背结黑硅电池及其制备方法与流程

文档序号:12478801阅读:235来源:国知局
背结黑硅电池及其制备方法与流程

本发明属于太阳能电池技术领域,具体涉及一种背结黑硅电池及其制备方法。



背景技术:

黑硅电池相对传统太阳电池具有更低的反射率,更加有效的吸收太阳光,从而激发更多的载流子,提升电池效率。开发低成本高效多晶黑硅电池技术,不仅能提升晶硅电池行业的整体转换效率,而且能提高中国光伏产品在世界光伏市场的竞争力,也有助于光伏发电平价上网目标的早日实现。

现有黑硅电池中,pn结通常在电池的受光面(即正面),这存在电极遮挡太阳光的问题,会降低电池对太阳光的吸收,从而影响电池的转化效率。另外,现有pn结的制备方法仍采用扩散工艺,由于黑硅表面的纳米结构具有较大的表面积,因此在扩散中形成了更大的表面掺杂浓度,造成了较严重的俄歇复合,降低了黑硅电池的电性能,严重影响了电池效率。虽然现有背结电池采用离子注入、激光刻蚀或光刻方法在背表面形成pn结和电极,利用离子注入方式制备背表面pn结,并利用激光刻蚀或光刻的方式进行开槽一遍印刷电极,但是这些方法的制备步骤繁琐且制备成本非常高昂。



技术实现要素:

本发明要解决的技术问题是克服现有技术的不足,提供一种光吸收效果好、表面复合低、电学性能、成本低的背结黑硅电池及其制备方法。

为解决上述技术问题,本发明采用的技术方案是:

一种背结黑硅电池,所述背结黑硅电池包括N型硅片;所述N型硅片的背面设有钝化膜A,所述钝化膜A上设有Al电极和掺磷Ag电极,所述掺磷Ag电极设在所述Al电极之间;所述Al电极中铝扩散进入所述N型硅片体内,形成p+层;所述掺磷Ag电极中磷扩散进入所述N型硅片体内,形成N+层;所述背结黑硅电池的背表面形成交错型p+--N—N+型结构。

上述的背结黑硅电池中,优选的,所述Al电极的宽度为50μm~100μm;所述Al电极的间距为1mm~3mm;所述掺磷Ag电极的宽度为25μm~60μm,所述掺磷Ag电极的间距为1mm~3mm。

上述的背结黑硅电池中,优选的,所述钝化膜A为SiO2钝化膜或AlOx钝化膜;所述钝化膜A的厚度为5nm~30nm。

上述的背结黑硅电池中,优选的,所述N型硅片的正面具有纳米孔、纳米柱或纳米线的陷光结构。

上述的背结黑硅电池中,优选的,所述N型硅片的正面设有钝化膜B,所述钝化膜B上设有减反射膜。

上述的背结黑硅电池中,优选的,所述钝化膜B为SiO2钝化膜或AlOx钝化膜;所述钝化膜B的厚度为5nm~30nm;所述减反射膜为SiNx减反射膜;所述减反射膜的厚度为70nm~90nm。

作为一个总的技术构思,本发明还提供了一种上述的背结黑硅电池的制备方法,包括以下步骤:

(1)对N型硅片的正面进行刻蚀,得到黑硅;

(2)在所述黑硅的背面制备钝化膜A;

(3)在所述钝化膜A上印刷铝浆,形成铝电极栅线;

(4)在所述铝电极栅线之间印刷掺磷银浆,形成银电极栅线;

(4)对印刷有铝电极栅线和银电极栅线的黑硅进行烧结,得到背结黑硅电池。

上述的制备方法中,优选的,所述步骤(1)中,所述刻蚀采用干法刻蚀或湿法刻蚀;

和/或,所述步骤(2)中,所述钝化膜A为SiO2钝化膜时,由热氧化法制备;所述钝化膜A为AlOx钝化膜时,由原子层沉积法或PECVD法制备。

上述的制备方法中,优选的,所述热氧化法的温度为600℃~900℃。

上述的制备方法中,优选的,所述步骤(2)中还包括以下步骤在所述黑硅的正面制备钝化膜B;所述钝化膜B为SiO2钝化膜时,由热氧化法制备;所述钝化膜B为AlOx钝化膜时,由原子层沉积法(ALD)或PECVD法制备;所述钝化膜B上还制备有减反射膜;所述减反射膜由PECVD法制备得到。

本发明中,所述热氧化法为干氧热氧化法或湿氧热氧化法,但不仅限于此。

与现有技术相比,本发明的优点在于:

1、本发明提供了一种背结黑硅电池,该背结黑硅电池的背表面形成交错型p+--N—N+型结构,与现有技术中的PN结相比,本发明交错型p+--N—N+型结构的PN结缩短了载流子输运距离,提升了电极对载流子的收集几率。本发明中,将交错型p+--N—N+型结构设在黑硅电池的背表面,这降低了电池正表面的载流子复合,同时将所有电极移至背表面,使黑硅电池正表面没有任何电极遮挡,大大增加了对光的吸收,提升黑硅电池的电流。可见,本发明的背结黑硅电池是一种光吸收效果好、表面复合低、电学性能好、成本较低的太阳电池。

2、本发明的背结黑硅电池中,正面和背面均设有钝化膜,该钝化膜对黑硅正面和背面进行了良好的钝化,能够降低表面复合;同时,本发明背结黑硅电池正面的钝化膜上还设有减反射膜,该减反射膜不仅可以进一步降低表面的反射率,同时还能增强钝化效果,更好的降低表面复合。

3、本发明还提供了一种背结黑硅电池的制备方法,其中铝浆和银浆在背表面交替印刷形成电极栅线,在烧结过程中铝向硅体内扩散,在形成背电极的同时达到p型掺杂的目的,在硅片表面形成重掺杂的p型掺杂层(即p+层),实现硅掺杂效果,且在烧结过程中掺磷银浆料中的磷也扩散进入硅体内,在形成银电极的同时达到N型掺杂的目的,在硅片表面形成重掺杂的N型掺杂层(即N+层),最终在黑硅电池背表面形成p+--N—N+型结构。本发明方法通过利用铝浆印刷并烧结的方式,在电极制备的同时实现了背表面PN结制备,相对传统的背结制备工艺,减少了工艺流程并大幅降低了制备成本。本发明的方法具有制备工艺简单、成本低、可适用于大规模量产等优点。

4、本发明的制备方法中,采用热氧化法在黑硅电池两面生长优质的SiO2钝化膜,进一步降低了表面复合,提升了载流子寿命。

附图说明

图1为本发明实施例1中背结黑硅电池的结构示意图。

图2为本发明实施例1中背结黑硅电池的制备流程图。

具体实施方式

以下结合说明书附图和具体优选的实施例对本发明作进一步描述,但并不因此而限制本发明的保护范围。

以下实施例中所采用的材料和仪器均为市售。

实施例1:

一种本发明的背结黑硅电池,如图1所示,该背结黑硅电池包括N型硅片,N型硅片的背面设有钝化膜A,钝化膜A上设有Al电极和掺磷Ag电极,掺磷Ag电极设在Al电极之间;Al电极中铝扩散进入N型硅片体内,形成p+层;掺磷Ag电极中磷扩散进入N型硅片体内,形成N+层;背结黑硅电池的背表面形成交错型p+--N—N+型结构。

本实施例中,Al电极的宽度为80μm,间距为2mm;掺磷Ag电极的宽度为35μm,间距为2mm;钝化膜A为SiO2钝化膜,厚度为20nm。

本实施例中,N型硅片的正面具有纳米孔的陷光结构;N型硅片的正面设有钝化膜B,钝化膜B上设有减反射膜;钝化膜B为SiO2钝化膜,厚度为20nm;减反射膜为SiNx减反射膜,厚度为80nm。

一种上述本实施例的背结黑硅电池的制备方法,制备流程如图2所示,包括以下步骤:

(1)采用n型硅片,对硅片表面进行清洗,然后利用湿法刻蚀在硅片正面(即受光面)制备具有纳米孔的陷光结构,得到黑硅。

(2)对黑硅进行热氧化,热氧化的温度为850℃,在正面和背面各制备一层厚度为20nm的致密的SiO2钝化膜,对黑硅正面与背面进行良好的钝化。

(3)采用PECVD法在黑硅正表面的SiO2钝化膜上沉积SiNx减反射膜,厚度为80nm,进一步降低表面反射率,同时增强钝化效果。

(4)沉积SiNx减反射膜后,采用细栅线图形,在背表面印刷铝浆,形成铝电极栅线,其中铝电极栅线的宽度为80μm,间距为2mm。

(5)在铝电极栅线中间印刷掺磷银电极浆料,形成银电极栅线,其中银电极栅线的宽度为35μm,间距为2mm。

(6)对印刷有铝电极栅线和银电极栅线的黑硅进行烧结,得到背结黑硅电池。在烧结过程中,在烧结过程中铝向硅体内扩散,在形成背电极的同时达到p型掺杂的目的,在硅片表面形成重掺杂的p型掺杂层(即p+层),实现硅掺杂效果,且在烧结过程掺磷银电极浆料中的磷也扩散进入硅体内,在形成银电极的同时达到N型掺杂的目的,在硅片表面形成重掺杂的N型掺杂层(即N+层),最终在黑硅电池背表面形成交错型p+--N—N+型结构。

经测试,本实施例中制得的背结黑硅电池的表面反射率2.2%(350nm-1100nm),该背结黑硅电池的的光电转化效率(Eff)为21.62%,开路电压(Uoc)为0.673V,短路电流(Isc)为9.952A,填充因子(FF)为79.46%。由此可见,本发明的背结黑硅电池是一种光吸收效果好、表面复合低、电学性能好、成本较低的太阳电池。

以上所述仅是本发明的优选实施方式,本发明的保护范围并不仅局限于上述实施例。凡属于本发明思路下的技术方案均属于本发明的保护范围。应该指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下的改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

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