光配向装置及其去除光配向杂质的组件和方法与流程

文档序号:11406117阅读:258来源:国知局
光配向装置及其去除光配向杂质的组件和方法与流程

本发明涉及显示技术领域,具体涉及一种光配向装置及其去除光配向杂质的组件和方法。



背景技术:

在lcd(liquidcrystaldisplay,液晶显示装置)的制造过程中需要对液晶进行配向制程,控制液晶分子在lcd中的初始排列方式,从而精确控制液晶分子在lcd显示过程中的排列方式,以实现显示效果。现有的配向制程一般采用光配向方法。结合图1所示,光源11发出的光经过滤光片12和偏光片13后变为线偏极紫外光,线偏极紫外光照射到具有感光剂的配向膜14时,配向膜14的部分分子链断裂,从而产生小分子杂质15。这些杂质15会在lcd显示时形成异物型亮点,影响lcd的显示品质。为了避免这些杂质15进入lcd内部,现有技术一般在偏光片13和配向膜14之间设置一透光玻璃16,但是随着透光玻璃16上聚集的杂质15越来越多,透光玻璃16的光穿透率越来越低,势必会影响光配向品质。



技术实现要素:

鉴于此,本发明提供一种光配向装置及其去除光配向杂质的组件和方法,能够去除光配向过程中配向膜产生的杂质,确保光配向品质。

本发明一实施例的去除光配向杂质的组件,包括除尘机构,所述除尘机构的内部设置有输气管道,输气管道的一端间隔设置于配向膜的上方,除尘机构用于在负压差的作用下将光配向杂质吸入输气管道内。

本发明一实施例的光配向装置,包括上述去除光配向杂质的组件。

本发明一实施例的去除光配向杂质的方法,包括:

将除尘机构设置于配向膜的上方,使得除尘机构内部设置的输气管道的一端间隔设置于配向膜的上方;

除尘机构在负压差的作用下将光配向杂质吸入输气管道内。

有益效果:本发明通过除尘机构将光配向杂质吸入输气管道内,能够去除光配向过程中配向膜产生的杂质,并且避免这些杂质在线偏极紫外光的照射方向上聚集,从而确保光配向品质。

附图说明

图1是现有技术的光配向装置的结构剖示图;

图2是本发明一实施例的光配向装置的结构剖示图;

图3是本发明另一实施例的光配向装置的结构剖示图;

图4是本发明去除光配向杂质的方法一实施例的流程示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明所提供的各个示例性的实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。在不冲突的情况下,下述各个实施例及其技术特征可以相互组合。

请参阅图2,为本发明一实施例的光配向装置。所述光配向装置20可以包括反光板21、光源22、滤光片23、偏光片24、配向膜25以及去除光配向杂质的组件26。

光源22可用于发出紫外光。

反光板21用于对远离配向膜25的紫外光进行反射,使得紫外光经过反射后照向配向膜25,提高紫外光利用率。

滤光片23设置于光源22的下方,用于调整紫外光的波长,使得预定波长(例如200~500纳米)的紫外光进入偏光片24。

偏光片24设置于滤光片23的下方,偏光片24用于获取线偏极紫外光,以基于ips(in-planeswitching,横向电场效应显示)技术和ffs(fringefieldswitching,边缘场开关)技术的光配向制程为例,偏光片24仅允许平行于偏光片24的紫外光通过。

配向膜25包括高分子聚合物,例如pi(polyimide,聚酰亚胺),高分子聚合物被线偏极紫外光照射之后会形成长键分子,使得配向膜25具有异方性,液晶分子会沿着长键分子方向排列,从而实现光配向。

所述去除光配向杂质的组件(下文简称组件)26可以包括除尘机构261和集尘机构262。除尘机构261的内部设置有两端开口的输气管道,输气管道的一端间隔设置于配向膜25的上方。集尘机构262的内部设置有存储空间,该存储空间与输气管道的另一端连通。

在光配向制程中,光源22发出的紫外光经过滤光片23和偏光片24之后变为线偏极紫外光,线偏极紫外光照射到具有感光剂的配向膜25之后,配向膜25中的部分分子链断裂,从而产生小分子杂质,这些小分子杂质可称为光配向杂质27。此时,除尘机构261在负压差的作用下将光配向杂质27吸入输气管道内,而后,光配向杂质27从输气管道的另一端进入集尘机构262的存储空间。

在本发明一实施例中,除尘机构261的内部可以设置有风机叶轮和电动机。在电动机的高速驱动下,风机叶轮的叶片不断对空气做功,使得叶片对应区域中的空气以极高的速度从输气管道的另一端(风机叶轮的后端)排出,使得输气管道内部形成瞬时真空,同时输气管道的一端(风机叶轮的前端)的空气不断地补充入叶轮中,输气管道的内部与外界大气压形成一个相当高的负压差。在此负压差的作用下,位于输气管道的一端处的光配向杂质27随气流进入输气管道,而后在集尘机构262内部经过过滤器,光配向杂质27留在集尘机构262的存储空间内,而空气经过滤后排出。

基于上述,本实施例的组件26能够去除光配向制程中配向膜25产生的光配向杂质27,避免光配向杂质27在线偏极紫外光的照射方向上聚集,确保紫外光的利用率,从而确保光配向品质。

请参阅图3,为本发明另一实施例的光配向装置。所述光配向装置30可以包括反光板31、光源32、滤光片33、偏光片34、配向膜35以及去除光配向杂质的组件36。其中,除去除光配向杂质的组件36之外,光配向装置30的各个结构元件可以与上述光配向装置20的相同,光配向装置30的各个结构元件的作用可参阅上述,此处不再赘述。

与图2所示实施例不同的是,本实施例的去除光配向杂质的组件36不仅包括除尘机构361和集尘机构362,还包括光感应器363以及与除尘机构361连接的移动机构364。

在光配向制程中,光感应器363用于检测配向膜35是否被紫外光照射。在光感应器363检测到配向膜35被紫外光照射时,移动机构364用于控制除尘机构361移动,具体地,移动机构364可以为电动马达,其控制除尘机构361在配向膜35的上方沿平行于配向膜35的方向移动,与此同时,除尘机构361内部输气管道的一端沿平行于配向膜35的方向移动,从而能够及时的去除光配向杂质37。

进一步地,除尘机构361可以在输气管道的一端设置控制元件365,该控制元件365与光感应器363连接,并用于根据光感应器363的检测结果控制输气管道的导通和截止。其中,当光感应器363检测到配向膜35未被紫外光照射时,控制元件365可以控制输气管道截止,移动机构364控制除尘机构361不移动,除尘机构361内部的电动机和风机叶轮停止运行;当光感应器363检测到配向膜35被紫外光照射时,控制元件365控制输气管道导通,移动机构364控制除尘机构361移动。

在除尘机构361的移动过程中,为了避免除尘机构261因各种晃动撞向配向膜25、吸入配向膜25中的pi等影响光配向品质的因素,本实施例设置除尘机构261(的输气管道的一端)与配向膜35之间具有预定距离,例如,该预定距离可以为5~400毫米。

请参阅图4,为本发明一实施例的去除光配向杂质的方法。所述去除光配向杂质的方法可以包括步骤s41~s42。

s41:将除尘机构设置于配向膜的上方,使得除尘机构内部设置的输气管道的一端间隔设置于配向膜的上方。

s42:除尘机构在负压差的作用下将光配向杂质吸入输气管道内。

在光配向制程之前,除尘机构可以连接有集尘机构,该集尘机构与输气管道的另一端连通。在光配向制程中,光配向杂质27从输气管道的另一端进入集尘机构262的存储空间。

另外,除尘机构还可以连接有移动机构,移动机构连接有光感应器。在步骤s42之前,光感应器检测配向膜是否被紫外光照射。若光感应器检测到配向膜被紫外光照射,则在执行步骤s42的同时,移动机构控制除尘机构移动,使得输气管道的一端沿平行于配向膜的方向移动。

其中,除尘机构的在输气管道的一端可以设置控制元件,该控制元件与光感应器连接,根据光感应器的检测结果,控制元件控制输气管道的导通和截止。具体地,当光感应器检测到配向膜未被紫外光照射时,控制元件可以控制输气管道截止,移动机构控制除尘机构不移动,除尘机构停止吸入光配向杂质;当光感应器检测到配向膜被紫外光照射时,控制元件控制输气管道导通,除尘机构吸入光配向杂质,移动机构控制除尘机构移动。

本实施例的方法可以基于上述去除光配向杂质的组件20、30,因此具有与其相同的有益效果。

以上所述仅为本发明的实施例,并非因此限制本发明的专利范围,凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,例如各实施例之间技术特征的相互结合,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本发明的专利保护范围内。

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