触控装置检测方法
【技术领域】
[0001]本发明提供一种触控装置检测方法，尤指应用于互电容式触控装置的检测方法，并透过平整度值辅助判断制造完成的触控装置中的感测面板是否具有瑕疵，以确保成品的质量。
【背景技术】
[0002]现今电子产品为配合人类的直觉方式，触控装置已被广泛应用在各种电子产品中，以便用户能透过手或触控笔等导电对象对电子产品进行控制。
[0003]一般而言，触控装置是于感测面板上设有多条平行排列的驱动线，以及与各驱动线交越的多条感测线，且于各驱动线与各感测线交越形成有多个感测点，并于该触控装置使用时，因各驱动线会分别电容性耦合至各感测线，以供各感测点分别产生有可测量的电容性耦合量，该电容性耦合量可经由量测电容值、电流值、电压值或电荷量等物理量直接或间接获得，进而于外部导电对象(例如手指或触控笔等)碰触感测面板时，使受碰触的感测点的电容性耦合量产生变化，并通过测量电容性耦合量的变化，来得知感测面板的触控状态。
[0004]然而，触控装置的感测面板于制造过程中，因各驱动线及各感测线的体积及铺设皆相当精细，故感测面板上各驱动线及各感测线容易因黏胶不平整、压合不平整或产生间隙等状况，而造成该感测面板产生瑕疵，且若该瑕疵于制造过程中未适时予以检查及发现，将使得具有瑕疵的感测面板持续进行后续的处理，例如包装、运送等，而造成不必要的成本浪费。
[0005]是以，如何对触控装置的感测面板进行检测，进而发现具有瑕疵的感测面板，以避免后续包装或运送等所产生的不必要的成本浪费，即为从事此行业的相关厂商所亟欲研究改善的方向所在。
【发明内容】
[0006]发明人有鉴于上述缺失，乃搜集相关资料，经由多方评估及考虑，并以从事于此行业累积的多年经验，经由不断试作及修改，始设计出此种触控装置检测方法的发明专利。
[0007]本发明提供一种触控装置检测方法，其是应用于检测互电容式触控装置的感测面板的瑕疵，该触控装置设有感测面板，而感测面板设置有沿第一轴向平行排列的多条驱动线，以及沿第二轴向平行排列且与各驱动线交越的多条感测线，并于各驱动线与各感测线的交越处分别形成感测点，且各驱动线及各感测线分别电性连设至驱动及感测电路，又驱动及感测电路电性连设有处理器，处理器再电性连设至存储器，其步骤包括=(AOl)驱动及感测电路取得所有感测点的电容性耦合量，并以所有电容性耦合量与其相对应感测点的位置信息构成有二维感测信息；(A02)处理器对二维感测信息中，所有相邻二条或二条以上的驱动线与所有相邻二条或二条以上的感测线交越所形成的感测点及其相对应的电容性耦合量分别做为一局部二维感测信息；(A03)处理器分别对所有局部二维感测信息进行运算以分别得到有平整度值，以供将所有平整度值及其相对应的局部二维感测信息位置信息组成一平整度信息；(A04)处理器将平整度信息中各平整度值分别与预设平整度负比对值、预设平整度正比对值、预设下限值及预设上限值进行比较，用以判断感测面板是否具有瑕疵。
[0008]本发明提供一种互电容式触控装置，包含:一感测面板，其设置有沿第一轴向排列的多条驱动线，以及沿第二轴向且分别与各多条驱动线交越的多条感测线；一驱动及感测电路，其电性连接于各驱动线及各感测线，用以取得二维感测信息；一处理器，其电性连接于驱动及感测电路，用以对二维感测信息运算得到有平整度信息，及透过该平整度信息判断感测面板是否有瑕疵；一存储器，电性连接于处理器，用以储存平整度值。
[0009]本发明提供一种互电容式触控装置，包含:一感测面板，其设置有沿第一轴向排列的多条驱动线，以及沿第二轴向且分别与各多条驱动线交越的多条感测线；一驱动及感测电路，其电性连接于各驱动线及各感测线，用以经由第一感测线及第二感测线分别取得沿第一轴向排列的第一驱动线的第一电容性耦合量及第二电容性耦合量；对第一电容性耦合量及第二电容性耦合量进行差动运算，以得到有第一差值；经由第一感测线及第二感测线分别取得沿第一轴向排列的第二驱动线的第三电容性耦合量及第四电容性耦合量；对第三电容性耦合量及第四电容性耦合量进行差动运算，以得到有第二差值；一处理器，其电性连接于驱动及感测电路，用以将第一差值及第二差值沿第二轴向进行差动运算得到该平整度值。
[0010]本发明提供一种互电容式触控装置，包含:一感测面板，其设置有沿第一轴向排列的多条驱动线，以及沿第二轴向且分别与各多条驱动线交越的多条感测线；一驱动及感测电路，其电性连接于各驱动线及各感测线，用以经由第一感测线、第二感测线及第三感测线分别取得沿第一轴向排列的第一驱动线的第一电容性耦合量、第二电容性耦合量及第三电容性耦合量；对第一电容性耦合量及第二电容性耦合量进行差动运算，以得到有第一差值；对第二电容性耦合量及第三电容性耦合量进行差动运算，以得到有第二差值；对第一差值及第二差值进行差动运算，以得到有第三差值；经由第一感测线、第二感测线及第三感测线分别取得沿第一轴向排列的第二驱动线的第四电容性耦合量、第五电容性耦合量及第六电容性耦合量；对第四电容性耦合量及第五电容性耦合量进行差动运算，以得到有第四差值；对第五电容性耦合量及第六电容性耦合量进行差动运算，以得到有第五差值；对第四差值及第五差值进行差动运算，以得到有第六差值；一处理器，其电性连接于驱动及感测电路，用以将第三差值及第六差值沿第二轴向进行差动运算得到该平整度值。
[0011]本发明提供一种互电容式触控装置，包含:一感测面板，其设置有沿第一轴向排列的多条驱动线，以及沿第二轴向且分别与各多条驱动线交越的多条感测线；一驱动及感测电路，其电性连接于各驱动线及各感测线，用以经由第一感测线及第二感测线分别取得沿第一轴向排列的第一驱动线的第一电容性耦合量及第二电容性耦合量；对第一电容性耦合量及第二电容性耦合量进行差动运算，以得到有第一差值；经由第一感测线及第二感测线分别取得沿第一轴向排列的第二驱动线的第三电容性耦合量及第四电容性耦合量；对第三电容性耦合量及第四电容性耦合量进行差动运算，以得到有第二差值；经由第一感测线及第二感测线分别取得沿第一轴向排列的第三驱动线的第五电容性耦合量及第六电容性耦合量；对第五电容性耦合量及第六电容性耦合量进行差动运算，以得到有第三差值；一处理器，其电性连接于驱动及感测电路，用以对第一差值及第二差值沿第二轴向进行差动运算得到第四差值；对第二差值及第三差值沿第二轴向进行差动运算得到第五差值；对第四差值及第五差值沿第二轴向进行差动运算得到该平整度值。
[0012]本发明的主要目的乃在于判断感测面板是否具有瑕疵，并透过对二维感测信息运算得到有平整度信息，进而以平整度信息中各平整度值来判断感测面板中是否有异常的区域(例如感测面板于制造过程中因驱动线及感测线不平均、黏胶不平整、压合不平整或产生间隙等所产生的异常状况)，用以平整度值辅助判断制造完成的触控装置中的感测面板哪些是良品及哪些是瑕疵品，并可防止瑕疵品进行后续的处理，例如包装、运送等，而造成不必要的成本浪费。
[0013]本发明的次要目的乃在于当有一个或一个以上的平整度值所产生的瑕疵位于容许范围内的情况下，此时即可将具可接受瑕疵的平整度值储存于存储器内，并于触控装置使用时，于存储器内读取该平整度值，在进一步将未储存于存储器内的其它多个平整度值视为零值，由此构成平整度信息，因存储器中仅储存具有可接受瑕疵的平整度值而非全部的平整度，便可占用较少存储器容量，以有效的减少占用存储器的容量。
【附图说明】
[0014]图1为本发明较佳实施例的电路示意图。
[0015]图2为本发明触控装置检测方法的流程图。
[0016]图3为本发明较佳实施例的局部放大图。
[0017]图4为本发明驱动在线平整度值的平整波形图。
[0018]图5为本发明驱动在线平整度值的不平整波形图。
[0019]图6为本发明驱动在线平整度值的瑕疵波形图。
[0020]图7为本发明平整度信息第一实施例示意图。
[0021]图8为本发明平整度信息第二实施例示意图。
[0022]图9为本发明平整度信息第三实施例示意图。
[0023]【符号说明】
[0024]1、触控装置
[0025]11、感测面板
[0026]111、驱动线
[0027]1111、第一驱动线
[0028]1112、第二驱动线
[0029]1113、第三驱动线
[0030]112、感测线
[0031]1121、第一驱动线
[0032]1122、第二感测线
[0033]1123、第三感测线
[0034]12、驱动及感测电路
[0035]13、处理器
[0036]14、存储器
[0037]C、电容性耦合量
[0038]Ca、二维感测信息
[0039]Cp、局部二维感测信息
[0040]S、平整度值
[0041]Sa、平整度信息
[0042]Zmin、平整度负比对值
[0043]Zmax、平整度正比对值
[0044]Smin、下限值
[0045]Smax、上限值
【具体实施方式】
[0046]为达成上述目的及功效，本发明所采用的技术手段及其构造，兹绘图就本发明的较佳实施例详加说明其特征与功能如下，以利完全了解。
[0047]请参阅图1所示，为本发明较