一种显示面板测试电路、显示面板及其测试方法
【专利摘要】本发明公开了一种显示面板测试电路、显示面板及其测试方法，其中，显示面板测试电路包括：多条与栅线一一对应的栅极测试线；各栅极测试线的输出端与对应的栅线相连，各栅极测试线的输入端相互短接；且各栅极测试线的延伸方向与栅线一致；栅极测试线，用于在测试时向连接的栅线输入栅极测试信号。本发明实施例提供的显示面板的测试电路，节省了大量的测试模块和检测探针，并且各栅极测试线相互短接，对各栅极测试线输入一个相同的栅极测试信号即可，可以防止信号衰减，并且能够使显示面板迅速点亮，替代了输入多个测试信号进行行扫描的测试方式，减少了显示面板点亮的时间，即减少了测试时间。
【专利说明】
一种显示面板测试电路、显示面板及其测试方法
技术领域
[0001]本发明涉及显示技术领域，尤指一种显示面板测试电路、显示面板及其测试方法。
【背景技术】
[0002]目前，薄膜晶体管液晶显不器(ThinFilm Transistor Liquid CrystalDisplay，TFT-LCD)生产过程中包括:将制作好的阵列基板和彩膜基板利用封框胶贴合在一起，形成一个完整的显示面板，然后利用检测电路对显示面板进行检测。
[0003]在对液晶盒(Cell)进行检测时，需要使用测试模块(block)进行测试，测试模块通过检测探针接触(Block Pin Contact)方式对显示面板连接(Lead)区的信号线加载信号，检测探针(Block Pin)与连接区中的信号线一一对应，相邻的检测探针之间以及相邻的信号线之间的距离为38-40um。由于引脚间距(Lead Pitch)极小，检测探针接触时容易发生偏移、划伤等，由于检测探针自身尺寸过小亦容易损坏，发生偏移会导致检测探针没有与连接线对应连接(Pin Miss)，严重影响液晶盒的检测效果。
[0004]对于栅线方向的信号输入，小尺寸的显示面板可以采用栅极驱动集成在阵列基板(Gate On Array，G0A)技术，但对于大尺寸的显示面板(大于等于65inch)，栅极信号线较多，并且由于面板尺寸大，信号衰减严重，无法使用GOA方式，因此，对大尺寸显示面板栅线方向输入信号时，更容易产生检测探针和信号线之间接触不良(Pin Miss)、划伤信号线或者损坏检测探针，严重影响显示面板测试效果和产品良率。
【发明内容】
[0005]本发明实施例提供一种显示面板测试电路、显示面板及其测试方法，用以解决现有技术中存在的对大尺寸显示面板栅线方向输入信号时，容易产生检测探针和信号线之间接触不良、划伤信号线或者损坏检测探针的问题。
[0006]本发明实施例提供了一种显示面板测试电路，包括:多条与栅线一一对应的栅极测试线；
[0007]各所述栅极测试线的输出端与对应的所述栅线相连，各所述栅极测试线的输入端相互短接;且各所述栅极测试线的延伸方向与所述栅线一致；
[0008]所述栅极测试线，用于在测试时向连接的栅线输入栅极测试信号。
[0009]在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述显示面板测试电路中，各所述栅极测试线的输入端通过第一短路条相互短接，所述第一短路条的延伸方向与各所述栅极测试线的延伸方向相互交叉。
[0010]在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述显示面板测试电路中，各所述栅极测试线分为多组，属于同一组的各所述栅极测试线通过第一短路条相互短接，各组所述栅极测试线之间通过连接导线相连。
[0011]在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述显示面板测试电路中，还包括:设置于所述第一短路条和所述栅极测试线的输出端之间的第一定位标记。
[0012]在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述显示面板测试电路中，还包括:多条与数据线一一对应连接的数据测试线；
[0013]所述数据测试线的延伸方向与所述数据线一致；
[0014]各所述数据测试线的输出端与对应的所述数据线相连；
[0015]所述数据测试线，用于在测试时向连接的数据线输入数据测试信号。
[0016]在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述显示面板测试电路中，还包括:至少一条栅极测试引线；
[0017]各所述栅极测试引线的输出端与所述栅极测试线的延伸方向一致且并排设置，且与所述栅极测试线的输入端相互短接；
[0018]各所述栅极测试引线的输入端与所述数据测试线的输入端的延伸方向一致且并排设置。
[0019]在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述显示面板测试电路中，还包括:多个与所述栅极测试引线一一对应的栅极测试垫；
[0020]所述栅极测试垫与对应所述栅极测试引线的输入端相连。
[0021]在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述显示面板测试电路中，各所述数据测试线分为至少一组，属于同一组的各所述数据测试线通过第二短路条相互短接。
[0022]在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述显示面板测试电路中，还包括:与所述第二短路条一一对应连接的数据测试垫。
[0023]在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述显示面板测试电路中，还包括:设置于所述第二短路条和所述数据测试线的输出端之间，同时位于各所述栅极测试垫和所述栅极测试引线之间的第二定位标记。
[0024]本发明实施例还提供了一种显示面板，包括:上述显示面板测试电路。
[0025]本发明实施例还提供了一种上述显示面板的测试方法，包括:
[0026]在测试时，向栅极测试线的输入端输入栅极测试信号；
[0027]在测试结束后，将相互短接的各所述栅极测试线的输入端和输出端断开。
[0028]在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述显示面板的测试方法中，在向所述栅极测试线的输入端输入栅极测试信号的同时，向数据测试线的输入端输入数据测试信号。
[0029]在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述显示面板的测试方法中，在向所述栅极测试线的输入端输入栅极测试信号的同时，向数据测试线的输入端输入数据测试信号，具体包括:
[0030]通过栅极测试垫向所述栅极测试线的输入端输入栅极测试信号，同时通过数据测试垫向所述数据测试线的输入端输入数据测试信号。
[0031]在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述显示面板的测试方法中，将相互短接的各所述栅极测试线的输入端和输出端断开，具体包括:
[0032]根据第一定位标记的位置，将第一短路条和所述栅极测试线的输出端断开。
[0033]在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述显示面板的测试方法中，还包括:
[0034]根据第二定位标记的位置，将第二短路条和所述数据测试线的输出端断开，同时将各栅极测试垫和栅极测试引线断开。
[0035]本发明有益效果如下:
[0036]本发明实施例提供了一种显示面板测试电路、显示面板及其测试方法，其中，显示面板测试电路包括:多条与栅线一一对应的栅极测试线；各栅极测试线的输出端与对应的栅线相连，各栅极测试线的输入端相互短接;且各栅极测试线的延伸方向与栅线一致;栅极测试线，用于在测试时向连接的栅线输入栅极测试信号。本发明实施例提供的显示面板的测试电路，通过将各栅极测试线的输入端相互短接，在测试时，可以仅对其中的一条栅极测试线输入栅极测试信号，节省了大量的测试模块和检测探针，并且各栅极测试线相互短接，对各栅极测试线输入一个相同的栅极测试信号即可，可以防止信号衰减，并且能够使显示面板迅速点亮，替代了输入多个测试信号进行行扫描的测试方式，减少了显示面板点亮的时间，即减少了测试时间。
【附图说明】
[0037]图1为本发明实施例提供的一种显示面板测试电路的结构示意图之一；
[0038]图2为本发明实施例提供的一种显示面板测试电路的结构示意图之二；
[0039]图3为本发明实施例提供的一种显示面板的测试方法的流程图。
【具体实施方式】
[0040]针对现有技术中存在的对大尺寸显示面板栅线方向输入信号时，容易产生检测探针和信号线之间接触不良、划伤信号线或者损坏检测探针的问题，本发明实施例提供了一种显示面板测试电路、显示面板及其测试方法。
[0041]下面结合附图，对本发明实施例提供的一种显示面板测试电路、显示面板及其测试方法的【具体实施方式】进行详细地说明。附图中各部分的形状和大小不反映真实比例，目的只是示意说明本
【发明内容】
。
[0042]如图1所示。本发明实施例提供了一种显示面板测试电路，包括:多条与栅线一一对应的栅极测试线101;
[0043]各栅极测试线101的输出端与对应的栅线相连，各栅极测试线101的输入端相互短接;且各栅极测试线101的延伸方向与栅线一致；图1中1lA表示栅极测试线101的输入端，1lB表示栅极测试线101的输出端；
[0044]栅极测试线101，用于在测试时向连接的栅线输入栅极测试信号。
[0045]本发明实施例提供的一种显示面板的测试电路，通过将各栅极测试线101的输入端相互短接，在测试时，可以仅对其中的一条栅极测试线101输入栅极测试信号，节省了大量的测试模块和检测探针，并且各栅极测试线101相互短接，对各栅极测试线101输入一个相同的栅极测试信号即可，可以防止信号衰减，并且能够使显示面板迅速点亮，替代了输入多个测试信号进行行扫描的测试方式，减少了显示面板点亮的时间，即减少了测试时间。
[0046]在具体实施时，为了保证检测探针和栅极测试线101的接触，可以同时向几条栅极测试线101输入栅极测试信号，保证其中某条栅极测试线101接触不良时，不会影响栅极测试信号的输入。如图1所示，为了使检测探针容易和栅极测试线101相接触，可以在制作栅极测试线101的时候制作一段较粗的线，如图1中的虚线框M框住的栅极测试线101。在测试时，可以向栅极测试线101的输入端输入开启信号(Von)，测试结束时，向栅极测试线101的输入端输入截止信号(Voff)。
[0047]具体地，上述栅极测试线101的输入端可以通过以下方式相互短接:
[0048]方式一，各栅极测试线101的输入端通过第一短路条102相互短接，第一短路条102的延伸方向与各栅极测试线101的延伸方向相互交叉，如图1所示。
[0049]方式二，各栅极测试线101分为多组，属于同一组的各栅极测试线101通过第一短路条102相互短接，各组栅极测试线101之间通过连接导线110相连，如图2所示，为了便于示意，图2中只画出了两组栅极测试线101，实际还可以包括多组栅极测试线101，并不对其分组数量进行限定。
[0050]参照图1或图2，在具体实施时，本发明实施例提供的上述显示面板检测电路，还包括:设置于第一短路条102和栅极测试线101的输出端之间的第一定位标记103。
[0051]通过设置第一定位标记103，在测试结束后，可以根据第一定位标记103的位置将第一短路条102和栅极测试线101的输出端断开，上述第一定位标记103优选为两个，如图1或图2所示，可以设置在第一短路条102和栅极测试线101的输出端之间，并且优选设置在栅极测试线101的两侧的位置，在具体实施时，可以通过控制激光沿着两个第一定位标记103的连线或连线的延长线将第一短路条102和栅极测试线101的输出端之间断开，将第一短路条切除，可以避免第一短路条102外漏引起的信号线短接以及腐蚀风险对后续工艺的影响。
[0052]进一步地，本发明实施例提供的上述显示面板测试电路，还可以包括:多条与数据线一一对应连接的数据测试线104;
[0053]数据测试线104的延伸方向与数据线一致；
[0054]各数据测试线104的输出端与对应的数据线相连；图1中104A表示数据测试线104的输入端，104B表示数据测试线104的输出端；
[0055]数据测试线104，用于在测试时向连接的数据线输入数据测试信号。
[0056]如图1所示，为了使检测探针容易和数据测试线104相接触，可以在制作数据测试线104的时候制作一段较粗的线，如图1中的虚线框N框住的数据测试线104。
[0057]更进一步地，本发明实施例提供的上述显示面板测试电路，还可以包括:至少一条栅极测试引线105;
[0058]各栅极测试引线105的输出端与栅极测试线101的延伸方向一致且并排设置，且与栅极测试线101的输入端相互短接；
[0059]各栅极测试引线105的输入端与数据测试线104的输入端的延伸方向一致且并排设置;图1中105A表示栅极测试引线105的输入端，105B表示栅极测试引线105的输出端。
[0060]由于栅极测试引线105的输入端与数据测试线104的输入端的延伸方向一致，可以使栅线侧的测试信号和数据侧的测试信号在显示面板的同一侧输入，有利于显示面板的窄边框设计。如图1所示，为了使检测探针容易和栅极测试引线105相接触，可以在制作栅极测试引线105的时候制作一段较粗的线，如图1中的虚线框M和N框住的栅极测试引线105。
[0061]上述栅极测试引线105最少为一条，优选为多条并排设置，如图1或图2所示，这样，当其中某条栅极测试引线105出现问题时，不会影响栅极测试信号的输入，栅极测试引线105为多条并排设置是本发明的优选实施方式，此处并不对栅极测试线101的数量进行限定。
[0062]在具体实施时，本发明实施例提供的上述显示面板测试电路，还可以包括:多个与栅极测试引线105—一对应的栅极测试垫106;
[0063]栅极测试垫106与对应栅极测试引线105的输入端相连。
[0064]通过设置多个与栅极测试引线105—一对应的栅极测试垫106，在测试时，可以通过栅极测试垫106向栅极测试线101的输入端输入栅极测试信号，而不用通过检测探针和图1中的虚线框M中的栅极测试线101、栅极测试引线105或虚线框N中的栅极测试引线105进行接触，即避免了使用检测探针和栅极测试引线105或栅极测试线101进行接触，从而不会对栅极测试引线105或栅极测试线101造成划伤。并且栅极测试垫106的尺寸一般在ΙΟΟμπιΧ200μπι左右，比栅极测试线101或栅极测试引线105的线宽(大约20μπι左右)的尺寸大很多，从而降低了出现接触不良的概率。
[0065]具体地，在具体实施时，各数据测试线104分为至少一组，属于同一组的各数据测试线104通过第二短路条107相互短接。
[0066]通过将属于同一组的各数据测试线104通过第二短路条107相互短接，可以节省大量的测试模块和检测探针。
[0067]在具体实施时，上述数据测试线104优选为分为两组，位于奇数位置的数据测试线104分为同一组，位于偶数位置的数据测试线104分为同一组，属于同一组的各数据测试线104通过第二短路条107相互短接，在实际应用中，可以根据数据测试线104的数量以及需要输入的数据测试信号的数量来确定将数据测试线104分为几组，此处不对数据测试线104的分组数量进行限定。
[0068]具体地，本发明实施例提供的上述显示面板测试电路，还可以包括:与第二短路条107——对应连接的数据测试垫108。
[0069]通过设置与第二短路条107—一对应的数据测试垫108，在测试时，可以通过数据测试垫108向数据测试线104的输入端输入数据测试信号，而不用通过检测探针和图1中虚线框N中的数据测试线104进行接触，即避免了使用检测探针和数据测试线104进行接触，从而不会对数据测试线104造成划伤。并且数据测试垫108的尺寸一般在100μπιΧ2(Κ)μπι左右，比数据测试线104的线宽(大约20μπι左右)的尺寸大很多，从而降低了出现接触不良的概率。
[0070]在具体实施时，本发明实施例提供的上述显示面板测试电路，还可以包括:设置于第二短路条107和数据测试线104的输出端之间，同时位于各栅极测试垫106和栅极测试引线105之间的第二定位标记109。
[0071]通过设置第二定位标记109，在测试结束后，可以根据第二定位标记109的位置将第二短路条107和数据测试线104的输出端断开，同时将栅极测试垫106和栅极测试引线105断开，上述第二定位标记109优选为两个，如图1或图2所示，可以设置在第二短路条107和数据测试线104的输出端之间，以及栅极测试垫106和栅极测试引线的输出端之间，并且优选设置在栅极测试引线105和数据测试线104两侧的位置，在具体实施时，可以通过控制激光沿着两个第二定位标记109的连线或连线的延长线将第一短路条102和栅极测试线101的输出端之间断开，将第二短路条107和栅极测试垫106切除，可以避免第二短路条107、数据测试垫108以及栅极测试垫106外漏引起的信号线短接以及腐蚀风险对后续工艺的影响。
[0072]在具体实施时，为了使上述显示面板测试电路可通用于各种尺寸的显示面板，并对应的通用于测试模块的检测探针，可以设置数据测试垫108和栅极测试垫106的大小相同，并且各数据测试垫108的间距优选为和各栅极测试垫106的间距相同，在能够满足测试要求的情况下，还可以设置栅极测试垫106的数量和数据测试垫108的数量相同，并且各栅极测试垫106和各数据测试垫108对称设置。
[0073]在实际应用中，为了简化工艺流程，上述栅极测试线101可以为栅线的延长线，同样的，上述数据测试线104可以为数据线的延长线。
[0074]基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种显示面板，包括:上述显示面板测试电路。该显示面板可以应用于手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。由于该显示面板解决问题的原理与上述显示面板测试电路相似，因此该显示面板的实施可以参见上述显示面板测试电路的实施，重复之处不再赘述。
[0075]基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种上述显示面板的测试方法，由于该测试方法解决问题的原理与上述显示面板相似，因此该测试方法的实施可以参见上述显示面板的实施，重复之处不再赘述，如图3所示，包括:
[0076]S301、在测试时，向栅极测试线的输入端输入栅极测试信号；
[0077]S302、在测试结束后，将相互短接的各栅极测试线的输入端和输出端断开。
[0078]具体地，上述步骤S301具体可以包括:
[0079]S3011、在向栅极测试线的输入端输入栅极测试信号的同时，向数据测试线的输入端输入数据测试信号。
[0080]具体地，上述步骤S3011具体可以通过以下方法实现:
[0081 ]通过栅极测试垫向栅极测试线的输入端输入栅极测试信号，同时通过数据测试垫向数据测试线的输入端输入数据测试信号。
[0082]具体地，上述步骤S302具体可以包括:
[0083]根据第一定位标记的位置，将第一短路条和栅极测试线的输出端断开。
[0084]进一步地，本发明实施例提供的上述显示面板的测试方法，还可以包括:
[0085]S303、根据第二定位标记的位置，将第二短路条和数据测试线的输出端断开，同时将各栅极测试垫和栅极测试引线断开。
[0086]本发明实施例提供的一种显示面板的测试电路、显示面板及其测试方法，通过将各栅极测试线的输入端相互短接，在测试时，可以仅对其中的一条栅极测试线输入栅极测试信号，节省了大量的测试模块和检测探针，并且各栅极测试线相互短接，对各栅极测试线输入一个相同的栅极测试信号即可，可以防止信号衰减，并且能够使显示面板迅速点亮，替代了输入多个测试信号进行行扫描的测试方式，减少了显示面板点亮的时间，即减少了测试时间。
[0087]显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
【主权项】
1.一种显示面板测试电路，其特征在于，包括:多条与栅线一一对应的栅极测试线； 各所述栅极测试线的输出端与对应的所述栅线相连，各所述栅极测试线的输入端相互短接;且各所述栅极测试线的延伸方向与所述栅线一致； 所述栅极测试线，用于在测试时向连接的栅线输入栅极测试信号。2.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，各所述栅极测试线的输入端通过第一短路条相互短接，所述第一短路条的延伸方向与各所述栅极测试线的延伸方向相互交叉。3.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，各所述栅极测试线分为多组，属于同一组的各所述栅极测试线通过第一短路条相互短接，各组所述栅极测试线之间通过连接导线相连。4.如权利要求2或3所述的测试电路，其特征在于，还包括:设置于所述第一短路条和所述栅极测试线的输出端之间的第一定位标记。5.如权利要求1-3任一项所述的测试电路，其特征在于，还包括:多条与数据线一一对应连接的数据测试线； 所述数据测试线的延伸方向与所述数据线一致； 各所述数据测试线的输出端与对应的所述数据线相连； 所述数据测试线，用于在测试时向连接的数据线输入数据测试信号。6.如权利要求5所述的测试电路，其特征在于，还包括:至少一条栅极测试引线； 各所述栅极测试引线的输出端与所述栅极测试线的延伸方向一致且并排设置，且与所述栅极测试线的输入端相互短接； 各所述栅极测试引线的输入端与所述数据测试线的输入端的延伸方向一致且并排设置。7.如权利要求6所述的测试电路，其特征在于，还包括:多个与所述栅极测试引线一一对应的栅极测试垫； 所述栅极测试垫与对应所述栅极测试引线的输入端相连。8.如权利要求5所述的测试电路，其特征在于，各所述数据测试线分为至少一组，属于同一组的各所述数据测试线通过第二短路条相互短接。9.如权利要求8所述的测试电路，其特征在于，还包括:与所述第二短路条一一对应连接的数据测试垫。10.如权利要求8所述的测试电路，其特征在于，还包括:设置于所述第二短路条和所述数据测试线的输出端之间，同时位于各所述栅极测试垫和所述栅极测试引线之间的第二定位标记。11.一种显示面板，其特征在于，包括:如权利要求1-10任一项所述的显示面板测试电路。12.—种如权利要求11所述的显示面板的测试方法，其特征在于，包括: 在测试时，向栅极测试线的输入端输入栅极测试信号； 在测试结束后，将相互短接的各所述栅极测试线的输入端和输出端断开。13.如权利要求12所述的测试方法，其特征在于，在向所述栅极测试线的输入端输入栅极测试信号的同时，向数据测试线的输入端输入数据测试信号。14.如权利要求13所述的测试方法，其特征在于，在向所述栅极测试线的输入端输入栅极测试信号的同时，向数据测试线的输入端输入数据测试信号，具体包括: 通过栅极测试垫向所述栅极测试线的输入端输入栅极测试信号，同时通过数据测试垫向所述数据测试线的输入端输入数据测试信号。15.如权利要求12-14任一项所述的测试方法，其特征在于，将相互短接的各所述栅极测试线的输入端和输出端断开，具体包括: 根据第一定位标记的位置，将第一短路条和所述栅极测试线的输出端断开。16.如权利要求15所述的测试方法，其特征在于，还包括: 根据第二定位标记的位置，将第二短路条和所述数据测试线的输出端断开，同时将各栅极测试垫和栅极测试引线断开。
【文档编号】G09G3/00GK105929575SQ201610551607
【公开日】2016年9月7日
【申请日】2016年7月13日
【发明人】曹金虎, 历伟, 马明辉, 吴岩岩, 高棉, 曹斌, 权南仁, 于凤武
【申请人】京东方科技集团股份有限公司, 北京京东方显示技术有限公司