探针结构的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型关于电流传递元件，尤其是一种具有双电流传导路径及高结构稳定性的探针结构。
【背景技术】
[0002]目前，于电子设备的各项电子回路元件中，常见有利用探针作为连接元件使用的应用，此外，各类电子元件亦须于制作完毕后，进行相关的电性检测程序，以保障电子回路元件的功能性。电性检测程序针对电子回路元件的各项电性参数进行测试，其中即有以探针检测电子回路元件导通状态的项目。故而于当前的电子元件装置领域中，探针结构可作为连接器如Pogo Pin等产品以连接各式电子回路元件，或是作为检测器对电子回路元件进行电性测试的应用，然而，不论是作为测试之用或是作为连接器之用的探针结构，其构造的重要考量因素即为其电性导通状态。
[0003]以作为连接器使用为例说明，习用作为连接器的探针结构具有一套管、一针轴及一弹性体，该套管一侧具有一开口，另侧则为封闭，该针轴并具有一凹槽，弹性体设于该凹槽内，使该针轴受压后与该套管内管壁接触形成一导电通路，并可藉该弹性体的反向弹力复位，以使电流藉该导电通路达到连接各电子元件的功效。
[0004]然而，如上述设计的探针结构，于该针轴作动过程中易受外力震动而产生该针轴与该套管脱离的现象，影响该导电通路而造成接触不良或断讯的情况。此外，随着电子元件的微型化，应用于其上的探针结构整体体积亦须随的渐趋微小化，而在更加微小的结构下如何改善习知探针结构的缺失，并更进一步提升其电性导通的效率与表现，实为当前亟需解决的问题。
[0005]故本实用新型的发明人构思一种探针结构，希冀可有效解决上述现有探针结构的缺失。
【实用新型内容】
[0006]本实用新型的一目的，旨在提供一种探针结构，其可应用为电连接器或测试器，且可达微型化制作，并通过双电流传导路径以提升探针结构的电流传递效率及延长使用寿命，同时兼具极佳的结构稳固性。
[0007]为达上述目的，本实用新型的探针结构，具有一套管、一针轴及一弹性体，该套管一端具有一开口且另一端为封闭，该针轴容置于该套管内并具有一第一凹槽，该弹性体的一端容设于该第一凹槽内，该针轴受压而与该套管内壁接触形成一第一导电通路，其中:
[0008]该探针结构更具有一导电元件，其设于该套管底侧且一端位于该第一凹槽内，并且该导电元件凹设有一第二凹槽，使该弹性体同时位于该第一凹槽与该第二凹槽内，当该针轴受压移动时该第二凹槽的内侧壁与该导电元件的外侧壁接触形成一第二导电通路。
[0009]所述的探针结构，其中，该针轴相对凹设有该第一凹槽的一端具有一第一接触部，且该第一接触部为凸弧状。由此当本实用新型应用于侧向式连接器或测试器时，可凭借凸弧造型提升侧向力接触该针轴时的稳定性。
[0010]所述的探针结构，其中，该导电元件相对凹设有该第二凹槽的一端具有一第二接触部，且该第二接触部与该套管底侧表面接触。
[0011]所述的探针结构，其中，该套管底侧表面对应该第二接触部设有一导通槽，以提升该第二导电通路的接触稳定性。
[0012]凭借上述技术特征，使该探针结构可凭借该第一导电通路及该第二导电通路维持稳定的电流传递效率，减少因外力震动而产生的接触不良情形产生，以提升使用效率，此夕卜，本实用新型亦可采微型化生产，以因应于各类微型电子元件使用，且凭借本实用新型的结构特征，即便各项元件尺寸微小仍可保有一定的结构稳固性与使用效率，并可有效延长使用寿命。
【附图说明】
[0013]图1为本实用新型较佳实施例的立体分解图；
[0014]图2为本实用新型较佳实施例的组装示意图；
[0015]图3为本实用新型较佳实施例的应用示意图(一)；
[0016]图4为本实用新型较佳实施例的应用示意图(二)。
[0017]附图标记说明:1_探针结构;10_套管;101-开口 ; 102-导通槽;11_针轴；111-第一凹槽；112-第一接触部；12-弹性体；13-第一导电通路；14-导电元件；141-第二凹槽；142-第二接触部；15-第二导电通路；2_连接器基座。
【具体实施方式】
[0018]为使贵审查员能清楚了解本实用新型的内容，谨以下列说明搭配附图，敬请参阅。
[0019]请参阅图1、图2、图3及图4，其分别为本实用新型较佳实施例的立体分解图、组装示意图及各应用示意图。本实用新型的探针结构1，具有一套管10、一针轴11及一弹性体12，该套管10 —端具有一开口 101且另一端为封闭设置，该针轴11容设于该套管10内并自其一端凹设有一第一凹槽111，该弹性体12容设于该第一凹槽111内，当该针轴11受压与该套管10内壁接触形成一第一导电通路13。
[0020]该探针结构I的特征在于，更具有一导电元件14，其设于该套管10底侧且其一端位于该第一凹槽111内，并凹设有一第二凹槽141，使组装后该弹性体12的一端位于该第一凹槽111，另一端则位于该第二凹槽141内，当该针轴11受压向该套管10底侧移动时，该第一凹槽111的内侧壁与该导电元件14的外侧壁形成一第二导电通路15。故而于实际应用时，该探针结构I可凭借该第一导电通路13及该第二导电通路15增加电流传导路径，降低于使用时因外力震动而产生的接触不良或断讯问题。
[0021]其中，该针轴11相对凹设有该第一凹槽111的一端具有一第一接触部112，且较佳者该第一接触部112为凸弧状。该第一接触部112供以作为接触受力端，意即该第一接触部112为当该探针结构I作为连接器或测试器使用时，供以接触外部对手件之用。
[0022]该导电元件14相对凹设有该第二凹槽141的一端具有一第二接触部142，且其与该套管10底侧表面常态接触，该套管10底侧表面并对应该第二接触部142设有一导通槽102，凭借该导通槽102可进一步稳固该导电元件14并连带使该针轴11亦可稳固设置。当该针轴11受力下压移动后，电流系依序自该第一接触部112沿该针轴11及该导电元件14流通至该第二接触部142及该导通槽102而形成该第二导电通路15。此外由于该弹性体12为一弹簧，因此通过该弹性体12，除可提供该针轴11受力下压后的反向回复力外，亦可分担该针轴11的直接受力，以延长该探针结构I的使用寿命。
[0023]本实用新型的该探针结构I可应用于侧接式的连接器或测试器，并可达到微型化制作，凭借本实用新型的结构设计，当各元件的尺寸微小化后，亦可保有一定程度的结构稳固性，且当应用于连接器或测试器产品后，更便于搭配连接器基座或测试器基座，并且进一步提升该针轴11的稳定性，同时，由于本实用新型具有极佳的结构稳定性，因此当该针轴11微型化，可大幅增加该第一接触部112的弧度，以增强接触该针轴11的的受力均匀度与移动稳定度。如图3及4所示，以作为连接器使用为例，该探针结构I可安装于一连接器基座2内，当插接连接器时，对该第一接触部112产生一滑移的侧向力，而使该针轴11朝向该套管10底侧移动并接触该套管10内侧壁，同时，该第一凹槽111的内侧壁亦与该导电元件14外侧壁接触，如此系可形成该第一导电通路13与该第二导电通路15，且该探针结构I可凭借结合时的侧向力增加接触的稳定性，如图4所示，电流自该第一接触部112沿该针轴11流动，并且于该针轴11侧缘区分为二传导路径，其一为朝向该套管10的侧壁流动至该套管10底侧，此即为该第一导电通路13，其二为接续沿该导电元件14侧壁流动至该套管10底侦牝此即为该第二导电通路15，以确保该探针结构I的电性导通状况以降低外力因素影响。
[0024]本实用新型的该探针结构1，凭借该导电元件14与该针轴11及该套管10等元件的搭配，使该探针结构I具有该第一导电通路13及该第二导电通路15，意即具有双电流传导路径，由此可避免受外力震动影响而导致该探针结构I产生接触不良或断讯的问题，以提升接触时的稳定性。此外，透过该导电元件14的设置，亦可有效提升整体结构的稳固性，以延长该探针结构I的使用寿命及使用效率。
[0025]然而以上所述，仅为本实用新型的较佳实施例而已，并非用以限定本实用新型实施的范围；故在不脱离本实用新型的精神与范围下所作的均等变化与修饰，皆应涵盖于本实用新型的专利范围内。
【主权项】
1.一种探针结构，具有一套管、一针轴及一弹性体，该套管一端具有一开口且另一端为封闭，该针轴容置于该套管内并具有一第一凹槽，该弹性体的一端容设于该第一凹槽内，该针轴受压而与该套管内壁接触形成一第一导电通路，其特征在于: 该探针结构更具有一导电元件，其设于该套管底侧且一端位于该第一凹槽内，并且该导电元件凹设有一第二凹槽，使该弹性体同时位于该第一凹槽与该第二凹槽内，当该针轴受压移动时该第二凹槽的内侧壁与该导电元件的外侧壁接触形成一第二导电通路。
2.如权利要求1所述的探针结构，其特征在于，该针轴相对凹设有该第一凹槽的一端具有一第一接触部，且该第一接触部为凸弧状。
3.如权利要求2所述的探针结构，其特征在于，该导电元件相对凹设有该第二凹槽的一端具有一第二接触部，且该第二接触部与该套管底侧表面接触。
4.如权利要求3所述的探针结构，其特征在于，该套管底侧表面对应该第二接触部设有一导通槽。
【专利摘要】本实用新型提供一种探针结构，具有一套管、一针轴及一弹性体，针轴容置于套管内并凹设有一第一凹槽供以容设该弹性体，针轴受压后与套管内壁接触形成一第一导电通路，其特征在于，更具有一导电元件，设于套管底侧且一端套接于该第一凹槽内并凹设有一第二凹槽，使弹性体同时位于第一凹槽与第二凹槽内，当针轴受压移动时第二凹槽的内侧壁与导电元件外侧壁接触形成一第二导电通路。由此，本实用新型通过双导电路径维持稳定电流传递效率，以降低接触不良或断讯情况发生，同时本实用新型具有极佳的结构稳固性。
【IPC分类】H01R13-24, G01R1-067
【公开号】CN204348991
【申请号】CN201420820301
【发明人】郑育旻, 罗友昱, 谢健堉
【申请人】中国探针股份有限公司
【公开日】2015年5月20日
【申请日】2014年12月22日