专利名称：探针组件的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种探针组件，尤指一种利用蚀刻方式简化一字型探针 组装工序的探针组件。
背景技术：
液晶电视、笔记型计算机及台式计算机的影像显示装置己经普遍使用液
晶显示器(LCD)， 一般液晶显示器在其面板侧边上设有高密度排列的接触 端子，用于传送影像及色相等信号，因此LCD在安装到产品之前会进行信号 的测试，检査面板有无不良反应。
目前LCD的信号检查装置为探针装置，其上设有探针卡，如图1所示， 探针卡包括有一主支架90，该主支架90下方设有基板支架91及探针片支架 92，该探针片支架92下方组设有探针组件，而该基板支架91下方设有电路 基板95，该电路基板95电性连接该探针组件，该探针组件包含有一导引板 93及多个探针片94，该导引板93上布设有组接部，提供该些探针片94插组， 该导引板93是由两个芯片通过粘合剂上下接合而成,而粘合剂在接合过程中， 粘合剂会渗入组接部内，导致插组于该导引板93上的探针片94不能稳固地 插入固定，并因粘合剂使探针片94产生流动性，使探针组件的不合格比率提 高，而无法进行探测检查的作业。
另外，探针组件中的探针片94没有往外突出，所以在探针装置测试的程 序中，无法轻易判断及辨别探针片94的接触端是否在正确的位置并接触面板， 所以探针片94的缺陷判断上需要花费较长的时间，加上探针组件的制造程序 复杂，还提高了制造成本，且制造过程中又容易产生不合格品，从而降低了 检査液晶面板的效率。
实用新型内容
本实用新型的主要目的在于提供一种探针组件，用于解决现有的探针卡 的不合格比率及制造成本较高的缺点。
为达成上述目的，本实用新型提供一种探针组件，包括
一芯片，所述芯片形成有多个组接部，所述组接部按间隔排列；以及
多个探针片，分别组设于所述些组接部中，且所述探针片前端外显于所
述芯片o
所述探针片包括有多个第一探针片及多个第二探针片，而第一、第二探 针片间隔设置于所述芯片的多个组接部中。
所述的第一及第二探针片于其两侧端分别设有一面板接触部及电路接触 部，所述面板接触部具有一向下尖端，所述电路接触部具有一向上尖端，且 所述片体底缘凸设有固定部。
与现有技术相比，本实用新型具有以下优点-
本实用新型提供的探针组件，通过由单一芯片进行蚀刻所形成的组接部 来组设探针片，不但简化了探针组件的制造工艺，还降低制造成本，并且在 制造过程中不需要利用粘合剂进行固定，所以探针片不会受到粘合剂的影响 而产生移动，可降低探针组件产品的不合格比率。此外，该探针片的前端外 显于该芯片，因为本实用新型探针组件的探针片属于开放式结构，因此探针 组件在对液晶面板进行测试时，操作员更容易对观测的每一探针片与液晶面 板的接触情形并对此进行调整，从而大大节省对位所花费的时间，也提高探 针组件的检测效率。
图1为现有技术的探针卡的侧视剖面示意图2为本实用新型探针组件的第一探针片的一较佳实施例的立体示意
图3为本实用新型探针组件的第二探针片的一较佳实施例的立体示意
图4为本实用新型探针组件的一较佳实施例的立体示意图5为本实用新型探针组件的一较佳实施例的侧视剖面示意图6A为本实用新型探针组件的第一实施状态的测试及局部示意图;
图6B为本实用新型探针组件的第一实施状态的立体示意图7A为本实用新型探针组件的第二实施状态的测试及局部示意图;
图7B为本实用新型探针组件的第二实施状态的立体示意图。
主要元件符号说明如下
10心片11组接部
20第一探针片22面板接触部
23电路接触部24朝下尖端
25朝上尖端26固定部
30第二探针片32面板接触部
33电路接触部34朝下尖端
35朝上尖端36固定部
40探针卡41主支架
42固定件43薄膜
44驱动集成电路45探针固定件
46软性电路板90主支架
91基板支架92探针片支架
93导引板94探针片
95电路基板
具体实施方式
如图4、图5所示，均为本实用新型探针组件的一较佳实施例，其包括有 一芯片IO及多个探针片。
该芯片10上布设有多个相互平行排列的组接部11，该组接部11利用两 次蚀刻加工技术成形，且该组接部11蚀刻出的形状对应于该些探针片。
该探针片组设于该芯片10的组接部11中，并且其前端外显于该芯片10。 在本实用新型的较佳实施例中，该探针片包括有两种形态第一探针片20(如
图2所示)及第二探针片30 (如图3所示)，该第一、第二探针片20、 30都 属于一字型探针片，且第一、第二探针片20、 30是间隔排列地组设该芯片10 的组接部11中，其中，该探针片的材质可以为铍铜合金(Be-Cu)或铍镍合 金(Be-Ni)。
图2为本实用新型探针组件的第一探针片的一较佳实施例的立体示意图， 该第一探针片20的两端分别设有一面板接触部22及一电路接触部23，该面 板接触部22及该电路接触部23近似垂直于该第一探针片20，且该面板接触 部22具有一朝下尖端24，该电路接触部23具有一朝上尖端25，并且该第一 探针片20底缘往下凸设有二固定部26，可伸入组接部11并固定于该芯片10 中，且组设后，该朝上尖端25凸出于该芯片10的上表面，且位于该芯片10 的后半部，而该朝下尖端24伸出该芯片10的下表面，并可接触待测液晶面 板的表面。
图3为本实用新型探针组件的第二探针片的一较佳实施例的立体示意图， 该第二探针片30形态近似于该第一探针片20,该第二探针片30 —端向下延 伸一面板接触部32，另一端向上延伸一电路接触部33，该面板接触部32具 有一朝下尖端34，该电路接触部33具有一朝上尖端35，而该第二探针片30 下方设有固定部36，该第二探针片30可伸入该芯片10的组接部11中，并且 通过该固定部36固定于该芯片10中，组设后，该第二探针片30的朝下尖端 34凸伸出该芯片10底面，另朝上尖端35凸伸出该芯片10顶面。
如图6A与6B所示，为本实用新型探针组件使用于以覆晶玻璃 (chip-on-glass， COG)法所制成的探针卡40上的示意图，其包括有一主支 架41，该主支架41下方设有一用于固定驱动集成电路44的固定件42，该固 定件42下方设有已连接驱动集成电路44的薄膜43 (Pattern Film)，该薄膜 43 —侧连接凸出于该探针组件的朝上尖端25、35，另一侧连接软性电路板46。
如图7A、 7B所示，图7A、 7B分别为探针组件的另一实施例，采用薄膜 覆晶(chip-on-film， COF)法制成并且组设于探针卡40上。该探针卡40具 有一主支架41，该主支架41下方设有一固定件42，该固定件42下方组设有 已连接驱动集成电路44的薄膜43，该薄膜43两相对侧边分别连接该探针组
件的朝上尖端25、 35及一软性电路板46。
上述探针卡上都设有探针固定件45，并可搭配该主支架41来固定该探针 组件及该薄膜43，便可将多个探针卡40组设于探针装置上，探针组件上的朝 下尖端24、 34接触于待测液晶面板的表面，由于探针组件中的探针片属于开 放式的结构，所以操作者可以观测每一朝下尖端24、 34与液晶面板的接触情 形，确认接触情形良好后，再进行信号测试。
综上所述，本实用新型探针组件是由单一芯片IO进行蚀刻加工形成组接 部ll，进而提供第一、第二探针片20、 30开放性地组设其中，制造过程中， 不需使用粘合剂进行固定，探针片不会受到粘合剂的影响而产生移动，所以 探针片可以稳固的设置在正确的位置上，加上是采用单一芯片10，从而只要 将探针片正确的插入即可，所以在制造工序上较为简便及精密，进而降低制 造成本。此外，由于探针片采用开放式结构，因此操作员可以在检测液晶面 板前，轻易的检査探针片与该液晶面板的接触情形，若有探针片与液晶面板 接触的情形出现时，即表示探针片损坏，则需要更换探针卡40再进行通电测 试，因此在本实用新型探针组件可以节省制造组装的时程，并在使用过程中， 提高测试液晶面板的效率，因此更具有实用性及市场性。
以上公开的仅为本实用新型的几个具体实施例，但是，本实用新型并非 局限于此，任何本领域的技术人员能思之的变化都应落入本实用新型的保护 范围。
权利要求1、一种探针组件，其特征在于，包括一芯片，所述芯片形成有多个组接部，所述组接部按间隔排列；以及多个探针片，分别组设于所述些组接部中，且所述探针片前端外显于所述芯片。
2、 根据权利要求1所述的探针组件，其特征在于，所述探针片包括有多 个第一探针片及多个第二探针片，而第一、第二探针片间隔设置于所述芯片 的多个组接部中。
3、 根据权利要求2所述的探针组件，其特征在于，所述的第一及第二探 针片于其两侧端分别设有一面板接触部及电路接触部，所述面板接触部具有 一向下尖端，所述电路接触部具有一向上尖端，且所述片体底缘凸设有固定 部。
专利摘要本实用新型涉及一种探针组件，包括有一芯片及多个探针片，该芯片上设有蚀刻加工而成的组接部，该些探针片依序组设于组接部中，且其前端外显于该芯片，本实用新型探针组件在制造工序上较为简便，并且通过由单一芯片蚀刻即可让探针片组设，减少两个芯片相互粘合的步骤，所以制造简便，还降低了制造成本，由于本实用新型没有使用粘合剂进行固定，还避免了因为粘合剂溢流而影响探针片稳定性的情况发生，因此降低产品不良率，而该些探针片的前端属于开放式，所以操作员可以轻易的检查探针片与液晶面板的接触情形，确保探针组件的检查效率。
文档编号G02F1/13GK201203631SQ200820114830
公开日2009年3月4日 申请日期2008年5月21日 优先权日2008年5月21日
发明者安玧泰 申请人:安玧泰