的，因而只要在直至获得(计算)用于判定的操作输入值以前的任何阶段执行温度补偿，便可实现类似的效果。可将值”与其他操作输入值适当地互换，所述“ S值”是将要受到下文所述的温度补偿的对象。
[0109]3.输入检测系统的构造
[0110]将描述根据示例性实施例的输入检测系统的构造。在根据示例性实施例的输入检测系统中，依据操作环境的温度，对在输入装置I的每个节点处检测到的δ值执行温度补偿处理。指定与其中被检测到δ值的节点相对应的按键，并根据受到温度补偿的δ值来执行对所指定的按键的输入状态的判定处理。根据通过该按键输入状态的判定而获得的结果，将与该按键相关的信息输入至与输入装置I相连的连接装置。
[0111]3-1.硬件构造
[0112]将参考图8描述根据示例性实施例的输入检测系统的硬件构造。图8是示出根据示例性实施例的输入检测系统的硬件构造的一个范例的框图。
[0113]参考图8，根据示例性实施例的输入检测系统2配置为包括输入装置1、控制器集成电路(IC) 110、主微控制器(MCU) 120、接口 IC 130和连接器140。在上述的项1“输入装置的构造”中描述了输入装置I的构造，因而省略了其详细说明。
[0114]控制器IC 110是具有为输入装置I中的每一节点检测电容的功能的处理器。从其中未被执行操作输入的节点检测基础信号值。另一方面，从其中被执行操作输入的节点检测与该操作输入相对应的电容值。可根据在其中被执行了操作输入的节点处检测到的电容值、以及该节点处的基础信号值，来检测每个节点处的S值。控制器IC 110所要执行的处理对应于由图9中示出的电容检测单元111执行的处理，稍后将对其进行描述。
[0115]节点形成在沿X轴方向延伸的多条电极线220与沿Y轴方向延伸的多条电极线210之间的交叉区域中，因而节点可由X和Y的地址来表示。控制器IC 110能与目标节点的地址对应地检测每个节点处的δ值。控制器IC 110将与在每个节点处检测到的δ值有关的信息和与目标节点的地址有关的信息(地址信息)相关联，并在随后的阶段中将关联后的信息发送至主MCU 120。正如稍后描述的，在该示例性实施例中，可在输入装置I中设置用于温度检测的虚拟节点，并可根据虚拟节点处的基础信号值来检测温度。当根据虚拟节点处的基础信号值检测温度时，控制器IC 110在随后的阶段中将与虚拟节点处的基础信号值有关的信息发送至主MCU 120。可通过使控制器IC 110 (S卩，处理器)根据预定程序进行运行，执行控制器IC 110中的处理。
[0116]主MCU 120对在每个节点处检测到的δ值执行温度补偿，并根据温度补偿后的δ值来执行用于判定按键输入的处理。主MCU 120所执行的处理包括:用于依据操作环境的温度校正检测到的δ值的处理(在下文中也被称为“温度补偿处理”)，用于指定其中被检测到δ值的按键的处理(在下文中也被称为“按键指定处理”)，用于根据温度补偿后的δ值判定按键的输入状态的处理(在下文中也被称为“输入状态判定处理”)，以及用于根据判定的输入状态为每一按键设定输入状态的处理(在下文中也被称为“输入状态设定处理”)。主MCU 120所执行的处理对应于由将在稍后描述的图9中示出的温度补偿单元112、按键指定单元113、输入状态判定单元114、和输入状态设定单元115所执行的处理。所述温度补偿处理、按键指定处理、输入状态判定处理和输入状态设定处理将在稍后描述的项3-2“功能构造”中参考图9来详细说明。可通过使设置于主MCU 120中的处理器根据预定程序进行运行，执行主MCU120中的处理。
[0117]主MCU 120可在通过对输入装置I中包括的每个节点顺次执行所述温度补偿处理、按键指定处理、输入状态判定处理和输入状态设定处理来执行温度补偿的状态下，判定每个按键的输入状态。按键的输入状态可包括KEY ON状态(也被简单地称为“0Ν状态”)和KEY OFF状态(也被简单地称为“OFF状态”)。KEY ON状态表示其中对按键的操作输入被判定为有效的状态。另一方面，KEY OFF状态表示其中对按键的操作输入被判定为无效的状态。
[0118]主MCU 120在随后的阶段中向接口 IC 130传送信息，所述信息表示与被判定为处于KEY ON状态的按键相关的内容。以这种方式，在KEY ON状态中，可传送与按键相关的信息。然而，主MCU 120可在随后的阶段中将通过对所有按键执行输入状态判定处理而获得的结果传送至接口 IC 130，随后可通过接口 IC 130之后的任何构造从所传送的结果之中仅仅提取与被判定为处于KEY ON状态的按键相关的信息。
[0119]接口 IC 130是用作在输入装置I与连接到输入装置I的连接装置之间的接口的处理器。例如，接口 IC 130与连接器140连接，连接器140用于将输入装置I连接至一连接装置。接口 IC 130依据连接器140的类型，以适合于连接器140的类型的方式执行信号转换，并将与被判定为处于KEY ON状态的按键相关的信息传送至一连接装置。例如，所述连接装置使显示单元显示与所述按键相对应的字符或符号。可依据连接器140的类型而适当地设置由接口 IC 130执行的处理。连接器140可以是通用串行总线(USB)连接器。
[0120]已经参考图8描述了根据示例性实施例的输入检测系统2的硬件构造。将描述与图8中示出的输入检测系统2相对应的功能构造。
[0121]3-2.功能构造
[0122]将参考图9描述根据示例性实施例的输入检测系统2的功能构造。图9是示出根据示例性实施例的输入检测系统2的功能构造的一个范例的功能框图。图9中示出的功能构造对应于图8中示出的输入检测系统2的硬件构造。在该示例性实施例中，可使用现有技术中已知的通常用于将键盘连接至信息处理装置的任何类型的装置来作为接口 IC 130和连接器140。因而，图9主要示出了由图8中示出的组件之中的控制器IC 110和主MCU120所执行的功能。
[0123]参考图9，作为功能块，根据示例性实施例的输入检测系统2配置为包括电容检测单元111、温度补偿单元112、按键指定单元113、输入状态判定单元114和输入状态设定单元115。为简单起见，图9示出了在控制器150 (与根据示例性实施例的信息处理装置相对应)中执行的功能，但实际上，控制器150可被构造为与控制器IC 110和主MCU 120相对应的处理器。换言之，通过使与控制器IC 110和主MCU 120相对应的处理器根据预定程序进行运行，可实现由图9中的控制器150执行的功能。例如，与电容检测单元111相对应的功能由控制器IC 110执行，其他功能(温度补偿单元112、按键指定单元113、输入状态判定单元114和输入状态设定单元115)可由设置于主MCU 120中的处理器执行。该示例性实施例不限于该范例。图9中示出的功能可通过控制器IC 110和主MCU 120的任何处理器来执行，或者可通过图中未示出的其他处理电路(信息处理装置)来执行。
[0124]电容检测单元111检测输入装置I的每个节点处的电容。例如，电容检测单元111以预定采样速率依次检测每个节点处的电容。从其中未被执行操作输入的节点检测基础信号值，从其中被执行操作输入的节点检测与由于操作输入而施加给按键区域1a的按压力的量相对应的电容值。电容检测单元111可根据在其中被执行操作输入的节点处检测的电容值、以及该节点处的基础信号值，来检测每个节点处的δ值。电容检测单元111与节点的地址对应地检测每个节点处的δ值。电容检测单元111将与所检测到的δ值有关的信息提供至温度补偿单元112的δ值校正单元123，这将在稍后描述。电容检测单元111将与所检测到的δ值相对应的节点的地址信息提供至按键指定单元113。当根据设置于输入装置I中的虚拟节点处的基础信号值检测温度时，电容检测单元111将与虚拟节点处的基础信号值有关的信息提供至温度补偿单元112的温度检测单元121，这将在稍后描述。
[0125]按键指定单元113根据节点地址信息，指定与其中被检测到δ值的节点相对应的按键。按键指定单元113所执行的处理对应于如上所述的按键指定处理。例如，在根据示例性实施例的输入检测系统2中，可设置能够存储各种信息的存储装置(未示出)，在存储装置中存储输入装置I中的节点地址与按键布置之间的位置关系。按键指定单元113参考所述存储装置，并根据节点地址与按键布置之间的所述位置关系来指定与其中被检测到S值的节点相对应的按键。所述存储装置可以是设置于主MCU120中的存储器，或者可以作为主MCU120之外的单独构造来设置。存储装置并不特别受限，其范例包括诸如硬盘驱动器(HDD)之类的磁存储装置、半导体存储装置、光存储装置、以及磁光存储装置。按键指定单元113将与所指定的按键有关的信息提供至下文所述的输入状态判定单元114和温度补偿单元112的校正量确定单元122。
[0126]温度补偿单元112根据输入装置I的操作环境的温度(环境温度)来校正检测到的S值。温度补偿单元112所执行的处理对应于如上所述的温度补偿处理。具体来讲，温度补偿单元112的功能被划分为温度检测单元121、校正量确定单元122、和δ值校正单元123。
[0127]温度检测单元121根据设置于输入装置I中的温度检测元件的输出值来检测输入装置I的环境温度。作为所述温度检测元件，可使用为检测温度而设置的虚拟节点、其中安装有热敏电阻的温度检测IC等等。例如，温度检测单元121可根据由电容检测单元111提供的虚拟节点处的基础信号值，来检测输入装置I的环境温度。
[0128]校正量确定单元122根据所检测的温度来确定将被应用于δ值的校正量。作为所述校正量，可为由具有相似负载灵敏度特性的节点所构成的每个组来设置不同的值。校正量确定单元122可根据由按键指定单元113提供的与所指定的按键有关的信息，来确定与对应于所述按键的节点相对应的校正量。在下文说明中，作为校正量的例子，将描述由校正量确定单元122确定将被应用于δ值的倍率(检测到的当前δ值相对于被认为将在校正后获得的S值的比率)。本示例性实施例不限于该范例。可使用其他值来作为所述校正量的范例，所述其他值包括检测到的当前δ值与被认为将在校正后获得的δ值之间的差值。当想要将除δ值之外的其他操作输入值作为待校正的目标时，校正量确定单元122可确定与所述的其他操作输入值相对应的校正量。
[0129]δ值校正单元123 (对应于根据本发明的示例性实施例的操作输入值校正单元)利用所确定的倍率来校正由电容检测单元111检测到的δ值。例如，δ值校正单元123可通过将电容检测单元111所检测到的δ值与由校正量确定单元122所确定的倍率相乘，来校正δ值。由δ值校正单元123校正后的δ值可以是在考虑到温度依赖性的情况下获得的值，即受到温度补偿后的δ值。δ值校正单元123将校正后的δ值提供至输入状态判定单元114。当想要将除δ值之外的其他操作输入值作为待校正的目标时，将由电容检测单元111所检测到的δ值转换为其他操作输入值，随后利用与所述其他操作输入值相对应的校正量来校正所述其他操作输入值，所述校正量是由所述校正量确定单元122来确定的。
[0130]将在稍后描述的项4 “温度检测处理”和项5 “校正倍率确定处理”中更详细地再次描述温度补偿单元112的各个功能(温度检测单元121、校正量确定单元122和δ值校正单元123)。
[0131]输入状态判定单元114根据在每个节点处检测到的、并已受到温度补偿后的δ值，来判定与节点相对应的按键的输入状态。对于判定输入状态来说必要的是，根据已受到温度补偿后的δ值判定每一按键的输入状态是否为KEY ON状态。输入状态判定单元114所执行的处理对应于如上所述的输入状态判定处理。
[0132]在输入状态判定处理中，可根据每个节点处的操作输入值来判定按键的输入状态。作为操作输入值，可使用δ值、微分δ值(即δ值的微分值)、和/或通过将δ值归一化而获得的归一化δ值。当在一个按键中设置多个节点时，可根据诸如δ值、微分δ值和/或归一化δ值的总和或者平均值之类的统计值来执行输入状态判定处理。微分δ值可以是通过对检测到的δ值(S卩，原始数据或者通过适当地放大原始数据而获得的值)进行微分而获得的值，或者可以是通过对归一化S值进行微分而获得的值。在下文说明中，术语“微分S值”可以指S值的微分值或者归一化S值的微分值。
[0133]具体来讲，输入状态判定处理判定操作输入值是否满足预定条件(或者输入状态判定条件)。如果判定操作输入值满足输入状态判定条件，则与其中被检测(计算)到所述操作输入值的节点相对应的按键的输入状态被判定为KEYON状态。另一方面，如果判定操作输入值不满足输入状态判定条件，则与其中被检测(计算)到所述操作输入值的节点相对应的按键的输入状态被判定为KEY OFF状态。可为每个按键单独设置所述输入状态判定条件。输入状态判定单元114可根据与由按键指定单元113指定的按键有关的信息，利用为所指定的按键设置的输入状态判定条件来执行输入状态判定处理。例如，输入状态判定单元114参考上述的其中存储有为每个按键设置的输入状态判定条件的存储装置，由此输入状态判定单元114可获取与为每个按键设置的输入状态判定条件有关的信息，并执行输入状态判定处理。
[0134]例如，输入状态判定单元114将操作输入值与预定阈值比较，以判定输入状态。具体来讲，如果操作输入值大于预定阈值，则输入状态判定单元114就判定与目标节点相对应的按键的输入状态处于KEY ON状态。另一方面，如果操作输入值在预定阈值以下，则输入状态判定单元114就判定与目标节点相对应的按键的输入状态处于KEY OFF状态。
[0135]用于判定是否处于KEY ON状态的阈值、和用于判定是否处于KEY OFF状态的阈值可以是相同值或者不同值。当用于判定是否处于KEY ON状态的阈值不同于用于判定是否处于KEY OFF状态的阈值时，可以防止所谓的抖动(chattering)，由此改善可用性。
[0136]输入状态判定单元114判定每一按键的输入状态。然而，例如，当多个节点与单个按键相关时，可通过所述按键中包括的任一节点处的操作输入值是否满足输入状态判定条件来判定输入状态(即，通过“或”运算来判定)。此外，可通过所述按键中包括的所有节点处的操作输入值是否满足输入状态判定条件来判定输入状态(即，通过“与”运算来判定)。根据需要，可以以任选方式为每个按键设置所述输入状态判定条件。例如，可通过“或”运算的判定来判定某一按键的输入状态，而通过“与”运算的判定来判定其他按键的输入状态。用来与操作输入值相比较的阈值可对于每一按键为不同的值。可在考虑到按键的使用频率或者检测准确性的情况下，基于按键的布置位置适当地设置每一按键的输入状态判定条件。
[0137]本文使用了术语“以下”以及“大于”来描述操作输入值和阈值之间的大小关系，在比较操作输入值和阈值时，这些术语是示意性的，而非对边界条件的限制。在示例性实施例中，当操作输入值等于阈值时，可以以任选方式来设置如何判定大小关系的方法。本文所使用的术语“以下”可与术语“小于”的含义基本上相同，而本文所使用的术语“大于”可与术语“以上”的含义基本上相同。
[0138]由输入状态判定单元114执行的输入状态判定处理不限于上述范例。输入状态判定单元114可执行本领域中已知的、在常用触摸面板键盘技术领域中使用的各种输入状态判定处理。
[0139]输入状态判定单元114将与通过为每一按键判定输入状态而获得的结果相关的信息提供至输入状态设定单元115。
[0140]输入状态设定单元115根据由输入状态判定单元114获得的输入状态的判定结果，设定每一按键的输入状态。输入状态设定单元115根据输入状态的判定结果，将每一按键的输入状态设定为KEY