专利名称：液晶面板检测单元和检测装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及液晶面板技术领域，尤其是一种液晶面板检测单元和检测装置。
背景技术：
在液晶面板的排布设计中，液晶显示屏与屏之间通常有废材位置设计，即使部分 “零切割”产品，由于仍需要切割出阵列基板的电极边，因此在彩膜基板上还存在废材。在废材切割的实际生产中，基于切割压力、裂片效果、不良情况等各个因素，会发生废材无法完全脱落或废材破碎等情况，这些情况统称为废材残留。当废材残留的液晶屏进入下游工序，残留的废材可能造成屏破碎等不良后果，影响合格率。因此，在废材切割完成后都会有废材残留的检测单元。目前，主流切割机中常用的检测单元称为检测针(Pin)，其检测原理是柱状的检测针在移动时通过传感器感应阻力来检测废材是否有残余，但检测针在实际生产中存在一些问题包括1、检测针只能检测阵列基板的废材残留，不能对彩膜基板电极边的废材残留起到检测作用；2、检测针和液晶显示屏只进行点接触，因此检测精度不高，由于检测区域有限制，在废材断裂的情况下检出能力不足。
实用新型内容(一)要解决的技术问题本实用新型要解决的技术问题是，针对上述问题，如何提供一种既能检测阵列基板的废材残留又能检测彩膜基板电极边的废材残留且检测区域不受限制的液晶面板检测单元和检测装置。( 二 )技术方案为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种液晶面板检测单元，包括竖直放置的阵列基板检测条和水平放置的彩膜基板检测条；其中所述彩膜基板检测条的下表面与所述阵列基板检测条的上端固定连接。其中，所述的液晶面板检测单元还包括调节阀；所述彩膜基板检测条进一步包括沿其长度方向设置的调节槽，所述调节阀通过所述调节槽与所述阵列基板检测条的上端固定连接，并在所述彩膜基板检测条的长度方向上移动。其中，所述彩膜基板检测条还包括沿垂直于其长度方向设置的一条或多条刻度线。其中，所述彩膜基板检测条与所述阵列基板检测条的宽度相同且均为50-100毫米。其中，所述彩膜基板检测条的厚度与所述阵列基板检测条的厚度均大于等于10毫米。本实用新型还包括一种液晶面板检测装置，包括至少一根液晶面板检测条，所述至少一根液晶面板检测条包括同方向并排布置的至少两个上述任一项所述的液晶面板检测单元。其中，所述至少一根液晶面板检测条进一步包括第一检测单元连接架，位于所述至少两个液晶面板检测单元的彩膜基板检测条的上方并分别与所述至少两个液晶面板检测单元的彩膜基板检测条的上表面相连接。其中，所述至少一根液晶面板检测条进一步包括第二检测单元连接架，位于所述至少两个液晶面板检测单元的阵列基板检测条的下方并分别与所述至少两个液晶面板检测单元的阵列基板检测条的下端相连接。其中，所述液晶面板检测条为四根，其中两根所述液晶面板检测条相互平行，并与其余两根所述液晶面板检测条相垂直。其中，所述至少一根液晶面板检测条中液晶面板检测单元的间距大于所述彩膜基板检测条的宽度、所述阵列基板检测条的宽度和所述彩膜基板检测条的长度的最大值。(三)有益效果本实用新型公开了一种液晶面板检测单元和检测装置，通过阵列基板检测条和彩膜基板检测条分别检测电极边阵列基板和彩膜基板的废材残留；且可以通过调节阀调整阵列基板检测条的位置，并用刻度线来表示位置，可对应电极边宽度不同的产品检测；通过增大阵列基板检测条和彩膜基板检测条的宽度，可增加检测面积。解决了原有检测针只能检测阵列基板，不能检测彩膜基板废材残留的问题，并达到了增加检测面积的效果。
图1是本实用新型实施例所述的液晶面板检测单元的结构示意图；图2是本实用新型实施例所述的液晶面板检测单元检测无废材残留液晶面板的示意图；图3是本实用新型实施例所述的液晶面板检测单元检测废材残留液晶面板的示意图；图4是本实用新型实施例所述的液晶面板检测装置的第一检测单元连接架的结构示意图；图5是本实用新型实施例所述的液晶面板检测装置的第二检测单元连接架的结构示意图。其中，1 阵列基板检测条；2 彩膜基板检测条；3 调节阀；4 调节槽；5 刻度线； 6 彩膜基板；7 阵列基板；8 废材残留；9 第一检测单元连接架；10 第二检测单元连接
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具体实施方式
以下结合附图和实施例，对本实用新型的具体实施方式
作进一步详细说明。以下实施例用于说明本实用新型，但不用来限制本实用新型的范围。如图1所示，本实用新型所述的液晶面板检测单元包括竖直放置的阵列基板检测条(Bar) 1和水平放置的彩膜基板检测条2 ；其中所述彩膜基板检测条2的下表面与所述阵列基板检测条1的上端固定连接。所述彩膜基板检测条2与所述阵列基板检测条1的宽度可以相同例如均为b =
450-100毫米或不同。增加所述彩膜基板检测条2与所述阵列基板检测条1的宽度可以增加二者与液晶面板的接触面积，提高了检测的准确性。所述彩膜基板检测条2的厚度c与所述阵列基板检测条1的长度d均大于等于10毫米。通过上述的液晶面板检测单元可以同时检测阵列基板的废材残留和彩膜基板电极边的废材残留。进一步地，本实用新型所述的液晶面板检测单元还包括调节阀3 ；所述彩膜基板检测条2进一步包括沿其长度方向设置的矩形通孔，即调节槽4，所述调节阀3通过所述调节槽4与所述阵列基板检测条1固定连接，并可以在所述彩膜基板检测条2的长度a方向上移动。通过上述的调节阀3和调节槽4可以改变阵列基板检测条1和彩膜基板检测条2 之间的相对位置，能够实现测试不同类型的液晶面板。进一步地，所述彩膜基板检测条2还包括沿垂直于其长度方向设置的一条或多条刻度线5，用于标识不同产品对应的调节阀3所处的位置。参见图2和图3，所述液晶面板检测单元的工作原理包括通过调节阀3在调解槽4内调整位置，使阵列基板检测条1和彩膜基板检测条2 的间距e与待检测产品的电极边宽度相同。用刻度线5记录下该位置，标识为该产品类型， 方便调整位置确认。当切割后的液晶面板进入检测位置，将所述液晶面板检测单元向液晶面板靠近， 通过阵列基板检测条1检测切割后的阵列基板7的废材是否残留，通过彩膜基板检测条2 检测切割后的彩膜基板6的废材是否残留。当液晶面板没有废材残留，如图2所示，液晶面板可正常进入下游工序；当切割后的液晶面板有如图3所示的废材残留8，即彩膜基板检测条2会先接触到残留废材8，以至于阵列基板检测条1不能走行到指定位置，则该液晶面板不能进入下游工序。进一步地，本实用新型还提供了一种包括上述液晶面板检测单元的液晶面板检测装置，包括至少一根液晶面板检测条，所述至少一根液晶面板检测条包括同方向并排布置的至少两个，例如两个或三个上述的液晶面板检测单元，用于检测液晶面板的至少一个边。参见图4，所述至少一根液晶面板检测条进一步包括第一检测单元连接架9，位于所述至少两个液晶面板检测单元的彩膜基板检测条2的上方并分别与所述至少两个液晶面板检测单元的彩膜基板检测条2的上表面相连接，用于连接所述至少两个上述液晶面板检测单元。参见图5，所述至少一根液晶面板检测条进一步包括第二检测单元连接架10，位于所述至少两个液晶面板检测单元的阵列基板检测条1的下方并分别与所述至少两个液晶面板检测单元的阵列基板检测条1的下端相连接，用于连接所述至少两个上述液晶面板检测单元。进一步地，所述液晶面板检测条为两根，当所述两根液晶面板检测条相互平行时， 可以用于同时检测液晶面板相对的两条边；当所述两根液晶面板检测条相互垂直时，可以用于同时检测液晶面板相临的两条边。[0044]进一步地，所述液晶面板检测条为三根，其中两根所述液晶面板检测条相互平行， 并与第三根所述液晶面板检测条相垂直，可以用于同时检测液晶面板的三条边。进一步地，所述液晶面板检测条为四根，其中两根所述液晶面板检测条相互平行， 并与其余两根所述液晶面板检测条相垂直，可以用于同时检测液晶面板的四条边。参见图4，为了避免检测时，所述两根相互平行的液晶面板检测条之间的相互干涉，所述液晶面板检测单元的间距f大于所述彩膜基板检测条2与所述阵列基板检测条1 的宽度的最大值。参见图5，为了避免检测时，所述两根相互垂直的液晶面板检测条之间的相互干涉，所述液晶面板检测单元的间距g大于所述彩膜基板检测条2的长度a。进一步地，为了避免检测时所述至少一根，例如两根，液晶面板检测条之间的相互干涉，所述至少一根液晶面板检测条中液晶面板检测单元的间距大于所述彩膜基板检测条 2的宽度、所述阵列基板检测条1的宽度和所述彩膜基板检测条2的长度的最大值。综上所述，本实用新型公开了一种液晶面板检测单元和检测装置，通过阵列基板检测条1和彩膜基板检测条2分别检测电极边阵列基板和彩膜基板的废材残留；且可以通过调节阀3调整阵列基板检测条1的位置，并用刻度线5来表示位置，可对应电极边宽度不同的产品检测；通过增大阵列基板检测条1和彩膜基板检测条2的宽度，可增加检测面积。 解决了原有检测针只能检测阵列基板，不能检测彩膜基板废材残留的问题，并达到了增加检测面积的效果。以上实施方式仅用于说明本实用新型，而并非对本实用新型的限制，有关技术领域的普通技术人员，在不脱离本实用新型的精神和范围的情况下，还可以做出各种变化和变型，因此所有等同的技术方案也属于本实用新型的范畴，本实用新型的专利保护范围应由权利要求限定。
权利要求1.一种液晶面板检测单元，其特征在于，包括竖直放置的阵列基板检测条和水平放置的彩膜基板检测条；其中所述彩膜基板检测条的下表面与所述阵列基板检测条的上端固定连接。
2.根据权利要求1所述的液晶面板检测单元，其特征在于，还包括调节阀；所述彩膜基板检测条进一步包括沿其长度方向设置的调节槽，所述调节阀通过所述调节槽与所述阵列基板检测条的上端固定连接，并在所述彩膜基板检测条的长度方向上移动。
3.根据权利要求2所述的液晶面板检测单元，其特征在于，所述彩膜基板检测条还包括沿垂直于其长度方向设置的一条或多条刻度线。
4.根据权利要求1所述的液晶面板检测单元，其特征在于，所述彩膜基板检测条与所述阵列基板检测条的宽度相同且均为50-100毫米。
5.根据权利要求1所述的液晶面板检测单元，其特征在于，所述彩膜基板检测条的厚度与所述阵列基板检测条的长度均大于等于10毫米。
6.一种液晶面板检测装置，其特征在于，包括至少一根液晶面板检测条，所述至少一根液晶面板检测条包括同方向并排布置的至少两个如权利要求1-5中任一项所述的液晶面板检测单元。
7.根据权利要求6所述的液晶面板检测装置，其特征在于，所述至少一根液晶面板检测条进一步包括第一检测单元连接架，位于所述至少两个液晶面板检测单元的彩膜基板检测条的上方并分别与所述至少两个液晶面板检测单元的彩膜基板检测条的上表面相连接。
8.根据权利要求6所述的液晶面板检测装置，其特征在于，所述至少一根液晶面板检测条进一步包括第二检测单元连接架，位于所述至少两个液晶面板检测单元的阵列基板检测条的下方并分别与所述至少两个液晶面板检测单元的阵列基板检测条的下端相连接。
9.根据权利要求6所述的液晶面板检测装置，其特征在于，所述液晶面板检测条为四根，其中两根所述液晶面板检测条相互平行，并与其余两根所述液晶面板检测条相垂直。
10.根据权利要求6所述的液晶面板检测装置，其特征在于，所述至少一根液晶面板检测条中液晶面板检测单元的间距大于所述彩膜基板检测条的宽度、所述阵列基板检测条的宽度和所述彩膜基板检测条的长度的最大值。
专利摘要本实用新型提供了一种液晶面板检测单元和检测装置，涉及液晶面板技术领域，所述液晶面板检测单元包括竖直放置的阵列基板检测条和水平放置的彩膜基板检测条；其中所述彩膜基板检测条的下表面与所述阵列基板检测条的上端固定连接。根据本实用新型，既能检测阵列基板的废材残留又能检测彩膜基板电极边的废材残留且检测区域不受限制，解决了原有检测针只能检测阵列基板，不能检测彩膜基板废材残留的问题，并达到了增加检测面积的效果。
文档编号G02F1/13GK202210197SQ201120357450
公开日2012年5月2日 申请日期2011年9月22日 优先权日2011年9月22日
发明者马懿超 申请人:京东方科技集团股份有限公司, 合肥鑫晟光电科技有限公司