本发明涉及一种晶片冷却装置,特别适合于半导体工艺设备中的离子注入机。
背景技术:
离子注入机是半导体工艺中离子掺杂的典型设备,离子源产生需要掺杂的离子束,离子束再经过质量分析、校正、加速,传输到处于靶室终端工艺腔体的硅片表面。
随着半导体工艺的发展,且随着特质线宽的缩小,工艺复杂程度的提高,对晶片的工艺注入温度也提出了越来越高的要求。已成为器件成败与否的重要因素之一。在宽带离子注入机引出束流能量较高、束流和注入剂量很大时,晶片表面的工艺注入温度会很高,必须采取有效地措施降低晶片工艺注入过程中的温度,本发明正是基于此类需求而设计。
技术实现要素:
1.一种离子注入机晶片冷却装置。该装置主要包括:靶盘底座(1),气体冷却管路(2),绝缘导热胶(3),静电吸盘组件(4),晶片(5),真空腔室(6),冷却水管路(7)。
2.根据权利要求1所述的一种离子注入机晶片冷却装置,该装置特征在于,静电吸盘组件(4)通过绝缘导热胶(3)与靶盘底座(1)粘接,晶片(5)通过静电吸附在静电吸盘组件(4)的表面,靶盘底座(1)设计冷却水管路(7)和气体冷却管路(2),整个装置位于真空腔室(6)内。
3.根据权利要求1所述的一种离子注入机晶片冷却装置,该装置特征在于,静电吸盘组件(4)与靶盘底座(1)通过绝缘导热胶(3)粘接,在起到高压绝缘的同时有较好的导热性能。
4.根据权利要求1所述的一种离子注入机晶片冷却装置,该装置特征在于,靶盘底座(1)设计冷却水管路(7),通过热传导作用冷却静电吸盘组件(4)的表面的晶片(5)。
5.根据权利要求1所述的一种离子注入机晶片冷却装置,该装置特征在于,靶盘底座(1)设计气体冷却管路(2),在真空腔室(6)内,在静电吸盘组件(4)和晶片(5)之间通入微量惰性气体,增大介质导热率,对晶片(5)实施冷却。
本发明具有如下显著优点:
1.功能明确,针对性强。
2.结构简单,易于加工制造。
3.设计冷却水和气体冷却双重冷却方式,冷却效果显著。
附图说明
图1是本发明的装配效果示意图。
图2是本发明的靶盘底座的剖视图。
1-靶盘底座,2-气体冷却管路,3-绝缘导热胶,4-静电吸盘组件,5-晶片,6-真空腔室,7-冷却水管路。
具体实施方式
下面结合附图1到附图2对本发明作进一步的介绍,但不作为对本发明的限定。
本发明公开了一种离子注入机晶片冷却装置。该装置主要包括:靶盘底座(1),气体冷却管路(2),绝缘导热胶(3),静电吸盘组件(4),晶片(5),真空腔室(6),冷却水管路(7)。
具体实施步骤如下:
静电吸盘组件(4)通过绝缘导热胶(3)与靶盘底座(1)粘接,晶片(5)通过静电吸附在静电吸盘组件(4)的表面,靶盘底座(1)设计冷却水管路(7)和气体冷却管路(2),整个装置位于真空腔室(6)内。
静电吸盘组件(4)与靶盘底座(1)通过绝缘导热胶(3)粘接,在起到高压绝缘的同时有较好的导热性能。靶盘底座(1)设计冷却水管路(7),通过热传导作用冷却静电吸盘组件(4)的表面的晶片(5)。同时,靶盘底座(1)设计气体冷却管路(2),在真空腔室(6)内,在静电吸盘组件(4)和晶片(5)之间通入微量惰性气体,增大介质导热率,对晶片(5)实施冷却。
以上所述仅为本发明的实施例,并非用于限定本发明的保护范围,而是用于说明本发明。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。