液晶显示面板及其检测方法
【专利摘要】一种液晶显示面板及其检测方法，液晶显示面板包含第一基板、第二基板及液晶层；其中第一基板具有电容量测点及导线。第二基板与第一基板相对设置，且两者间夹有液晶间隙。液晶层填充于液晶间隙以形成可视区，具可选择性全部覆盖电容量测点。导线的一端连接于电容量测点，仅部分被液晶层所覆盖。导线远离电容量测点且伸出液晶层外的一端用以量测第一基板及第二基板间的比较电容值。通过比较该比较电容值，即可监控各面板的液晶间隙高度是否一致。
【专利说明】
液晶显示面板及其检测方法
技术领域
[0001]本发明是关于一种液晶显示面板及其检测方法；具体而言，本发明是关于一种具有间隙量测机制的液晶显示面板及其检测方法。
【背景技术】
[0002]近年来，平面显示装置已被广泛使用于各种领域中，可单独作为显示器，亦可嵌入电子装置中作为资讯显示之用。平面显示装置种类繁多，例如有机发光二极管显示器、液晶显示器、电泳显示器等。以有液晶显示器而言，随着技术的进步以及消费者对于画质的要求增加，显示器的光学表现需要不断提升。光学表现通常包含多个层面，例如色彩饱和度、对比度、亮度等，均需满足使用者不断提高的使用标准。
[0003]传统的液晶显示器制造方法包含真空吸入式工艺及滴入式工艺(One DropFill, 0DF)。真空吸入式工艺先将基板组合后切开，再以吸入方式使液晶进入基板间的液晶间隙中。滴入式工艺则通常是在组合基板前先滴入液晶，再组合上下基板后切开成分别的面板。然不论使用哪一种工艺方式，在制造过程中均有可能造成上基板及下基板间的液晶间隙不均匀，或是每一显示面板的液晶间隙不相同。在液晶间隙不均匀的状况下，同一块显示面板的不同位置对于色彩表现可能会有不同，而造成色差。若每一显示面板的液晶间隙不同，则可能使每一块显示面板的光学表现不同，造成产品良率不佳。然而目前除了在工艺结束后检测各光学面板成品的光学表现外，并无其他适当的方式来预先知道液晶间隙不均匀或不同的问题。
【发明内容】
[0004]本发明的目的在于提供一种液晶显示面板，具有均匀的基板间间隙。
[0005]本发明的另一目的在于提供一种液晶显示面板，具有较稳定的光学表现。
[0006]本发明的另一目的在于提供一种液晶显示面板检测方法，可判断基板间间隙是否符合要求。
[0007]液晶显示面板包含第一基板、第二基板及液晶层；其中第一基板具有电容量测点及导线。第二基板与第一基板相对设置，且两者间夹有液晶间隙。液晶层填充于液晶间隙以形成可视区，具可选择性全部覆盖电容量测点，亦即电容量测点设置于可视区内。导线的一端连接于电容量测点，而另一端则延伸出可视区的范围，因此仅部分被液晶层所覆盖。导线远离电容量测点且伸出液晶层外的一端可被电连接，以量测第一基板及第二基板间的比较电容值。由于比较电容值与液晶间隙的高度有关，通过比较每一块面板的比较电容值，即可监控各面板的液晶间隙高度是否一致。此外，若在同一第一基板上设置多个电容量测点，则可通过比较不同位置的比较电容值来判断不同位置的液晶间隙是否均匀一致。
[0008]于一实施例中，该第一基板具有一量测垫连接于该导线远离该电容量测点的一端，该量测垫曝露于该液晶层外。
[0009]于一实施例中，该电容量测点设置于该第一基板朝向该液晶层的一面。
[0010]于一实施例中，该液晶显示面板包含:
[0011]一第一基板，具有一电容量测点与一导线连接该电容量测点；
[0012]—第二基板，对应于第一基板设置；以及
[0013]—液晶层，填充于第一基板与第二基板之间的一液晶间隙以形成多个可视区；
[0014]其中，导线与电容量测点设置于相邻可视区之间用于量测该第一基板及该第二基板间的一比较电容值。
[0015]于一实施例中，该液晶显示面板包含:
[0016]—第一基板，具有一电容量测点；
[0017]—第二基板，对应于第一基板设置；以及
[0018]—液晶层，填充于第一基板与第二基板之间的一液晶间隙，且其在该第一基板上的投影范围全部覆盖电容量测点；
[0019]其中，电容量测点位于该第一基板与该液晶层相背的一面以用于量测该第一基板及该第二基板间一比较电容值。
[0020]液晶显示面板的检测方法包含下列步骤:根据预设的标准液晶间隙设定标准电容值；提供液晶显示面板，包含第一基板、对应于第一基板设置的第二基板以及液晶层填充于第一基板与第二基板之间的液晶间隙；于第一基板上设置电容量测点；量测电容量测点的比较电容值；以及比较比较电容值及标准电容值，以判断液晶间隙是否符合标准液晶间隙。由于电容值与液晶间隙的高度有关，通过比较该比较电容值是否与标准电容值相同，即可监控各面板的液晶间隙高度是否符合标准液晶间隙。
[0021 ] 于一实施例中，该步骤(C)包含:
[0022](Cl)设置该电容量测点于该第一基板朝向该液晶层的一面；以及
[0023](C2)设置一导线连接该电容量测点且部分为该液晶层所覆盖；
[0024]该步骤⑶包含:
[0025](Dl)经由该导线量测该比较电容值。
[0026]于一实施例中，该步骤(C)包含:
[0027](C4)设置该电容量测点于该第一基板背向该液晶层的一面。
【附图说明】
[0028]图1为本发明液晶显示面板的实施例元件分解图；
[0029]图2为液晶显示面板的实施例剖视图；
[0030]图3为电容量测点设置于相邻可视区间的实施例示意图；
[0031]图4为包含量测垫的实施例示意图；
[0032]图5为电容量测点设置于第一基板外侧面的实施例示意图；
[0033]图6为液晶显示面板检测方法的实施例流程图。
[0034]主要组件符号说明
[0035]100液晶显示面板
[0036]210 第一基板
[0037]211可视区
[0038]212封胶框
[0039]215 裸面
[0040]220 第二基板
[0041]300液晶层
[0042]510电容量测点
[0043]530 导线
[0044]550量测垫
[0045]570保护层
【具体实施方式】
[0046]本发明提供一种液晶显示面板及其制造过程中的检测方法。特别适用于平面电场控制(In-Plane Switching, IPS)或边缘电场控制(Fringe-Field Switching, FFS)的液晶显不面板。
[0047]在图1及图2所示的实施例中，液晶显示面板100包含第一基板210、第二基板220及液晶层300。第一基板210具有电容量测点510及导线530设置于其内面，亦即面对第二基板220及液晶层300的一面。第一基板210较佳为设置有薄膜晶体管或其他驱动电路的基板；然而在不同实施例中，第一基板210亦可为设有彩色滤光层的显示面基板。电容量测点510及导线530较佳可与薄膜晶体管或其他电路层相同的方式及相同材料而设置于第一基板210上，例如沉积、蚀刻、蒸镀等工艺，唯其材料均需具有电导通性，以供量测电容，且其上较佳设有保护层570以为保护。然而在不同实施例中，电容量测点510及导线530亦可以单独的材料及工艺设置于第一基板210上。
[0048]在此实施例中，第一基板210较佳为裁切前的大板。具体而言，在完成组装后，第一基板210可被进一步裁切为数个显示装置。然而在不同实施例中，第一基板210亦可直接是最终成品显示装置的基板。如图1及图2所示，第二基板220与第一基板210相对设置，且两者间夹有液晶间隙250。液晶层300填充于液晶间隙250，以形成有多个可视区211对应于最终成品的多个显示装置，而可视区211的边缘较佳设有封胶框212。如图1及图2所示，液晶层300全部覆盖电容量测点510，亦即电容量测点510设置于可视区211内；导线530的一端连接于电容量测点510，而另一端则延伸出可视区211的范围，因此仅部分被液晶层300所覆盖。
[0049]在此实施例中，可与导线530远离电容量测点510且伸出液晶层300外的一端电连接，以量测第一基板210及第二基板220间的比较电容值。例如使用如可挠性电路板的外接线路，与导线530远离电容量测点510的一端连接。具体而言，可于第二基板220外侧设置一平板电极或使用第二基板220内原有的偏压电极层，以在电容量测点510及上述平板电极或偏压电极层间形成电容器。通过给予一个高低(High-Low)信号，即可对此电容器进行充放电，以在电容量测点510量测出上述电容器的电容值作为比较电容值。当显示面板为平面电场控制(In-Plane Switching, IPS)或边缘电场控制(Fringe-FieldSwitching, FFS)的面板时，亦可仅以单边的电容量测点510来量测比较电容值。由于比较电容值与液晶间隙的高度有关，通过比较每一块面板的比较电容值，即可监控各面板的液晶间隙高度是否一致。此外，若在同一第一基板210上设置多个电容量测点510，如图1所示，则可通过比较不同位置的比较电容值来判断不同位置的液晶间隙是否均匀一致。
[0050]在图3所示的实施例中，液晶显示面板的设置大致与前述实施例相似，唯电容量测点510及导线530设置于相邻的可视区211之间，因此电容量测点510及导线530均未为液晶层300所覆盖。由于电容量测点510及导线530均未设置于可视区211内，因此在设计时不需考虑避开可视区211内的电路走线，而有较宽松的空间供设置。然在量测得比较电容值而与其他比较电容值进行比较时，需考虑上述实施例电容器中夹有液晶层，而本实施例的电容器中则未夹有液晶层，因此在比较时需考虑电容器中介质的介电系数而加以换算，以得到正确的结果。
[0051]图4所示为本发明的另一实施例。在本实施例中，第一基板210较佳为裁切后的小板。具体而言，第一基板210为完成组装并裁切后的单一显示装置基板。第一基板210的一端突伸出第二基板220的边缘外，形成一裸面215。裸面215上设置有量测垫550连接于导线530远离电容量测点510的一端，因此量测垫550亦曝露于液晶层300外。通过在量测垫550上以顶针、探针等方式连接于仪器，配合前述对所形成的电容器进行充放电，即可量得电容量测点510位置上的比较电容值，以进行液晶间隙高度的判断。此外，在不同实施例中，亦可设置外接线路，如可挠性电路板，与导线530连接，以量测电容量测点510位置上的比较电容值。
[0052]在图5所示的实施例中，第一基板210并不限于裁切前的大板或为裁切后的小板。如图5所示，电容量测点510设置于第一基板210相背于液晶层300的一面，即所谓的外表面。相较于前述实施例，此一实施方式较不需改变原有的布线设计。电容量测点510并不一定需设置对应于可视区211的位置，或是对应于相邻可视区211间的通道位置。唯在量测得到比较电容值后，较佳需针对设置位置是否对应到液晶层300而将比较电容值进行介电系数的换算，以得到统一的比较标准。电容量测点510可以贴附或其他方式设置于第一基板210上，其形式可为铜箔、铜柱、导电薄膜等；唯当设置对应于可视区211时，较佳需考虑是否可于量测完毕后自第一基板210上撕除或移除。在本实施例中，可于第二基板220外侧设置一平板电极或使用第二基板220内原有的偏压电极层，以在电容量测点510及上述平板电极或偏压电极层间形成电容器。通过给予一个高低信号，即可对此电容器进行充放电，以在电容量测点510量测出上述电容器的电容值作为比较电容值。由于比较电容值与液晶间隙的高度有关，通过比较每一块面板的比较电容值，即可监控各面板的液晶间隙高度是否一致。此外，若在同一第一基板210上设置多个电容量测点510，则可通过比较不同位置的比较电容值来判断不同位置的液晶间隙是否均匀一致。
[0053]图6所示为液晶显示面板检测方法的实施例流程图，较佳可应用于前述液晶显示面板的制造过程中。在步骤810中，根据预设的标准液晶间隙设定标准电容值。预设的标准液晶间隙可以是指定的数值，亦可以实验的方式产生。例如可先试组几组具有不同液晶间隙高度的显示面板，再分别以标准C光源照射等方式检测其光学表现。当从中选出光学表现最佳的显示面板后，即以这组显示面板的液晶间隙高度作为标准液晶间隙。接着可配合前述的电容量测点及电容量测方法对此作为标准的显示面板进行电容量测，以量测出对应于此标准液晶间隙的标准电容值。
[0054]在步骤820中，即提供包含第一基板、第二基板及液晶层的液晶显示面板。液晶层较佳是以滴入式工艺(ODF)填充于第一基板及第二基板间的液晶间隙；然而针对某些特定的实施例，液晶层亦可以真空吸入式的工艺填充于液晶间隙中。
[0055]在步骤830中，是于第一基板上设置电容量测点。如前所述，电容量测点可设置于第一基板的预计朝向液晶层的内侧面或预计背向液晶层的外侧面，如图5所示，且可选择对应与液晶层所形成的可视区投影重叠或是不重叠。需特别注意的是，本步骤830与前述步骤820并无绝对的顺序关系。例如当电容量测点设置于第一基板的内侧面时，电容量测点的设置较佳是先于第一基板、第二基板及液晶层的组装；当电容量测点设置于第一基板的外侧面时，电容量测点的设置与第一基板、第二基板及液晶层的组装并无特定的顺序关系。此外，当电容量测点设置于第一基板的内侧面时，较佳同时导线连接于电容量测点；若电容量测点为液晶层所覆盖时，则导线仅有部分为液晶层所覆盖，而有部分导线会曝露在液晶层外。
[0056]在步骤840中，量测电容量测点的比较电容值。具体而言，可于第二基板外侧设置一平板电极或使用第二基板内原有的偏压电极层，以在电容量测点及上述平板电极或偏压电极层间形成电容器。通过给予一个High-Low信号，即可对此电容器进行充放电，以在电容量测点量测出上述电容器的电容值作为比较电容值。进行量测时，可以在导线末端或导线的量测垫上顶针、探针或外接电路等方式连接于仪器，配合前述对所形成的电容器进行充放电，即可量得电容量测点位置上的比较电容值。
[0057]在步骤850中，比较该比较电容值及标准电容值，以判断液晶间隙是否符合标准液晶间隙。由于电容值是与液晶间隙的高度有关，通过比较该比较电容值是否与标准电容值相同，即可监控各面板的液晶间隙高度是否符合标准液晶间隙。此外，若在同一第一基板上设置多个电容量测点，亦可通过比较不同位置的比较电容值来判断不同位置的液晶间隙是否均匀一致。
[0058]本发明已由上述相关实施例加以描述，然而上述实施例仅为实施本发明的范例。必需指出的是，已公开的实施例并未限制本发明的范围。相反地，包含于权利要求的精神及范围的修改及均等设置均包含于本发明的范围内。
【主权项】
1.一种液晶显示面板，其特征在于，包含: 一第一基板，具有一电容量测点与一导线连接该电容量测点； 一第二基板，对应于第一基板设置；以及 一液晶层，填充于第一基板与第二基板之间的一液晶间隙，且全部覆盖电容量测点，但部分覆盖导线； 其中，导线与电容量测点是用于量测该第一基板及该第二基板间一比较电容值。2.如权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于，该第一基板具有一量测垫连接于该导线远离该电容量测点的一端，该量测垫曝露于该液晶层外。3.如权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于，该电容量测点设置于该第一基板朝向该液晶层的一面。4.一种液晶显示面板，其特征在于，包含: 一第一基板，具有一电容量测点与一导线连接该电容量测点； 一第二基板，对应于第一基板设置；以及 一液晶层，填充于第一基板与第二基板之间的一液晶间隙以形成多个可视区； 其中，导线与电容量测点设置于相邻可视区之间用于量测该第一基板及该第二基板间的一比较电容值。5.一种液晶显示面板，其特征在于，包含: 一第一基板，具有一电容量测点； 一第二基板，对应于第一基板设置；以及 一液晶层，填充于第一基板与第二基板之间的一液晶间隙，且其在该第一基板上的投影范围全部覆盖电容量测点； 其中，电容量测点位于该第一基板与该液晶层相背的一面以用于量测该第一基板及该第二基板间一比较电容值。6.一种液晶显示面板检测方法，其特征在于，包含下列步骤: (A)根据预设的一标准液晶间隙设定一标准电容值； (B)提供一液晶显示面板，包含一第一基板、对应于第一基板设置的一第二基板以及一液晶层填充于第一基板与第二基板之间的一液晶间隙； (C)于该第一基板上设置一电容量测点； (D)量测该电容量测点的一比较电容值；以及 (E)比较该比较电容值及该标准电容值，以判断液晶间隙是否符合标准液晶间隙。7.如权利要求6所述的液晶显示面板检测方法，其特征在于，该步骤(C)包含: (Cl)设置该电容量测点于该第一基板朝向该液晶层的一面；以及 (C2)设置一导线连接该电容量测点且部分为该液晶层所覆盖； 该步骤⑶包含: (Dl)经由该导线量测该比较电容值。8.如权利要求6所述的液晶显示面板检测方法，其特征在于，该步骤(C)包含: (C4)设置该电容量测点于该第一基板背向该液晶层的一面。
【文档编号】G02F1/13GK105988234SQ201510083932
【公开日】2016年10月5日
【申请日】2015年2月16日
【发明人】王育隆, 钟润世
【申请人】南京瀚宇彩欣科技有限责任公司, 瀚宇彩晶股份有限公司