下，在步骤S54 中把校验实施间隔返回到初始值来使其加长的情况，但也可以以规定量 或比率加长校验实施间隔。
(实施例5的效果)
如上所述，根据实施例5的盘控制系统，由于根据CPU使用率来 判定CPU的状态，在Busy状态时，中断校验，等待CPU使用率的下 降，另一方面，在空闲状态的情况下，缩短校验的间隔，所以能够将因 校验而产生的对其他处理的影响抑制到最小限度。
[实施例6
实施例6的盘控制系统根据盘控制装置的使用率，改变校验的频度。 (结构)
图13是表示实施例6的盘控制系统的结构的图。实施例6的盘控
制系统中，在RAID控制器1的参数保存部4中，能够保存停止校验的 作为盘控制装置使用率上限值的Diskl/O-High (4h)、和延长校验实施 间隔的作为盘控制装置使用率的下限值的Disk I/O-Low (4i)。其他的 结构由于与实施例l的盘控制系统的结构相同，所以为了说明的简单化， 省略对该部分的说明。
另外，关于盘控制装置的使用率，与CPU的使用率一样，可通过 询问OS( 6 )来取得。例如，在OS( 6 )是Windows的情况下，(Windows 是美国Microsoft公司的注册商标)，通过4吏用Performance Counter类 等，可测定出盘控制装置的使用率等。
(动作)
基于以上结构的实施例6的盘控制系统进行如下的动作。下面，结 合图14的动作流程图对该动作进行说明。
首先，在开始校验之前，读入参数值Disk I/O-High ( 4h )、和Disk I/O-Low (4i)(步骤S60),在开始校验后(步骤S61)，测定盘控制装 置7的使用率p (步骤S62)，根据该盘控制装置7的使用率p，分别进 行以下的处理(步骤S63)。
即，在盘控制装置7的使用率p大于等于上P艮值Disk I/0-High( 4h ) 的情况下，由于盘控制装置7处于Busy状态，所以暂时停止校验(步 骤S65),在经过了规定时间后(步骤S66)，再次进行盘控制装置7的 使用率P的测定(步骤S67),在从上限值Disk I/O-High ( 4h )下降了 Zdh。/。左右，而成为非Busy状态时(步骤S68)，再次开始校验(步骤 S69)。另外，作为Busy状态的判定阈值的Zdh，与实施例5—样，通 常可设定为10%~20%左右。
然后，在经过了规定时间后，判定是否完成了校验(步骤S75、 S76) 在未完成的情况下，返回到步骤S62，测定盘控制装置7的使用率p， 然后反复进行与上述同样的处理。
另一方面，在步骤S63中，在盘控制装置7的使用率p小于等于下 限值Disk I/O-Low (4i)的情况下，由于盘控制装置7处于空闲状态， 所以将校验实施间隔缩短规定量，继续进行校验(步骤S70、 S71)。这
里，作为缩短校验实施间隔的方法，可以把校验实施间隔减去规定量， 也可以除以一定的比率。
然后，定期地测定盘控制装置7的使用率p (步骤S72)，在从下限 值Diskl/0-Low (4i)上升了 Zdl。/。以上时(壬骤S73 )，由于逐渐成为 Busy状态，所以将校验实施间隔返回到初始值(步骤S74)，在经过一 定时间后，判定是否完成了校验(步骤S75、 S76),在未完成校验的情 况下，返回到步骤S62,测定盘控制装置7的使用率p，同样地进行以 后的处理。
另外，作为步骤S73中的判定阈值的Zdl，与上述步骤S68中的判 定阈值一样，可设定为10%~20%左右。
另一方面，在步骤S63中，在盘控制装置7的使用率p小于上P艮值 Disk I/O-High (4h),并且大于下限值Disk I/O-Low (4i)的情况下， 由于是通常的状态，所以继续进行校验(步骤S64)，在经过了一定时 间后，判定是否完成了校验，在未完成的情况下，返回到步骤S62，测 定盘控制装置7的使用率p，同样地进行以后的处理(步骤S75、 S76)。
另外，以上虽然说明了在盘控制装置7为Busy状态的情况下，在 步骤S65中暂时停止校验的情况，但也可以不暂时停止，而加长校验实 施间隔。另外，说明了在盘控制装置7从空闲状态逐渐变为Busy状态 的情况下，在步骤S74中把校验实施间隔返回到初始值的情况，但也可 以以规定量或比率加长校验实施间隔。
(实施例6的效果)
如上所述，根据实施例6的盘控制系统，由于根据盘控制装置7的 使用率来判定盘控制装置的状态，在Busy状态时，中断校验，等待盘 控制装置的使用率的下降，另一方面，在空闲状态的情况下，缩短校验 的间隔，所以能够将因校验而产生的对其他处理的影响抑制到最小限 度。
《其他变形例》
在以上的实施例的说明中，说明了独立实施各个实施例的情况，但 也可以将它们组合起来实施。 例如，也可以把实施例1与实施例5组合，把存储装置的存储区域 分割成各规定区域来实施校验，存储完成校验的区域编号，在下一次校 验时，从该校验完成区域的下一个区域进行校验，并且根据CPU使用 率来判定CPU是否处于Busy状态，如果处于Busy状态，则降低校验 的频度，如果处于空闲状态，则增加校验频度.
(产业可利用性)
如上所述，本发明可以广泛地应用于进行磁盘等的校验处理的盘控制系 统。
权利要求
1.一种盘控制装置，其特征在于，在进行存储装置的校验处理的盘控制系统中，设置有至少保存校验实施完成的信息的参数保存部，并且设置了根据上述参数保存部的信息进行校验处理的控制部。
2. 根据权利要求1所述的盘控制装置，其特征在于，上述参数保 存部保存把上述存储装置的存储区域分割成各规定区域的分割数、和完 成校验的区域编号，根据上述分割数来分割存储区域，并从上述完成校验的区域编号的 下一个区域实施校验处理。
3. 根据权利要求1所述的盘控制装置，其特征在于，上述参数保 存部存储完成校验的地址，从上述完成校验的地址的下一个地址实施校验处理。
4. 根据权利要求1所述的盘控制装置，其特征在于，上述参数保 存部保存校验处理的间隔或校验开始时间，以上述校验处理的间隔或从校验开始时间实施校验处理。
5. —种盘控制装置，其特征在于，设有测定CPU使用率或盘控制 装置的使用率的测定部、和保存CPU使用率或盘控制装置^^用率的判 定阈值的参数保存部，根据上述测定部的测定结果和上述判定阈值，改变实施校验处理的 频度。
6. 根据权利要求5所述的盘控制装置，其特征在于，上述校验处 理的频度是校验间隔或停止校验的时间。
7. —种盘控制系统，其特征在于，由存储装置、权利要求1至6中任意一项所述的盘控制装置、和控 制上述盘控制装置的上位装置构成，实施上述存储装置的校验处理。
8. —种盘控制方法，其特征在于，包括把存储装置的存储区域分割成各规定区域来实施校验处理的步骤、 和存储完成校验的区域编号的步骤，从上述完成校验的区域编号的下一个区域实施校验处理。
9. 一种盘控制方法，其特征在于，包括存储完成校验的地址的步，从上述完成校验的地址的下一个地址实施校验处理。10. —种盘控制方法，其特征在于，包括设定校验的间隔或校验开 始时间的步骒，以上述校验的间隔或从校验开始时间实施校验处理。11. 一种盘控制方法，其特征在于，包括测定CPU使用率或盘控制 装置使用率的步骤、和设定CPU使用率或盘控制装置使用率的判定阈值的步骤，根据上述测定的CPU使用率或盘控制装置使用率和上述判定阈值，改变实施校验处理的频度。12. 根据权利要求11所述的盘控制方法，其特征在于，上述校验处 理的频度是校验的间隔或停止校验的时间。
全文摘要
本发明提供一种盘控制系统、盘控制装置以及盘控制方法。在进行磁盘等的校验处理的盘控制系统中，能够把对其他处理的影响抑制到最小限度，而且能够将校验处理进行到最后。具体是，把要校验的存储区域分割成各规定区域进行校验，存储完成校验的区域编号，使得能够从完成校验的区域的下一个区域实施校验。或者，存储完成校验的地址，从所存储的地址的下一个地址实施校验。或者，能够设定校验实施间隔或校验开始时间。或者，根据CPU使用率或盘控制装置的使用率，改变校验的频度。
文档编号G06F3/06GK101097502SQ200710108698
公开日2008年1月2日 申请日期2007年6月18日 优先权日2006年6月26日
发明者星野武德, 藤村晃司 申请人:冲电气工业株式会社