一种基于soc fpga的液晶模组测试系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明属于液晶屏质量检测领域，涉及一种可用于液晶模组的功能测试，老化测试，坏点测试，方便检测人员对于液晶模组的性能质量及时监控的分布式测试系统。
【背景技术】
[0002]随着大众对液晶显示屏的需求日益增加，液晶模组厂家也不断的扩大生产规模。随之而來，液晶模组的性能质量监控，在量产阶段及时检测出不良品，成为液晶厂家所关注的热点。可视化的测试图案提供直观，快捷的测评方法，在液晶模组的功能测试，老化测试，坏点测试中，方便了检测人员对于液晶模组的性能质量及时监控而得到广泛应用。
[0003]传统的液晶模组测试图案发生设备往往采用定制方式，将测试图案和时序固化在系统中，用户不能自由编辑更改，很大程度限制了其适应的测试机型和测试需求。
[0004]本发明采用了一种基于PC机的图形用户界面和测试信号发生器组成的液晶模组测试图案发生系统。PC机提供图形用户界面，实现用户快捷自由编辑测试所需的时序和图案，然后通过以太网下载到系统中，模组与液晶屏连接进行测试。
【发明内容】
[0005]本发明提出了一种分布式的超小型的模组测试系统，系统包含一个SOC FPGA，FPGA内置有双核的IGHZ的ARM，同时具有大量的可编程逻辑单元，ARM使用嵌入式Iinux系统，进行分布式的网络管理和监控，数据交互，FPGA部分提供模组测试需要的时序或者接口，两个系统之间具有高的带宽，满足超高分辨率的大尺寸屏幕的测试需求。
[0006]本发明的技术内容如下:
一种基于SOC-FPGA的液晶模组测试系统，包括PC端、液晶模组测试模块和待测试的液晶模组，所述的液晶模组测试模块包括主控单元和测试信号发生装置，所述的测试信号发生装置包括信号发生单元和信号转换单元；所述的PC端中的输入单元、显示单元、存储单元和以太网接口均与主控单元进行信号交换，所述的主控单元采用SOC-FPGA内置的双核心IGHZ的ARM作为主控制器，所述的主控单元包括液晶模组时序编辑器、测试图案编辑器和测试程序编辑器，提供超过128组的时序，256组图案和32组测试程序，扩展，复制和灰度三种图案显示模式，颜色分辨率可支持6，8，lObit，生成测试数据文件，在PC端生成测试数据文件后，通过PC与测试系统之间的以太网接口，发送到ARM系统中，系统把数据发送到FPGA外挂的大容量DDR3空间；所述的主控单元通过内置的以太网接口接收来自PC端生成的测试文件，保存测试文件到ARM的存储单元DDR3中，然后根据输入单元输入命令，解析测试时序，图案存储地址，将信号发送到信号发生单元；所述的信号发生单元采用了SOC-FPGA内置的大规模可编程逻辑，实现测试图案的RGB信号，行场同步信号，数据选通信号的产生，采用双缓冲的RAM结构，图像数据存储于FPGA外挂的DDR3大容量内存；所述的信号转换单元是所述的待测试的液晶模组与所述的液晶模组测试模块之间的一个接口部件，实现存储的RGB像素数据到LVDS信号转换，支持像素频率4801-4K分辨率的TV信号或者VGA-QXGA级别的PC信号。
[0007]所述的测试信号发生装置中的信号发生单元和信号转换单元通过FPGA内的逻辑实现，所述的信号发生单元包括数据接收模块，图案存储模块和图案行列地址模块，所述的数据接收模块接收图案和时序数据，通过图案数据寄存器、图案模式寄存器和时序数据寄存器分别以图案信号、模式信号和时序信号传递到图案存储模块和图案行列地址模块，所述的图案信号经图案存储模块传出RGB信号，所述的模式信号和时序信号经图案行列地址模块传出行同步信号HS、场同步信号VS和数据选通信号DE。
[0008]所述的信号发生单元传出的RGB信号、行同步信号HS、场同步信号VS和数据选通信号DE经信号转换单元以2组5对LVDS信号和LVDS时钟信号传至待测试的液晶模组中的信号转换单元接收，再以RGB信号、行同步信号HS、场同步信号VS和数据选通信号DE显示至待测试的液晶模组。
[0009]所述的信号转换单元主要完成液晶模组需要的接口信号，比如DP接口和V-By-One接口，支持超高的分辨率和刷新率，还可以直接驱动面板，同时具有更好的电磁兼容与干扰性能，提升了性能、节省生产成本和设备空间。
[0010]本发明的有益技术效果如下:
1、将SOC-FPGA作为主要控制器，具有ARM系统和FPGA时序发生单元，有效减小测试设备的大小，提高集成度，降低设备成本，减少设备故障率。
[0011]2、通过在每个模组测试单元提供一个IP固定的单元，可以通过主控电脑系统对各个测试设备及时监控，结果及时上报。
[0012]3、由于采用FPGA的可编程性，具有灵活的接口类型支持，可以在最小的机器上实现主流接口。
【附图说明】
[0013]图1为本发明示意图；
图2为本发明中信号发生单元信号传输流程图；
图3为本发明中信号发生装置与待测试的液晶模组之间信号传输流程图。
【具体实施方式】
[0014]如图1所示，本发明一种基于SOC-FPGA的液晶模组测试系统，包括PC端(I )、液晶模组测试模块(2)和待测试的液晶模组(3)，所述的液晶模组测试模块(2)包括主控单元(4)和测试信号发生装置，所述的测试信号发生装置包括信号发生单元(5)和信号转换单元(6);所述的PC端(I)中的输入单元(7)、显示单元(8)、存储单元(9)和以太网接口
(10)均与主控单元进行信号交换，所述的主控单元(4)采用SOC-FPGA内置的双核心IGHZ的ARM作为主控制器，所述的主控单元(4)包括液晶模组时序编辑器、测试图案编辑器和测试程序编辑器，提供超过128组的时序，256组图案和32组测试程序，