Led晶粒的抽测方法和系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及测试技术领域，更具体地说，涉及一种LED晶粒的抽测方法和系统。
【背景技术】
[0002]由于当前的LED (Light-Emitting D1de，发光二极管)芯片还很难满足光电特性一致性的要求，因此，在LED晶粒进行封装之前，必须对其进行严格的分选和测试。其中，在对LED晶粒进行分类挑选之后，还需采用点测设备对LED晶粒进行抽测，以确保各晶粒的电性和光学特性与分类挑选的要求一致，同时保证LED产品出货的品质。
[0003]现有的一种抽测检验方法是:对所有LED晶粒进行坐标全扫描，再进行矩阵抽测，例如，7x7抽测(25颗抽I颗)或10x10抽测(100颗抽I颗)。图1为待抽测的LED晶粒的排列示意图，如图1所示，这些LED晶粒分别来自晶圆I?晶圆10。在进行7x7矩阵抽测时，必须对所有晶粒进行全扫描，然后再从25颗晶粒中抽出I颗晶粒(图1中加大加粗的数字代表抽出的I颗晶粒)进行电学和光学性能的测试。
[0004]但是，这种矩阵抽测的方式中，全扫描的时间远远大于真正测试的时间，从而使得抽测的效率较低。另外，根据LED晶粒分类挑拣的排列方法，如图1所示，进行7x7矩阵抽测时来自晶圆3、7、10的晶粒并未被抽测到，也就是说，矩阵抽测漏检的几率很大。
【发明内容】
[0005]有鉴于此，本发明提供了一种LED晶粒的抽测方法和系统，以解决现有的矩阵抽测方式中抽测效率较低以及漏检几率较大的问题。
[0006]为实现上述目的，本发明提供如下技术方案:
[0007]一种LED晶粒的抽测方法，包括:
[0008]从已按照预设方式进行排列的待测试LED晶粒中抽选出初始晶粒，所述待测试LED晶粒来自至少一个晶圆；
[0009]对所述初始晶粒以及与所述初始晶粒同一轴向的LED晶粒进行扫描，所述扫描的LED晶粒包括来自任一所述晶圆的至少一个LED晶粒；
[0010]对所述扫描的LED晶粒进行测试，以判断所述LED晶粒是否满足标准。
[0011]优选的，所述已按照预设方式进行排列的待测试LED晶粒是指:
[0012]所述待测试LED晶粒排列成M行N列的矩阵，其中，M和N为正整数，且来自同一晶圆的所述LED晶粒沿行的方向排列，来自不同晶圆的所述LED晶粒沿列的方向排列。
[0013]优选的，所述与所述初始晶粒同一轴向的LED晶粒包括与所述初始晶粒同一列的LED晶粒。
[0014]优选的，所述已按照预设方式进行排列的待测试LED晶粒是指:
[0015]所述待测试LED晶粒排列成M行N列的矩阵，其中，M和N为正整数，且来自同一晶圆的所述LED晶粒沿列的方向排列，来自不同晶圆的所述LED晶粒沿行的方向排列。
[0016]优选的，所述与所述初始晶粒同一轴向的LED晶粒包括与所述初始晶粒同一行的LED晶粒。
[0017]优选的，所述初始晶粒为所述M行N列矩阵中心区域的LED晶粒。
[0018]一种LED晶粒的抽测系统，包括:
[0019]抽选模块，用于从已按照预设方式进行排列的待测试LED晶粒中选出初始晶粒，所述待测试LED晶粒来自至少一个晶圆；
[0020]扫描模块，用于对所述初始晶粒以及与所述初始晶粒同一轴向的LED晶粒进行扫描，所述扫描的LED晶粒包括来自任一所述晶圆的至少一个LED晶粒；
[0021]测试模块，用于对所述扫描的LED晶粒进行测试，以判断所述LED晶粒是否满足标准。
[0022]优选的，当所述待测试LED晶粒排列成M行N列的矩阵，且来自不同晶圆的所述LED晶粒沿列的方向排列时，所述扫描模块对所述初始晶粒以及与所述初始晶粒同一列的LED晶粒进彳丁扫描。
[0023]优选的，当所述待测试LED晶粒排列成M行N列的矩阵，且来自不同晶圆的所述LED晶粒沿行的方向排列时，所述扫描模块对所述初始晶粒以及与所述初始晶粒同一行的LED晶粒进彳丁扫描。
[0024]优选的，所述抽选模块从所述M行N列矩阵的中心区域抽选出所述初始晶粒。
[0025]与现有技术相比，本发明所提供的技术方案具有以下优点:
[0026]本发明所提供的LED晶粒的抽测方法和系统，从已按照预设方式进行排列的待测试LED晶粒中抽选出初始晶粒，再对初始晶粒以及与初始晶粒同一轴向的LED晶粒进行扫描，所述扫描的LED晶粒包括来自任一晶圆的至少一个LED晶粒，然后对扫描的LED晶粒进行测试，以判断LED晶粒是否满足标准。本发明提供的抽测方法和系统，只需对初始晶粒以及与初始晶粒同一轴向的LED晶粒进行扫描，从而大大缩短了扫描时间，提高了抽测效率，并且减少了制造成本和人力成本；此外，由于扫描的LED晶粒包括来自任一晶圆的至少一个LED晶粒，因此，大大降低了漏检的几率，提高了抽测的准确率。
【附图说明】
[0027]为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
[0028]图1为现有的一种LED晶粒抽测原理图；
[0029]图2为本发明的一个实施例提供的一种LED晶粒的抽测方法流程图；
[0030]图3为本发明的一个实施例提供的一种LED晶粒的抽测原理图；
[0031]图4为本发明的一个实施例提供的另一种LED晶粒的抽测原理图；
[0032]图5为本发明的另一个实施例提供的一种LED晶粒的抽测系统结构示意图。
【具体实施方式】
[0033]下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0034]本发明提供了一种LED晶粒的抽测方法，该方法的流程图如图2所示，包括:
[0035]S201:从已按照预设方式进行排列的待测试LED晶粒中抽选出初始晶粒，所述待测试LED晶粒来自至少一个晶圆；
[0036]在对LED晶粒进行分类挑选之后，分选设备会按照设定的方式对LED晶粒进行排序。本实施例提供的已按照预设方式进行排列的待测试LED晶粒如图3所示，这些待测试LED晶粒来自至少一个晶圆，本实施例中仍以待测试LED晶粒来自晶圆I?晶圆10进行说明，但是本发明并不仅限于此。
[0037]如图3所示，待测试LED晶粒排列成M行N列的矩阵，M和N为正整数，且M和N的具体数值由待测试LED晶粒的实际数量决定，其中，来自同一晶圆的所述LED晶粒沿行的方向排列，来自不同晶圆的所述LED晶粒沿列的方向排列。
[0038]具体地，在对待测试的LED晶粒进行排列时，会先将来自晶圆I的LED晶粒从左往右排满第一行，然后从右往左排满第二行，以此类推，奇数行按照从左往右的方式依次排列，偶数行按照从右往左的方式依次排列，当来自晶圆I的LED晶粒排列完成后，按照该次序依次排列来自晶圆2的LED晶粒，以此类推，直到将来自10个晶圆的LED晶粒全部排布完成。当然，在其他实施例中，还可以按照奇数行从右往左，偶数行从左往右的方式进行排列，本发明并不仅限于此。
[0039]或者，在其他实施例中，来自同一晶圆的LED晶粒沿列的方向排列，来自不同晶圆的LED晶粒沿行的方向排列。如图4所示，来自晶圆I的LED晶粒从上往下排满第一列，然后从下往上排满第二列，即奇数列按照从上往下的方式依次排列，偶数列按照从下往上的方式依次排列，直到来自10个晶圆的LED晶粒全部排布完成。当然，在其他实施例中，还可以按照奇数列从下往上，偶数列从上往下的方式进行排列，本发明并不仅限于此。
[0040]从已按照上述预设方式进行排列的LED晶粒抽选