一种amoled面板测试电路的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及电子电路设计技术领域，尤其涉及一种AMOLED面板测试电路。
【背景技术】
[0002]AMOLED(Active-matrix organic light emitting d1de，有源矩阵有机发光二极体，简称AM0LED)是目前普遍采用的显示发光设备，随着技术的发展，AMOLED技术逐步走向成熟，同时衍生出很多不同的版本，比如AMOLED、Super AMOLED, Super AMOLED Plus以及Super AMOLED Advanced 等等。
[0003]随着AMOLED技术的成熟，AMOLED的成本逐步增加，测试，生产过程中的高效率测试变得尤为重要，及时测试问题及时解决，不仅提高产品的良率，同时节省了时间，提高了效率。
[0004]而目前的AMOLED中，面板显示测试电路和阵列基板测试电路是分开的:阵列基板测试电路是测量在镀OLED前基板的性能，面板显示测试电路是测量切割成小显示测试电路后的性能。阵列基板测试电路是测量每一根数据线(data)的情况，而面板显示测试电路是测量相同信号(如单色的红或者绿)，采用shorting bar (图形产生器)的方式。而随着PPI (Pixels Per Inch，像素数)越来越高，而且采用rendering的方式，一根数据线上有不同的颜色(如红色和绿色)，那么数据线(data line)的信号就是AC (AlternatingCurrent，连续交流信号)信号，这样面板显示测试电路的负载就不能太大，否则面板显示测试电路就驱动不了，而目前面板显示测试电路要绕到显示面板的尾端，所以走线阻抗很大，面对该问题，如何高效准确测试AMOLED显示面板成为本领域人员面临的一大难题。
【发明内容】
[0005]针对上述存在的问题，本发明提供了一种AMOLED面板测试电路，通过控制单元与数据线测试单元连接完成数据线测试单元的测试，并通过数据线测试单元与显示面板测试单元连接实现显示面板测试单元的测试，该技术方案具体为:
[0006]一种AMOLED面板测试电路，其中，所述AMOLED测试电路包括:
[0007]数据线输出单元，包括若干数据线输出模块，每个所述数据线输出模块均包括若干组数据线对，每对所述数据线的一端耦合在一起，并且所述数据线输出模块中每个所述数据线的未与数据线输出模块中的其他数据线耦合在一起的一段用于提供输出数据；
[0008]第一测试单元，包括若干子控制单元，每个所述子控制单元均包括若干条支路，每条所述支路均与所述数据线输出模块中的一组数据线对唯一对应，所述支路连接到与该支路对应的所述数据线对的相互耦合在一起的一端上；
[0009]第二测试单元，包括若干条输入信号线，每条所述输入信号线与所述数据线输出模块中的一组数据线对唯一对应，所述输入信号线连接到与该输入信号线对应的数据线对的相互親合在一起的一端上。
[0010]上述的AMOLED面板测试电路，其中，所述数据线输出单元中的相邻两个数据线输出模块的相互耦合在一起的一端通过一晶体管连接，且，
[0011]该晶体管位于第二测试单元中。
[0012]上述的AMOLED面板测试电路，其中，在第一测试单元测试数据线输出单元的工作阶段，第二测试单元的输入信号线的输出无效。
[0013]上述的AMOLED面板测试电路，其中，每个数据线输出模块中仅开启一个晶体管以使每个所述数据线输出模块中只提供一个输出数据。
[0014]上述的AMOLED面板测试电路，其中，每个数据线输出模块中的与数据线连接的晶体管均开启，以使每个所述数据线输出模块中的数据线均输出数据时。
[0015]上述的AMOLED面板测试电路，其中，所述子控制单元关闭，以使所述第二测试单元测试所述数据线输出单元。
[0016]上述的AMOLED面板测试电路，其中，子控制单元关闭，打开所述晶体管以使所述第二测试单元测试所述数据线输出单元。
[0017]上述的AMOLED面板测试电路，其中，打开所述数据线输出模块中的与一所述数据线对连接的一晶体管，以使每个所述数据线输出模块中只有一数据线对提供输出数据。
[0018]上述的AMOLED面板测试电路，其中，所述第二测试单元中晶体管均打开，以使所述数据线输出模块中的所述数据线均提供输出数据。
[0019]一种AMOLED面板测试电路，其中，所述AMOLED测试电路包括:
[0020]数据线输出单元，包括若干数据线输出模块，每个所述数据线输出模块均包括若干组数据线对，每对所述数据线的一端均耦合在一起，未与其他数据线耦合在一起的一端用以提供输出数据；
[0021]第一测试单元，包括若干子控制单元，每个所述子控制单元均包括若干条支路，每条所述支路与所述数据线输出模块中的一数据线对唯一对应，每条所述支路与之对应的数据线对的所述親合在一起的一端连接；
[0022]第二测试单元，包括若干输入信号线，每条数据线与数据线输出模块中的一数据线对唯一对应，每条所述数据线均通过一晶体管连接到与其唯一对应的数据线对的相互耦合在一起的一端。
[0023]上述的AMOLED面板测试电路，其中，所述数据线输出单元一数据线输出模块的一数据线对相互耦合在一起的一端与所述数据线输出模块相邻的数据线输出模块中的一数据线对相互耦合在一起的一端通过一晶体管与一电平线连接，其中，所述电平线控制所述晶体管的打开与关闭的状态。
[0024]上述的AMOLED面板测试电路，其中，第二测试单元的输出无效，以使所述第一测试单元测试所述数据线输出单元。
[0025]上述的AMOLED面板测试电路，其中，所述数据线输出模块中打开一个晶体管，以使每个所述数据线输出模块提供一个输出数据。
[0026]上述的AMOLED面板测试电路，其中，所述数据线输出模块中的与素数数据线连接的晶体管均打开，以使所述数据线输出模块中数据线均输出数据。
[0027]上述的AMOLED面板测试电路，其中，所述子控制单元关闭，以使所述第二测试单元测试所述数据线输出单元。
[0028]上述的AMOLED面板测试电路，其中，所述子控制单元关闭，所述信号输入线均输入信号，以使所述第二测试单元测试所述数据线输出单元的工作阶段。
[0029]上述的AMOLED面板测试电路，其中，通过控制与所述数据线对连接的电平线打开与所述电平线连接的晶体管，以使每个所述数据线输出模块中只有一数据线对提供输出数据。
[0030]上述的AMOLED面板测试电路，其中，控制所述第二测试单元中的电平线使素数晶体管均打开，以使所述数据线输出单元中的每个数据线输出模块中的数据线均提供输出数据。
[0031]本发明具有的优点及带来的有益效果:
[0032]本发明通过将第二测试单元与第一测试单元以及数据线输出单元集成在一起，并通过晶体管开关的打开和关闭分别实现面板第一测试单元和第二测试单元的测试，从而避免了由于当前技术中测试电路不集成，其中一个测试电路要绕道面板的尾端而导致的走线阻抗很大的问题，进而增加了检出率，节省了成本。
【附图说明】
[0033]通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述，本发明及其特征、夕卜形和优点将会变得更加明显。在全部附图中相同的标记指示相同的部分。并未可以按照比例绘制附图，重点在于示出本发明的主旨。
[0034]图1是本发明AMOLED面板测试电路结构图；
[0035]图2是本发明AMOLED面板测试电路的另一种结构图。
【具体实施方式】
[0036]下面根据具体的实施例及附图对本发明作进一步的说明，但是不作为本发明的限定。
[0037]参见图1所示结构，本发明公开一种AMOLED面板测试电路，其中，AMOLED面板测试电路包括第一测试单元1、数据线输出单元3和第二测试单元2，其中:
[0038]数据线输出单元3具有一个或多个数据线输出模块(例如但不仅限于，图1中列举出的数据线输出模块31和数据线输出模块32)，每个数据线输出模块均包括一组或多组数据线对，每对数据线的一端耦合在一起，并且数据线输出模块中每个数据线中未与数据线输出模块中其他数据线相连的另一端用于提供输出数据。
[0039]第一测试单元I包括一个或多个子控制单元，每个子控制单元都包括一条或者多条支路，每个支路与一数据线对对应，所述支路连接到与该支路对应的数据线对的相互耦合在一起的一端上。第二测试单元2包括一个或多输入信号线，所述输入信号线与所述数据线输出模块中的数据线对对应，所述输入信号线连接到与该输入信号线对应的数据线对的相互親合在一起的一端上。。
[0040]作为本发明一个优选实施例，AMOLED面板测试电路的第一测试单元I包括四个子控制单元，每个子控制单元均包括一个晶体管以控制该子控制单元是否打开，每个子控制单元均包括若干个支路，每个支路均包括一个晶体管，通过子控制单元控制可以使数据线输出单元中的所有数据线均输出