专利名称：激光扫描光学装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及具备扫描透镜的激光扫描光学装置，其中扫描透镜具有光学各向异 性。
背景技术：
在全色的复印机、打印机等图像形成装置中，与Y (黄)、M (品红)、C (蓝绿)、K (黑) 各色相对应地并排设置有四个感光鼓，并将在各感光鼓上形成的各色图像转印于中间转印 带来进行合成的串联方式成为主流。另外，在串联方式的图像形成装置中搭载有激光扫描 光学装置，该激光扫描光学装置使用偏转单元(多角棱镜)使四束光束同时在各感光鼓上进 行扫描来描绘图像。
激光扫描光学装置中有时具备扫描透镜，该扫描透镜具有光学各向异性(双折 射)。以往，为了降低折射率分布或双折射分布的影响，在专利文献I中，作为扫描透镜的塑 料透镜具有向副扫描方向偏心的光轴，并配置为沿着副扫描方向的外形尺寸的中心线与入 射光束的中心一致。另外，将该塑料透镜的外形宽度选定为该透镜的芯厚的两倍以上。另 外，在专利文件2中记载的激光扫描光学装置中，将扫描透镜的副扫描方向的高度设为小 于光轴方向的厚度。而且，在专利文献3中记载的激光扫描光学装置中，对具有不均匀的折 射率分布的透镜，利用规定的条件式来规定折射率分布、副扫描方向的有效范围。
专利文献1:日本特开2002-023090号公报
专利文献2 日本特开平10-206728号公报
专利文献3 日本特开2003-262807号公报
然而，当光束在扫描透镜内通过时，则由于双折射的作用而在光的行进速度较快 的方位(进相轴方位)与光的行进速度较慢的方位(滞相轴方位)之间产生相位差。当光束 的宽度内的相位差变化增大，则光束在感光鼓上的成像性能恶化。在将光弹性系数较小的 材料(例如脂环式烯烃聚合物)用于扫描透镜的情况下，能够将双折射的发生本身抑制到较 小，因此光束宽度内的相位差变化也会变小。但是，由于光弹性系数小的材料单价较高，所 以成为激光扫描光学装置的制造成本高的主要原因。另一方面，从成本的观点出发，在使 用了材料单价较低的材料(例如聚碳酸酯)的情况下，通常光弹性系数会增大。在使用了这 样的光弹性系数较大的材料的情况下，会产生较大的双折射，因此光束宽度内的相位差变 化也会增大，从而产生使图像质量降低的光束粗大。另外，在各专利文献记载的发明中，虽 然记载了减小双折射分布的绝对值的方法，但是关于光束宽度内的相位差变化量并没有言 及。发明内容
鉴于上述课题，本发明的目的在于提供一种即使在将产生较大的双折射的材料用 于扫描透镜时，也能够抑制光束粗大的激光扫描光学装置。
为了实现上述目的，本发明的一个方式的激光扫描光学装置，在每个颜色的感光鼓的被扫描面上扫描光束，其中，该激光扫描光学装置具备射出光束的多个光源；偏转单 元，该偏转单元将从各上述光源射出的光束偏转；以及扫描透镜组，该扫描透镜组包括多个 扫描透镜，其中多个扫描透镜由具有光学各向异性的材料构成，使从上述偏转单元射入的 光束在上述被扫描面上成像。其中，将通过上述扫描透镜组中在光束的光路上最下游的扫 描透镜的光束的相位差设为进相轴方位与滞相轴方位的相位差，并且将通过该扫描透镜的 光束中在主光线的通过位置的相位差设为R主，将在上侧光线的通过位置的相位差设为R 上，将在下侧光线的通过位置的相位差设为R下时，I R主一(R上+R下)/2 I <50nm，并 且 R 主> 500nm。
根据本发明的一个方式，能够提供即使在将产生较大的双折射的材料用于扫描透 镜的情况下也能够抑制光束粗大的激光扫描光学装置。
图1是本发明的一个实施方式所涉及的激光扫描光学装置的立体图。
图2是独立扫描透镜的立体图。
图3是独立扫描透镜的沿ZX平面的剖视图。
图4是表示独立扫描透镜的支架的示意图。
图5是表示通过独立扫描透镜的光束的示意图。
图6是表示独立扫描透镜的剖面的应力分布的示意图。
图7是表示本实施方式所涉及的独立扫描透镜相对于副扫描方向位置的相位差 的图表。
图8是表示现有例所涉及的独立扫描透镜在副扫描方向位置的相位差的图表。
图9是表示各种独立扫描透镜的透过光束的相位差变化及光束剖面的图表。
图10是表示在独立扫描透镜的各入射面上的光束在副扫描方向上的宽度变化的 示意图。
图11是独立扫描透镜的变形例的沿ZX平面的剖视图。
图12是表示激光扫描光学装置的变形例的立体图。
附图符号说明10...激光扫描光学装置；11...光源；17...偏转器；20...扫描 透镜组；21、22...通用扫描透镜；23...独立扫描透镜；24、25、26、反射镜；40...感光鼓； B...光束。
具体实施方式
(实施方式)
以下，参照附图对本发明的实施方式所涉及的激光扫描光学装置进行说明。
(激光扫描光学装置的整体结构)
首先，对图1所示的X轴、Y轴、Z轴进行说明。Y轴表示光束B在各感光鼓40的 被扫描面上扫描的主扫描方向Y。Z轴是表不与主扫描方向Y正交的、光束B的副扫描方向 Z。X轴是表示与Y轴及Z轴正交的方向。
激光扫描光学装置10大致使光束B对按照Y、M、C、K每个颜色设置的感光鼓40 (40y、40m、40c、40k)进行扫描。此处，参考标记的右侧添加的字母y、m、c、k表示黄色、品红色、蓝绿色、黑色。例如，感光鼓40y表示黄色的感光鼓40。
激光扫描光学装置10具备光源11 (I ly、11m、I lc、I lk)、准直透镜12 (12y、12m、 12c、12k)、光圈 13 (13y、13m、13c、13k)、合成反射镜 14 (14y、14m、14c、14k)、反射镜 15、圆 柱透镜 16、偏转器 17、扫描透镜组 20、反射镜 24 (24y、24m、24c、24k)、25 (25y、25m、25c)、 26 (26m、26c)以及防尘用窗 27 (27y、27m、27c、27k)。
光源lly、llm、llc、llk以从上到下按照该顺序排列的方式配置，并射出光束By、 Bm> Be、Bk。
准直透镜12y、12m、12c、12k设置于光源lly、llm、llc、llk的下游侧，并将光束By、 Bm、Be、Bk转换为平行光。光圈13y、13m、13c、13k将平行的光束By、Bm、Be、Bk分别整形为在副扫描方向Z上具有规定宽度。
合成反射镜14y、14m、14c分别作为合成单元发挥作用，这些合成单元对光束By、 Bm、Be进行反射,从而将光束By、Bm、Be的行进方向统一为由合成反射镜14k反射的光束 Bk的行进方向。反射镜15对通过合成反射镜14统一了行进方向的光束By、Bm、Be、Bk进 行反射。
圆柱透镜16将光束By、Bm、Be、Bk聚光于副扫描方向Z，以使光束By、Bm、Be、Bk 在偏转器17的多角棱镜的反射面附近成像为线状。
偏转器17由多角棱镜以及未图不的马达构成,用于使光束By、Bm、Be、Bk向主扫 描方向Y偏转。
扫描透镜组20使被偏转器17偏转后的光束By、Bm、Bc、Bk在感光鼓40y、40m、40c、 40k的被扫描面上成像。更具体而言，扫描透镜组20具有如下光学特性，即使光束By、Bm、 Be,Bk在感光鼓40y、40m、40c、40k上的扫描速度恒定并且使光束By、Bm、Bc、Bk的光束直径 均匀。而且，扫描透镜组20包括各色通用的通用扫描透镜21、22和按每个颜色设置的独立 扫描透镜23 (23y、23m、23c、23k)。扫描透镜21、22、23按照该顺序从光束B的行进方向的 上游(光源11侧)朝向下游(感光鼓40)设置。
反射镜24 (24y、24m、24c、24k)、25 (25y、25m、25c)、26 (26m、26c)对通过通用扫 描透镜22后的光束By、Bm、Be、Bk进行反射，从而将它们引导至感光鼓40y、40m、40c、40k。
更详细而言，光束By由反射镜24y反射，并通过独立扫描透镜23y，进而由反射镜 25y反射，通过防尘用窗27y而在感光鼓40y上成像。光束Bm由反射镜24m、25m反射，并通 过独立扫描透镜23m，进而由反射镜26m反射，通过防尘用窗27m并在感光鼓40m上成像。 光束Be由反射镜24c反射，并通过独立扫描透镜23c，进而由反射镜25c、26c反射，通过防 尘用窗27c并在感光鼓40c上成像。光束Bk通过独立扫描透镜23k，并由反射镜24k反射， 通过防尘用窗27k并在感光鼓40k上成像。
(关于独立扫描透镜的详情)
以下，参照5对扫描透镜组20所包括的各独立扫描透镜23进行详述。各 独立扫描透镜23例如是通过将聚碳酸酯之类的树脂注塑成形而制成。各独立扫描透镜23 具有光学各向异性(双折射)，其光弹性系数为70X KT12Pa4以上。各独立扫描透镜23是通 过双折射而使光束B的沿着副扫描方向Z的宽度内的相位差发生较大变化的透镜的典型 例。其中，相位差是指光的行进速度较快的方位(进相轴方位)与光的行进速度较慢的方位 (滞相轴方位)之间的相位差。另外，根据上述可知，各独立扫描透镜23是配置在光束B的光路上最下游侧的透镜，并且是入射光束B沿副扫描方向Z的宽度最大的透镜。
另外，如图4所示，各独立扫描透镜23以透镜23的副扫描方向Z的座面侧定位于支架50，并且从座面的对置面侧用多个弹簧51固定。在该状态下，通过使配置于座面侧的中央部分的螺钉52旋转，从而改变独立扫描透镜23的弯曲量。由此，能够使光束B在被扫描面上不在主扫描方向Y上弯曲。
独立扫描透镜23y、23k彼此是同一种类，独立扫描透镜23m、23c彼此是同一种类。 另外，独立扫描透镜23y、23m的光学面形状彼此不同，但是入射光束宽度W0、透镜外形宽度 Hl、透镜形状区域(镜面域)的宽度H2以及芯厚t都相等，其中W、Hl、H2都是沿着副扫描方向Z的尺寸。另外，W0、H1、H2在副扫描方向Z上的中心一致。
此处，参照图5对入射光束宽度WO进行详述。向独立扫描透镜23入射的入射光束B包括主光线B0、上侧光线Bu以及下侧光线BI。上侧光线Bu及下侧光线BI是入射光束B中在副扫描方向Z上最上侧及最下侧的光线。光束宽度WO是偏转器17侧的光束B的入射面Fa及上侧光线Bu的交点与入射面Fa及下侧光线BI的交点之间的距离。换而言之，入射光束宽度WO是在朝向被扫描面上的有效区域的中心像高的光束B在入射面Fa上的沿副扫描方向Z的宽度。此处，若将在主光线BO的通过位置的相位差设为R主，则R主 > 500nm。独立扫描透镜23由因如此大的双折射而产生相位差的材料构成。
此处，再次参照图3。H1、H2不受主扫描方向Y的位置的影响是恒定的。在透镜形状区域宽度H2的外侧，存在不作为透镜发挥作用的无效区域，该透镜形状区域的光轴方向 (X轴方向)的厚度与无效区域的光轴方向的厚度不同。
在本实施方式中，W1、H1、H2、t的关系被确定为下式(1)、(2)。
H1/W0 > tX2... (I)
5 < H2/W0 < 9··· (I)
以下示出满足算式(1)、(2)的W0、H1、H2及t的具体值的一个例子。
W1 2.1mm
Hl 18. 6mm
H2 12. 6mm
t 4. 0mm
Hl/W0 8. 9
H2/W0 6. 0
此处，研究式(I)。将算式(I)变形，即得到算式(1’)
Hl/t > W0X2— (1，)
在将独立扫描透镜23树脂成形时，图6中用虚线表示的透镜的剖面的外周是与金属模具接触的部分，树脂从该外周向中心部分固化。因此，越是透镜剖面的外周部分越在压力较高的状态下固化，中心部分在压力较低的状态下固化。因此，在独立扫描透镜23产生图6中用实线表示的应力分布。若算式(1’)的左边减小、即t增大或者Hl减小，则树脂固化时来自副扫描方向Z的影响(用箭头A表示)相对于芯厚方向X的影响(用箭头B表示) 为无法忽视的程度，有可能会产生副扫描方向Z的相位差分布。另外，如果W0增大，则在入射光束宽度内容易产生相位差分布。因此，如算式(1')所示，将Hl与t之比设定为大于W0 的两倍，由此降低固化时来自副扫描方向Z的影响。
图7是表示独立扫描透镜23相对于副扫描方向Z的位置(横轴)的相位差(纵轴)的图表。在图7中还示出了向独立扫描透镜23入射的入射光束宽度WO以及透镜形状区域宽度H2。另外，在透镜形状区域的沿副扫描方向Z的两端部，应力分布因受到与上述无效区域的阶梯差的影响而改变，因此相位差也大幅且急剧地改变。但是，只要WO与H2的关系满足算式(2)的下限，阶梯差部分的影响不会波及独立扫描透镜23的实际光束的通过区域，入射光束宽度WO内的相位差的变化变得缓和。由此能够缩小在光束B的宽度WO内的相位差分布。但是，如果将H2的值过度增大到所需值以上，则副扫描方向Z的厚度不均程度(最大厚度/最小厚度)增大，从而到固化为止的时间差增大。其结果，容易产生应力分布，因此相位差分布也会增大。另外，独立扫描透镜23的体积也会增加，从而导致独立扫描透镜23的成本提高。从以上观点出发，如上式(2)所示将上限设定为H2/W0 < 9。此处，为了明确上式(1)、(2)的技术意义，本专利申请的发明人使用具有以下值的聚碳酸酯制的独立扫描透镜模拟了相位差变化。该模拟结果如图8所示。在该独立扫描透镜中，WO与H2的关系不满足算式(2)的下限，因此阶梯差部分的影响波及实际的光束B的通过区域，从而入射光束宽度WO内的相位差的变化急剧增大。另外，图9的曲线Ca示出满足算式(I)、(2)的独立扫描透镜23的光束剖面。在该独立扫描透镜23的情况下,相位差变化量为40nm, 1/e2光束直径(相对于峰值13. 5%的直径)是SOym。此处，若将独立扫描透镜23的上侧光线Bu与下侧光线BI (参照图5)的通过位置处的相位差设为R上、R下，则通过下式(3)定义相位差变化量。相位差变化量=I R主一(R上+R下)/2 I…(3)在图9中，为了进行比较而用曲线Cb (点划线)示出没有相位差变化量的光束的剖面。在该情况下，1/e2光束直径为77 ii m (设计值)。这样，独立扫描透镜23的1/e2光束直径的设计值与实际值相同，因此可知，如果由独立扫描透镜23产生的相位差变化量大致小于50nm，则在光束宽度WO的范围内，光束粗大在不影响图像质量的、可以忽略的范围内。另外，图9中还用曲线Ce (虚线)示出相位差变化量为90nm的情况下的光束剖面。在该情况下，1/e2光束直径会变粗到98 u m,因此可能会影响图像质量。另外，如图10所示，根据独立扫描透镜23，关于朝向被扫描面上的有效区域的任意光束B’，在入射面Fa上的副扫描方向Z上的宽度WO’的变动相对于朝向中心像高HC的光束B的副扫描方向Z上的宽度WO为10%以下。另外，模拟的结果是，图3的独立扫描透镜23的宽度的变动为WO的6. 7%。另外，在以上实施方式中，对如图3所示的独立扫描透镜23进行了说明，但不局限于此，还可以如图11所示，凸棱231从独立扫描透镜23的无效区域与光轴方向平行地突出。该独立扫描透镜23的W0、Hl、H2、t、Hl/W0及H2/W0的具体的值的一个例子如下所示。WO 2. 4mmHl 20. OmmH2 :12. 8mmt 4. OmmHl/ffO 8. 3H2/W0 5. 3 另外，使朝向被扫描面上的有效区域的任意光束B’射入到图11的独立扫描透镜23，如果尝试模拟在入射面Fa上的副扫描方向Z的宽度W0’的变化，则相对于WO为5. 8%。(激光扫描光学装置的变形例)在上述实施方式中，列举采用了所谓的单侧偏转的激光扫描光学装置为例进行了说明。不局限于此，独立扫描透镜23还能够应用于采用了图12所示的双侧偏转的激光扫描光学装置。另外，在图12中，仅对本发明的主要部分标注了附图标记，而且在图12中，对与图1的结构相当的部分标注相同的附图标记，并省略各自的说明。在图12 中，来自四个光源 11 (lly、llm、llc、llk)的光束 B (By、Bm、Bc、Bk)，经由圆柱透镜等射入于偏转器17的多角棱镜。在该激光扫描光学装置中配置有通用扫描透镜
21、22，它们用于使通过偏转器17而向主扫描方向Y偏转的各光束By、Bm在各感光鼓40y、40m上成像；多个反射镜,它们用于将透过该反光镜21、22的光束引导向各感光鼓40y、40m ；以及独立扫描透镜23y、23m，它们独立地配置于各光路。同样，还配置有通用扫描透镜21、22，它们用于使通过偏转器17而向主扫描方向Y偏转的各光束Bc、Bk在各感光鼓40c、40k上成像；多个反光镜，它们用于将透过这些反光镜21、22的光束引导向各感光鼓40c、40k ;以及独立扫描透镜23c、23k，它们单独地配置于各光路。(附记)在上述实施方式中，对独立扫描透镜23的R主、R上、R下、H1、H2以及t进行了说明。但是，不局限于独立扫描透镜23，通用扫描透镜21、22如果是因为通过双折射而使光束B的沿副扫描方向Z的宽度内的相位差发生较大变化的透镜，则也可以将R主、R上、R下、H1、H2以及t应用于通用扫描透镜21、22。(独立扫描透镜的作用、效果)通常，双折射分为依赖于高分子的取向状态的取向双折射、以及依赖于在成形时所产生的应力的应力双折射。其中，对应力双折射的作用进行说明。在将因双折射而产生的相位差设为R，将因成形而产生的应力分布设为△ 0，将材料的光弹性系数设为Ct的情况下，利用以下式(4)表示R。R=CtX A O …⑷S卩，在产生相同的应力分布的情况下，光弹性系数越大越会发生较大的相位差分布。在树脂成形中，树脂从接触金属模具的部分开始凝固，最后中心部分固化。即，越是周边部越在压力较高的状态下固化，中央部在压力低的状态下固化，因此会产生应力分布。通常，扫描透镜具有在偏转方向亦即主扫描方向Y上较长而在其垂直方向亦即副扫描方向Z上较短的、近似矩形的形状。由这样的形状弓I起在朝向扫描透镜的入射光束的宽度内很难在主扫描方向Y上产生相位差分布，而容易在副扫描方向Z上产生相位差分布。特别是，如果发生两次以上的相位差分布，则光束会变粗。因此，如图5所示，在本实施方式中，在将通过任意的独立扫描透镜23的光束B的相位差设为进相轴相位与滞相轴相位的相位差，并且，将通过该扫描透镜的光束B中，在主光线BO的通过位置的相位差设为R主，在上侧光线Bu的通过位置的相位差设为R上，在下侧光线BI的通过位置的相位差设为R下时，I R主一(R上+R下)/2 |<50nm，且R主>500nm。如果满足该条件，则即便使用会产生超过500nm的相位差的材料制造独立扫描透镜23，由于在光束宽度WO处的相位差变化也小于50nm，因此光束粗大实际上不会对图像质量造成影响。例如，从成本的观点出发，在独立扫描透镜23中使用光弹性系数在40X KT12Pa4以上的低成本的材料的情况下，应力双折射增大，光束的相位差也增大，其结果能够满足R主> 500nm的条件。另外，为了满足I R主一(R上+R下)/2 I < 50nm的条件，需要适当地选择独立扫描透镜23的W0、H1、t。在本实施方式中，将WO、H1、t选择为能够满足前式(2)。由此，如上所述，降低独立扫描透镜23固化时的来自副扫描方向Z的影响。另外，为了满足I R主一(R上+R下)/2 I < 50nm的条件，需要适当地选择独立扫描透镜23的W0、H2。在本实施方式中，将WO、H2选择为满足前式(2)。由此，如上所述，透镜形状区域与无效区域的阶梯差的影响不会波及到独立扫描透镜23的实际的光束通过区域，因此使得入射光束宽度WO内的相位差的变化缓和。由此能够缩小在光束B的宽度WO内的相位差分布。另外，通过使在主扫描方向Y上扫描的各光束B的沿副扫描方向Z的宽度的变化相对于WO为10%以下，从而使独立扫描透镜23的主扫描方向Y的位置的双折射的影响大致相同。另外，在本实施方式中，利用支架50将独立扫描透镜23的通过光束B调整为不向主扫描方向Y弯曲。此时，如果假设设计了较大的透镜外形宽度H1、透镜形状区域(镜面域)的宽度H2以及芯厚t的独立扫描透镜，则为了使该透镜弯曲而需要较大的外力。预想双折射的状态会因该外力而改变，从而相位差分布也会发生变化。即使在该观点中，满足前式(I)、(2)的技术意义也很大。即使在将产生较大的双折射的材料用于扫描透镜的情况下，本发明所涉及的激光扫描光学装置也能够抑制光束粗大，从而适用于全色复印机、打印机或它们的复合机。
权利要求
1.一种激光扫描光学装置，在每个颜色的感光鼓的被扫描面上扫描光束，其中，该激光扫描光学装置具备射出光束的多个光源；偏转单元，该偏转单元将从各上述光源射出的光束偏转；以及扫描透镜组，该扫描透镜组包括多个扫描透镜，其中多个扫描透镜由具有光学各向异性的材料构成，使从上述偏转单元射入的光束在上述被扫描面上成像，将通过上述扫描透镜组中在光束的光路上最下游的扫描透镜的光束的相位差设为进相轴方位与滞相轴方位的相位差，并且将通过该扫描透镜的光束中在主光线的通过位置的相位差设为R主，将在上侧光线的通过位置的相位差设为R上，将在下侧光线的通过位置的相位差设为R下时，I R主一(R上+R下)/2 I < 50nm，并且R主> 500nm。
2.根据权利要求1所述的激光扫描光学装置，其中，所述扫描透镜是将光弹性系数为40X KT12Pa4以上的材料注塑成形而形成的。
3.根据权利要求1或2所述的激光扫描光学装置，其中，所述扫描透镜的沿着副扫描方向的外形宽度实质上恒定而不受所述主扫描方向的位置的影响，在将所述外形宽度设为H1，将所述扫描透镜的芯厚设为t，将朝向所述被扫描面上的有效区域的中心像高的光束在向所述扫描透镜入射的入射面上的副扫描方向的宽度设为WO时，满足Hl/t > W0X2。
4.根据权利要求1或2所述的激光扫描光学装置，其中，所述扫描透镜具有透镜形状区域，该透镜形状区域沿着光轴方向具有规定的厚度；无效区域，该无效区域存在于所述透镜形状区域的副扫描方向的外侧，具有与所述透镜形状区域的厚度不同的值的光轴方向的厚度，所述扫描透镜的透镜形状区域宽度实质上恒定而不受所述主扫描方向的位置的影响，在将所述透镜形状区域宽度设为H2、将所述扫描透镜的芯厚设为t时，满足5 < H2/W0 < 9。
5.根据权利要求1或2所述的激光扫描光学装置，其中，在将朝向所述被扫描面上的有效区域的中心像高的光束在向所述扫描透镜入射的入射面上的副扫描方向的宽度设为WO时,朝向该有效区域的任意光束在所述扫描透镜的入射面上的各光束的沿着副扫描方向的宽度的变动，相对于WO为10%以下。
6.根据权利要求1或2所述的激光扫描光学装置,其中，还具备能够调整所述扫描透镜的弯曲量的支架。
全文摘要
本发明提供一种激光扫描光学装置，即使在将产生较大的双折射的材料用于扫描透镜的情况下，也能够抑制光束粗大。将通过在光束的光路上最下游的独立扫描透镜(23)的光束的相位差设为光的行进速度较快的方位与较慢的方位的相位之差，而且将通过独立扫描透镜(23)的光束(B)中在主光线(B0)的通过位置的相位差设为R主，将在上侧光线(Bu)的通过位置的相位差设为R上，将在下侧光线(Bl)的通过位置的相位差设为R下时，满足︱R主－(R上＋R下)/2︱＜50nm，并且R主＞500nm。
文档编号G02B3/00GK103033933SQ20121036775
公开日2013年4月10日 申请日期2012年9月28日 优先权日2011年10月3日
发明者大木诚, 妹尾涉, 植村英生 申请人:柯尼卡美能达商用科技株式会社