测试引出线结构及测试装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及测试领域，特别是涉及一种测试引出线结构及测试装置。
【背景技术】
[0002]随着科技的发展，人们对显示技术的要求也越来越高，现有的显示装置在出厂前均会进行多种显示检测，以满足人们的各种需要。
[0003]图1A为现有技术的测试引出线结构的结构示意图，图1B为沿图1A的A_A’截面线的截面图。显示面板为11，信号线为12，测试引出线为13，测试线为14，测试信号发生装置为15。
[0004]在显示装置的制成过程中会形成信号线12以及测试引出线13，信号线12与测试引出线13—一对应，测试信号发生装置为15会通过测试引出线13向信号线12传输测试信号，以对显示面板11进行显示检测。
[0005]在对显示面板11检测完毕后，为了便于设置信号线端子，会将测试引出线13切割掉。但是由于显示面板11的分辨率越来越高，导致测试引出线13之间的间距也越来越小，在进行切割操作时，切割产生的碎肩容易引起不同测试引出线13之间产生短路现象。
[0006]故，有必要提供一种测试引出线结构及测试装置，以解决现有技术所存在的问题。
【发明内容】
[0007]本发明的目的在于提供一种在进行切割操作时，可以较好的避免不同测试引出线之间产生短路现象的测试引出线结构及测试装置；以解决现有的测试引出线结构及测试装置的在进行切割操作时，不同测试引出线之间产生短路现象的技术问题。
[0008]为解决上述问题，本发明提供的技术方案如下:
[0009]本发明实施例提供一种测试引出线结构，用于连接显示装置内部的信号线以及外部的测试线，其包括:
[0010]第一绝缘层；
[0011]第二绝缘层，设置在所述第一绝缘层上；
[0012]第一引出线，设置在所述第一绝缘层和所述第二绝缘层之间；以及
[0013]第二引出线，设置在所述第二绝缘层上；
[0014]其中所述第一引出线在所述第二绝缘层上的投影与所述第二引出线在所述第二绝缘层上的投影间隔设置。
[0015]在本发明所述的测试引出线结构中，相邻的所述第一引出线的间距大于等于预设安全值，相邻的所述第二引出线的间距大于等于所述预设安全值。
[0016]在本发明所述的测试引出线结构中，所述测试引出线结构还包括:
[0017]第一通孔，设置在所述第二绝缘层上，用于将所述第一引出线引出至所述第二绝缘层上，以便所述第一引出线与所述信号线连接。
[0018]在本发明所述的测试引出线结构中，所述测试引出线结构还包括:
[0019]第二通孔，设置在所述第二绝缘层上，用于将所述第一引出线引出至所述第二绝缘层上，以便所述第一引出线与所述测试线连接。
[0020]在本发明所述的测试引出线结构中，所述第一通孔和所述第二通孔分别设置在所述第一引出线的两端。
[0021]在本发明所述的测试引出线结构中，所述第二引出线的一端直接与所述信号线连接，所述第二引出线的另一端直接与所述测试线连接。
[0022]本发明实施例还提供一种测试装置，其包括:
[0023]测试信号发生装置，用于生成测试信号；以及
[0024]测试引出线结构，通过测试线与所述测试信号发生装置连接，用于将所述测试信号传输至相应的显示装置内部的信号线；
[0025]其中所述测试引出线结构包括:
[0026]第一绝缘层；
[0027]第二绝缘层，设置在所述第一绝缘层上；
[0028]第一引出线，设置在所述第一绝缘层和所述第二绝缘层之间；以及
[0029]第二引出线，设置在所述第二绝缘层上；
[0030]其中所述第一引出线在所述第二绝缘层上的投影与所述第二引出线在所述第二绝缘层上的投影间隔设置。
[0031]在本发明所述的测试装置中，所述测试装置还包括:
[0032]切割标记，设置在所述测试引出线结构上，以便在测试完毕后，对所述信号线和所述测试线进行分离操作。
[0033]在本发明所述的测试装置中，所述测试引出线结构还包括:
[0034]第一通孔，设置在所述第二绝缘层上，用于将所述第一引出线引出至所述第二绝缘层上，以便所述第一引出线与所述信号线连接；以及
[0035]第二通孔，设置在所述第二绝缘层上，用于将所述第一引出线引出至所述第二绝缘层上，以便所述第一引出线与所述测试线连接；
[0036]其中所述第一通孔和所述第二通孔分别设置在所述第一引出线的两端。
[0037]在本发明所述的测试装置中，所述第二引出线的一端直接与所述信号线连接，所述第二引出线的另一端直接与所述测试线连接。
[0038]相较于现有的测试引出线结构及测试装置，本发明的测试引出线结构及测试装置通过设置位于不同层面的第一引出线以及第二引出线，在进行切割操作时，可以较好的避免不同测试引出线之间产生短路现象；以解决现有的测试引出线结构及测试装置的在进行切割操作时，不同测试引出线之间产生短路现象的技术问题。
[0039]为让本发明的上述内容能更明显易懂，下文特举优选实施例，并配合所附图式，作详细说明如下:
【附图说明】
[0040]图1A为现有技术的测试引出线结构的结构示意图；
[0041 ] 图1B为沿图1A的A-A’截面线的截面图；
[0042]图2A为本发明的测试引出线结构的优选实施例的结构示意图；
[0043]图2B为沿图2A的B-B ’截面线的截面图。
【具体实施方式】
[0044]以下各实施例的说明是参考附加的图式，用以例示本发明可用以实施的特定实施例。本发明所提到的方向用语，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本发明，而非用以限制本发明。
[0045]在图中，结构相似的单元是以相同标号表示。
[0046]请参照图2A和图2B，图2A为本发明的测试引出线结构的优选实施例的结构示意图，图2B为沿图2A的B-B’截面线的截面图。本优选实施例的测试引出线结构21用于连接显示装置内部的信号线22以及外部的测试线23，该测试引出线结构21包括第一绝缘层211、第二绝缘层212、第一引出线213 (测试引出线)以及第二引出线214 (测试引出线)。第二绝缘层212设置在第一绝缘层211上，第一引出线213设置在第一绝缘层211和第二绝缘层212之间，第二引出线214设置在第二绝缘层212上。第一引出线213在第二绝缘层212上的投影和第二引出线214在第二绝缘层212上的投影间隔设置。
[0047]测试引出线结构21还包括第一通孔215以及第二通孔216，第一通孔215设置在第二绝缘层212上，用于将第一引出线213引出至第二绝缘层212上，以便第一引出线213与信号线22连接；第二通孔216设置在第二绝缘层212上，用于将第一引出线213引出至第二绝缘层212上，以便第一引出线213