内嵌式试验开关结构的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及按键开关结构技术领域，特别涉及一种内嵌式试验开关结构。
【背景技术】
[0002]现有的漏电保护器均设有漏电试验按键，此类按键均要求焊接在PCB板上，同时因常时间开关寿命断开试验时所产生的火花形成臭氧造成开关触点腐蚀引起开关损坏，又因开关按键结构原因造成防水设计困难，导致按键渗水，如此长时间工作带来漏电保护器的安全隐患，为杜绝上述异常，本发明可以解决上述异常。
【发明内容】
[0003](一)要解决的技术问题
[0004]本发明的目的就是要克服上述缺点，旨在提供一种内嵌式试验开关结构。
[0005]( 二)技术方案
[0006]为达到上述目的，本发明的内嵌式试验开关结构，包括上盖、下盖和线路板，其中线路板位于上盖和下盖之间，还包括压板、防水硅胶垫和触发按键；所述线路板设置有试验开关接触点，所述触发按键与试验开关接触点相对应，并且所述触发按键设有复位弹簧；所述压板位于防水硅胶垫下端；所述防水硅胶垫设有试验开关，所述触发按键位于试验开关下方，所述试验开关和防水硅胶垫一体成型。
[0007]进一步，所述防水硅胶垫设有一体成型的复位键。
[0008]进一步，所述防水硅胶垫设有用于安装触发按键的第一通孔。
[0009]进一步，所述防水硅胶垫设有与复位键对应的第二通孔。
[0010]进一步，所述压板两端设有定位孔。
[0011 ] 进一步，所述触发按键由防腐处理后的金属压铸而成。
[0012](三)有益效果
[0013]与现有技术相比，本发明的技术方案具有以下优点:内嵌开关触头的安装结构代替微动按键开关，试验开关触点行程大于微动开关且作用力是由弹簧调节，解决了开关寿命问题，试验开关片是由金属压铸成型其表面有防腐处理，长时间作动后无氧化及腐蚀问题。
【附图说明】
[0014]图1为本发明的内嵌式试验开关结构的爆炸图。
【具体实施方式】
[0015]下面结合附图和实施例，对本发明的【具体实施方式】作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。
[0016]如图1所示，本发明的内嵌式试验开关结构，包括上盖1、下盖2和线路板3，其中线路板3位于上盖I和下盖2之间，还包括压板4、防水硅胶垫5和触发按键6 ;所述线路板3设置有试验开关接触点8，所述触发按键6与试验开关接触点8相对应，并且所述触发按键6设有复位弹簧9 ;所述压板4位于防水硅胶垫5下端；所述防水硅胶垫5设有试验开关7，所述触发按键6位于试验开关7下方，所述试验开关7和防水硅胶垫5 —体成型。
[0017]所述防水硅胶垫5设有一体成型的复位键10。
[0018]所述防水硅胶垫5设有用于安装触发按键6的第一通孔11。
[0019]所述防水硅胶垫5设有与复位键10对应的第二通孔12。
[0020]所述压板4两端设有定位孔13，该定位孔13与上盖I内侧的定位柱配合，使防水硅胶垫5与上盖I贴合，提高防水能力。
[0021]所述触发按键6由防腐处理后的金属压铸而成。
[0022]本发明工作原理:按下试验开关，带动触发按键向下运动，并与试验开关接触点接触，从而试验开关接触点接触闭合形成回路，完成试验开关动作要求，松开试验开关，在复位弹簧作用下，触发按键和试验开关接触点接触断开。
[0023]本发明采用内嵌开关触头的安装结构代替微动按键开关，试验开关触点行程大于微动开关且作用力是由弹簧调节，解决了开关寿命问题，试验开关片是由金属压铸成型其表面有防腐处理，长时间作动后无氧化及腐蚀问题。
[0024]综上所述，上述实施方式并非是本发明的限制性实施方式，凡本领域的技术人员在本发明的实质内容的基础上所进行的修饰或者等效变形，均在本发明的技术范畴。
【主权项】
1.一种内嵌式试验开关结构，包括上盖(I)、下盖(2)和线路板(3)，其中线路板(3)位于上盖⑴和下盖⑵之间，其特征在于:还包括压板(4)、防水硅胶垫(5)和触发按键(6);所述线路板(3)设置有试验开关接触点(8)，所述触发按键(6)与试验开关接触点(8)相对应，并且所述触发按键(6)设有复位弹簧(9) (9);所述压板(4)位于防水硅胶垫(5)下端；所述防水硅胶垫(5)设有试验开关(7)，所述触发按键(6)位于试验开关(7)下方，所述试验开关(7)和防水硅胶垫(5) —体成型。2.如权利要求1所述的内嵌式试验开关(7)结构，其特征在于:所述防水硅胶垫(5)设有一体成型的复位键(10)。3.如权利要求1所述的内嵌式试验开关(7)结构，其特征在于:所述防水硅胶垫(5)设有用于安装触发按键(6)的第一通孔(11)。4.如权利要求2所述的内嵌式试验开关(7)结构，其特征在于:所述防水硅胶垫(5)设有与复位键(10)对应的第二通孔(12)。5.如权利要求1至4任一项所述的内嵌式试验开关(7)结构，其特征在于:所述压板(4)两端设有定位孔(13)。6.如权利要求5所述的内嵌式试验开关(7)结构，其特征在于:所述触发按键(6)由防腐处理后的金属压铸而成。
【专利摘要】本发明公开一种内嵌式试验开关结构，包括上盖、下盖和线路板，其中线路板位于上盖和下盖之间，还包括压板、防水硅胶垫和触发按键；所述线路板设置有试验开关接触点，所述触发按键与试验开关接触点相对应，并且所述触发按键设有复位弹簧；所述压板位于防水硅胶垫下端；所述防水硅胶垫设有试验开关，所述触发按键位于试验开关下方，所述试验开关和防水硅胶垫一体成型。本发明内嵌开关触头的安装结构代替微动按键开关，试验开关触点行程大于微动开关且作用力是由弹簧调节,解决了开关寿命问题，试验开关片是由金属压铸成型其表面有防腐处理,长时间作动后无氧化及腐蚀问题。
【IPC分类】H01H13/06, H01H13/28
【公开号】CN104979119
【申请号】CN201510366631
【发明人】钱加灿
【申请人】余姚市嘉荣电子电器有限公司
【公开日】2015年10月14日
【申请日】2015年6月25日