技术总结
本实用新型公开了一种抗ITO腐蚀的LCD走线结构，其中走线结构，为在IC Bonding的区域中，相交的两条ITO线的夹角α为180±30度；相交的两条ITO线夹角为圆弧夹角，该圆弧夹角的半径R大于1mm；相邻的两条ITO线之间的电场强度E小于0.25×10‑6V/m。本实用新型能够降低ITO腐蚀的比例，降低成本；提高产品可靠性，极大的降低了客户使用过程中发生失效的几率。
技术研发人员：黄华达
受保护的技术使用者：东莞通华液晶有限公司
技术研发日：2018.09.12
技术公布日：2019.05.03