一种晶元片多探针检测头的制作方法

文档序号:12773357阅读:387来源:国知局
一种晶元片多探针检测头的制作方法与工艺

本实用新型涉及自动化检测技术领域,尤其涉及一种晶元片多探针检测头。



背景技术:

晶元(Wafer),是生产集成电路所用的载体,多指单晶硅圆片,也叫晶元芯片。普通硅砂拉制提炼,经过溶解、提纯、蒸馏一系列措施制成单晶硅棒,单晶硅棒经过抛光、切片之后,就成为了晶元片。一个圆盘状的晶元片上分布有很多一格格的晶元,晶元呈阵列排布,晶元在封装制造成芯片之前需要对其性能进行检测,由于一个晶元片上存在成百上千个晶元,人工通过探针对每个晶元进行检测,工作量非常大,而且容易漏检。



技术实现要素:

本实用新型为了解决现有技术中晶元片检测效率低的问题,提供了一种能适用于自动检测设备,极大提高检测效率的晶元片多探针检测头。

为了实现上述目的,本实用新型采用如下技术方案:

一种晶元片多探针检测头,包括探针座,所述探针座的上端中心设有凹腔,所述凹腔底部设有若干探针定位通孔,所述探针定位通孔内设有探针,所述探针的下端伸出探针座底面,所述凹腔的底面设有与探针一一对应连接的导电片,所述的导电片与凹腔底面之间螺栓连接,每个导电片上均设有导电柱,所述凹腔的内壁上设有环形阶梯面,所述的环形阶梯面上设有线路板,所述的线路板与导电柱之间电连接,所述凹腔的开口端设有端盖,端盖与凹腔开口端之间螺纹连接,所述端盖的上侧面中心设有连接柱;所述探针座的底面中心设有限位柱。连接柱与自动检测设备上的升降机构连接,晶元片安装在滑动支架上,探针座向下移动一次,所有的探针与晶元片表面的晶元弹性接触、检测,然后探针座上移,滑动支架带动晶元片移动一段距离,探针座下降检测,依次循环,将晶元片上的所有晶元都检测一次,检测后直接从自动化检测设备上读取检测结果,极大的提高了晶元片的检测效率;线路板、探针上端电连接都被封装在凹腔内,防水、防尘性能好,整体稳定性好;限位柱用于限定探头的伸缩形变量,探针形变量太小,探针与晶元接触不稳定,探针形变量太大容易损坏,限位柱对探针起到保护作用。

作为优选,所述限位柱与探针座之间螺纹连接,所述限位柱的外侧套设有调节套,所述的限位柱为螺柱,所述调节套与限位柱之间螺纹连接,所述调节套的侧面设有限位螺栓,所述调节套的下端设有缓冲垫片。调节套在限位柱上转动,从而可以调节限位高度,能适用于不同探针的限位,通用性强。

作为优选,所述凹腔的侧面设有引线孔,线路板上的数据线穿过引线孔,数据线的外端设有数据插头,所述的引线孔内设有防水套。线路板上的数据线从引线孔处伸出,数据接头与自动化设备上的接口直接连接,实现数据传递;防水套对引线孔密封,起到防水作用,防止外界的水汽进入凹腔内导致探针短路。

作为优选,所述端盖的下侧面边缘与线路板边缘处设有密封圈。密封圈起到密封作用,防止外界水分进入凹腔内造成短路。

作为优选,所述的探针与探针定位通孔的内壁之间设有防水胶。为了便于探针的安装,探针与探针定位通孔之间间隙配合,这样就会导致探针晃动,防水胶一方面对探针完全定位,防止探针晃动,另一方面起到防水作用,防止外界水汽从探针与探针定位通孔之间的间隙内进入凹腔。

作为优选,所有探针的检测端面为球面,所有探针的检测端面共面。检测端面与晶元接触检测,球面能确保与晶元接触良好。

作为优选,所述的探针座由电木制成。电木的化学名称叫酚醛塑料,电木具有良好的机械强度、绝缘性、耐热性、耐腐蚀性,探针座采用电木制成,能确保探针之间相互绝缘,稳定性好。

因此,本实用新型与自动检测设备连接使用,极大提高晶元片的检测效率;同时自身密封性能好,防水防尘性能好,稳定性好,确保晶元的检测精度。

附图说明

图1为本实用新型的一种结构示意图。

图2为图1的剖视图。

图中:探针座1、凹腔2、探针定位通孔3、探针4、导电片5、防水胶6、导电柱7、环形阶梯面8、线路板9、端盖10、密封圈11、连接柱12、引线孔13、数据线14、数据插头15、防水套16、限位柱17、调节套18、限位螺栓19、缓冲垫片20。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步描述:

如图1和图2所示的一种晶元片多探针检测头,包括探针座1,探针座由电木制成,探针座1的上端中心设有凹腔2,凹腔底部设有若干探针定位通孔3,探针定位通孔内设有探针4,本实施例中的探针有16根,呈4X4的矩阵分布,探针的下端伸出探针座底面,探针的检测端面为球面,所有探针的检测端面共面;凹腔的底面设有与探针一一对应连接的导电片5,探针与导电片之间焊接连接,导电片与凹腔底面之间螺栓连接,每个导电片上均设有导电柱7,探针与探针定位通孔的内壁之间设有防水胶6,凹腔的内壁上设有环形阶梯面8,环形阶梯面上设有线路板9,线路板与导电柱之间电连接,凹腔的开口端设有端盖10,端盖与凹腔开口端之间螺纹连接,端盖的下侧面边缘与线路板边缘处设有密封圈11,端盖的上侧面中心设有连接柱12;凹腔的侧面设有引线孔13,线路板上的数据线14穿过引线孔,数据线的外端设有数据插头15,引线孔内设有防水套16;探针座的底面中心设有限位柱17,限位柱与探针座之间螺纹连接,限位柱的外侧套设有调节套18,限位柱为螺柱,调节套与限位柱之间螺纹连接,调节套的侧面设有限位螺栓19,调节套的下端设有缓冲垫片20。

结合附图,本实用新型的使用方法如下:连接柱12与自动检测设备上的升降机构连接,根据探针长度通过调节套调节限位柱的高度,晶元片安装在滑动支架上,探针座向下移动一次,所有的探针与晶元片表面的晶元弹性接触、检测,然后探针座上移,滑动支架带动晶元片移动一段距离,探针座下降检测,依次循环,将晶元片上的所有晶元都检测一次,检测后直接从自动化检测设备上读取检测结果,极大的提高了晶元片的检测效率;线路板、探针与导电片的连接都被完全封装在凹腔内,受外界干扰小,防水、防尘性能好,同时线路板与凹腔底面、线路板与端盖之间都存在间隙,便于线路板散热。

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