1.一种薄片介质的厚度检测装置，其特征在于：其结构包括主动轴(1)、主动轴除尘片(2)、浮动轴(3)、浮动轴除尘片(4)、轴承(5)、摆臂转轴(6)、光栅位移传感器(7)、传感器固定板(8)、放大杠杆(9)、拉簧(10)、拉簧固定板(11)、浮动摆臂(12)、同步带轮(13)、同步带(14)，所述主动轴除尘片(2)设于主动轴(1)，所述浮动轴(3)设于主动轴(1)上方，所述浮动轴除尘片(4)设于浮动轴(3)表面，所述轴承(5)设于摆臂转轴(6)两侧，所述摆臂转轴(6)设于浮动轴除尘片(4)上方，所述光栅位移传感器(7)与传感器固定板(8)固定连接，所述传感器固定板(8)与放大杠杆(9)固定连接，所述拉簧(10)与放大杠杆(9)活动连接，所述拉簧固定板(11)与拉簧(10)活动连接，所述浮动摆臂(12)设于摆臂转轴(6)上，所述同步带轮(13)设于主动轴(1)两侧，所述同步带轮(13)通过同步带(14)与电机连接。