基于频谱分析的TIADC增益和时间误差的校正方法与流程

技术总结
本发明公开了一种基于频谱分析的TIADC增益和时间误差的校正方法，利用FFT对子ADC采样数据进行频谱分析，通过对特定频点上的幅度、相位计算得到相应的增益和时间误差估计值，进而得到相应的增益、时间误差校正值，这种方法实现简单，工程应用性极强，计算简单，且精度高。

技术研发人员：蒋俊;孔祥伟;叶芃;郭连平;杨扩军
受保护的技术使用者：电子科技大学
文档号码：201610614744
技术研发日：2016.07.29
技术公布日：2016.12.07