一种实验夹持装置的制造方法

文档序号:10201074阅读:204来源:国知局
一种实验夹持装置的制造方法
【技术领域】
[0001 ]本实用新型涉及半导体测试技术领域,尤其涉及一种实验夹持装置。
【背景技术】
[0002]在晶体管器件制造过程中,常常需要对于晶体管器件的拉力、剪切力进行测试,以判定晶体管器件是否符合设计要求,测试晶体管器件的拉力、剪切力通常使用试验装置进行,现有技术中,拉力、剪切力试验装置采用的是钳口式的夹持装置,可夹持正多边形结构的试件,在夹持时需要额外使用专用辅助固定块,操作复杂,调整时间长,测试效率低,于此同时,对于曲面及圆弧面固定时,易松动移位,严重影响试验数据的准确性及真实性。

【发明内容】

[0003]针对上述问题,本实用新型提供一种实验夹持装置。
[0004]本实用新型通过如下技术方案予以实现:
[0005]—种实验夹持装置,包括底座、夹持块、调节旋钮以及衬板,所述底座上设置一对滑槽,所述夹持块滑动安装在滑槽内,所述夹持块与调节旋钮相连,所述调节旋钮安装在衬板上,所述衬板安装在底座上,所述夹持块的夹持端面上设置有弧形槽,所述弧形槽在夹持块的竖直方向上完全贯穿,所述夹持块上设置有沉槽,所述沉槽在夹持块前后方向上完全
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[0006]所述夹持块上设置有一对可与滑槽配合安装的滑台。
[0007]所述夹持块的竖直方向设置有若干定位孔。
[0008]所述定位孔呈阵列分布。
[0009]所述滑台表面渗氮处理。
[0010]所述弧形槽表面镀铬处理。
[0011 ]所述沉槽的横截面为L形。
[0012]所述沉槽的底面设置有沉孔。
[0013]所述沉槽的底面设置有定位销。
[0014]本实用新型的有益效果是:
[0015]本实用新型通过使用设置有弧形槽和沉槽的夹持块,方便夹持多种规格的晶体管器件,从而方便对各种规格的晶体管器件进行拉力、剪力测试,减少调整时间,提高测试效率,提高测试准确性。
【附图说明】
[0016]图1为本实用新型结构不意图;
[0017]图2为本实用新型中夹持块结构示意图;
[0018]图3为本实用新型中底座结构示意图。
[0019]图中:1-衬板,2-调节旋钮,3-夹持块,4-底座,31-沉槽,32-滑台,33-定位孔,34-弧形槽,311 -沉孔,312-定位销。
【具体实施方式】
[0020]下面结合附图对本实用新型的技术方案做进一步描述,但要求保护的范围并不限于所述。
[0021]如图1、图2、图3所示的一种实验夹持装置,包括底座4、夹持块3、调节旋钮2以及衬板1,所述底座4上设置一对滑槽41,所述夹持块3滑动安装在滑槽41内,所述夹持块3与调节旋钮2相连,所述调节旋钮2安装在衬板1上,所述衬板1安装在底座4上,所述夹持块3的夹持端面上设置有弧形槽34,所述弧形槽34在夹持块3的竖直方向上完全贯穿,所述夹持块3上设置有沉槽31,所述沉槽31在夹持块3前后方向上完全贯穿。
[0022]底座4用于支撑夹持块3,底座4设置一对滑槽41,夹持块3滑动安装在滑槽41内,为了保证夹持块3运动的直线性,滑槽41的横截面为矩形。
[0023]夹持块3上设置有一对可与滑槽41配合安装的滑台32,滑台32的横截面为矩形,在使用本技术方案时,滑台32与滑槽41滑动配合。为了增强滑台3的抗磨损能力,滑台32表面渗氮处理。
[0024]为了便于调整夹持块3的位置,夹持块3与调节旋钮2相连,调节旋钮2安装在衬板1上,衬板1安装在底座4上,调节旋钮2与衬板1螺纹连接,旋转调节旋钮2时,调节旋钮2相对于衬板1运动,从而推动夹持块3运动。
[0025]为了便于夹持工件,在夹持块3的夹持端面上设置有弧形槽34,弧形槽34在夹持块3的竖直方向上完全贯穿,弧形槽34的横截面轮廓线为劣弧,因此可以对弧形表面的工件夹紧。为了提高弧形槽34的抗磨损能力,弧形槽34表面镀铬处理。为了便于装卸工件,在夹持块3上设置有沉槽31,沉槽31在夹持块3前后方向上完全贯穿,沉槽31的横截面为L形。为了便于对带有弧形底座的工件进行夹持,在沉槽31的底面设置有沉孔311。为了便于保证工件在沉槽31底面上的位置,在沉槽31的底面设置有定位销312。
[0026]为了保持夹持块3的定位精度,在夹持块3的竖直方向设置有若干定位孔33。在使用本技术方案时,当夹持块3定位后,将定位插入定位孔33中,避免夹持块3在工作时移动,为了便于调整距离,定位孔33呈阵列分布。
【主权项】
1.一种实验夹持装置,包括底座(4)、夹持块(3)、调节旋钮(2)以及衬板(1),其特征在于:所述底座(4)上设置一对滑槽(41),所述夹持块(3)滑动安装在滑槽(41)内,所述夹持块(3)与调节旋钮(2)相连,所述调节旋钮(2)安装在衬板(1)上,所述衬板(1)安装在底座(4)上,所述夹持块(3)的夹持端面上设置有弧形槽(34),所述弧形槽(34)在夹持块(3)的竖直方向上完全贯穿,所述夹持块(3)上设置有沉槽(31),所述沉槽(31)在夹持块(3)前后方向上兀生贝牙。2.根据权利要求1所述的一种实验夹持装置,其特征在于:所述夹持块(3)上设置有一对可与滑槽(41)配合安装的滑台(32)。3.根据权利要求1所述的一种实验夹持装置,其特征在于:所述夹持块(3)的竖直方向设置有若干定位孔(33)。4.根据权利要求3所述的一种实验夹持装置,其特征在于:所述定位孔(33)呈阵列分布。5.根据权利要求2所述的一种实验夹持装置,其特征在于:所述滑台(32)表面渗氮处理。6.根据权利要求1所述的一种实验夹持装置,其特征在于:所述弧形槽(34)表面镀铬处理。7.根据权利要求1所述的一种实验夹持装置,其特征在于:所述沉槽(31)的横截面为L形。8.根据权利要求1所述的一种实验夹持装置,其特征在于:所述沉槽(31)的底面设置有沉孔(311)。9.根据权利要求1所述的一种实验夹持装置,其特征在于:所述沉槽(31)的底面设置有定位销(312)。
【专利摘要】本实用新型公开了一种实验夹持装置,包括底座、夹持块、调节旋钮以及衬板,所述底座上设置一对滑槽,所述夹持块滑动安装在滑槽内,所述夹持块与调节旋钮相连,所述调节旋钮安装在衬板上,所述衬板安装在底座上,所述夹持块的夹持端面上设置有弧形槽,所述弧形槽在夹持块的竖直方向上完全贯穿,所述夹持块上设置有沉槽,所述沉槽在夹持块前后方向上完全贯穿。本实用新型通过使用设置有弧形槽和沉槽的夹持块,方便夹持多种规格的晶体管器件,从而方便对各种规格的晶体管器件进行拉力、剪力测试,减少调整时间,提高测试效率。
【IPC分类】B25B11/00
【公开号】CN205111660
【申请号】CN201520904966
【发明人】王宏, 杨诚, 孟繁新, 张开云, 郭丽萍, 杨启达
【申请人】中国振华集团永光电子有限公司(国营第八七三厂)
【公开日】2016年3月30日
【申请日】2015年11月14日
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