半导体设备和无线电通信设备的制造方法
【专利说明】
[0001] 申请巧关的香叉引用
[0002] 本申请是基于2014年9月5日提交的日本专利申请No. 2014-181126并且要求其 权益，该申请在此通过引用整体并入本文。
技术领域
[0003] 本发明设及一种半导体设备和一种无线电通信设备。例如，本发明设及一种执行 用于抑制二阶谐波的校准的半导体设备和无线电通信设备。
【背景技术】
[0004] 近年来，对于使用诸如蓝牙之类的无线通信的计算机装置的需求增多。此外，为了 安装在可穿戴装置上，无线电电路需要具有单忍片配置结构。因此，无线电电路已经日益增 多的安装在半导体设备上，例如作为微型计算机或者WSoC(忍片上系统）方式。
[0005] 安装在半导体设备上的无线电电路通过连接至与半导体设备一起提供在基板上 的忍片电阻器和忍片电感器而构建了无线电设备。采用该无线电设备，传输信号的功率被 放大并且从天线作为无线电信号而发射。在此，用于放大传输信号的D类放大器使用脉冲 宽度调制或者脉冲密度调制。随后，当传输信号的功率在开关电路处被放大时，生成了谐 波。
[0006] 专利文献1公开了一种用于抑制该谐波的技术。根据专利文献1，通过允许被放大 的传输信号穿过LPF(低通滤波器），抑制了其频率高于传输信号的谐波。
【发明内容】
[0007] 本发明所解决的问题
[0008] 传统设备需要LPF用于传递大功率的传输信号。因此，问题在于在不具有LPF的 情形下无法找到生成的谐波程度。
[0009] 从W下说明书和附图将使得其他问题和创新特征变得明显。
[0010] 用于解决问题的机制
[0011] 根据一个实施例，一种半导体设备包括共模检测器电路和检测器电路。共模检测 器电路检测在共模下的AC信号。检测器电路检测从共模检测器电路输出的偶数阶谐波的 幅度水平。
[0012] 本发明的效果
[0013] 根据一个实施例，可W检测谐波的幅度水平。
【附图说明】
[0014] 结合附图从某些实施例的W下描述说明将使得W上和其他特征方面、优点和特征 更明显，其中：
[0015] 图1是示出了根据一个实施例的半导体设备的概要配置的配置图；
[0016] 图2是示出了根据第一实施例的半导体设备的配置的示图；
[0017] 图3是示出了示例性脉冲波形的示图；
[0018] 图4是示出了放大器占空比与谐波的幅度水平之间的关系的示图；
[0019] 图5是示出了检测之后二阶谐波的电压与放大器的占空比之间的关系的示图；
[0020] 图6是示出了检测之后二阶谐波的电压与放大器的占空比之间的关系的示图；
[0021] 图7是示出了共模检测之后的DC信号与放大器的占空比之间的关系的示图；
[0022] 图8是示出了检测之后的二阶谐波的电压与放大器的占空比之间的关系的示图；
[0023] 图9是示出了根据第一实施例的检测器电路的配置的框图；
[0024] 图10是示出了根据第一实施例的检测器电路的配置的电路图；
[00巧]图11是示出了输入至检测器112的信号的示图； 阳0%] 图12是示出了被检测信号的示图；
[0027] 图13是示出了在已经抑制了AC分量之后示例性信号的示图；
[0028] 图14是示出了示例性被放大信号的示图；
[0029] 图15是示出了根据第二实施例的检测器电路的配置的电路图；
[0030] 图16是示出了输入至放大器电路114的示例性信号的示图；
[0031] 图17是示出了根据第S实施例的半导体设备的配置的示图；
[0032] 图18是示出了根据第S实施例的检测器电路的配置的电路图；
[0033] 图19是示出了根据第四实施例的半导体设备的配置的示图；
[0034] 图20是示出了放大器的占空比与比较信号的电压之间关系的示图；
[0035] 图21是示出了根据第五实施例的无线电通信设备的配置的示图；
[0036] 图22是示出了示例性封装基板的示图；
[0037] 图23是示出了传统的无线电通信设备的示例性电路的示图；W及
[0038] 图24是示出了根据本发明的无线电通信设备的示例性电路的示图。
【具体实施方式】
[0039] 用于执行本发明的最佳模式 W40] 为了明晰起见，合适地省略并简化了W下说明书和附图。此外，附图中所示作为执 行各种处理的功能组块的元件可W由CPU、存储器和硬件形式的其他电路形成，并且可W由 程序或者载入在存储器上的软件形式的类似物而实现。因此，本领域技术人员应该理解的 是，运些功能组块可WW各种方式实现，也即仅由硬件、仅由软件、或者由其组合而不具有 任何限制。注意，整个附图中，相同的附图标记分配至相同要素，并且如果需要的话省略了 各自的描述。
[0041] 在W下实施例中，当为了便利需要时将在多个部分或实施例中描述本发明。然而， 运些部分或实施例并非相互不相关，除非另外给出相反指示。运些部分或实施例之一设及 其他部分或实施例的一部分或全部作为修改例、应用、细节或补充说明。此外，在W下实施 例中，当设及要素的数目等（包括元件的数目、数值、数量、范围等）时，本发明不限于该具 体数目，除非另外给出相反指示或者除非原理上明显地限于该具体数目，并且要素的数目 可W大于或小于该具体数目。
[0042] 此外，在W下实施例中，构成要素（包括操作步骤等）并非总是必须的，除非另外 给出相反指示或者除非原理上它们明显是必须的。类似的，在W下实施例中，当设及构成 要素的形状或位置关系时，包括了基本上近似或类似的形状等，除非另外给出相反指示或 者除非原理上其可W不适用。同理适用于上述数目等（包括元件的数目、数值、数量、范围 等）。 阳O创（实施例的概述）
[0044] 图1是示出了根据一个实施例的半导体设备的概要配置的结构图。如图1所示， 根据该实施例的半导体设备10包括检测共模的AC信号的共模检测器电路11，W及检测从 共模检测器电路输出的偶数阶谐波的幅度水平的检测器电路12。 W45] 共模检测器电路11将作为共模模式下差分信号的AC信号组合，由此抵消奇数阶 谐波W获得直流电流和偶数阶谐波。随后，共模检测器电路11输出所获得的信号至检测器 电路12。
[0046] 检测器电路12检测由共模检测所获得的信号，W由此获得偶数阶谐波的幅度水 平。接着，检测器电路12输出检测到的幅度水平。
[0047] 如图1中所示，通过检测共模模式下的AC信号并且检测所获得信号，可W检测谐 波的幅度水平。 W4引（第一实施例） W例在下文中，将参考附图给出对第一实施例的描述。图2是示出了根据第一实施例 的半导体设备的示图。如图2中所示，半导体设备100包括AC输出电路101，平衡-不平衡 变换器化alun) 102,共模检测器电路103,检测器电路104,W及控制电路105。
[0050] AC输出电路101将作为差分信号的输入AC信号放大，并且将放大的AC信号输出 至平衡-不平衡变换器102和共模检测器电路103。例如，AC输出电路使用D类放大器将 AC信号放大。D类放大器使用脉冲宽度调制在开关电路处放大功率。
[0051] 平衡-不平衡变换器102执行平衡-不平衡转换至作为差分信号的AC信号，并且 经由天线将被转换信号作为无线电信号发射。
[0052] 共模检测器电路103将在作为共模模式下的差分信号的AC信号进行组合，由此抵 消奇数阶谐波W获得直流电流和偶数阶谐波。接着，共模检测器电路103输出所获得的信 号至检测器电路104。例如，共模检测器电路103可W由通过使用电阻器而组合差分信号的 电路来配置。
[0053] 检测器电路104检测由共模检测所获得的信号，W获得偶数阶谐波的幅度水平。 接着，检测器电路104输出检测到的幅度水平至控制电路105。
[0054] 控制电路105控制并且确定AC输出电路的参数，使得由检测器电路104所获得的 幅度水平变得最小。例如，控制电路105在执行脉冲宽度调制中改变AC输出电路101的D 类放大器的占空比，W获得在占空比与偶数阶谐波的幅度水平之间的关系。接着，控制电路 105向AC输出电路101指示占空比，采用该占空比偶数阶谐波的幅度水平变为最小。 阳化5] 结合D类放大器，当占空比改变时，所生成谐波的幅度水平也改变。图3是示出了 示例性脉冲波形的示图。在图3中，水平轴代表时间点，化及垂直轴代表电压。此外，在图 3中，代表半周期时间，W及a代表从脉冲波形的中屯、至电压改变的时间。
[0056] 在图3中，脉冲波形的电压由W下数学表达式（1)表示。
数 学表达式（