一种面阵亮度快速检测系统及其控制方法
【技术领域】
[0001] 本发明设及显示设备性能检测领域，更具体地，设及一种面阵亮度快速检测系统 及其控制方法。
【背景技术】
[0002] 无论是发光体面阵，还是带有照明光源的非发光体面阵，由于其内部的各个发光 元件的亮度具有离散性，致使面阵产生亮度不均匀的现象，从而严重影响屏幕的显示效果。 所W，在实际生产中，需要对面阵的均匀度进行计算。
[0003] 面阵的均匀度用化iformity表示，它的计算公式如下； Uniformity=Ymh/Yavg 其中，Ymi。表示面阵检测的发光元件亮度中最低的亮度； Ywg表示检测的所有发光元件的平均亮度。
[0004] 由上式可知，均匀度计算的准确与否在于检测各个发光元件的亮度的准确性，现 有技术提供了W下=种面阵亮度检测方法，其具体技术方案W及缺陷分别如下： 1) 通过肉眼来观察：该种方法需要耗费大量的时间与人力，并且检测的误差大，通常只 有在发光元件间的亮度差异很大的情况下才能得到一个比较模糊的结论； 2) 利用点光谱进行检测：一般情况下，光谱仪每次只能检测屏幕的一个发光元件的亮 度，因此该方法在应用的时候需要对面阵或点光谱进行移动，从而可W实现对多个发光元 件亮度的检测；利用该技术进行面阵均匀度计算时，可有W下两种操作方式；a.通过移动 样品或移动光谱仪随机取多个发光元件进行亮度检测，该种方法由于取点的差异性(取的 点不一定能代表整个区域的亮度)，导致计算的均匀度随机性大，准确性低；b.通过移动样 品或移动光谱仪对整个面阵的发光元件进行逐点检测，再计算出屏幕的均匀度，但是该种 操作方式比较费时，检测效率低； 3) 利用面光谱仪对面阵的所有发光元件进行亮度检测：该种方法虽然能够克服前两种 技术的缺陷，但是由于面光谱仪价格昂贵，鲜有企业或工厂应用。
【发明内容】
[0005] 本发明为解决W上现有技术的缺陷，提供了一种面阵亮度快速检测系统，该系统 在实现一次性对面阵内的所有发光元件的亮度进行检测的同时，其建造成本较为低廉，容 易普及；同时，应用该系统进行亮度检测的时候，可W通过校正系数对上位机转换的发光元 件的图像亮度值进行校正，因此可W克服显示图像内发光元件的亮度值与实际亮度值的微 小误差，进一步提高了检测的准确度。
[0006] 为实现W上发明目的，采取的技术方案是： 一种面阵亮度快速检测系统，包括光谱仪、分光器、拍摄设备和上位机； 其中分光器用于将面阵发出的光分成两部分，从而使两部分光分别入射至拍摄设备和 光谱仪； 拍摄设备用于拍摄面阵的显示图像，并将显示图像发送至上位机； 光谱仪用于对面阵内的一个或多个校正发光元件的实际亮度值进行检测，并将检测的 结果发送至上位机； 上位机根据显示图像获取面阵中各个发光元件的RGB值，并将各个发光元件的RGB值 转换为相应的图像亮度值，同时上位机根据校正发光元件的实际亮度值和图像亮度值，计 算面阵的校正系数；获得校正系数后，上位机利用校正系数对各个发光元件的图像亮度值 进行校正，再将校正后的图像亮度值作为检测结果进行输出。
[0007] 优选地，为了能够使面阵发出的光尽可能多地入射至拍摄设备和光谱仪，从而使 得检测的结果最接近于真实结果，所述检测系统还包括有第一透镜和第二透镜，第一透镜 和第二透镜分别用于对入射至拍摄设备、光谱仪的光进行汇聚。
[0008] 优选地，快速检测系统在运行的时候，面阵发出的光通过分光器后分成两部分，其 中一部分光通过第一透镜后入射至拍摄设备，另一部分光通过第二透镜后入射至光谱仪。
[0009] 优选地，所述拍摄设备、第一透镜、分光器沿Y轴方向从上至下依次设置，其中分 光器所在平面与X轴正方向呈45°夹角或135°夹角； 当分光器所在平面与X轴正方向呈45°夹角时，第二透镜、光谱仪在X轴方向上从左往 右依次设置在分光器的右侧； 当分光器所在平面与X轴正方向呈135°夹角时，光谱仪、第二透镜在X轴方向上从左 往右依次设置在分光器的左侧； 拍摄设备、第一透镜、第二透镜、分光器和光谱仪一体化设置。
[0010] 优选地，所述分光器为半透半反滤光片。
[0011] 同时，本发明还提供了一种上述检测系统的控制方法，其技术方案如下： 该方法包括W下步骤： 51. 使用分光器将面阵发出的光分成两部分，从而使两部分光分别入射至拍摄设备和 光谱仪； 52. 利用拍摄设备获取面阵的显示图像，并将显示图像发送至上位机； 53. 选取面阵内的一个或多个发光元件为校正发光元件，利用光谱仪对校正发光元件 的实际亮度值进行检测，并将检测的结果发送至上位机； 54. 上位机根据显示图像获取面阵中各个发光元件的RGB值，并将各个发光元件的RGB 值转换为相应的图像亮度值，同时上位机根据校正发光元件的实际亮度值和图像亮度值， 计算面阵的校正系数，获得校正系数后，上位机利用校正系数对各个发光元件的图像亮度 值进行校正，再将校正后的图像亮度值作为检测结果进行输出。
[0012] 优选地，步骤S3中，利用光谱仪对校正发光元件的实际亮度值进行检测的过程如 下： 光谱仪首先获取校正发光元件的CIE1931颜色参数（Xs，Ys，Zs)，然后根据（Xs，Ys，Zs)， 计算校正发光元件的实际亮度值（Y,，X,，y,)，具体如下： Xs=V化+VZs)，ys=V化+VZs); 光谱仪计算得到实际亮度值（Y,，X,，y,)之后，将（Y,，X,，y,)作为检测结果发送至上位 机； 同时步骤S4中，上位机将发光元件的RGB值转换为CIE1931颜色参数（X。，Y。，Z。)后，再 根据（X。，Y。，Z。)，计算发光元件的图像亮度值（Y。，X。，y。）； Xc=V化+Yc+Zc)yc=V化+VZ。）； 上位机根据校正发光元件的实际亮度值（Y,，X,，y,)和图像亮度值（Y。，X。，y。）对