感测装置、制备感测装置的方法及个人移动感测系统与流程

技术特征：
1.一种感测装置，包括：电磁波发射器，用于向表面发射电磁波；电磁波检测器，用于检测从所述表面反射的所发射的电磁波；力传递部件，其被配置为传递施加到其上的力以进行检测，所述力传递部件包括长形的组件片；力检测器，其与所述力传递部件耦合，用于检测经由所述力传递部件的所述组件片传递的力；以及其中，所述力传递部件被相对于所述电磁波发射器和电磁波检测器定位，以基本防止由所述电磁波发射器发射的波直接行进至所述电磁波检测器。2.如权利要求1所述的感测装置，其中所述力传递部件被设置于所述电磁波发射器与电磁波检测器之间。3.根据权利要求1所述的感测装置，其中所述力检测器包括微机电系统(MEMS)。4.根据权利要求1所述的感测装置，其中所述力检测器包括基于压电的传感器。5.根据权利要求4所述的感测装置，其中所述基于压电的传感器选自于由以下传感器构成的组：基于压电的传感器、基于压阻的传感器以及基于压电容的传感器。6.根据前述权利要求中任一项所述的感测装置，其中所述电磁波发射器包括发光二极管。7.根据权利要求6所述的感测装置，其中所述电磁波检测器包括光电检测器。8.根据权利要求1-5中任一项所述的感测装置，其中所述表面包括用于测量的用户的表面部分。9.根据权利要求4所述的感测装置，其中所述基于压电的传感器被设置为柔性印刷电路。10.根据权利要求1-5以及9中任一项所述的感测装置，其中所述电磁波发射器和电磁波检测器被设置在基本相同的平面上。11.根据权利要求10所述的感测装置，其中所述电磁波发射器和电磁波检测器被设置在同一基底上，所述同一基底是与所述力传递部件不同的基底。12.根据权利要求1所述的感测装置，还包括与所述力检测器耦合的反馈单元，该反馈单元被配置为将检测到的电磁波的质量与物理地施加到所述力传递部件的力的量相关，并提供关于相关性的反馈。13.根据权利要求1-5、9以及12中任一项所述的感测装置，其中所述感测装置能够检测光电体积描记信号。14.根据权利要求1-5、9以及12中任一项所述的感测装置，还包括外壳，用于容纳所述电磁波发射器、电磁波检测器和力传递部件，其中该外壳适于对所述感测装置提供结构刚性。15.一种用于制备感测装置的方法，包括：提供电磁波发射器，用于向表面发射电磁波；提供电磁波检测器，用于检测从所述表面反射的所发射的电磁波；相对于所述电磁波发射器和电磁波检测器定位力传递部件，以基本防止由所述电磁波发射器发射的电磁波直接行进至所述波检测器，所述力传递部件包括长形的组件片；将力检测器与所述力传递部件耦合，用于检测经由所述力传递部件的所述组件片传递的力；及其中，所述力传递部件被配置为传递施加到其上的力以进行检测，所述力经由所述组件片传递。16.一种个人移动感测系统，包括：感测装置，该感测装置包括：电磁波发射器，用于向表面发射电磁波；电磁波检测器，用于检测从所述表面反射的所发射的电磁波；力传递部件，其被配置为传递施加到其上的力以进行检测，所述力传递部件包括长形的组件片，其中，所述力传递部件被相对于所述电磁t发射器和电磁波检测器定位，以基本防止由所述电磁波发射器发射的电磁波直接行进至所述波检测器；力检测器，其与所述力传递部件耦合，用于检测经由所述力传递部件的所述组件片传递的力；以及个人移动处理装置，用于耦合到所述感测装置，以处理从所述感测装置获得的信号。17.如权利要求16所述的系统，其中所述力传递部件被设置于所述电磁波发射器与电磁波检测器之间。18.根据权利要求16所述的系统，其中所述力检测器包括微机电系统(MEMS)。19.根据权利要求16所述的系统，其中所述力检测器包括基于压电的传感器。20.根据权利要求19所述的系统，其中所述基于压电的传感器选自于由以下传感器构成的组：基于压电的传感器、基于压阻的传感器以及基于压电容的传感器。21.根据权利要求16到20中任一项所述的系统，其中所述表面包括用于测量的用户的表面部分。22.根据权利要求16到20中任一项所述的系统，其中所述电磁波发射器和电磁波检测器被设置在基本相同的平面上。23.根据权利要求22所述的系统，其中所述电磁波发射器和电磁波检测器被设置在同一基底上，所述同一基底是与所述力传递部件不同的基底。24.根据权利要求16所述的系统，其中所述个人移动处理装置还包括与所述力检测器耦合的反馈单元，该反馈单元被配置为将检测到的电磁波的质量与施加到所述力传递部件的力的量相关，并提供关于相关性的反馈。25.根据权利要求16到20以及24中任一项所述的系统，其中所述感测装置能够检测光电体积描记信号。26.根据权利要求16到20以及24中任一项所述的系统，其中所述感测装置在无缆配置中耦合到所述个人移动处理装置。