一种薄膜电容器的制备方法与流程

文档序号:11835480阅读:227来源:国知局
本发明涉及电子元器件制作
技术领域
,特别是涉及一种薄膜电容器的制备方法。
背景技术
:电容器依着介质的不同,它的种类很多,例如:电解质电容、纸质电容、薄膜电容、陶瓷电容、云母电容、空气电容等。但是在音响器材中使用最频繁的,当属电解电容器和薄膜(Film)电容器。电解电容大多被使用在需要电容量很大的地方,例如主电源部分的滤波电容,除了滤波之外,并兼做储存电能之用。而薄膜电容则广泛被使用在模拟信号的交连,电源噪声的旁路(反交连)等地方。薄膜电容器由于具有很多优良的特性,因此是一种性能优秀的电容器。它的主要等性如下:无极性,绝缘阻抗很高,频率特性优异(频率响应宽广),而且介质损失很小。基于以上的优点,所以薄膜电容器被大量使用在模拟电路上。尤其是在信号交连的部份,必须使用频率特性良好,介质损失极低的电容器,方能确保信号在传送时,不致有太大的失真情形发生。技术实现要素:本发明提供了一种薄膜电容器的制备方法,包括配料、球磨、筛选、造粒、压制成型、烧结和冷却。一种薄膜电容器的制备方法,包括蒸镀金属层、溅射法制备电极和升温/退火处理,薄膜电容器的制备方法如下:(1)蒸镀金属层:在绝缘体薄膜表面蒸镀一层金属薄膜,并绕卷为薄膜卷;(2)溅射法制备电极层:将薄膜卷放置在旋转绕驱架上放进真空腔室,并对真空腔室进行抽真空,采用离子溅射法制备电极层,并利用激光刻蚀获得图案化电极图层;(3)升温/退火处理:将薄膜电容器放入电阻炉,在通入保护气体的环境下进行逐级升温处理,然后,再进行退火处理,待温度达到常温时,再将薄膜电容器从旋转绕驱架上的取出,分切成薄膜电容所需的薄膜带。优选的,所述步骤(1)中金属薄膜的金属包括Ni、Ag、Cu、Ti、Au或Pt的纯金属或其复合金属。优选的,所述步骤(2)中真空腔室内的真空度为105-100Pa。优选的,所述步骤(2)中电极层厚度为10-30nm。优选的,所述步骤(3)中升温温度为600-800℃,保温时间为30-60min;退火温度为90-100℃,时间为200-210min。优选的,所述步骤(3)中保护气体为Ne、Xe、Ar或者它们的混合气体。有益效果:本发明提供了一种薄膜电容器的制备方法,涉及电子元器件制作
技术领域
,包括蒸镀金属层、溅射法制备电极层和升温/退火处理,在绝缘体薄膜表面蒸镀一层金属薄膜,并绕卷为薄膜卷;将薄膜卷放置在旋转绕驱架上放进真空腔室,并对真空腔室进行抽真空,采用离子溅射法制备电极层,并利用激光刻蚀获得图案化电极图层;将薄膜电容器放入电阻炉,在通入保护气体的环境下进行逐级升温处理,然后,再进行退火处理,待温度达到常温时,再将薄膜电容器从旋转绕驱架上的取出,分切成薄膜电容所需的薄膜带。本发明工艺简单、易于工业化的特点,实际生产成本较小,这种方法制备的薄膜电容器具有较高的抗氧化性和延展性,同时还具有较大电容量,满足产品轻量化的要求。具体实施方式为使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解,下面结合具体实施方式,进一步阐述本发明。实施例1:一种薄膜电容器的制备方法,包括蒸镀金属层、溅射法制备电极和升温/退火处理,薄膜电容器的制备方法如下:(1)蒸镀金属层:在绝缘体薄膜表面蒸镀一层金属薄膜,并绕卷为薄膜卷;(2)溅射法制备电极层:将薄膜卷放置在旋转绕驱架上放进真空腔室,并对真空腔室进行抽真空,采用离子溅射法制备电极层,并利用激光刻蚀获得图案化电极图层;(3)升温/退火处理:将薄膜电容器放入电阻炉,在通入保护气体的环境下进行逐级升温处理,然后,再进行退火处理,待温度达到常温时,再将薄膜电容器从旋转绕驱架上的取出,分切成薄膜电容所需的薄膜带。其中,所述步骤(1)中金属薄膜的金属包括Ni、Ag、Cu、Ti、Au或Pt的纯金属或其复合金属;所述步骤(2)中真空腔室内的真空度为10Pa;所述步骤(2)中电极层厚度为10nm;所述步骤(3)中升温温度为600℃,保温时间为30min;退火温度为90℃,时间为200min;所述步骤(3)中保护气体为Ne。实施例2:一种薄膜电容器的制备方法,包括蒸镀金属层、溅射法制备电极和升温/退火处理,薄膜电容器的制备方法如下:(1)蒸镀金属层:在绝缘体薄膜表面蒸镀一层金属薄膜,并绕卷为薄膜卷;(2)溅射法制备电极层:将薄膜卷放置在旋转绕驱架上放进真空腔室,并对真空腔室进行抽真空,采用离子溅射法制备电极层,并利用激光刻蚀获得图案化电极图层;(3)升温/退火处理:将薄膜电容器放入电阻炉,在通入保护气体的环境下进行逐级升温处理,然后,再进行退火处理,待温度达到常温时,再将薄膜电容器从旋转绕驱架上的取出,分切成薄膜电容所需的薄膜带。其中,所述步骤(1)中金属薄膜的金属包括Ni、Ag、Cu、Ti、Au或Pt的纯金属或其复合金属;所述步骤(2)中真空腔室内的真空度为1000Pa;所述步骤(2)中电极层厚度为10nm;所述步骤(3)中升温温度为700℃,保温时间为50min;退火温度为95℃,时间为205min;所述步骤(3)中保护气体为Xe。实施例3:一种薄膜电容器的制备方法,包括蒸镀金属层、溅射法制备电极和升温/退火处理,薄膜电容器的制备方法如下:(1)蒸镀金属层:在绝缘体薄膜表面蒸镀一层金属薄膜,并绕卷为薄膜卷;(2)溅射法制备电极层:将薄膜卷放置在旋转绕驱架上放进真空腔室,并对真空腔室进行抽真空,采用离子溅射法制备电极层,并利用激光刻蚀获得图案化电极图层;(3)升温/退火处理:将薄膜电容器放入电阻炉,在通入保护气体的环境下进行逐级升温处理,然后,再进行退火处理,待温度达到常温时,再将薄膜电容器从旋转绕驱架上的取出,分切成薄膜电容所需的薄膜带。其中,所述步骤(1)中金属薄膜的金属包括Ni、Ag、Cu、Ti、Au或Pt的纯金属或其复合金属;所述步骤(2)中真空腔室内的真空度为100Pa;所述步骤(2)中电极层厚度为30nm;所述步骤(3)中升温温度为800℃,保温时间为60min;退火温度为100℃,时间为210min;所述步骤(3)中保护气体为Ne和Ar的混合气体。抗氧化性延展性电容量实施例190%80%73%实施例298%95%88%实施例385%90%76%现有的技术参数75%78%66%根据上述表格数据可知,实施例2中采用本发明薄膜电容器的制备工艺和现有的技术参数比较,具有较高的抗氧化性和延展性,同时还具有较大电容量,满足产品轻量化的要求。本发明提供了一种薄膜电容器的制备方法,涉及电子元器件制作
技术领域
,包括蒸镀金属层、溅射法制备电极层和升温/退火处理,在绝缘体薄膜表面蒸镀一层金属薄膜,并绕卷为薄膜卷;将薄膜卷放置在旋转绕驱架上放进真空腔室,并对真空腔室进行抽真空,采用离子溅射法制备电极层,并利用激光刻蚀获得图案化电极图层;将薄膜电容器放入电阻炉,在通入保护气体的环境下进行逐级升温处理,然后,再进行退火处理,待温度达到常温时,再将薄膜电容器从旋转绕驱架上的取出,分切成薄膜电容所需的薄膜带。本发明工艺简单、易于工业化的特点,实际生产成本较小,这种方法制备的薄膜电容器具有较高的抗氧化性和延展性,同时还具有较大电容量,满足产品轻量化的要求。以上所述仅为本发明的实施例,并非因此限制本发明的专利范围,凡是利用本发明说明书内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的
技术领域
,均同理包括在本发明的专利保护范围内。当前第1页1 2 3 
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