技术总结
本发明公开了一种测试方法，所述测试方法包括：将待测试的闪存映射转换层程序移植到主机；在主机将测试数据写入所述待测试的闪存映射转换层程序计算得到的物理地址；读取写入的所述测试数据作为读出数据；对比所述测试数据和所述读出数据，根据对比结果，判断所述闪存映射转换程序是否正确。本发明还公开一种测试装置。本发明将闪存映射转换层FTL算法程序在主机进行测试，在主机进行测试数据的传输，通过主机的高性能处理器进行FTL算法程序的运算，提高运算效率，省去真实测试环境的物理测试时间，优化了测试通路，测试效率高。
技术研发人员：林寅;吴大畏;李晓强;
受保护的技术使用者：深圳市硅格半导体股份有限公司;
文档号码：201610058793
技术研发日：2016.01.28
技术公布日：2016.07.06