依赖于焦点尺寸的足够 小的值。与L0同样地，下限值L1也可以通过事先拍摄来预先求得。
[0117] 或者，例如，X射线范围W也可将与缺陷元件的尺寸相同的焦点尺寸设为L1。
[0118] 在模糊处理S3321、模糊处理S3322中均与第一实施方式同样地，采用作为模糊处 理的对象的第1相邻元件的输出值、缺陷元件的推测输出值以及与第1相邻元件相邻的第 2相邻元件的输出值，通过式（3)或者式⑷来校正第1相邻元件的输出值。其中，在焦点 尺寸L处于下限值L1以下时的模糊处理S3321中，采用预先设定的固定的模糊率a0作为 模糊率a。可与焦点尺寸的下限值L1 一起通过事先拍摄来预先求得模糊率a0。
[0119] 在模糊处理S3322中，使模糊率a随着焦点尺寸而不同，适用式（3)或者式（4)。 SP，在焦点尺寸L位于L0到L1的范围内，与相邻元件164、166相关的照射范围相对于焦点 尺寸线性地减少，因此该范围的模糊率a相对于焦点尺寸L例如如式（7)那样线性地发生 变化。
[0120]【式7】
[0121] ? = 7<L彡L0时）（7) 厶| v %
[0122] 此外，也可以不使模糊率a相对于焦点尺寸而线性地变化，而是采用线性焦点尺 寸的各种函数，也可以不采用函数而是采用事先决定的值。
[0123] 将模糊处理S332US3322后第1相邻元件的校正输出值设为第1相邻元件的输出 值，针对缺陷元件将推测输出值设为输出值，生成投影数据（处理S339)。在焦点尺寸L成 为规定值L0以上且没有进行模糊处理的（或者设模糊率为0)的情况下，直接使用第1相 邻元件的输出值，针对缺陷元件使用推测输出值来生成投影数据（处理S337)。根据投影数 据重构图像这一点与第一实施方式相同，因此省略说明。
[0124]根据本实施方式，根据焦点尺寸来调整模糊处理的有无、模糊处理的程度，从而能 够防止不需要的模糊处理引起的伪像的产生，并且能够根据推测处理的精度来进行最佳的 模糊处理。
[0125]此外，上述的模糊率的决定方法是一例，并不是限定本发明的。例如，在此，说明了 设定两个阈值L0、L1，将焦点尺寸的范围分为三个，分别进行不同的处理的情况，但也可仅 设定一个阈值，仅对模糊处理的有无进行调整，也可不进行模糊处理的有无的判断，而是使 模糊率在规定的范围内发生变化。此外，也可以采用可切换的多个焦点尺寸的全部焦点尺 寸来进行模糊处理，也可仅采用一部分焦点尺寸来进行模糊校正。例如，有可能在能够以大 焦点和小焦点进行变更的情况下，若从输入部119选择小焦点，则中央处理单元105通过缺 陷元件校正S330进行模糊处理S332,若选择大焦点，则不会通过缺陷元件校正S330进行模 糊处理S332。此外，也可以根据焦点尺寸变更模糊率，在大焦点的情况下也可以减小模糊 率。
[0126]此外，在上述的实施方式中，对通过焦点尺寸变更模糊处理的有无或模糊率的例 子进行了说明，但也可根据进行拍摄的检查对象102的大小或部位来变更模糊校正的有无 或模糊率。图11的摄影物163相当于被拍摄体102的部位或其一部分，这是因为与缺陷元 件165相同的X射线入射到相邻元件164、166的量根据其位置或大小而发生变化。
[0127]此外，由于通过在拍摄中采用的图像滤波器、重构滤波器、管电流、管电压、缺陷元 件的位置、用于生成重构像的投影数据数量等而产生的伪像的量、或其视觉辨认性不同，因 而也可变更模糊校正的有无或模糊率。
[0128]〈第三实施方式〉
[0129]在本实施方式中，缺陷元件校正包括缺陷元件输出推测处理和模糊处理这一点与 第一实施方式相同。本实施方式与第一实施方式的不同点在于，设置缺陷元件输出推测处 理S331中的输出推测方法和在模糊处理S332中设置限制。即，第三实施方式的中央处理装 置（模糊处理部）采用多个检测元件的排列中的、与包括作为对推测输出值进行推测的对 象的缺陷元件在内的行和/或列相邻的行和/或列的检测元件的输出值，对推测部推测出 的推测输出值的与真正值的偏离量进行推测，根据该偏离量调整上述模糊量或者模糊率。
[0130] 以下，以与第一实施方式不同的本实施方式的处理为中心，详细叙述本实施方式。
[0131]《缺陷元件输出推测处理S331》
[0132] 首先，在缺陷元件输出推测处理S331中，推测通过内插而求得的缺陷元件的输出 值与本来的输出值的偏离，加入该偏离量来推测缺陷元件的输出。例如，若将缺陷元件的位 置设为（m，n)，将针对该缺陷元件的推测偏离量设为A(m，n)，则加入了推测出的偏离（称 作推测偏离量）而得到的推测输出值可由式（8)来表示。
[0133]【式8】
[0134]
[0135] 式（8)的右边的第1项与式（2)的右边相等，是从与缺陷元件相邻的第1相邻元 件的输出值P(m，n-1)、P(m，n+1)内插了缺陷元件的输出值而得到的值。
[0136] 如图12(a)所示，在通过线性内插而从与缺陷元件S2相邻的两个正常元件S1、S3 推测了位置（m，n)的缺陷元件S2的输出值的情况下，该推测输出值与缺陷元件S2的本来 的输出值之间可能有偏离。
[0137] 在本实施方式中，采用位于与用于推测的正常元件S1、S3不同的列或者行的对应 的正常元件的输出值，计算出该偏离量A(m，n)。不同的列或者行典型的是相邻的切片或 者通道。图12(b)、（c)表示与（a)所示的检测元件S1~S3不同的列或者行对应的检测元 件的输出值。在以下的说明中，作为一例说明以下情况，即，第1相邻元件S1、S3为与缺陷 元件S2相同的切片内的在通道方向上相邻的元件，根据与该切片相邻的两侧的切片的对 应的元件Sll、S13以及S21、23来推测偏离量，并用于缺陷元件的输出推测中。
[0138]因此，首先，与第一实施方式同样地，采用与缺陷元件S2相邻的第1相邻元件S1、 S3的输出值，通过例如式（2)、（3)来计算出缺陷元件S2的推测输出值。将该推测输出值 设为假定的推测值。
[0139] 对该第1相邻元件S1、S3,针对其他切片的对应的（通道序号相同的）两个元件 (图12(b)的Sll、S13)进行同样的计算，进行被两个元件夹着的元件（图12(b)的S12) 的输出推测。将该推测输出值Q(m，n-1)与元件S12的输出值P(m，n-1)之差设为偏离量 A(m，n-l)。同样地，针对其他切片的对应的元件（图12(c)的S21、S23)，也将位于其间的 元件S22的推测输出值Q(m，n+1)与实际输出值P(m，n+1)之差设为偏离量A(m，n+l)来 求出。根据在切片方向上相邻的2个元件求得偏离量的计算可统一由式（9)表示。
[0140]【式9】
[0141]
[0142] 式中、i= ±1(以下相同）。
[0143] 采用如上求得的相邻切片的偏离量A(m，n-l)、A(m，n+l)，针对作为输出推测的 对象的缺陷元件S2,通过式（10)计算出偏离量A(m，n)。
[0144]【式10】
[0145]
U 0}
[0146] 根据由式（10)求得的偏离量A(m，n)和式⑶能够计算出缺陷元件S2的推测输 出值。
[0147] 在上述的计算方法中，缺陷元件S2并不是切片方向的端部，在缺陷元件为端部切 片的情况下，例如可将根据与该切片相邻的切片计算出的推测偏离量A(m，n+j)设为推测 偏离量A(m，n)来采用。此时，推测偏离量A(m，n)可用式（11)来代替式（10)。
[0148]【式11】
[0149]
[0150] 作为其他的方法，在缺陷元件位于端部切片的情况下，也可将推测偏离量A(m，n) 视作零。
[0151] 此外，在输出推测处理中，例如，当用于偏离量计算中的在切片方向上相邻的元件 的输出值的任一个值都是缺陷元件而不能得到的情况下，可进一步采用下一相邻的元件的 输出，也可采用位于两侧切片的元件组中的一个组。此外，在上述说明中，说明了采用在通 道方向上相邻的第1相邻元件的输出值来计算出假定的推测输出值以及推测输出值的情 况，但假定的推测输出值的计算也可以如在第一实施方式及其变更例中所说明的那样采用 各种正常元件的组合来进行。
[0152] 此外，说明了利用相邻切片进行推测偏离量的计算的情况，但这只是一例，也可采 用相隔了多个切片的切片的输出值。
[0153]《模糊处理》
[0154] 在模糊处理S332中，以规定的限定值限制模糊量，在由限定值限制的范围内决定 第1相邻元件的校正输出值Q(m+i，n)。参照图13说明该处理的顺序。
[0155] 首先，计算出第1相邻元件的假定的校正输出值Q' (m+i，n) (S550)。该计算方法 与例如第一实施方式中的校正输出值Q(m+i，n)的计算方法相同，采用式（3)来计算。接下 来计算出模糊量D(m+i，n) (S551)。模糊量D(m+i，n)为假定的校正输出值与真正的输出值 之差，可由式（12)表示。
[0156]【式12】
[0157] D(m,n+i) =Qr (m,n+i)-P(m,n+i) (12)
[0158] 另一方面，进行模糊量的限定量M(m，n)的计算（S552)。该量是对每个缺陷元件 限定在模糊处理S332中进行的模糊量的量，设定为在推测处理S331中计算出的缺陷元件 的推测偏离量A(m，n)的函数。如图12以及式（8)所示那样，可以说推测偏离量A(m，n) 表示缺陷元件的线性内插的偏离量，在偏离量大时，线性内插所引起的推测的精度会降低。 在缺陷元件的线性内插的偏离量大时，当在模糊处理S332中通过线性内插（式（3))求得 第1相邻元件的值的情况下，模糊处理的精度也会降低的可能性增大。因此，在推测偏离量 △ (m，n)大时，由于进行错误的内插的可能性增大，因而减小限定量M(m，n)来防止错误的 校正。
[0159] 因此，限定量是在推测偏离量A(m，n)大时变小的函数，能够采用例如式（13)所 示的函数。
[0160]【式13】
[0161]M(m，n) = |A-B?A(m，n) | (13)
[0162] 式（13)中，A、B为常数，能够通过实际摄影之前的图像质量评价来预先决定。
[0163] 上述的函数为限定量M(m，n)相对于推测偏离量A(m，n)线性地变化的