一种烹饪器具及其控制方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及电器领域，具体地，涉及一种烹饪器具及其控制方法。
【背景技术】
[0002]目前，大多数的加热类烹饪器具，如纯蒸炉、烤箱等，其控制方式基本上都是检测腔体温度并在腔体温度达到目标腔体温度值时将发热器件断开。这种温度控制方式比较粗糙，而且最大的问题是，在烹饪器具运行之后，在腔体温度上升阶段，所控制的腔体温度实际上会高于目标腔体温度值非常大的幅值(如图1所示)，在最差的情况下，实际的最大正向温漂会达到将近80°C，也即，在腔体温度上升阶段，腔体最终能达到的温度有可能比目标腔体温度值高出将近80°C。尽管该正向温漂的持续时间不是太长，但是对于烹饪的食物来说，这种过高的正向温漂会导致如下两个问题:
[0003](I)太高的腔体温度(比如高于250°C )会使得食物水分快速蒸发，而且在该过高腔体温度持续期间甚至会快速地产生大量无益的致癌物质；
[0004](2)在腔体温度达到平衡之后，也即在腔体温度平衡阶段，由于腔体温度上升阶段腔体温度的波动，会导致腔体平衡阶段实际的平均腔体温度可能早就偏离了用户设定的理想温度(也即目标腔体温度值)，而且偏离幅度甚至可能会接近20°C，这进而导致烹饪效果大打折扣。
【发明内容】
[0005]本发明的目的是提供一种烹饪器具及其控制方法，该烹饪器具及其控制方法能够在烹饪器具的烹饪腔体温升阶段期间极大地抑制烹饪腔体温度的正向温漂。
[0006]为了实现上述目的，本发明提供一种烹饪器具，该烹饪器具包括烹饪参数检测装置、加热装置和控制器，所述烹饪参数检测装置用于检测所述烹饪器具的腔体烹饪参数，以及所述控制器用于在所检测的腔体烹饪参数值小于目标腔体烹饪参数值的情况下，依据所述目标腔体烹饪参数值和所检测的腔体烹饪参数值来控制所述加热装置的加热方式。
[0007]本发明还提供一种烹饪器具的控制方法，该控制方法包括:检测烹饪器具的腔体烹饪参数；以及在所检测的腔体烹饪参数值小于目标腔体烹饪参数值的情况下，依据所述目标腔体烹饪参数值和所检测的腔体烹饪参数值来控制所述烹饪器具的加热装置的加热方式。
[0008]本发明的上述技术方案是在所检测的腔体烹饪参数值小于目标腔体烹饪参数值的情况下，也即在烹饪器具的烹饪腔体温升阶段期间，依据目标腔体烹饪参数值和所检测的腔体烹饪参数值来控制加热装置的加热方式，而不是像现有技术那样简单地判断腔体烹饪参数是否达到目标腔体烹饪参数并在腔体烹饪参数达到目标腔体烹饪参数时粗糙地断开加热装置的加热。这样，就能够在烹饪腔体温升阶段期间很好地控制烹饪腔体温度的圆滑上升，极大地抑制了烹饪腔体温升阶段期间的过大正向温漂的问题，使得烹饪出来的食物更安全、健康和美味。
[0009]本发明的其它特征和优点将在随后的【具体实施方式】部分予以详细说明。
【附图说明】
[0010]附图是用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的【具体实施方式】一起用于解释本发明，但并不构成对本发明的限制。在附图中:
[0011]图1是现有烹饪器具的腔体温度随时间的变化曲线；
[0012]图2是根据本发明一种实施方式的烹饪器具的示意框图；
[0013]图3是根据本发明一种实施方式的烹饪器具的另一示意框图；
[0014]图4是根据本发明一种实施方式的蒸汽加热类烹饪器具的示意结构图；
[0015]图5是根据本发明一种实施方式的烹饪器具的控制时序图；
[0016]图6是根据本发明一种实施方式的烹饪器具的控制方法的流程图；以及
[0017]图7是根据本发明一种实施方式的烹饪器具的控制方法的另一流程图。
【具体实施方式】
[0018]以下结合附图对本发明的【具体实施方式】进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的【具体实施方式】仅用于说明和解释本发明，并不用于限制本发明。
[0019]如图2所示，根据本发明一种实施方式的烹饪器具包括烹饪参数检测装置10、加热装置20和控制器30，烹饪参数检测装置10用于检测烹饪器具的腔体烹饪参数，以及控制器30用于在所检测的腔体烹饪参数值小于目标腔体烹饪参数值的情况下，依据所述目标腔体烹饪参数值和所检测的腔体烹饪参数值来控制加热装置20的加热方式。这样，在烹饪器具的烹饪腔体温升阶段期间，加热装置20就能够在控制器30的控制下对烹饪腔体内的食材进行加热，以使得腔体烹饪参数圆滑地上升到目标腔体烹饪参数。
[0020]其中，目标腔体烹饪参数值可以是用户针对所烹饪的食品而设置的期望烹饪参数值，也可以是针对烹饪器具的内置菜谱而预先设置在烹饪器具中的期望烹饪参数值。
[0021]优选地，所述腔体烹饪参数可以包括腔体温度、腔体湿度、食材重量和腔体磁场能量密度中的至少一者。在目前的烹饪器具中，最常采用的腔体烹饪参数是腔体温度。
[0022]优选地，所述加热方式可以包括加热火力、加热时间和加热通断占空比中的至少一者。例如，对于采用电磁辐射来加热的烹饪器具，加热火力可以通过调整电磁辐射的强度来调整；对于采用电阻丝来加热的烹饪器具，加热火力可以通过调整电阻丝的供电电压、供电电流等来调整。加热通断占空比指的是，在加热装置20周期性加热的情况下，一个加热周期内加热装置20的加热时间所占的时间比率。
[0023]优选地，控制器30可以通过采用以下方式来依据目标腔体烹饪参数值和所检测的腔体烹饪参数值来控制加热装置20的加热方式，S卩:对目标腔体烹饪参数值和所检测的腔体烹饪参数值进行运算，并依据运算结果来控制加热装置20的加热方式。这里的运算可以包括简单的乘除法运算，也可以包括多次乘除法(如幂次、开方等)运算以及其他的运算方式，但是为了增加控制器30的控制精度，优选采用简单乘除法浮点运算。
[0024]通常来说，控制器30，例如单片机或其他类型的处理单元，都可以集成运算能力，例如浮点运算(通常把乘法、除法等运算归为浮点运算)。一些较为低端的4位或8位单片机，其浮点运算所花费的时间大概为普通加减法运算所花费时间的几倍到几十倍之间。因此，在本发明中，若控制器30采用的运算方式是浮点运算，则优选使得控制器30所采用的浮点运算过程不是太过复杂，例如，尽可能采用只有乘除法的方式进行浮点运算，避免采用多次乘除法(如幂次、开方等)等导致浮点运算过程过慢的浮点运算，以减少对控制器30的控制精度和速度的影响，并使得根据本发明的烹饪器具具有高的性价比。但是，本领域技术人员应当理解的是，控制器30也可以采用成本较高的有专门浮点运算模块的芯片来实现。
[0025]以腔体烹饪参数为腔体温度、目标腔体烹饪参数值为目标腔体温度值为例，在所检测的腔体温度值小于目标腔体温度值的情况下，控制器30可以采用以下运算公式对目标腔体温度值和所检测的腔体温度值进行运算，并依据运算结果来控制加热装置20的导通时间和断开时间:
[0026]t加热装置导通时间
[0027]= K设定比例系数X T目标腔体温度一K腔温比例系数X T所检测的腔体温度(I)
[0028]t加热装置断开时间
[0029]=〖腔温比例系数XT所检测的腔体温度 (2)
[0030]其中，T目标腔体g度为目标腔体温度值；T所检测度为烹任参数检测装置10所检测的腔体温度值为转换系数，用于将目标腔体温度值转换成加热装置20的通断周期比例系数为转换系数，用于将所检测的腔体温度值转换成加热装置20需要调整的导通时间量。例如，在％矶__为正数的情况下，其用于表示将所检测的腔体温度值转换成加热装置20需要减小的导通时间量。这样，加热装置20就能够以断续加热的方式进行加热，而不是在腔体温度达到目标腔体温度值之前一直以最大功率加热，从而能够使得腔体温度圆滑地上升到目标腔体温度值。
[0031 ] 在根据本发明的进一步优选实施方式中，根据本发明的烹饪器具还可以包括检测加热装置20的温度的加热装置温度检测装置40，控制器30还可以采用以下运算公式对目标腔体温度值、所检测的腔体温度值和所检测的加热装置温度值进行运算，并依据运算结果来控制加热装置20的导通时间和断开时间:
[0032]t加热装置导通时间
[00G3]= K设定比例系数X T目标腔体温度—K腔温比例系数X T所检测的腔体温度_
[0034]K加热装置温度比例系数X (τ所检测的加热装置温度_仄加热装置温度设定系数)X S烹饪阶段(3)
[0035]t加热装置断开时间
[0036]=〖腔温比例系数XT所检测的腔体温度+(4)
[0037]K加热装置温度比例系数X (T所检测的加热装置温度—K加热装置温度设定系数)X S烹饪阶段
[0038]其中，T所检测_热装置温度为加热装置温度检测装置40所检测的加热装置温度；K加热装M为转换系数，用于将所检测的加热装置温度转换成加热装置20需要调整的导通时间量，例如，当KipasasstwiIsi为正数时，其用于表示将所检测的加热装置温度转换成加热装置20需要减小的导通时间星个温度值为条件系数，当所检测的腔体温度值小于所述目标腔体温度值，即当烹饪器具处于烹饪腔体温升阶段时，Swag= O，在所检测的腔体温度值达到目标腔体温度值之后，= 1
[0039]通过采用该优选实施方式，既能够在烹饪器具的烹饪腔体温升阶段期间，使加热装置20以断续加热的方式进行加热，从而使得腔体温度能够圆滑地上升到目标腔体温度值并很好地抑制温度上冲(也即正向温漂)的问题，又能够在所检测的腔体温度值达到目标腔体温度值之后，也即在烹饪器具进入腔温平衡阶段之后，通过公式⑶和⑷中的ΚΛ
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