液晶显示面板及液晶显示面板线路监测方法
【专利摘要】本发明提供的液晶显示面板及液晶显示面板线路监测方法，通过在TFT阵列基板上增设CF公共电极测试垫与监测测试垫，根据监测到的CF公共电极测试垫与监测测试垫间电阻、电流差异，可以判定非COM信号WOA区走线与上板CF_COM间是否短路。一旦发现由于PV破损而引起的非COM信号WOA区走线与上板CF_COM间短路，即可将问题片拦截，以防止流入下一工序，引起材料以及产能浪费，从而提高生产效率、降低生产成本，同时提升液晶显示面板品质。且液晶显示面板测试完毕后，利用激光将短路杆区域所设置的线路与CF公共电极引线和阵列外布线区引线等线路的接连处切断，液晶显示面板后续仍可正常显示。
【专利说明】
液晶显示面板及液晶显示面板线路监测方法
技术领域
[0001]本发明涉及液晶显示领域，尤其是涉及一种可以监测非公共电极WOA走线与CF_COM间是否短路的液晶显示面板及液晶显示面板线路监测方法。
【背景技术】
[0002]液晶显示面板是液晶显示器最主要的组成元件，常见的液晶显示面板的结构是由一彩色滤光片(Color Filter，CF)基板、一薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)阵列基板、以及一配置于两基板间的液晶层(Liquid Crystal Layer)所构成，其工作原理是通过在两片玻璃基板上施加驱动电压来控制液晶层的液晶分子的旋转，将背光模块提供的光线折射出来产生图像。液晶显示面板的制造包含阵列(array)制程、面板(panel)制程及模块(module)制程，每一制程结束后会进行测试以排除不良品。对面板内部线路进行检测，及时发现问题并进行修复，该过程称为面板测试(Cell Test)。为了减少面板段液晶显示面板画面检测的难度和减少设备费用，目前业界公知的方法之一是采用shorting bar(短路杆)的方式。液晶显示面板的TFT阵列基板上设置有与显示区和CF基板上待测试线路连接的外围测试线路。在进行面板测试时，通常会在TFT阵列基板上设置短路杆将待测试的线路分别短接，然后通过相应的测试垫电连接，完成测试任务。
[0003]—般而言，为了使上下基板公共电极(COM)电位一致，一般会在TFT阵列基板的CF公共电极(CF_C0M)引线上打多个金胶点，并在打点处涂覆金胶用于上下基板电位导通。此金胶涂覆需与封框胶(Seal)涂覆分开进行，作业时间较长，产能损耗(loss)较大。目前，Au-1n-Seal(将金胶与封框胶混合涂覆)技术因其能大幅减少作业时间，减少因Au点胶引起的甩胶短路(short)问题而越来越受到业界青睐。但此技术同时也带来了一些隐患与风险，例如TFT阵列基板上的非COM信号阵列外布线(Wire on array，W0A)区走线与上板CF_C0M之间短路问题。WOA区走线多，分布密集，为了有效降低走线阻抗，减轻RC delay和充电不足等弊端，此区域走线一般设计为双层金属结构。现有的阵列外布线区膜层结构如图1所示，上下基板M1、M2之间为SiNx保护层13，最上端为PV保护层14。在Au-1n-Seal技术应用过程中，如果封框胶经过的WOA区上的PV层一旦损伤，极易引起WOA区走线与上板CF_C0M之间的短路问题，从而造成极其严重显示异常问题(例如恒压高电平VGH与CF_C0M间短路会引起大电流烧屏)。
[0004]为了防止不良品流入客户端，减少厂内资源浪费，对于Au-1n-Seal过程中非COM信号WOA区走线与上板CF_C0M间短路问题的防止与监测变得尤为重要。
【发明内容】
[0005]本发明的目的在于，提供一种液晶显示面板及液晶显示面板线路监测方法，监测在Au-1n-Seal过程中，因非COM信号WOA区PV破损而引起的非COM信号WOA区走线与上板CF_COM间短路，提升液晶显示面板品质的同时，提高生产效率，降低生产成本。
[0006]为实现上述目的，本发明提供了一种液晶显示面板，包括TFT阵列基板和CF基板，所述TFT阵列基板上设有:多条CF公共电极引线和多条阵列外布线区引线，所述多条CF公共电极引线与所述CF基板上的CF公共电极对应，所述多条阵列外布线区引线与所述TFT阵列基板上的非公共电极信号阵列外布线区走线对应;一 CF公共电极短路杆和一阵列外布线短路杆，所述多条CF公共电极引线电性连接于所述CF公共电极短路杆，所述多条阵列外布线区引线电性连接于所述阵列外布线短路杆;一CF公共电极测试垫和一监测测试垫，所述CF公共电极测试垫电性连接于所述CF公共电极短路杆，所述监测测试垫电性连接于所述阵列外布线短路杆;通过监测所述CF公共电极测试垫与所述监测测试垫间电流、电阻的差异，判断所述非公共电极信号阵列外布线区的走线与所述CF公共电极间是否短路。
[0007]为实现上述目的，本发明还提供了一种液晶显示面板线路监测方法，所述液晶显示面板包括TFT阵列基板和CF基板;包括如下步骤:(I)在所述TFT阵列基板上设置一 CF公共电极短路杆和一阵列外布线短路杆，将与所述CF基板上的CF公共电极对应的多条CF公共电极引线电性连接于所述CF公共电极短路杆，将与所述TFT阵列基板上的非公共电极信号阵列外布线区走线对应的多条阵列外布线区引线电性连接于所述阵列外布线短路杆；(2)在所述TFT阵列基板上设置一 CF公共电极测试垫和一监测测试垫，所述CF公共电极测试垫电性连接于所述CF公共电极短路杆，所述监测测试垫电性连接于所述阵列外布线短路杆；(3)监测所述CF公共电极测试垫与所述监测测试垫间电流、电阻的差异，判断所述非公共电极信号阵列外布线区走线与CF公共电极间是否短路。
[0008]本发明的优点在于，本发明提供的液晶显示面板及液晶显示面板线路监测方法，通过增设CF公共电极测试垫与监测测试垫，根据监测到的CF公共电极测试垫与监测测试垫间电阻、电流差异，可以判定非COM信号WOA区走线与上板CF_C0M间是否短路。一旦发现因非COM信号WOA区PV破损而引起的非COM信号WOA区走线与上板CF_C0M间短路，即可将问题片拦截，以防止流入下一工序，引起材料以及产能浪费，从而提高生产效率、降低生产成本，同时提升液晶显示面板品质。且液晶显示面板测试完毕后，利用激光将CF公共电极引线和阵列外布线区引线等线路与相应的短接杆的接连处切断，液晶显示面板后续仍可正常显示。
【附图说明】
[0009]图1，现有的阵列外布线区膜层结构示意图；
[00? O ]图2，本发明所述的液晶显示面板一实施例的结构示意图。
【具体实施方式】
[0011]下面结合附图对本发明提供的液晶显示面板及液晶显示面板线路监测方法做详细说明。
[0012]参考图2，本发明所述的液晶显示面板一实施例的结构示意图。所述的液晶显示面板包括TFT阵列基板201和CF基板202，所述TFT阵列基板201上设有:多条CF公共电极引线(CF_C0M Lead)221和多条阵列外布线区引线(非COM信号WOA Lead)222，一CF公共电极短路杆(CF_C0M shorting bar)241 和一阵列外布线短路杆(WOA shorting bar)242，以及，一CF公共电极测试垫(CF_C0M Pad)261和一监测测试垫(Detect Pad)262。
[0013]其中，TFT阵列基板201上设置有与液晶面板显示区(未图示)和CF基板202上待测试线路连接的外围测试线路区。外围测试线路区包括模块覆晶薄膜(COF)压接区域22、多条短路杆及面板测试垫区26。多条CF公共电极引线221和多条阵列外布线区引线222设于模块覆晶薄膜压接区域22;CF公共电极测试垫261和监测测试垫262设于面板测试垫区26;CF公共电极短路杆241和阵列外布线短路杆242设于模块覆晶薄膜压接区域22和面板测试垫区26外围。
[0014]多条CF公共电极引线221与CF基板201上的CF公共电极对应，多条阵列外布线区引线222与TFT阵列基板202上的非公共电极信号阵列外布线区走线对应。多条CF公共电极引线221均电性连接于CF公共电极短路杆241，多条阵列外布线区引线222均电性连接于阵列外布线短路杆242 XF公共电极测试垫261电性连接于CF公共电极短路杆241，监测测试垫262电性连接于阵列外布线短路杆242。通过监测CF公共电极测试垫261与监测测试垫262间电流、电阻的差异，判断非公共电极信号阵列外布线区的走线与CF公共电极间是否短路。具体为:将CF_C0M通过多条CF公共电极引线221采用CF公共电极短路杆241短接在一起，并连接至CF公共电极测试垫261;将非COM信号WOA区走线通过多条阵列外布线区引线222采用阵列外布线短路杆242短接在一起，并连接至监测测试垫262;若监测到CF公共电极测试垫261与监测测试垫262间电阻很小(小于预设阈值)或者电流很大(大于预设阈值)，则可以判定非COM信号WOA区走线中有至少一条走线与上板CF_C0M短路。一旦发现短路，即可将问题片拦截，以防止流入下一工序，引起材料以及产能浪费。
[0015]液晶显示面板测试完毕后，CF公共电极短路杆241和一阵列外布线短路杆242在TFT阵列基板201和CF基板202之间的激光切断(Laser cut)区域27被激光切断(S卩，利用激光将所有短路杆与CF公共电极引线和阵列外布线区引线等线路的接连处切断)，液晶显示面板后续仍可正常显示。
[0016]在本实施例中，图示“A/B/C”等Pad为面板测试段shorting bar测试时的通用Pad，在数据线(Source)侧为红线测试垫(Red Pad)、绿线测试垫(Green Pad)、蓝线测试垫(BluePad);在扫描线(Gate)侧为奇数测试垫(Odd Pad)、偶数测试垫(Even Pad)、模拟公共端测试塾(Acom Pad) ;CF_com为自COF上CF_com Lead上引出的测试Pad;Detect为自COF上非COM信号WOA Lead上引出的测试Pad。
[0017]具体为:所述的液晶显示面板的TFT阵列基板201上还设有:多条焊接引线(设于模块覆晶薄膜压接区域22)，多条短路杆，多个面板测试垫(如图示设于面板测试垫区26的A、B、C三个测试垫)。
[0018]当多条焊接引线与液晶面板显示区内所有数据线对应时，多条短路杆为多条数据线短路杆;与所有数据线对应的多条焊接引线分别对应电性连接于多条数据线短路杆，多个面板测试垫分别对应电性连接于多条数据线短路杆。
[0019]具体为:所有数据线分为红色数据线、绿色数据线以及蓝色数据线;所有红色数据线引出相应的多条第一焊接引线223，所有绿色数据线引出相应的多条第二焊接引线224，所有蓝色数据线引出相应的多条第三焊接引线225。相应的，多条数据线短路杆包括:一第一数据线短路杆243，电性连接于与所有数据线中所有红色数据线对应的所有第一焊接引线223;—第二数据线短路杆244，电性连接于与所有数据线中所有绿色数据线对应的所有第二焊接引线224;—第三数据线短路杆245，电性连接于与所有数据线中所有蓝色数据线对应的所有第三焊接引线225。相应的，多个面板测试垫包括:一红线测试垫263，电性连接于第一数据线短路杆243; —绿线测试垫264，电性连接于第二数据线短路杆244; —蓝线测试垫265，电性连接于第三数据线短路杆245。
[0020]当多条焊接引线与液晶面板显示区内所有扫描线对应时，多条短路杆为多条扫描线短路杆;与所有扫描线对应的多条焊接引线分别对应电性连接于多条扫描线短路杆，多个面板测试垫分别对应电性连接于多条扫描线短路杆。
[0021]具体为:所有扫描线分为奇数扫描线、偶数扫描线以及模拟公共端;所有奇数扫描线引出相应的多条第一焊接引线223，所有偶数扫描线引出相应的多条第二焊接引线224，所有模拟公共端引出相应的多条第三焊接引线225。相应的，多条扫描线短路杆包括:一第一扫描线短路杆243，电性连接于与所有扫描线中所有奇数扫描线对应的所有第一焊接引线223;—第二扫描线短路杆244，电性连接于与所有扫描线中所有偶数扫描线对应的所有第二焊接引线224;—第三扫描线短路杆245，电性连接于与所有扫描线中模拟公共端对应的所有第三焊接引线225 ο相应的，多个面板测试垫包括:一奇数测试垫263，电性连接于第一扫描线短路杆243;—偶数测试垫264，电性连接于第二扫描线短路杆244;—模拟公共端测试垫265，电性连接于第三扫描线短路杆245。
[0022]液晶显示面板测试完毕后，第一数据线短路杆、第二数据线短路杆及第三数据线短路杆，或，第一扫描线短路杆、第二扫描线短路杆及第三扫描线短路杆也均在激光切断区域27被激光切断(S卩，利用激光将扫描线或数据线等线路与相应短路杆的接连处切断)，液晶显示面板后续仍可正常显示。
[0023]所述的液晶显示面板包括TFT阵列基板和CF基板之间。所述的液晶显示面板线路监测方法包括如下步骤:S31:在所述TFT阵列基板上设置一 CF公共电极短路杆和一阵列外布线短路杆，将与所述CF基板上的CF公共电极对应的多条CF公共电极引线电性连接于所述CF公共电极短路杆，将与所述TFT阵列基板上的非公共电极信号阵列外布线区走线对应的多条阵列外布线区引线电性连接于所述阵列外布线短路杆;S32:在TFT阵列基板上设置一CF公共电极测试垫和一监测测试垫，CF公共电极测试垫电性连接于CF公共电极短路杆，监测测试垫电性连接于阵列外布线短路杆；S33:监测CF公共电极测试垫与监测测试垫间电流、电阻的差异，判断非公共电极信号阵列外布线区走线与CF公共电极间是否短路。其中，步骤S31与步骤S32的执行无先后顺序。
[0024]具体为:将CF_C0M通过多条CF公共电极引线采用CF公共电极短路杆短接在一起，并连接至CF公共电极测试垫;将非COM信号WOA区走线通过多条阵列外布线区引线采用阵列外布线短路杆短接在一起，并连接至监测测试垫;若监测到CF公共电极测试垫与监测测试垫间电阻很小(小于预设阈值)或者电流很大(大于预设阈值)，则可以判定非COM信号WOA区走线中有至少一条走线与上板CF_C0M短路。一旦发现短路，即可将问题片拦截，以防止流入下一工序，引起材料以及产能浪费。
[0025]液晶显示面板测试完毕后，利用激光将CF公共电极引线和阵列外布线区引线等线路与相应短接杆的接连处切断，液晶显示面板后续仍可正常显示。也即，本发明所述的液晶显示面板线路监测方法在步骤S33之后进一步包括，S34:在液晶显示面板测试结束后，利用激光将所有短路杆与相应引线的接连处切断。
[0026]以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。
【主权项】
1.一种液晶显示面板，包括TFT阵列基板和CF基板，其特征在于，所述TFT阵列基板上设有: 多条CF公共电极引线和多条阵列外布线区引线，所述多条CF公共电极引线与所述CF基板上的CF公共电极对应，所述多条阵列外布线区引线与所述TFT阵列基板上的非公共电极信号阵列外布线区走线对应； 一 CF公共电极短路杆和一阵列外布线短路杆，所述多条CF公共电极引线电性连接于所述CF公共电极短路杆，所述多条阵列外布线区引线电性连接于所述阵列外布线短路杆； 一 CF公共电极测试垫和一监测测试垫，所述CF公共电极测试垫电性连接于所述CF公共电极短路杆，所述监测测试垫电性连接于所述阵列外布线短路杆； 通过监测所述CF公共电极测试垫与所述监测测试垫间电流、电阻的差异，判断所述非公共电极信号阵列外布线区的走线与所述CF公共电极间是否短路。2.如权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于，若监测到所述CF公共电极测试垫与所述监测测试垫间电阻小于预设阈值或者电流大于预设阈值，则判定所述非公共电极信号阵列外布线区走线中有至少一条走线与所述CF公共电极短路。3.如权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于，所述TFT阵列基板上还设有: 多条焊接引线，所述多条焊接引线与液晶面板显示区内所有数据线对应； 多条数据线短路杆，所述多条焊接引线分别对应电性连接于所述多条数据线短路杆； 多个面板测试垫，所述多个面板测试垫分别对应电性连接于所述多条数据线短路杆。4.如权利要求3所述的液晶显示面板，其特征在于， 所述多条数据线短路杆包括:一第一数据线短路杆电性连接于与所有数据线中所有红色数据线对应的所有第一焊接引线，一第二数据线短路杆电性连接于与所有数据线中所有绿色数据线对应的所有第二焊接引线，一第三数据线短路杆电性连接于与所有数据线中所有蓝色数据线对应的所有第三焊接引线； 所述多个面板测试垫包括:一红线测试垫电性连接于所述第一数据线短路杆，一绿线测试垫电性连接于所述第二数据线短路杆，一蓝线测试垫电性连接于所述第三数据线短路杆。5.如权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于，所述TFT阵列基板和所述CF基板之间还包括: 多条焊接引线，所述多条焊接引线与液晶面板显示区内所有扫描线对应； 多条扫描线短路杆，所述多条焊接引线分别对应电性连接于所述多条扫描线短路杆； 多个面板测试垫，所述多个面板测试垫分别对应电性连接于所述多条扫描线短路杆。6.如权利要求5所述的液晶显示面板，其特征在于， 所述多条扫描线短路杆包括:一第一扫描线短路杆电性连接于与所有扫描线中所有奇数扫描线对应的所有第一焊接引线，一第二扫描线短路杆电性连接于与所有扫描线中所有偶数扫描线对应的所有第二焊接引线，一第三扫描线短路杆电性连接于与所有扫描线中模拟公共端对应的所有第三焊接引线； 所述多个面板测试垫包括:一奇数测试垫电性连接于所述第一扫描线短路杆;一偶数测试垫电性连接于所述第二扫描线短路杆;一模拟公共端测试垫电性连接于所述第三扫描线短路杆。7.如权利要求1，3或5任意一项所述的液晶显示面板，其特征在于，所有短路杆与相应引线的接连处在液晶显示面板测试结束后被激光切断。8.一种液晶显示面板线路监测方法，所述液晶显示面板包括TFT阵列基板和CF基板;其特征在于，包括如下步骤: (1)在所述TFT阵列基板上设置一CF公共电极短路杆和一阵列外布线短路杆，将与所述CF基板上的CF公共电极对应的多条CF公共电极引线电性连接于所述CF公共电极短路杆，将与所述TFT阵列基板上的非公共电极信号阵列外布线区走线对应的多条阵列外布线区引线电性连接于所述阵列外布线短路杆； (2)在所述TFT阵列基板上设置一CF公共电极测试垫和一监测测试垫，所述CF公共电极测试垫电性连接于所述CF公共电极短路杆，所述监测测试垫电性连接于所述阵列外布线短路杆； (3)监测所述CF公共电极测试垫与所述监测测试垫间电流、电阻的差异，判断所述非公共电极信号阵列外布线区走线与CF公共电极间是否短路。9.如权利要求8所述的液晶显示面板线路监测方法，其特征在于，步骤(3)进一步包括:若监测到所述CF公共电极测试垫与所述监测测试垫间电阻小于预设阈值或者电流大于预设阈值，则判定所述非公共电极信号阵列外布线区走线中有至少一条走线与所述CF公共电极短路。10.如权利要求8所述的液晶显示面板线路监测方法，其特征在于，步骤(3)之后进一步包括:在液晶显示面板测试结束后，利用激光将所有短路杆与相应引线的接连处切断。
【文档编号】G09G3/00GK106054474SQ201610368448
【公开日】2016年10月26日
【申请日】2016年5月27日
【发明人】李倩倩, 姚晓慧
【申请人】深圳市华星光电技术有限公司