技术总结
本发明公开一种基于模拟开关电路实现FPGA器件的测试系统及方法，其测试系统包括：非易失性存储器、编程控制器、带隙基准电路以及三端口模拟开关电路，该三端口模拟开关电路的第一端口接带隙基准电路的输出电路端口，第二端口接双向测试接口，第三端口接非易失性存储器的输入端；所述编程控制器分别与非易失性存储器、带隙基准电路和三端口模拟开关电路连接，且该编程控制器还与I/O 接口连接。本发明通过三端口模拟开关电路引入了双向的测试接口，从而可以单独对Bandgap Reference和非易失存储器进行测试和校正。在这些工作结束后，FPGA器件可进入正常工作状态。
技术研发人员：朱璟辉;陈建光;陈思韬
受保护的技术使用者：广东高云半导体科技股份有限公司
文档号码：201610521872
技术研发日：2016.07.05
技术公布日：2017.02.22