一种离子注入机晶片冷却装置的制作方法

文档序号:16813825发布日期:2019-02-10 14:04阅读:155来源:国知局
一种离子注入机晶片冷却装置的制作方法

本发明涉及一种晶片冷却装置,特别适合于半导体工艺设备中的离子注入机。



背景技术:

离子注入机是半导体工艺中离子掺杂的典型设备,离子源产生需要掺杂的离子束,离子束再经过质量分析、校正、加速,传输到处于靶室终端工艺腔体的硅片表面。

随着半导体工艺的发展,且随着特质线宽的缩小,工艺复杂程度的提高,对晶片的工艺注入温度也提出了越来越高的要求。已成为器件成败与否的重要因素之一。在宽带离子注入机引出束流能量较高、束流和注入剂量很大时,晶片表面的工艺注入温度会很高,必须采取有效地措施降低晶片工艺注入过程中的温度,本发明正是基于此类需求而设计。



技术实现要素:

1.一种离子注入机晶片冷却装置。该装置主要包括:靶盘底座(1),气体冷却管路(2),绝缘导热胶(3),静电吸盘组件(4),晶片(5),真空腔室(6),冷却水管路(7)。

2.根据权利要求1所述的一种离子注入机晶片冷却装置,该装置特征在于,静电吸盘组件(4)通过绝缘导热胶(3)与靶盘底座(1)粘接,晶片(5)通过静电吸附在静电吸盘组件(4)的表面,靶盘底座(1)设计冷却水管路(7)和气体冷却管路(2),整个装置位于真空腔室(6)内。

3.根据权利要求1所述的一种离子注入机晶片冷却装置,该装置特征在于,静电吸盘组件(4)与靶盘底座(1)通过绝缘导热胶(3)粘接,在起到高压绝缘的同时有较好的导热性能。

4.根据权利要求1所述的一种离子注入机晶片冷却装置,该装置特征在于,靶盘底座(1)设计冷却水管路(7),通过热传导作用冷却静电吸盘组件(4)的表面的晶片(5)。

5.根据权利要求1所述的一种离子注入机晶片冷却装置,该装置特征在于,靶盘底座(1)设计气体冷却管路(2),在真空腔室(6)内,在静电吸盘组件(4)和晶片(5)之间通入微量惰性气体,增大介质导热率,对晶片(5)实施冷却。

本发明具有如下显著优点:

1.功能明确,针对性强。

2.结构简单,易于加工制造。

3.设计冷却水和气体冷却双重冷却方式,冷却效果显著。

附图说明

图1是本发明的装配效果示意图。

图2是本发明的靶盘底座的剖视图。

1-靶盘底座,2-气体冷却管路,3-绝缘导热胶,4-静电吸盘组件,5-晶片,6-真空腔室,7-冷却水管路。

具体实施方式

下面结合附图1到附图2对本发明作进一步的介绍,但不作为对本发明的限定。

本发明公开了一种离子注入机晶片冷却装置。该装置主要包括:靶盘底座(1),气体冷却管路(2),绝缘导热胶(3),静电吸盘组件(4),晶片(5),真空腔室(6),冷却水管路(7)。

具体实施步骤如下:

静电吸盘组件(4)通过绝缘导热胶(3)与靶盘底座(1)粘接,晶片(5)通过静电吸附在静电吸盘组件(4)的表面,靶盘底座(1)设计冷却水管路(7)和气体冷却管路(2),整个装置位于真空腔室(6)内。

静电吸盘组件(4)与靶盘底座(1)通过绝缘导热胶(3)粘接,在起到高压绝缘的同时有较好的导热性能。靶盘底座(1)设计冷却水管路(7),通过热传导作用冷却静电吸盘组件(4)的表面的晶片(5)。同时,靶盘底座(1)设计气体冷却管路(2),在真空腔室(6)内,在静电吸盘组件(4)和晶片(5)之间通入微量惰性气体,增大介质导热率,对晶片(5)实施冷却。

以上所述仅为本发明的实施例,并非用于限定本发明的保护范围,而是用于说明本发明。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。



技术特征:

技术总结
本发明公开了一种离子注入机晶片冷却装置。一种离子注入机用晶片载体,依靠静电吸附力吸附晶片,为使其正常工作发明一种晶片冷却装置,以降低晶片在注入过程中的温度。该装置主要包括:靶盘底座(1),气体冷却管路(2),绝缘导热胶(3),静电吸盘组件(4),晶片(5),真空腔室(6),冷却水管路(7)。该装置特征在于,静电吸盘组件(4)通过绝缘导热胶(3)与靶盘底座(1)粘接,晶片(5)通过静电吸附在静电吸盘组件(4)的表面,靶盘底座(1)设计冷却水管路(7)和气体冷却管路(2),整个装置位于真空腔室(6)内。说明书对装置工作原理进行了详细的说明,并给出了具体的实施方案。本发明涉及离子注入装置,隶属于半导体制造领域。

技术研发人员:赵叶军
受保护的技术使用者:北京中科信电子装备有限公司
技术研发日:2017.07.26
技术公布日:2019.02.05
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