一种液晶显示LED背光的测试装置的制作方法

本实用新型涉及液晶显示生产检测技术，尤其涉及一种液晶显示LED背光的测试装置。

背景技术：

在现有技术中，对液晶显示LED背光进行检测的方法是在LED正常使用条件下，即将其通过20mA的电流，检测其亮度和色系。但采用上述方法，无法获知LED是否有被静电击伤或反向击穿等严重影响使用寿命的情况。如果不检测LED是否有被静电击伤或反向击穿，则将会使LED的良率大大减低，一旦将不良品流入客户手中，则会造成巨大损失。

为了能够获知液晶显示LED背光是否有被静电击伤或反向击穿等严重影响使用寿命的情况，一般检测人员会采用特殊设备仪器进行实际拍照，看LED的芯片是否有烧黑或是内部的线路有断开的现象，又或者测量LED的具体成分来分析LED的寿命和是否有静电击伤，但采用以上方式需要昂贵成本，而且操作不便，因此需要一种新的液晶显示LED背光的测试装置。

技术实现要素：

本实用新型的任务是提供一种新的液晶显示LED背光的测试装置，可测试LED由于被静电击伤或反向击穿等严重影响使用寿命的情况。为实现上述目的，本专利采用如下技术方案：

一种液晶显示LED背光的测试装置，其特征在于，包括第一恒压电源、地端、三极管Q1、三极管Q2、三极管Q3、三极管Q4、电阻器R1、测试端子和报警器；三极管Q1的基极与测试端子的负极连接，三极管Q1的集电极分别与 测试端子的正极、第一恒压电源和报警器的正极连接，三极管Q1的发射极与三极管Q2的基极连接；三极管Q2的集电极与报警器的负极连接，三极管Q2的发射极与地端连接，三极管Q3的基极通过电阻器R1连接到地端，三极管Q3的发射极连接到地端，三极管Q3的集电极连接到第一恒压电源；三极管Q4的发射极与三极管Q3的基极连接，三极管Q4的基极连接到第一恒压电源，三极管Q4的集电极与测试端子的负极连接。

优选的，所述液晶显示LED背光的测试装置还包括可变电阻器R2、可变电阻器R3，所述可变电阻器R2是连接在测试端子的负极和三极管Q1的基极之间，可变电阻器R3是连接在三极管Q3的集电极与第一恒压电源之间。

优选的，所述液晶显示LED背光的测试装置还包括开关电路，所述开关电路的一端与测试端子的负极连接，另一端与地端连接，开关电路还包括一控制端，通过所述控制端控制开关电路的导通与断开。

优选的，所述开关电路包括三极管Q5、三极管Q6和第二恒压电源；其中，所述三极管Q5的集电极与测试端子的负极连接，三极管Q5的发射极与地端连接，三极管Q5的基极与三极管Q6的发射极连接，三极管Q6的基极与控制端连接，三极管Q6的集电极与第二恒压电源连接。

优选的，所述液晶显示LED背光的测试装置还包括二极管，所述二极管串联在三极管Q1的发射极与三极管Q2的基极连接的支路上。

优选的，所述三极管Q1、三极管Q2、三极管Q3、三极管Q4、三极管Q5和三极管Q6的型号是C1815。

优选的，所述液晶显示LED背光的测试装置还包括电容器，所述电容器一端连接三极管Q1的基极，一端连接到地端。

优选的，所述报警器是发光二极管。

采用了上述新的液晶显示LED背光的测试装置，利用LED的非线性伏安特性，有效检测LED是否有被静电击伤或反向击穿等严重影响使用寿命的情况，减少生产成本，提高生产效率和产品良率。

附图说明

图1是本实用新型液晶显示LED背光的测试装置的第一实施例的电路图；

图2是本实用新型液晶显示LED背光的测试装置的第二实施例的电路图；

图3是本实用新型液晶显示LED背光的测试装置的第三实施例的电路图。

具体实施方式

下面结合附图和实施方式对本实用新型作进一步说明，但是本实用新型的保护范围并不局限于实施方式表述的范围。

请参考图1，图1是本实用新型液晶显示LED背光的测试装置的第一实施例的电路图。

本实用新型的一种液晶显示LED背光的测试装置，其特征在于，包括第一恒压电源A+、地端、三极管Q1、三极管Q2、三极管Q3、三极管Q4、电阻器R1、测试端子T1和报警器D1；三极管Q1的基极与测试端子T1的负极连接，三极管Q1的集电极分别与测试端子T1的正极、第一恒压电源A+和报警器D1的正极连接，三极管Q1的发射极与三极管Q2的基极连接；三极管Q2的集电极与报警器D1的负极连接，三极管Q2的发射极与地端连接，三极管Q3的基极通过电阻器R1连接到地端，三极管Q3的发射极连接到地端，三极管Q3的集电极连接到第一恒压电源A+；三极管Q4的发射极与三极管Q3的基极连接，三极管Q4的基极连接到第一恒压电源A+，三极管Q4的集电极与测试端子T1的负极连接。

根据LED的二极管特性，当LED有非常小的电流通过，如1μA，LED两端电压可达到1.6～2.2V的电压。另一方面，当电流增加到20mA时，LED的两端电压约为3V左右，由此可知，通过LED的电流增加，但LED的两端电压变化不大。利用此特性，在每个LED灯上通过约1μA的电流时，检测此时LED的两端电压是否为1.9～2.2V，若检测到的电压小于此范围时，可以确定此LED的晶元受静电击伤，判定为不良品。

具体的，将被测LED连接到测试端子T1上，其中LED的正极连接到测试端子T1的正极上，LED的负极连接到测试端子T1的负极上。在第一恒压电源A+处输入电压和电流，并调整电压和电流直到流过LED的电流为1μA，两端电压为1.6～2.0V。此时，三极管Q1、三极管Q2不导通，报警器D1不报警。三极管Q3、三极管Q4导通，流经LED的电流从经过三极管Q3、三极管Q4流到地端。当LED是不良品时，流过1μA电流时，两端电压约为1V，此时，三极管Q1、三极管Q2导通，报警器D1的正极连接到第一恒压源，报警器D1的负极通过三极管Q2连接到地端，报警器D1报警。从而提醒测试人员，该LED有可能被静电击伤或反向击穿。

电阻器R1设置在三极管Q4的发射极与地端之间，有效避免由于短路所造成的电路危险，是保护电路正常工作的重要器件之一。

通过上述方案，有效检测液晶显示LED背光是否有被静电击伤或反向击穿等严重影响使用寿命的情况，减少生产成本，提高生产效率和产品良率。

在上述方案中，在电路中可进一步增加可变电阻器R2、可变电阻器R3，所述可变电阻器R2是连接在测试端子的负极和三极管Q1的基极之间，可变电阻器R3是连接在三极管Q3的集电极与第一恒压电源之间。

具体的，可变电阻器R2、可变电阻器R3设置在LED的电流回路中。改变 可变电阻器R2、可变电阻器R3的阻值，可以调节通过LED的电流，上述方案提高了本实用新型液晶显示LED背光的测试装置的可兼容性和扩展性，便于测试人员对电路进行校正。

请进一步参考图2，图2是本实用新型液晶显示LED背光的测试装置的第二实施例的电路图。

优选的，所述液晶显示LED背光的测试装置还包括开关电路201，所述开关电路201的一端与测试端子T1的负极连接，另一端与地端连接，开关电路还包括一控制端T2，通过所述控制端T2控制开关电路201的导通与断开。

具体的，控制端T2有高电平或低电平两种状态。可设置当控制端T2为高电平时，开关电路201导通，测试端子T1的负极导通到地端；当控制端T2为低电平时，开关电路201断开，测试端子T1的负极流出的电流不流入开关电路201，而流入三极管Q4。同理，可设置当控制端T2为低电平时，开关电路201导通，测试端子T1的负极导通到地端；当控制端T2为高电平时，开关电路201断开，测试端子T1的负极流出的电流不流入开关电路201，而流入三极管Q4。上述控制端T2可通过单片机等进行控制其高低电平，如何用单片机进行控制控制端T2高低电平属于现有技术，在此不再赘述。

当开关电路201为导通状态时，流经LED的电流经过开关电路201流到地端，这时候，LED正常发光，通过上述方案，可完成检测LED的亮度是否正常的检测工序，提高效率，节约成本。

请进一步参考图3，图3是本实用新型液晶显示LED背光的测试装置的第三实施例的电路图。

优选的，所述开关电路201包括三极管Q5、三极管Q6和第二恒压电源；第二恒压源的电压可设有3.3V，其中，所述三极管Q5的集电极与测试端子T1 的负极连接，三极管Q5的发射极与地端连接，三极管Q5的基极与三极管Q6的发射极连接，三极管Q6的基极与控制端T2连接，三极管Q6的集电极与第二恒压电源连接。

具体的，当控制端T2为高电平时，三极管Q5和三极管Q6导通，测试端子T1的负极导通到地端；当控制端T2为低电平时，开关电路201断开。

上述方案是开关电路的一个优选方案，电路简单容易实现，成本极低。

优选的，所述液晶显示LED背光的测试装置还包括二极管D2，所述二极管串联在三极管Q1的发射极与三极管Q2的基极连接的支路上。

在图3中的实施例，三极管Q1的发射极与三极管Q2的基极连接的支路上串联了两个二极管D2。

经实验，在三极管Q1与三极管Q2之间设置二极管D2保证电路安全和正常运作，减少由于三极管Q1或三极管Q2损坏而带来的短路风险。

优选的，所述三极管Q1、三极管Q2、三极管Q3、三极管Q4、三极管Q5和三极管Q6的型号是C1815。

经实验，型号C1815的三极管工作稳定、成本低。

优选的，所述液晶显示LED背光的测试装置还包括电容器C1，所述电容器C1一端连接三极管Q1的基极，一端连接到地端。

在三极管Q1的基极与地端之间设置电容器，可以滤除第一恒压电源中不需要的交流成分，使直流电平滑，有利于装置有效工作。

优选的，所述报警器D1是发光二极管。报警器D1可采用多形式，采用发光二极管作为报警器，能够给检测人员视觉感受，可在一定范围内知道报警信号，而且采用发光二极管，成本极低。

以上描述仅为本申请的较佳实施例以及对所运用技术原理的说明。本领域 技术人员应当理解，本申请中所涉及的实用新型范围，并不限于上述技术特征的特定组合而成的技术方案，同时也应涵盖在不脱离所述实用新型构思的情况下，由上述技术特征或其等同特征进行任意组合而形成的其它技术方案。例如上述特征与本申请中公开的(但不限于)具有类似功能的技术特征进行互相替换而形成的技术方案。