一种静电保护电路、显示面板及显示装置的制作方法

本实用新型涉及显示技术领域，尤指一种静电保护电路、显示面板及显示装置。

背景技术：

显示面板的制备包括阵列基板工序、彩膜基板工序以及阵列基板与彩膜基板的对盒(Cell)工序，一般在进行Cell工序时要进行面板功能测试(Cell Test)。以通过Cell Test检测面板在Array、CF、Cell这三个工序中出现的不良，把不良的产品去除。目前Cell Test常用的方法是在显示面板的周边区域设置Shorting bar，并将显示面板显示区域中的所有的扫描线和信号线分别与Shorting bar连接，然后再通过Shorting bar进行R/G/B/W画面测试。一旦测试完成，就将显示面板中设置有Shorting bar的区域采用激光切割设备切除。另外，在显示面板的制备时，很多工序中都可能会产生静电，为了避免静电对产品的损伤，在显示面板中一般均设置有静电保护电路。

因此，在现有的显示面板设计中，静电保护电路和Cell Test电路占用了很大的布线空间，使面板的显示区域相对面积更小。并且，现有技术中，为了切除显示面板中设置有Shorting bar的区域还需要配备专门的激光切割设备，成产成本较高。

技术实现要素：

本实用新型实施例提供一种静电保护电路、显示面板及显示装置，既可以实现静电保护功能，又可以实现Cell Test功能，且结构简单、布线空间较小，不需要进行切割。

本实用新型实施例提供的一种静电保护电路，包括：第一放电控制模块、放电模块、第一信号端、第二信号端和测试控制信号端；其中，

所述第一放电控制模块的输入端分别与所述第一信号端和所述放电模块的第一端相连，所述第一放电控制模块的输出端分别与所述放电模块的控制端和所述测试控制信号端相连，所述放电模块的第二端与所述第二信号端相连；

所述放电模块用于在所述测试控制信号端接收到测试控制信号时，将第一信号端与第二信号端导通；所述第一放电控制模块用于在所述第一信号端聚集的静电的数量超过预设值时控制所述放电模块通过所述的第二信号端释放所述第一信号端聚集的静电。

较佳地，在本实用新型实施例提供的上述静电保护电路中，还包括：第二放电控制模块；其中，

所述第二放电控制模块的输入端与所述第二信号端相连，所述第二放电控制模块的输出端和所述测试控制信号端相连；

所述第二放电控制模块用于在所述第二信号端聚集的静电的数量超过预设值时控制所述放电模块通过所述第一信号端释放所述第二信号端聚集的静电。

较佳地，在本实用新型实施例提供的上述静电保护电路中，所述第一放电控制模块包括：第一二极管；其中，

所述第一二极管的正极为所述第一放电控制模块的输入端，负极为所述第一放电控制模块的输出端。

较佳地，在本实用新型实施例提供的上述静电保护电路中，所述第一二极管由第一开关晶体管组成；其中，

所述第一开关晶体管为N型晶体管，所述第一开关晶体管的栅极与漏极相连为所述第一二极管的正极，所述第一开关晶体管的源极为所述第一二极管的负极；

所述第一开关晶体管为P型晶体管，所述第一开关晶体管的栅极与源极相连为所述第一二极管的负极，所述第一开关晶体管的漏极为所述第一二极管的正极。

较佳地，在本实用新型实施例提供的上述静电保护电路中，所述第二放电控制模块包括：第二二极管；其中，

所述第二二极管的正极为所述第二放电控制模块的输入端，负极为所述第二放电控制模块的输出端。

较佳地，在本实用新型实施例提供的上述静电保护电路中，所述第二二极管由第二开关晶体管组成；其中，

所述第二开关晶体管为N型晶体管，所述第二开关晶体管的栅极与漏极相连为所述第二二极管的正极，所述第二开关晶体管的源极为所述第二二极管的负极；

所述第二开关晶体管为P型晶体管，所述第二开关晶体管的栅极与源极相连为所述第二二极管的负极，所述第二开关晶体管的漏极为所述第二二极管的正极。

较佳地，在本实用新型实施例提供的上述静电保护电路中，所述放电模块包括：第三开关晶体管；其中，

所述第三开关晶体管的栅极为所述放电模块的控制端，源极为所述放电模块的第一端，漏极为所述放电模块的第二端。

相应地，本实用新型实施例还提供了一种显示面板，包括多条栅线，多条数据线，以及与所述栅线和数据线连接的像素单元，还包括：

与各所述栅线一一对应第一静电保护电路，以及与各所述数据线一一对应的第二静电保护电路；其中所述第一静电保护电路和所述第二静电保护电路均为本实用新型实施例提供的上述任一种静电保护电路；且各所述第一静电保护电路的第一信号端与对应的栅线相连，各所述第二静电保护电路的第一信号端与对应的数据线相连；

与各所述第一静电保护电路的测试控制信号端相连的第一控制信号输入线；

与各所述第二静电保护电路的测试控制信号端相连的第二控制信号输入线；

分别与各所述第一静电保护电路的第二信号端相连的第一静电保护线和栅极信号输入线；

分别与各所述第二静电保护电路的第二信号端相连的第二静电保护线和数据信号输入线。

较佳地，在本实用新型实施例提供的上述显示面板中，所述第一控制信号输入线与所述第二控制信号输入线相连。

较佳地，在本实用新型实施例提供的上述显示面板中，所述第一静电保护线与所述第二静电保护线相连。

相应地，本实用新型实施例还提供了一种显示装置，包括本实用新型实施例提供的上述任一种显示面板。

本实用新型有益效果如下：

本实用新型实施例提供的一种静电保护电路、显示面板及显示装置，其中静电保护电路包括：第一放电控制模块、放电模块、第一信号端、第二信号端和测试控制信号端。第一放电控制模块可以用于在第一信号端聚集的静电的数量超过预设值时控制放电模块通过第二信号端释放第一信号端聚集的静电。这样当上述静电保护电路应用于显示面板中时，将显示面板上的信号线连到第一信号端，当显示面板上的信号线上的静电的数量达到一定程度时，可以通过该静电保护电路的第二信号端及时释放掉，从而避免对面板造成静电损伤。而当显示面板需要进行Cell Test时，由于放电模块可以在测试控制信号端接收到测试控制信号时，将第一信号端与第二信号端导通，这样通过控制测试控制信号端，利用第二信号端向第一信号端输入测试需要的信号，从而能够实现Cell Test的功能。与现有显示面板中即设计有静电保护电路， 又设计有Shorting bar相比，仅需要通过一个电路就能实现静电保护和Cell Test的功能，从而可以减小布线空间，并且还省去了现有技术中切除Shorting bar区域的步骤。

附图说明

图1为本实用新型实施例提供的静电保护电路的结构示意图之一；

图2为本实用新型实施例提供的静电保护电路的结构示意图之二；

图3a为本实用新型实施例提供的静电保护电路的具体结构示意图之一；

图3b为本实用新型实施例提供的静电保护电路的具体结构示意图之二；

图4a为本实用新型实施例提供的静电保护电路的具体结构示意图之三；

图4b为本实用新型实施例提供的静电保护电路的具体结构示意图之四；

图5a为本实用新型实施例提供的静电保护电路的具体结构示意图之五；

图5b为本实用新型实施例提供的静电保护电路的具体结构示意图之六；

图6为本实用新型实施例提供的显示面板的结构示意图之一；

图7为本实用新型实施例提供的显示面板的结构示意图之二。

具体实施方式

下面结合附图，对本实用新型优选实施例提供的一种静电保护电路、显示面板及显示装置的具体实施方式进行详细地说明。

本实用新型实施例提供的一种静电保护电路，如图1所示，包括：第一放电控制模块1、放电模块2、第一信号端S1、第二信号端S2和测试控制信号端test；其中，

第一放电控制模块1的输入端分别与第一信号端S1和放电模块2的第一端相连，第一放电控制模块1的输出端分别与放电模块2的控制端和测试控制信号端test相连，放电模块2的第二端与第二信号端S2相连；

放电模块2用于在测试控制信号端test接收到测试控制信号时，将第一信 号端S1与第二信号端S2导通；第一放电控制模块1用于在第一信号端S1聚集的静电的数量超过预设值时控制放电模块2通过第二信号端S2释放第一信号端S1聚集的静电。

本实用新型实施例提供的上述静电保护电路，包括：第一放电控制模块、放电模块、第一信号端、第二信号端和测试控制信号端。第一放电控制模块可以用于在第一信号端聚集的静电的数量超过预设值时控制放电模块通过第二信号端释放第一信号端聚集的静电。这样当上述静电保护电路应用于显示面板中时，将显示面板上的信号线连到第一信号端，当显示面板上的信号线上的静电的数量达到一定程度时，可以通过该静电保护电路的第二信号端及时释放掉，从而避免对面板造成静电损伤。而当显示面板需要进行Cell Test时，由于放电模块可以在测试控制信号端接收到测试控制信号时，将第一信号端与第二信号端导通，这样通过控制测试控制信号端，利用第二信号端向第一信号端输入测试需要的信号，从而能够实现Cell Test的功能。与现有显示面板中即设计有静电保护电路，又设计有Shorting bar相比，仅需要通过一个电路就能实现静电保护和Cell Test的功能，从而可以减小布线空间，并且还省去了现有技术中切除Shorting bar区域的步骤。

本实用新型实施例提供的上述静电保护电路，可以通过第二信号端释放掉第一信号端聚集的静电。但是在具体实施时，第二信号端也可能聚集静电，并且第二信号端聚集的静电如果不及时释放掉，也可能损伤静电保护电路。因此，较佳地，在本实用新型实施例提供的上述静电保护电路中，如图2所示，还包括：第二放电控制模块3；其中，

第二放电控制模块3的输入端与第二信号端S2相连，第二放电控制模块3的输出端和测试控制信号端test相连；

第二放电控制模块3用于在第二信号端S2聚集的静电的数量超过预设值时控制放电模块2通过第一信号端S1释放第二信号端S2聚集的静电。

下面结合具体实施例，对本实用新型进行详细说明。需要说明的是，本实 施例中是为了更好的解释本实用新型，但不限制本实用新型。

较佳地，在本实用新型实施例提供的上述静电保护电路中，如图3a和图3b所示，第一放电控制模块1包括：第一二极管D1；其中，

第一二极管D1的正极为第一放电控制模块的输入端，负极为第一放电控制模块的输出端。

这样，当第一信号端聚集的静电的数量达到预设值时，第一二极管会处于导通状态，控制放电模块处于导通状态，导通的放电模块将第一信号端的的静电通过第二信号端释放掉。

进一步地，在本实用新型实施例提供的上述静电保护电路中，如图4a至图5b所示，第一二极管D1由第一开关晶体管T1组成；其中，

如图4a和图5a所示，第一开关晶体管T1为N型晶体管，第一开关晶体管T1的栅极与漏极相连为第一二极管D1的正极，第一开关晶体管T1的源极为第一二极管D1的负极；

或者，如图4b和图5b所示，第一开关晶体管T1为P型晶体管，第一开关晶体管T1的栅极与源极相连为第一二极管D1的负极，第一开关晶体管T1的漏极为第一二极管D1的正极。

以上仅是举例说明第一放电控制模块的具体结构，在具体实施时，第一放电控制模块的具体结构不限于本实用新型实施例提供的上述结构，还可以是本领域技术人员可知的其他结构，在此不做限定。

较佳地，在本实用新型实施例提供的上述静电保护电路中，如图3b所示，第二放电控制模块3包括：第二二极管D2；其中，

第二二极管D2的正极为第二放电控制模块3的输入端，负极为第二放电控制模块3的输出端。

这样，当第二信号端聚集的静电的数量达到预设值时，第二二极管会处于导通状态，控制放电模块处于导通状态，导通的放电模块将第二信号端的的静电通过第一信号端释放掉。

进一步地，在本实用新型实施例提供的上述静电保护电路中，如图5a和图5b所示，第二二极管D2由第二开关晶体管T2组成；其中，

如图5a所示，第二开关晶体管T2为N型晶体管，第二开关晶体管T2的栅极与漏极相连为第二二极管D2的正极，第二开关晶体管T2的源极为第二二极管D2的负极；

或者，如图5b所示，第二开关晶体管T2为P型晶体管，第二开关晶体管T2的栅极与源极相连为第二二极管D2的负极，第二开关晶体管T2的漏极为第二二极管D2的正极。

以上仅是举例说明第二放电控制模块的具体结构，在具体实施时，第二放电控制模块的具体结构不限于本实用新型实施例提供的上述结构，还可以是本领域技术人员可知的其他结构，在此不做限定。

较佳地，在本实用新型实施例提供的上述静电保护电路中，如图4a至图5b所示，放电模块2包括：第三开关晶体管T3；其中，

第三开关晶体管T3的栅极为放电模块2的控制端，源极为放电模块2的第一端，漏极为放电模块2的第二端。

这样当第三开关晶体管导通时，可以使第一信号端与第二信号端处于导通状态，当该静电保护电路处于静电保护状态时，导通的第一信号端和第二信号端可以释放静电，当该静电保护电路处于Cell Test状态时，导通的第一信号端和第二信号端可以进行信号的传输。

在具体实施时，在本实用新型实施例提供的上述静电保护电路中，第三开关晶体管为N型晶体管。

以上仅是举例说明放电模块的具体结构，在具体实施时，放电模块的具体结构不限于本实用新型实施例提供的上述结构，还可以是本领域技术人员可知的其他结构，在此不做限定。

较佳地，在本实用新型实施例提供的上述静电保护电路中，为了简化制作工艺难度，开关晶体管一般均采用相同材质的晶体管。因此，在具体实施时， 上述所有开关晶体管均采用N型晶体管。

需要说明的是，N型晶体管在其栅极电位为高电位时处于导通状态，在其栅极电位为低电位时，处于截止状态。P型晶体管在其栅极电位为低电位时处于导通状态，在其栅极电位为高电位时，处于截止状态。

进一步地，在本实用新型上述实施例中提到的开关晶体管可以是薄膜晶体管(TFT，Thin Film Transistor)，也可以是金属氧化物半导体场效应管(MOS，Metal Oxide Semiconductor)，在此不做限定。在具体实施中，这些开关晶体管的源极和漏极根据晶体管类型以及输入信号的不同，其功能可以互换，在此不做具体区分。

下面以图5a所示的静电保护电路为例，具体说明本实用新型实施例提供的上述静电保护电路的具体工作原理。如图5a所示，所有开关晶体管均为N型晶体管。

在进行Cell Test时，测试控制信号端接收的测试控制信号为高电位信号。

这时，测试控制信号端控制第三开关晶体管T3处于导通状态，这样当向第一信号端S1或第二信号端S2输入测试用信号时，显示面板上的信号线就可以通过第二信号端S2或第一信号端S1接收该测试用信号，从而实现Cell Test功能。

在进行静电保护时，测试控制信号端接收的测试控制信号为低电位信号。

当第一信号端S1聚集的正静电的数量超过预设值时，第一开关晶体管T1导通，导通的第一开关晶体管T1使第三开关晶体管T3的栅极的电位变为高电位，第三开关晶体管T3导通，从而第一信号端S1聚集的正静电经过导通的第三开关晶体管T3从第二信号端S2释放掉。同理，当第二信号端S2聚集的正静电的数量超过预设值时，第二开关晶体管T2导通，导通的第二开关晶体管T2使第三开关晶体管T3的栅极的电位变为高电位，第三开关晶体管T3导通，从而第二信号端S2聚集的正静电经过导通的第三开关晶体管T3从第一信号端S1释放掉。

当第一信号端S1聚集的负静电的数量超过预设值时，此时由于测试控制信号端test接收的测试控制信号为低电位信号(电压值一般为-10v至-5v)，与第一信号端S1聚集的大量负静电相比，测试控制信号端test的电位可以看作是正电位，因此第三开关晶体管T3导通，从而第一信号端S1聚集的负静电经过导通的第三开关晶体管T3从第二信号端S2释放掉。同理，当第二信号端S2聚集的负静电的数量超过预设值时，此时由于测试控制信号端test接收的测试控制信号为低电位信号(电压值一般为-10v至-5v)，与第二信号端S2聚集的大量负静电相比，测试控制信号端test的电位可以看作是正电位，因此第三开关晶体管T3导通，从而第二信号端S2聚集的负静电经过导通的第三开关晶体管T3从第一信号端S1释放掉。

另外，上述静电保护电路，在进行静电保护时，当第一信号端和第二信号端的静电数量较少时，由于测试控制信号端接收的测试控制信号为低电位信号，因此测试控制信号端可以更好的使第三开关晶体管T3截止，从而使第三开关晶体管T3的漏电流更小。

基于同一实用新型构思，本实用新型实施例还提供了一种显示面板，如图6所示，包括多条栅线gate，多条数据线data，以及与栅线gate和数据线data连接的像素单元，还包括：

与各栅线gate一一对应第一静电保护电路11，以及与各数据线data一一对应的第二静电保护电路12；其中第一静电保护电路11和第二静电保护电路12均本实用新型实施例提供上述任一种静电保护电路；且各第一静电保护电路11的第一信号端S1与对应的栅线gate相连，各第二静电保护电路12的第一信号端S1与对应的数据线data相连；

与各第一静电保护电路11的测试控制信号端test相连的第一控制信号输入线t line1；

与各第二静电保护电路12的测试控制信号端test相连的第二控制信号输入线t line2；

分别与各第一静电保护电路11的第二信号端S2相连的第一静电保护线ESD line1和栅极信号输入线g line；

分别与各第二静电保护电路12的第二信号端相连的第二静电保护线ESD line2和数据信号输入线d line。

本实用新型实施例提供的上述显示面板，当进行Cell Test时，第一控制信号输入线控制各第一静电保护电路将栅极信号输入线输入的测试用信号提供给对应各栅线，第二控制信号输入线控制各第二静电保护电路将数据信号输入线输入的测试用信号提供给对应各数据线，从而实现Cell Test功能。在需要进行静电保护时，各栅线上聚集的静电可以通过第一静电保护电路从第一静电保护线释放掉，各数据线上聚集的静电可以通过第而静电保护电路从第二静电保护线释放掉，从而实现静电保护功能。

较佳地，在本实用新型实施例提供的上述显示面板中，如图7所示，第一控制信号输入线t line1与第二控制信号输入线t line2相连。

较佳地，在本实用新型实施例提供的上述显示面板中，如图7所示，第一静电保护线ESD line1与第二静电保护线ESD line2相连。

基于同一实用新型构思，本实用新型实施例还提供了一种显示装置，包括本实用新型实施例提供的上述显示面板。该显示装置可以为：手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。该显示装置的实施可以参见上述显示面板的实施例，重复之处不再赘述。

本实用新型实施例提供的一种静电保护电路、显示面板及显示装置，其中静电保护电路包括：第一放电控制模块、放电模块、第一信号端、第二信号端和测试控制信号端。第一放电控制模块可以用于在第一信号端聚集的静电的数量超过预设值时控制放电模块通过第二信号端释放第一信号端聚集的静电。这样当上述静电保护电路应用于显示面板中时，将显示面板上的信号线连到第一信号端，当显示面板上的信号线上的静电的数量达到一定程度 时，可以通过该静电保护电路的第二信号端及时释放掉，从而避免对面板造成静电损伤。而当显示面板需要进行Cell Test时，由于放电模块可以在测试控制信号端接收到测试控制信号时，将第一信号端与第二信号端导通，这样通过控制测试控制信号端，利用第二信号端向第一信号端输入测试需要的信号，从而能够实现Cell Test的功能。与现有显示面板中即设计有静电保护电路，又设计有Shorting bar相比，仅需要通过一个电路就能实现静电保护和Cell Test的功能，从而可以减小布线空间，并且还省去了现有技术中切除Shorting bar区域的步骤。

显然，本领域的技术人员可以对本实用新型进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这样，倘若本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内，则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。