一种液晶面板测试装置的制作方法

本实用新型涉及产品测试领域，特别涉及一种液晶面板测试装置。

背景技术：

液晶面板是由大量的像素点所组成的，它们都能够显示黑白两色和红、黄、蓝三原色。再由显示着不同颜色的像素点进行组合，我们便可以看到液晶面板所显示的图像。一个像素点即是一个发光点。每个发光点都有独立的晶体管来控制其电流的强弱，如果控制该点的晶体管坏掉，就会造成该光点永远点亮或不亮。这就是通常提到的亮点或暗点，统称为“坏点”或“不良点”。这些液晶面板在生产过程中需要经过点灯测试工序来测试液晶面板上不良点的坐标，即亮点或暗点等缺陷点的坐标，随后再对这些不良点进行修复。

点灯测试方式主要有Full Pin，Quick以及S/B方式。Quick和S/B点灯测试方式一般会将所有的数据信号(Data)端子相互连接形成一个Data信号接收端，对于扫描信号(Gate)，则将奇数行的Gate信号端子相互连接形成第一Gate信号接收端，将偶数行的Gate信号端子相互连接形成第二Gate信号接收端，这种测试方式成本低，测试治具容易制作。

然而，如图1所示，目前使用Full Pin点灯方式可以进行不良点点坐标的标记，Quick和S/B方式无法实现点坐标的标记。但是，使用Full Pin点灯方式进行不良点点坐标的标记需要高精度的探针压头(Block)，存在点灯成本高的问题。

因此，需要一种利用Quick或S/B点灯方式进行不良点点坐标标记以降低点标记成本的方法。

技术实现要素：

为此，本实用新型实施例提供一种使用参考面板获得点缺陷坐标信息的液晶面板测试装置，以降低点灯测试成本。

根据本实用新型，提供一种液晶面板测试装置，用于对待测液晶面板进行点灯测试，其特征在于，包括：LED灯箱，用于提供背光；参考面板，用于提供坐标信息；第一信号发生器，与参考面板相连接，用于在测试时驱动参考面板；第二信号发生器，与待测液晶面板相连接，用于在测试时驱动待测液晶面板；以及文件服务器，与第一信号发生器相连接，用于记录待测液晶面板的缺陷坐标信息。

优选地，所述参考面板包括对齐标记，所述液晶面板测试装置还包括：图像定位设备，用于对参考面板上的对齐标记进行抓取对齐，使得待测液晶面板与参考面板在测试时重合对齐。

优选地，所述图像定位设备为CCD图像传感器。

优选地，所述对齐标记为十字标记。

优选地，所述参考面板设置在待测液晶面板上方或下方。

优选地，所述参考面板的尺寸等于所述待测液晶面板的尺寸。

优选地，所述参考面板的点分辨率等于所述待测液晶面板的点分辨率。

优选地，所述参考面板与待测液晶面板间隔5～10um。

优选地，所述参考面板为FOG面板。

优选地，所述LED灯箱的亮度大于等于50,000cd/m²。

本实用新型实施例利用参考面板(例如，FOG面板)可标记点坐标，将参考面板与待测液晶面板重合对齐，利用参考面板的点坐标标记能力对待测液晶面板实施标记，从而提供一种使用Quick或S/B点灯方式实现对不良点点坐标进行的方法和系统，达到降低点灯成本的目的。

附图说明

图1为描述现有技术中的点坐标标记方法表格示意图；

图2为描述常规的点坐标传送流程图；

图3为根据本实用新型实施例的液晶面板测试装置流程图；

图4为根据本实用新型实施例的一种点灯测试中的液晶面板测试装置示意图；以及

图5和6为根据本实用新型实施例的参考面板与待测液晶面板的对齐方式示意图。

具体实施方式

下面结合附图，对本实用新型实施例提供的实现点灯测试中的点标记方法、系统等进行详细描述。对于本领域普通技术人员而言，本实用新型可以以多种不同形式来体现，不应被解释为受限于这里所提及的具体实施例和特定细节。全文中同样的标号指代同样的元件。

图2描述了常规的点坐标传送流程图。通常，整个液晶面板(或称Cell)以取向剂涂布(PI)、摩擦取向(RUB)、液晶注入(ODF)、切割(CUT)、偏光板贴附(POL)、点灯测试(LOT)的顺序进行生产。在生产液晶面板时，首先将阵列基板与彩膜基板经过配向，注入液晶，对齐压合，切割裂片制程后，贴附偏光片,再进行点灯测试。

以液晶面板为例，液晶面板在制作的过程中，需要进行多个检验程序，其中一个很重要检验程序就是对切割完成的液晶面板进行测试(液晶面板Test)，确认液晶面板是否存在缺陷。该测试过程先是对液晶面板输入测试信号，使其像素呈现色彩，接着通过缺陷检测装置逐一观察各个像素是否良好，此过程称为点灯测试(LightOn Test)。

在进行LOT(Light on Test)点灯测试阶段21时，对面板上的不亮点要进行点坐标的标记，并将标记的不良点的点坐标上传至文件服务器22进行保存。在后期进行面板上不良点的激光修复时，再从文件服务器22上下载这些不良点的点坐标，对面板上的不良点进行精确定位，从而对不良点进行激光修复23。

图3为根据本实用新型实施例的液晶面板测试装置流程图。步骤31中，将参考面板插入测试台内。具体地，该参考面板为FOG(Flexible printed circuits board On Glass)面板。测试台可以为MJC测试台。步骤32中，使待测Quick或S/B面板与参考面板在测试台内重合对齐。参考面板可设置在待测液晶面板上方或下方。在步骤33中，将参考面板与待测Quick或S/B面板分别连接到信号发生器，利用参考面板标记待测液晶面板的点坐标。具体地，如图3所示，待测Quick或S/B面板连接至Quick信号发生器Quick SG，利用其进行面板驱动。FOG面板连接液晶模块信号发生器LCM SG，利用其进行面板驱动并对与重合的Quick或S/B面板上的不良点位置相对应的位置进行标记。利用FOG面板标记的点坐标即为待测Quick或S/B面板上的不良点坐标。将液晶模块信号发生器LCM SG所标记的点坐标上传至文件服务器进行保存以供后期不良点的修复阶段使用。

图4为根据本实用新型实施例的一种点灯测试中的液晶面板测试装置示意图。该液晶面板测试装置包括参考面板41、待测液晶面板43、LCM信号发生器44、Quick信号发生器45以及文件服务器42。参考面板41为FOG面板，置于测试台内并与LCM信号发生器44连接，LCM信号发生器44驱动参考面板41，并对参考面板41上与待测液晶面板43的不良点位置对应的点的坐标进行标记。待测液晶面板43连接Quick信号发生器45，待测液晶面板43置于参考面板41的上方或下方并与参考面板41重合。Quick信号发生器45驱动待测液晶面板43。文件服务器42，与LCM信号发生器44连接，用于保存LCM信号发生器44标记并上传的点坐标。

图5和6为根据本实用新型实施例的参考面板与待测液晶面板的对齐方式示意图。在一实施例中，如图5所示的一个测试台示意图，测试台通常可采用MJC测试台。将FOG面板内嵌至MJC测试台内，利用MJC CCD图像传感器51、52对FOG面板和待测液晶面板上的十字标记(mark)进行抓取对齐，使参考面板与待测液晶面板重合。MJC机台对齐精度为3um左右，现有子像素间距在30um左右，例如S050F子像素间距：29um*86um，因此，MJC机台对齐精度可满足要求。

在一实施例中，如图6所示，待测液晶面板63置于FOG面板61上方，为防止两片面板重叠造成刮伤、破片等异常情况，待测液晶面板63与FOG面板61之间可设置5～10um的间隔。为改善两片面板重叠造成面板表面辉度偏暗而影响点坐标的标注，测试台内的驱动背光使用高亮LED灯箱65，例如市面上使用的LED灯箱亮度大于等于50,000cd/m2的驱动背光。

这里使用的术语目的仅仅是为了描述特定的实施例，并非意图限制本实用新型。如在此所使用的，单数形式预期也包括复数形式，除非特别指出。还将进一步理解，词语“包含”、“包括”及其变形形式使用时表示所述特征、整体、操作、步骤、元件、和/或部件的存在，但不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元件、部件和/或其组合的存在。

尽管以特定于结构特征和/或方法动作的语言对本实用新型实施例进行了具体示出和描述，本领域普通技术人员将理解，但应该理解，所附权利要求中定义的实用新型不必限于所描述的具体特征或动作。在不脱离所附权利要求所限定的本实用新型的精神和范围的情况下，可以进行形式上和细节上的各种变化。因此，本实用新型的范围并非由本实用新型的详细描述来限定，而是由所附权利要求来限定。