断感测面板11是否存在异常状态。
[0042]请参阅图3所示，是为本发明平整度信息的示意图，由图中可以清楚看出，处理器13于进行前述平整度信息Sa的运算时，是通过二维感测信息Ca中所有相邻二条或二条以上的驱动线111与相邻二条或二条以上的感测线112交越所形成的多个感测点113位置信息及其相对应的电容性耦合量C分别做为一局部二维感测信息Cp，并进一步对所有局部二维感测信息Cp中各驱动线111上多个电容性耦合量C沿第一轴向进行相减，再将前述相减后所得到的多个差值沿第二轴向进行相减，以供各局部二维感测信息Cp分别运算得到一平整度值S，再以所有平整度值S与其相对应的局部二维感测信息Cp位置信息组成一平整度信息sa。且因各感测点113的电容性耦合量C于正常状态下皆趋于相等，故将各电容性耦合量C进行相减时，所到的平整度值S为接近零值的数值，即平整度值S会介于预设平整度负比对值Zmin及预设平整度正比对值Z-之间，并进一步将预设平整度负比对值Zmin及预设平整度正比对值ZmAx内建于处理器13中，以供处理器13通过侦测平整度信息Sa中是否有平整度值S介于预设平整度负比对值Zmin及预设平整度正比对值ZmAx之间，进而判断感测面板11是否存在异常状态，而有关详细平整度值S的计算及变化，请参考本案申请人同日提出，名称为“触控装置检测方法”的另一件申请案，在此处则不再进行赘述。
[0043]请参阅图4、图5所示，是为本发明驱动在线平整度值的平整波形图及驱动在线平整度值的不平整波形图，由图中可以清楚看出，前述第四、五的横轴为驱动线111上所有感测点113的位置排列，纵轴为各感测点113的平整度值S。当处理器13将该二维感测信息Ca更新为基准二维感测信息Ca°前，并通过该平整度信息SA判断感测面板11是否存在异常状态时，若平整度信息Sa中所有平整度值皆介于预设平整度负比对值Zmin及预设平整度正比对值ZmAx之间(如图4所示)，则处理器13判断感测面板11处于正常状态，即无外部对象(如手指、触控笔或水滴等)触碰或覆盖，并将该二维感测信息Ca更新为基准二维感测信息Ca，以供后续侦测到的二维感测信息Ca比较，以判断感测面板11是否有外部对象触控；若有任一平整度值S小于预设平整度负比对值Zmin或大于预设平整度正比对值ZmAx (如图5所示)，则处理器13判断感测面板11上该平整度值S所属的局部二维感测信息Cp内的多个感测点113有外部对象长时间置放或覆盖等异常状态，如手指长时间置放或水滴覆盖等，此时处理器13则重复取得后续时间的二维感测信息Ca，以供运算平整度信息Sa，并重复运算该平整度信息Sa直到所有平整度值S皆介于预设平整度负比对值Zmin及预设平整度正比对值Z-之间(代表外部对象的长时间覆盖已排除)，处理器13才将二维感测信息Ca更新为基准二维感测信息Ca°，以供后续侦测到的二维感测信息Ca比较，以判断感测面板11是否有外部对象触控。
[0044]本发明是通过对二维感测信息Ca运算有一平整度信息Sa，若处理器13判断该平整度信息Sa中的有平整度值S小于预设平整度负比对值Zmin或大于预设平整度正比对值Z-则代表感测面板11上该平整度值S所属的局部二维感测信息Cp内的多个感测点113有外部对象置放或覆盖等异常状态，如手指长时间置放或水滴覆盖等，则处理器13持续取得后续时间的二维感测信息Ca，以供运算平整度信息Sa，直至所有平整度值S皆介于预设平整度负比对值Zmin与预设平整度正比对值Z-之间，即感测面板11恢复至正常状态，处理器13才将该二维感测信息Ca更新为基准二维感测信息Ca°，通过使处理器13后续取得的二维感测信息Ca皆能够与正常状态下的基准二维感测信息Ca°进行比较，并正常判断感测面板11的触控状态，使得触控装置I能更利于进行触控操作。
[0045]前述处理器13亦可将基准二维感测信息Ca°储存于存储器14内，并于进行感测面板11的触控判断时，读取存储器14内的基准二维感测信息Ca°，以供后续二维感测信息Ca比较，进而判断感测面板11上各感测点113的触控状态。
[0046]以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，非因此局限本发明的专利范围，本发明为主要针对触控装置触控装置及其基准二维感测信息的更新方法，其是通过对二维感测信息Ca运算有一平整度信息Sa，若处理器13判断该平整度信息Sa中的有平整度值S小于预设平整度负比对值Zmin或大于预设平整度正比对值Zdiax,则代表感测面板11上该平整度值S所属的局部二维感测信息Cp内的多个感测点113有外部对象(如手指、触控笔或水滴等)置放或覆盖等异常状态，则处理器13持续取得后续时间的二维感测信息Ca以运算该平整度值S，直至所有平整度值S皆介于预设平整度负比对值Zmin与预设平整度正比对值Z-之间，即感测面板11上的异常状态已排除，处理器13才将该二维感测信息Ca更新为基准二维感测信息Ca°，通过使处理器13后续取得的二维感测信息Ca皆能够与正常状态下的基准二维感测信息Ca°进行比较，并正常判断感测面板11的触控状态，故凡是可达成前述效果的结构、装置皆应受本发明所涵盖，此种简易修饰及等效结构变化，均应同理包含于本发明的专利范围内。
[0047]综上所述，本发明上述触控装置及其基准二维感测信息的更新方法于使用时，为确实能达到其功效及目的，故本发明诚为一实用性优异的创作，为符合发明专利的申请条件，故依法提出专利申请。
【主权项】
1.一种触控装置及其基准二维感测信息的更新方法，该触控装置设有感测面板，而感测面板设置有沿第一轴向平行排列的多条驱动线，以及沿第二轴向平行排列且与各驱动线交越的多个感测线，并于各驱动线与各感测线的交越处分别形成感测点，且各驱动线及各感测线分别电性连接至驱动及感测电路，又驱动及感测电路电性连接至处理器，处理器再电性连接至存储器，其步骤包括: (AOl)驱动及感测电路取得所有感测点的电容性耦合量，并以所有电容性耦合量与其相对应感测点的位置信息构成有二维感测信息； (A02)处理器对二维感测信息中的多个局部二维感测信息分别运算得到一平整度值，再以所有平整度值及其相对应的局部二维感测信息位置信息构成一平整度信息； (A03)处理器判断平整度信息中各平整度值是否介于预设平整度负比对值及预设平整度正比对值之间，若判断为“是”，则进行步骤(A04);若判断为“否”，则进行步骤(A05)；(A04)处理器判断感测面板处于正常状态，并以该二维感测信息更新为基准二维感测信息； (A05)处理器判断感测面板处于异常状态，并回到步骤(AOl)。
2.一种触控装置的基准二维感测信息的更新方法，该触控装置设有感测面板，而感测面板具有多条驱动线以及多个感测线，且各驱动线与各感测线交越形成分别具电容性耦合量的多个感测点，且各驱动线及各感测线电性连接至驱动及感测电路，又驱动及感测电路电性连接电性连接至一处理器，处理器再电性连接至存储器，该方法包括下列步骤: 利用处理器控制驱动及感测电路取得各感测点的电容性耦合量，并以所有电容性耦合量与其相对应感测点的位置信息构成有一二维感测信息； 利用处理器对所有相邻二条或二条以上的驱动线与所有相邻二条或二条以上的感测线交越所形成的多个感测点的电容性耦合量进行运算以得到多个平整度值，并且处理器比对各平整度值是否小于预设平整度负比对值或大于预设平整度正比对值；以及 若处理器判断有任一平整度值小于预设平整度负比对值或大于预设平整度正比对值，则重复以上步骤，直到所有平整度值位于预设平整度负比对值及预设平整度正比对值之间。
3.如权利要求2所述的触控装置的基准二维感测信息的更新方法，还包含在所有平整度值位于预设平整度负比对值及预设平整度正比对值之间后，将该二维感测信息做为基准二维感测信息并储存于存储器中。
4.一种触控装置，包括: 一感测面板，其设置有沿第一轴向排列的多条驱动线，以及沿第二轴向且分别与各多条驱动线交越的多个感测线； 一驱动及感测电路，其电性连接于各驱动线及各感测线，用以取得二维感测信息； 一处理器，其电性连接于驱动及感测电路，用以取得平整度信息，并判断平整度信息中各平整度值是否介于预设平整度负比对值与预设平整度正比对值之间。
5.一种触控装置，包含: 多条驱动线以及多个感测线，各驱动线与各感测线构成多个电容性耦合量的感测点； 一驱动及感测电路，电连接至各驱动线及各感测线； 一处理器，电连接至驱动及感测电路，该处理器控制驱动及感测电路取得各感测点的电容性耦合量，并以所有电容性耦合量与其相对应感测点的位置信息构成有一二维感测信息，并且对所有相邻二条或二条以上的驱动线与所有相邻二条或二条以上的感测线交越所形成的多个感测点的电容性耦合量进行运算以得到多个平整度值，并且处理器比对各平整度值是否小于预设平整度负比对值或大于预设平整度正比对值；以及判断当有任一平整度值小于预设平整度负比对值或大于预设平整度正比对值时，重复取得各电容性耦合量并运算为平整度值，直到所有平整度值位于预设平整度负比对值及预设平整度正比对值之间。
6.如权利要求5所述的触控装置，还包含: 一存储器，电连接至处理器，处理器在判断所有平整度值位于预设平整度负比对值及预设平整度正比对值之间后，将该二维感测信息做为基准二维感测信息并储存于存储器中。
【专利摘要】本发明为有关一种触控装置及其基准二维感测信息的更新方法，其是于更新基准二维感测信息时，若平整度信息中有平整度值小于预设平整度负比对值或大于预设平整度正比对值，则代表感测面板处于异常状态，而处理器会持续取得后续的二维感测信息，以运算平整度信息，直至所有平整度值介于预设平整度负比对值与预设平整度正比对值之间，即感测面板恢复至正常状态，此时处理器才将二维感测信息更新为基准二维感测信息，通过使处理器后续取得的二维感测信息皆能与正常的基准二维感测信息进行比较，以正常判断感测面板的触控状态。
【IPC分类】G06F3-044
【公开号】CN104750333
【申请号】CN201410427234
【发明人】张钦富, 叶尚泰
【申请人】禾瑞亚科技股份有限公司
【公开日】2015年7月1日
【申请日】2014年8月27日
【公告号】US20150185921