光栅基板短路检测方法
【专利摘要】本发明涉及显示【技术领域】，公开了一种光栅基板短路检测方法，包括步骤：对光栅基板上的每条第一电极施加电压，对于每条第二电极不加电，采用探针沿第二电极所在的直线移动，检测所述第二电极的电压；判断每条第二电极上的电压最大值是否大于预定阈值，若大于，则确定与第一电极短路。本发明通过电学探针检测到哪两条第一电极和第二电极短路，实现了对电极倾斜设置的光栅基板进行短路检测并定位，并及时反馈出短路不良的具体位置，从而提高产线良率和效益。
【专利说明】光栅基板短路检测方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及显示【技术领域】，特别涉及一种光栅基板短路检测方法。
【背景技术】
[0002]目前应用于裸眼3D的光栅设计中，光栅条纹相对于显示面板的一行或一列像素倾斜设置，如倾斜80.54°角度。一种液晶光栅如图1所不，包括第一光栅基板1、第二光栅基板2及两者之间的液晶3。第一光栅基板I上形成有若干交替设置的第一电极4和第二电极5,且第一电极4和第二电极5均为条状,排布平面图如图2所不,第一电极4和第二电极5在第一光栅基板I上的分布情况，两者都是倾斜设置，倾斜角度为α。所有的第一电极4连接在一起(通过过孔7与第一电极4对应的信号线连接)，所有的第二电极5连接在一起(通过过孔8与第二电极5对应的信号线连接)。第二光栅基板3上形成有第三电极6 (板状电极)。上述第一电极4、第二电极5和第三电极6通常都采用ITCKIndium Tin Oxide)材料制作。工作时(对于常白模式)，对第一电极4和第三电极6施加相同的第一电压,对第二电极5施加与第一电压不同的第二电压，使第二电极5对应区域的液晶3偏转到该区域不透光，从而形成挡光条纹。同理，对第二电极5和第三电极6施加相同的第一电压，对第一电极4施加与第一电压不同的第二电压，使第一电极4对应区域的液晶3偏转到该区域不透光，从而形成挡光条纹。
[0003]在第一光栅基板I上，由于某一条第一电极4和其相邻的第二电极5水平间距相对于第一电极4或第二电极5的宽度非常小，在制作过程中很容易发生短路，若不及时检测出短路情况，会导致产品不良，产线良率和效率低。现有的阵列基板检测设备中带动探针移动的导轨包括与栅线平行的横向导轨和与数据线平行的纵向导轨，横向导轨和纵向导轨相互垂直。可将探针安装在纵向导轨上，纵向导轨沿横向导轨移动以定位一条数据线，探针在纵向轨道上移动，以检测每条数据线上的电压；同理，可将探针安装在横向导轨上，横向导轨沿纵向导轨移动以定位一条栅线，探针在横向轨道上移动，以检测每条栅线上的电压。由于光栅基板中第一电极4和第二电极5倾斜设置，横向导轨和纵向导轨均无法使探针沿第一电极4和第二电极5倾斜移动，因此无法对两者短路情况进行检测。
【发明内容】
[0004](一)要解决的技术问题
[0005]本发明要解决的技术问题是:如何对电极倾斜设置的光栅基板进行短路检测。
[0006](二)技术方案
[0007]为解决上述技术问题，本发明提供了一种光栅基板短路检测方法，包括步骤:
[0008]对光栅基板上的每条第一电极施加电压，对于每条第二电极不加电，采用探针沿第二电极所在的直线移动，检测所述第二电极的电压；
[0009]判断每条第二电极上的电压最大值是否大于预定阈值，若大于，则确定与第一电极短路。[0010]其中，对于每条第二电极，采用探针沿第二电极所在的直线移动的具体方式包括:
[0011]设置阵列基板检测设备的纵向导轨，使所述纵向导轨所在的直线与第二电极所在的直线在同一方向；
[0012]驱动纵向导轨在横向导轨上移动以定位每一条第二电极，驱动探针在所述纵向导轨上移动，以检测每条第二电极的电压。
[0013]其中，对于每条第二电极，采用探针沿第二电极所在的直线移动的具体方式包括:
[0014]驱动阵列基板检测设备的纵向导轨在横向导轨上移动，同时驱动探针在纵向导轨上移动，使得探针的轨迹为所述第二电极所在的直线。
[0015]其中，所述预定阈值为第一电极施加电压的30%?50%。
[0016]其中，在确定与第一电极短路的第二电极后，还包括:使光学镜头沿短路的第一电极和第二电极之间的缝隙移动，将采集短路的第一电极和第二电极之间的缝隙的图像与预先设定的标准图像对比，若采集到的缝隙的图像中在一定区域的图像与所述标准图像中相应区域的图像不同，则短路，从而确定短路位置为所述一定区域所在位置。
[0017]其中，使光学镜头沿短路的第一电极和第二电极之间的缝隙移动的具体方式包括:
[0018]设置阵列基板检测设备的纵向导轨，使所述纵向导轨所在的直线与第二电极所在的直线在同一方向；
[0019]驱动纵向导轨在横向导轨上移动以定位短路的第一电极和第二电极之间的缝隙，驱动光学镜头在所述纵向导轨上移动。
[0020]其中，使光学镜头沿短路的第一电极和第二电极之间的缝隙移动的具体方式包括:
[0021 ] 驱动阵列基板检测设备的纵向导轨在横向导轨上移动，同时驱动光学镜头在纵向导轨上移动，使得所述光学镜头沿短路的第一电极和第二电极之间的缝隙移动。
[0022](三)有益效果
[0023]本发明通过电学探针沿光栅基板的第二电极倾斜移动，检测到哪两条第一电极和第二电极短路，实现了对电极倾斜设置的光栅基板进行短路检测以定位到短路的第二电极，并及时反馈出短路不良的位置，从而提高产线良率和效益。
【专利附图】
【附图说明】
[0024]图1是本发明的液晶光栅的截面示意图；
[0025]图2是本发明的液晶光栅的平面示意图；
[0026]图3是本发明的光栅基板短路检测方法流程图；
[0027]图4是本发明的液晶光栅的光栅基板上第一电极和第二电极未短路的示意图；
[0028]图5是本发明的液晶光栅的光栅基板上第一电极和第二电极短路的示意图。
【具体实施方式】
[0029]下面结合附图和实施例，对本发明的【具体实施方式】作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。
[0030]如图3所示，本实施例提供的光栅基板短路检测方法包括:
[0031]步骤S310，对光栅基板上的每条第一电极施加电压，对于每条第二电极不加电，采用探针沿第二电极所在的直线移动，检测所述第二电极的电压；
[0032]如图2所示，对光栅基板上的每条第一电极4施加电压，可以通过图2中端部的引线为第一电极4施加电压。在对第一电极4加电的同时,对于每条第二电极5,米用探针沿第二电极5所在的直线移动来检测第二电极5的电压。由于透明电极ITO电阻的原因，在短路处的电压最大，离短路处越远电压越小，离短路的第二电极5越远的未短路的第二电极5的电压更小。逐根检测每条第二电极5的电压，可测得每条第二电极5的最大电压值。
[0033]本实施例中，对于每条第二电极5，采用探针沿第二电极5所在的直线移动的具体方式可以采用以下两种任一种方式实现:
[0034]方式一:
[0035]设置阵列基板检测设备的纵向导轨，即改进阵列基板检测设备的纵向导轨，使纵向导轨所在的直线与第二电极5所在的直线在同一方向。驱动纵向导轨在横向导轨上移动以定位每一条第二电极5，驱动探针在纵向导轨上移动，以检测每条第二电极5的电压。
[0036]方式二:
[0037]可以改进横向导轨和纵向导轨的驱动程序，使得横向导轨和纵向导轨可同时移动，驱动纵向导轨在横向导轨上移动，同时驱动探针在纵向导轨上移动，使得探针的轨迹为第二电极5所在的直线，以检测每条第二电极5的电压。
[0038]步骤S320，判断每条第二电极上的电压最大值是否大于预定阈值，若大于，则确定与第一电极短路。检测到的电压可以用数值的形式展现，也可以采用阵列基板的检测设备将电压信号在显示器端转换为可视图形，如:亮线(和检测阵列基板上栅线或数据线之间短路的情况相同)。该预定阈值的范围可根据实际情况而设定，由于短路处的图形形状不一样，电阻就不一样，电阻越大，短路的第二电极5的短路处的电压就越小，反之，电阻越小，短路的第二电极5的短路处的电压就越大。为了使得短路的情况尽量都能检测出来，又保证检测的准确性，预定阈值为第一电极施加电压的30%?50%。
[0039]本实施例的方法通过电学探针沿光栅基板的第二电极倾斜移动，检测到哪两条第一电极和第二电极短路，实现了对电极倾斜设置的光栅基板进行短路检测以定位到短路的第二电极，并及时反馈出短路不良的位置，从而提高产线良率和效益。
[0040]为了实现对短路位置更精确的定位，在确定与第一电极4短路的第二电极5后，还包括:使光学镜头沿短路的第一电极4和第二电极5之间的缝隙移动，将采集短路的第一电极4和第二电极5之间的缝隙的图像与预先设定的标准图像对比，如图4中的标准图像对t匕，若采集到的缝隙的图像在一定区域的图像与所述标准图像中相应区域的图像不同，且在一定区域中填充有第一电极4或第二电极5的电极材料，使两者连通，则短路，短路图像如图5所示，从而确定短路位置。图5中虚线框表示短路位置，即未短路时整条缝隙不会出现第一电极4和第二电极5的连接点。光学镜头将采集到短路处的坐标位置返回给阵列基板的检测设备，从而获取了短路的准确位置。
[0041]使光学镜头沿短路的第一电极4和第二电极5之间的缝隙移动的方式可采用以下两种任一种方式实现:[0042]方式一:
[0043]设置阵列基板检测设备的纵向导轨，即改进阵列基板检测设备的纵向导轨，使纵向导轨所在的直线与第二电极5所在的直线在同一方向。驱动纵向导轨在横向导轨上移动以定位短路的第一电极4和第二电极5之间的缝隙，驱动探针在纵向导轨上移动，以采集缝隙的图像。
[0044]方式二:
[0045]可以改进横向导轨和纵向导轨的驱动程序，使得横向导轨和纵向导轨可同时移动，驱动纵向导轨在横向导轨上移动，同时驱动光学镜头在纵向导轨上移动，使得所述光学镜头沿短路的第一电极4和第二电极5之间的缝隙移动，以采集缝隙的图像。
[0046]本实施例中，还利用光学镜头对短路的第一电极4和第二电极5之间的缝隙进行图像采集，并与标准的图像比较，从而准确定位了第一电极4和第二电极5短路的具体位置。
[0047]以上实施方式仅用于说明本发明，而并非对本发明的限制，有关【技术领域】的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围的情况下，还可以做出各种变化和变型，因此所有等同的技术方案也属于本发明的范畴，本发明的专利保护范围应由权利要求限定。
【权利要求】
1.一种光栅基板短路检测方法，其特征在于，包括步骤: 对光栅基板上的每条第一电极施加电压，对于每条第二电极不加电，采用探针沿第二电极所在的直线移动，检测所述第二电极的电压； 判断每条第二电极上的电压最大值是否大于预定阈值，若大于，则确定与第一电极短路。
2.如权利要求1所述的光栅基板短路检测方法，其特征在于，对于每条第二电极，采用探针沿第二电极所在的直线移动的具体方式包括: 设置阵列基板检测设备的纵向导轨，使所述纵向导轨所在的直线与第二电极所在的直线在同一方向； 驱动纵向导轨在横向导轨上移动以定位每一条第二电极，驱动探针在所述纵向导轨上移动，以检测每条第二电极的电压。
3.如权利要求1所述的光栅基板短路检测方法，其特征在于，对于每条第二电极，采用探针沿第二电极所在的直线移动的具体方式包括: 驱动阵列基板检测设备的纵向导轨在横向导轨上移动，同时驱动探针在纵向导轨上移动，使得探针的轨迹为所述第二电极所在的直线。
4.如权利要求1所述的光栅基板短路检测方法，其特征在于，所述预定阈值为第一电极施加电压的30%?50%。
5.如权利要求1?4中任一项所述的光栅基板短路检测方法，其特征在于，在确定与第一电极短路的第二电极后，还包括:使光学镜头沿短路的第一电极和第二电极之间的缝隙移动，将采集短路的第一电极和第二电极之间的缝隙的图像与预先设定的标准图像对比，若采集到的缝隙的图像中在一定区域的图像与所述标准图像中相应区域的图像不同，则短路，从而确定短路位置为所述一定区域所在位置。
6.如权利要求5所述的光栅基板短路检测方法，其特征在于，使光学镜头沿短路的第一电极和第二电极之间的缝隙移动的具体方式包括: 设置阵列基板检测设备的纵向导轨，使所述纵向导轨所在的直线与第二电极所在的直线在同一方向； 驱动纵向导轨在横向导轨上移动以定位短路的第一电极和第二电极之间的缝隙，驱动光学镜头在所述纵向导轨上移动。
7.如权利要求5所述的光栅基板短路检测方法，其特征在于，使光学镜头沿短路的第一电极和第二电极之间的缝隙移动的具体方式包括: 驱动阵列基板检测设备的纵向导轨在横向导轨上移动，同时驱动光学镜头在纵向导轨上移动，使得所述光学镜头沿短路的第一电极和第二电极之间的缝隙移动。
【文档编号】G02F1/13GK103487960SQ201310495913
【公开日】2014年1月1日 申请日期:2013年10月21日 优先权日:2013年10月21日
【发明者】郭会斌, 王守坤 申请人:京东方科技集团股份有限公司, 北京京东方显示技术有限公司