显示装置的制作方法

本申请要求2018年3月12日在韩国知识产权局(KIPO)提交的韩国专利申请第10-2018-0028461号的优先权，其公开的内容通过引用整体并入本文。

技术领域

本公开的实施例涉及一种显示装置，并且更具体地，涉及一种能够容易地检查大量信号线的显示装置以及一种检查该显示装置的大量信号线的方法。

背景技术：

显示装置包括多条栅极线和多条数据线。

在显示装置的制造过程期间，执行对诸如数据线的短路或断开的缺陷的检查。

高分辨率显示装置，特别是具有大表面区域的高分辨率显示装置包括大量数据线，并且因此相邻数据线之间的间隔应该大大地变窄。这也使连接至这些数据线的端部的检查线的间隔变窄。此外，保持检查线的间隔比数据线的间隔窄以减少检查时间。

相邻的检查线之间的间隔应该至少比检查设备的接触这些检查线的输出端子的宽度宽，以便检查设备的输出端子不同时接触相邻的检查线。然而，因为上述高分辨率显示装置包括很大量数据线，所以连接至这些数据线的检查线的间隔可以变得比检查设备的输出端子的宽度窄。在这种情况下，对数据线的缺陷检测可能提供不准确的结果。

应该理解，本公开的该背景意在提供用于理解技术以及本文照此所公开的内容的有用背景技术，背景技术可以包括不为本文所公开的主题的对应有效提交日期之前由相关领域技术人员已知或理解的一部分的想法、构思或认识。

技术实现要素：

本公开的实施例针对一种能够容易地检查大量信号线的显示装置以及一种检查显示装置的大量信号线的方法。

根据实施例，一种显示装置包括：基板；布置在基板的显示区域中的第一信号线；以及布置在基板的非显示区域中并且连接至第一信号线的第一检查线。第一检查线包括：连接至第一信号线的第一线；布置在与第一线所布置的层基本上相同的层上的第二线，第二线与第一线间隔开；以及布置在与第一线和第二线所布置的层不同的层上的第三线，绝缘层插入在第三线与第一线和第二线之间，第三线至少与第一线的一部分以及第二线的一部分重叠。

基板的一个侧边缘可以面对第二线的端部。

第三线可以通过绝缘层的第一接触孔连接至第一线。

第三线可以通过绝缘层的第二接触孔连接至第二线。

第三线可以由绝缘层围绕。

第三线可以包括：与第一线重叠的第一焊盘部分；与第二线重叠的第二焊盘部分；以及布置在第一焊盘部分和第二焊盘部分之间而不与第一线和第二线重叠的线部分。

第一焊盘部分和第二焊盘部分中的每一个可以具有比第三线的线部分的宽度大的宽度。

第一线可以包括：连接至第一信号线的线部分；以及连接至第一线的线部分并且至少与第三线的一部分重叠的焊盘部分。

第一线的焊盘部分可以具有比第一线的线部分的宽度大的宽度。

第二线可以包括：面对第一线的焊盘部分并且至少与第三线的一部分重叠的焊盘部分；以及连接至第二线的焊盘部分的线部分。

第二线的焊盘部分可以具有比第二线的线部分的宽度大的宽度。

显示装置可以进一步包括：布置在显示区域中与第一信号线相邻的第二信号线；以及连接至第二信号线并且布置在非显示区域中与第一检查线相邻的第二检查线。

基板的一个侧边缘可以面对第二线的端部和第二检查线的端部，并且第二线的端部与该一个侧边缘之间的第一距离可以不同于第二检查线的端部与该一个侧边缘之间的第二距离。

第二距离可以比第一距离长。

根据实施例，一种显示装置包括：基板，包括像素布置在其中的显示区域、与显示区域相邻布置的非显示区域以及在非显示区域中沿着第一方向设置的第一检查区域至第n检查区域(n是大于1的自然数)；以及布置在非显示区域中并且沿着与第一方向交叉的第二方向延伸的第一检查线至第n检查线，第一检查线至第n检查线分别连接至显示区域的第一信号线至第n信号线。第一检查线朝向基板的边缘延伸并且与第一检查区域至第n检查区域重叠，第p检查线(p是大于1并且小于或等于n的自然数)朝向基板的边缘延伸并且与第一检查区域至第(n-p+1)检查区域重叠，并且在第q检查区域(q是小于n的自然数)中，第一检查线至第n检查线之中彼此相邻的两条检查线相对于插入在这两条检查线之间的绝缘层而布置在彼此不同的层上。

第q检查区域中的第(n-q)检查线和第(n-q+1)检查线可以相对于绝缘层而布置在彼此不同的层上。

第q检查区域中的第一检查线至第(n-q)检查线可以相对于绝缘层而布置在基本上相同的层上。

第q检查区域可以包括在第(n-q+1)检查线的最低焊盘部分和第(n-q)检查线的最低焊盘部分之间的区域。

第q检查区域可以包括在分别穿过第(n-q+1)检查线的最低焊盘部分和第(n-q)检查线的最低焊盘部分的面对表面的两条假想平行线之间的区域。

第n检查区域可以包括在第一检查线的最低焊盘部分和基板的边缘之间的区域。

基板的边缘与第一检查线的相应第一端部至第n检查线的相应第n端部之间的距离可以彼此不同。

基板的边缘和第p检查线的端部之间的距离可以比基板的边缘和第(p-1)检查线的端部之间的距离长。

第一检查线可以包括：布置在与第n检查线所布置的层基本上相同的层上的第一线，第一线连接至第一信号线；布置在与第n检查线所布置的层基本上相同的层上的第二线，第二线与第一线间隔开；以及布置在与第n检查线所布置的层不同的层上的第三线，绝缘层插入在第三线与第一线和第二线之间，第三线至少与第一线的一部分和第二线的一部分重叠。

第三线可以包括：与第一线重叠的第一焊盘部分；与第二线重叠的第二焊盘部分；以及布置在第一焊盘部分和第二焊盘部分之间而不与第一线和第二线重叠的线部分。

根据实施例，一种检查显示装置的信号线的方法包括：制备显示装置，该显示装置包括：基板，包括像素布置在其中的显示区域、与显示区域相邻布置的非显示区域以及设置在非显示区域中并且沿着第一方向延伸的第一检查区域至第n检查区域(n是大于1的自然数)；以及布置在非显示区域中并且沿着与第一方向交叉的第二方向延伸的第一检查线至第n检查线。第一检查线至第n检查线分别连接至显示区域的第一信号线至第n信号线。第一检查线朝向基板的边缘延伸并且与第一检查区域至第n检查区域重叠，第p检查线(p是大于1并且小于或等于n的自然数)朝向基板的边缘延伸并且与第一检查区域至第(n-p+1)检查区域重叠，并且在第q检查区域(q是小于n的自然数)中，第一检查线至第n检查线之中彼此相邻的两条检查线相对于插入在这两条检查线之间的绝缘层而布置在彼此不同的层上。方法进一步包括：顺序地将检查信号施加至第q检查区域中的暴露检查线；以及顺序地将检查信号施加至第(q+1)检查区域中的暴露检查线。

顺序地将检查信号施加至第q检查区域中的暴露检查线可以包括：在第q检查区域中布置用于提供检查信号的检查设备；以及沿着第二方向移动检查设备，允许检查设备的输出端子顺序地接触第q检查区域中的暴露检查线。

顺序地将检查信号施加至第(q+1)检查区域中的暴露检查线可以包括：在第(q+1)检查区域中布置用于提供检查信号的检查设备；以及沿着第二方向移动检查设备，允许检查设备的输出端子顺序地接触第(q+1)检查区域中的暴露检查线。

前述仅是说明性的并且不意在以任何方式限制。除了以上所述的说明性的方面、实施例和特征之外，其他方面、实施例和特征将通过参照附图和以下详细说明书而变得明显。

附图说明

将通过参照附图详细描述本公开的实施例而使得本公开的更完整理解变得更加明显，其中：

图1是图示根据本公开的实施例的显示装置的平面图；

图2是图示图1的显示区域的一部分的视图；

图3是对图1的部分A进行放大的视图；

图4是沿着图3的线I-I’截取的剖视图；

图5是沿着图3的线II-II’截取的剖视图；

图6是沿着图3的线III-III’截取的剖视图；

图7是用于解释根据本公开的实施例的检查显示装置的偶数编号的数据线的方法的视图；

图8是沿着图7的线I-I’截取的剖视图；

图9是对图7的部分A进行放大的视图；

图10是沿着图9的线I-I’截取的剖视图；

图11是用于解释根据本公开的实施例的检查显示装置的奇数编号的数据线的方法的视图；

图12是沿着图11的线I-I’截取的剖视图；

图13是对图11的部分A进行放大的视图；

图14是沿着图13的线I-I’截取的剖视图；

图15是示出从正常数据线检测到的输出信号的示意图；

图16是图示数据线中的一条数据线的断开缺陷的视图；

图17是图示从图16的数据线检测到的输出信号的示意图；

图18是图示由于相邻数据线之间的接触而引起的短路缺陷的视图；

图19是图示从图18的数据线检测到的输出信号的示意图；

图20是图示由于数据线和栅极线之间的接触而引起的短路缺陷的视图；

图21是示出从图20的数据线检测到的输出信号的示意图；

图22是根据本公开的另一实施例对图1的部分A进行放大的视图；

图23是沿着图22的线I-I’截取的剖视图；

图24是图示根据本公开的另一实施例的检查线的平面图；

图25是图示根据本公开的另一实施例的检查线的平面图；

图26是图示根据本公开的另一实施例的检查线的平面图；

图27是图示根据本公开的实施例的显示装置的显示区域的另一结构的视图；

图28是图示根据本公开的实施例的显示装置的显示区域的另一结构的视图；

图29是图示图28的部分A的详细视图；并且

图30是沿着图29的线I-I’截取的剖视图。

具体实施方式

下文中将参照附图更完全地描述实施例。尽管本公开可以以各种方式修改并且具有数个实施例，但是将在说明书中主要描述附图中所图示的实施例。然而，本公开的范围不限于实施例并且应该理解为包括在本公开的精神和范围中所包括的所有改变、等价物和替换。

在附图中，为了多个层和区域的清楚和方便的描述，以放大的方式图示多个层和区域的厚度。当层、区域或板被称作在另一层、区域或板“上”时，其可以直接在该另一层、区域或板上，或者在它们之间可以存在一个或多个中间的层、区域或板。相反，当层、区域或板被称作“直接”在另一层、区域或板“上”时，在它们之间可以不存在中间的层、区域或板。进一步，当层、区域或板被称作在另一层、区域或板“下”时，其可以直接在该另一层、区域或板下，或者在它们之间可以存在一个或多个中间的层、区域或板。相反，当层、区域或板被称作“直接”在另一层、区域或板“下”时，在它们之间可以不存在中间的层、区域或板。

为了描述的方便，在本文中可以使用空间相对术语“在…下”、“在…之下”、“在…下方”、“在…之上”、“在…上方”等，以如图中所图示描述一个元件或部件与另一元件或部件之间的空间关系。应该理解，除了附图中所描绘的定向之外，空间相对术语意在包括在使用或操作中的装置的不同定向。例如，在附图中所图示的装置翻转的情况下，位于另一装置“下”或“之下”的装置可以放置在另一装置“之上”。因此，说明性术语“在…下”可以包括下方和上方位置。装置也可以在不同方向上定向，并且因此可以取决于定向而不同地解释空间相对术语。

贯穿说明书，当元件被称作“连接”至另一元件时，该元件“直接连接”至该另一元件或者“电连接”至该另一元件，在它们之间具有一个或多个中间的元件。应该进一步理解，当在本说明书中使用时，术语“包括”和/或“包含”规定了所述特征、整数、步骤、操作、元件和/或构成元件的存在，但是不排除一个或多个特征、整数、步骤、操作、元件、构成元件和/或其群组的存在或添加。

应该理解，尽管在本文中可以使用术语“第一”、“第二”、“第三”等以描述各个元件，但是这些元件不应受限于这些术语。相反，这些术语仅用于区分一个元件与另一元件。因此，“第一元件”可以称作“第二元件”或“第三元件”，并且“第二元件”和“第三元件”可以同样称呼而不脱离本文的教导。

考虑所讨论的测量和与特定量的测量相关联的误差(即测量系统的限制)，如本文所使用的“大约”或“近似”包括所述数值并且意味着在如由本领域普通技术人员所确定的特定值的可接受偏差范围内。例如，“大约”可以意味着在所述数值的一个或多个标准偏差内或者在所述数值的±30％、20％、10％、5％内。

除非另外限定，本文所使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)具有与本公开所属领域的技术人员通常所理解的含义相同的含义。应该进一步理解，诸如在通常所使用的词典中限定的那些术语应该解释为具有与相关领域上下文中它们的含义一致的含义，并且将不以理想或过度正式的形式解释，除非在本说明书中清楚地限定。

可以不提供与说明书不相关联的部分中的一些，以便于具体地描述本公开的实施例，并且贯穿说明书，相同的附图标记指的是相同的元件。

下文中，将参照图1至图30详细描述一种显示装置以及一种检查显示装置的信号线的方法。

图1是图示根据本公开的实施例的显示装置的平面图，并且图2是图示图1的显示区域的一部分的视图。

如图1中所图示，根据本公开的实施例的显示装置包括基板301、多条栅极线GL1至GLi、多条数据线DL1至DLj、栅极驱动器236、数据驱动器136以及电路板168。

如图1和图2中所图示，栅极线GL1至GLi以及数据线DL1至DLj位于基板301的显示区域AR1中。数据线DL1至DLj与栅极线GL1至GLi交叉。

布置在显示区域AR1中的栅极线GL1至GLi延伸至非显示区域AR2并且连接至栅极驱动器236。

栅极驱动器236布置在基板301的非显示区域AR2中。栅极驱动器236生成栅极信号并且将栅极信号顺序地施加至多条栅极线GL1至GLi。

布置在显示区域AR1中的数据线DL1至DLj延伸至非显示区域AR2并且连接至数据驱动器136。例如，数据线DL1至DLj经由位于基板301的非显示区域AR2中的扇出线444连接至数据驱动器136的输出端子中的对应一个。

数据驱动器136包括多个数据驱动集成电路(“IC”)147。数据驱动IC 147从时序控制器(未图示)接收数字图像数据信号和数据控制信号。

数据驱动IC 147根据数据控制信号对数字图像数据信号进行采样，锁存与每个水平时段中的一条水平线相对应的采样的数字图像数据信号，并且将锁存的数字图像数据信号施加至数据线DL1至DLj。例如，数据驱动IC 147使用从电源(未图示)输入的伽马电压将从时序控制器接收的数字图像数据信号转换为模拟图像数据信号，并且将模拟图像数据信号施加至数据线DL1至DLj。

数据驱动IC 147安装在数据载体146的对应一个上。数据载体146连接在电路板168和基板301之间。例如，数据载体146中的每一个可以电连接在电路板168和基板301的非显示区域AR2之间。

上述时序控制器和电源可以位于电路板168上。数据载体146包括用于将来自时序控制器和电源的各种信号传输至数据驱动IC 147的输入线，以及用于将从数据驱动IC 147输出的图像数据信号传输至数据线DL1至DLj中的对应数据线的输出线。在实施例中，至少一个数据载体146可以进一步包括用于将来自时序控制器和电源的各种信号传输至栅极驱动器236的辅助线(未图示)。辅助线连接至位于基板301处的连接线。连接线将辅助线和栅极驱动器236彼此连接。连接线可以以玻璃上线(line-on-glass)的方式形成在基板301的非显示区域AR2中。

如图2中所图示，多个像素R、G和B布置在基板301的显示区域AR1中。

像素R、G和B以矩阵形式设置。像素R、G和B包括用于显示红色图像的红色像素R、用于显示绿色图像的绿色像素G以及用于显示蓝色图像的蓝色像素B。在该实施例中，在水平方向上彼此相邻设置的红色像素R、绿色像素G和蓝色像素B可以形成用于显示一个单位图像的单位像素。

在示例性实施例中，沿着第n(n是选自1至i的自然数)水平线设置的j个像素(下文中，第n水平线像素)分别单独连接至第一数据线DL1至第j数据线DLj。此外，第n水平线像素共同连接至第n栅极线。因此，第n水平线像素接收第n栅极信号作为公共信号。也就是说，在相同水平线中的所有j个像素接收相同的栅极信号，而在不同水平线中的像素分别接收不同的栅极信号。例如，在第一水平线HL1中的红色像素R、绿色像素G和蓝色像素B接收第一栅极信号，而在第二水平线HL2中的红色像素R、绿色像素G和蓝色像素B接收具有与第一栅极信号的输出时序不同的输出时序的第二栅极信号。

参照图1，数据线DL1至DLj连接至检查线IL1至ILj中的对应一条。例如，第一数据线DL1至第j数据线DLj可以分别连接至第一检查线IL1至第j检查线ILj。

检查线IL1至ILj布置在基板301的非显示区域AR2中。在本示例中，基板301具有四个边缘3a、3b、3c和3d。在四个边缘3a、3b、3c和3d之中，与数据驱动器136重叠的边缘被定义为基板301的上边缘3a，并且与上边缘3a相对的边缘被定义为基板301的下边缘3b。检查线IL1至ILj布置在下边缘3b和显示区域AR1之间。

检查线IL1至ILj沿着第一方向DR1布置在非显示区域AR2中。

图3是对图1的部分A进行放大的视图，图4是沿着图3的线I-I’截取的剖视图，图5是沿着图3的线II-II’截取的剖视图，并且图6是沿着图3的线III-III’截取的剖视图。

显示装置包括沿着第一方向DR1交替设置的第一检查线IL1和第二检查线IL2。

第一检查线IL1和第二检查线IL2连接至彼此不同的数据线。例如，第一检查线IL1可以连接至奇数编号的数据线(例如数据线DL1、DL3、DL5等)，并且第二检查线IL2可以连接至偶数编号的数据线(例如数据线DL2、DL4、DL6等)。换言之，在多条检查线之中，第一检查线IL1是分别连接至奇数编号的数据线的奇数编号的检查线，并且第二检查线IL2是分别连接至偶数编号的数据线的偶数编号的检查线。

第一检查线IL1的端部E1和第二检查线IL2的端部E2中的每一个面对基板301的下边缘3b。从基板301的下边缘3b至第一检查线IL1的端部E1的距离D1(下文中，“第一距离”)不同于从基板301的下边缘3b至第二检查线IL2的端部E2的距离D2(下文中，“第二距离”)。

例如，第二距离D2比第一距离D1长。因此，在部分A中，第一检查线IL1的长度LL1比第二检查线IL2的长度LL2长。上述第一检查线IL1的端部E1与下面所述的第二线L2的端部相对应。

第一检查线IL1包括第一线L1、第二线L2和第三线L3。

第一线L1连接至奇数编号的数据线。根据一个实施例，第一线Ll和奇数编号的数据线整体形成为单一结构。

如图4和图5中所图示，第一线L1和第二检查线IL2位于基本上相同的层上。例如，第一线L1和第二检查线IL2位于栅绝缘层311上。

参照图3，第一线L1可以包括线部分L1-A和焊盘部分L1-B。第一线L1的线部分L1-A连接至奇数编号的数据线，并且第一线L1的焊盘部分L1-B连接至第一线L1的线部分L1-A。根据一个实施例，第一线L1的线部分L1-A和第一线L1的焊盘部分L1-B整体形成为单一结构。

第一线L1的焊盘部分L1-B具有比第一线L1的线部分L1-A的宽度大的宽度。第一线L1的焊盘部分L1-B的宽度和第一线L1的线部分L1-A的宽度在第一方向DR1上测量。

如图4和图6中所图示，第二线L2位于与第二检查线IL2位于其上的层基本上相同的层上。因此，第一线L1、第二线L2和第二检查线IL2位于基本上相同的层上。例如，第一线L1、第二线L2和第二检查线IL2位于栅绝缘层311上。此外，数据线DL1至DLj也位于与第二检查线IL2位于其上的层基本上相同的层上。在此情况下，第一线L1、第二线L2、第二检查线IL2以及数据线DL1至DLj位于栅绝缘层311上。第一线L1、第二线L2、第二检查线IL2以及数据线DL1至DLj可以接触栅绝缘层311。

第一线L1、第二线L2、第二检查线IL2以及数据线DL1至DLj可以包括基本上相同的材料。

如图3和图4中所图示，第二线L2以预定距离与第一线L1间隔开。第二线L2和第一线L1彼此不连接。换言之，第二线L2与第一线L1物理地间隔开。

如图3中所图示，第二线L2可以包括线部分L2-A和焊盘部分LA2-B。第二线L2的焊盘部分L2-B连接至第二线L2的线部分L2-A。根据一个实施例，第二线L2的线部分L2-A和第二线L2的焊盘部分L2-B整体形成为单一结构。第二线L2的焊盘部分L2-B面对第一线L1的焊盘部分L1-B。

第二线L2的焊盘部分L2-B具有比第二线L2的线部分L2-A的宽度大的宽度。第二线L2的焊盘部分L2-B的宽度和线部分L2-A的宽度在第一方向DR1上测量。

第三线L3位于与第二检查线IL2位于其上的层不同的层上。换言之，第三线L3位于与第一线L1、第二线L2、第二检查线IL2以及数据线DL1至DLj位于其上的层不同的层上。例如，如图4中所图示，第三线L3位于基板301上。在此情况下，第三线L3位于基板301和栅绝缘层311之间。在剖视图中，第三线L3的上表面和侧面可以由栅绝缘层311完全覆盖，以与第一线L1和第二线L2间隔开。换言之，第三线L3可以由栅绝缘层311和基板301完全围绕。

第三线L3和栅极线GL1至GLi位于基本上相同的层上。换言之，第三线L3和栅极线GL1至GLi位于基板301和栅绝缘层311之间。

第三线L3和栅极线GL1至GLi可以包括基本上相同的材料。

如图3和图4中所图示，第三线L3的一部分与第一线L1的一部分以及第二线L2的一部分重叠。

参照图3，第三线L3包括第一焊盘部分L3-B1、第二焊盘部分L3-B2和线部分L3-A。根据一个实施例，第三线L3的第一焊盘部分L3-B1、第二焊盘部分L3-B2和线部分L3-A整体形成为单一结构。

在剖视图中，第三线L3的第一焊盘部分L3-B1与第一线L1的焊盘部分L1-B至少部分重叠。从平面上看，第三线L3的第一焊盘部分L3-B1和第一线L1的焊盘部分L1-B可以具有基本上等同的形状和基本上相等的面积。在该实施例中，第三线L3的整个第一焊盘部分L3-B1和第一线L1的整个焊盘部分L1-B可以彼此完全重叠。

参照图4，第一电容器CP1形成在第三线L3和第一线L1之间的重叠区域中。具体地，第一电容器CP1形成在第三线L3的第一焊盘部分L3-B1和第一线L1的焊盘部分L1-B之间。

第三线L3的第一焊盘部分L3-B1具有比第三线L3的线部分L3-A的宽度大的宽度。第三线L3的第一焊盘部分L3-B1的宽度和第三线L3的线部分L3-A的宽度在第一方向DR1上测量。

第三线L3的第二焊盘部分L3-B2与第二线L2的焊盘部分L2-B至少部分重叠。从平面上看，第三线L3的第二焊盘部分L3-B2和第二线L2的焊盘部分L2-B可以具有基本上等同的形状和基本上相等的面积。在该实施例中，第三线L3的整个第二焊盘部分L3-B2和第二线L2的整个焊盘部分L2-B可以彼此完全重叠。

第二电容器CP2形成在第三线L3和第二线L2之间的重叠区域中。具体地，第二电容器CP2形成在第三线L3的第二焊盘部分L3-B和第二线L2的焊盘部分L2-B之间。

第三线L3的第二焊盘部分L3-B2具有比第三线L3的线部分L3-A的宽度大的宽度。在第一方向DR1上，以与第三线L3的第一焊盘部分L3-B1类似的方式测量第三线L3的第二焊盘部分L3-B2的宽度。第二焊盘部分L3-B2的宽度可以基本上等于第一焊盘部分L3-B1的宽度。

第三线L3的线部分L3-A位于第三线L3的第一焊盘部分L3-B1和第二焊盘部分L3-B2之间。在如图4中所图示的剖视图中，第三线L3的线部分L3-A可以不与第一线L1和第二线L2重叠。

根据一个实施例，第二检查线IL2和连接至第二检查线IL2的偶数编号的数据线整体形成为单一结构。如图5和图6中所图示，第二检查线IL2位于栅绝缘层311上。第二检查线IL2可以接触栅绝缘层311。

参照图3，第二检查线IL2包括第一线部分IL2-A1、第二线部分IL2-A2以及焊盘部分IL2-B。根据一个实施例，第一线部分IL2-A1、第二线部分IL2-A2以及焊盘部分IL2-B整体形成为单一结构。

第二检查线IL2的第一线部分IL2-A1连接至偶数编号的数据线。根据一个实施例，第二检查线IL2的第一线部分IL2-A1和偶数编号的数据线整体形成为单一结构。

第二检查线IL2的焊盘部分IL2-B位于第一线部分IL2-A1和第二线部分IL2-A2之间。第二检查线IL2的焊盘部分IL2-B具有比第二检查线IL2的第一线部分IL2-A1的宽度大的宽度。第二检查线IL2的焊盘部分IL2-B的宽度和第一线部分IL2-A1的宽度在第一方向DR1上测量。

第二检查线IL2的第二线部分IL2-A2连接至第二检查线IL2的焊盘部分IL2-B。第二检查线IL2的焊盘部分IL2-B具有比第二检查线IL2的第二线部分IL2-A2的宽度大的宽度。在第一方向DR1上，以与第一线部分IL2-A1类似的方式测量第二线部分IL2-A2的宽度。

第二检查线IL2的焊盘部分IL2-B比第二线L2的焊盘部分L2-B更靠近第一线L1的焊盘部分L1-B。换言之，从第二检查线IL2的焊盘部分IL2-B的中心点至第一线L1的焊盘部分L1-B的中心点的距离小于从第二线L2的焊盘部分L2-B的中心点至第一线L1的焊盘部分L1-B的中心点的距离。

参照图3，配对第一检查线IL1和第二检查线IL2，并且可以在第一方向DR1上重复设置包括第一检查线IL1和第二检查线IL2的多个配对。图3示出其中在第一方向DR1上设置三个配对的一个示例。

基板301的非显示区域AR2包括第一检查区域IA1和第二检查区域IA2。第一检查区域IA1和第二检查区域IA2位于基板301的显示区域AR1和基板301的下边缘3b之间。

第二检查区域IA2比第一检查区域IA1更远离显示区域AR1。

第一检查区域IA1包括在第一检查线IL1的焊盘部分L2-B(下文也称作最低焊盘部分L2-B)和第二检查线IL2的焊盘部分IL2-B(下文也称作最低焊盘部分IL2-B)之间的区域。具体地，当第一检查线IL1的焊盘部分L2-B和第二检查线IL2的焊盘部分IL2-B的面对表面分别被定义为第一表面和第二表面时，在平行于第一表面并且穿过第一表面的第一假想平行线11和平行于第二表面并且穿过第二表面的第二假想平行线22之间的区域可以被定义为前述第一检查区域IA1。

在实施例中，第一假想平行线11可以被定义为穿过在第一方向DR1上彼此相邻的第一检查线IL1的焊盘部分L2-B的每个第一表面的线，并且第二假想平行线22可以被定义为穿过在第一方向DR1上彼此相邻的第二检查线IL2的焊盘部分IL2-B的每个第二表面的线。

第二检查区域IA2是两个检查区域中更靠近基板301的下边缘3b的一个检查区域。

第二检查区域IA2包括在第一检查线IL1的焊盘部分L2-B和基板301的下边缘3b之间的区域。具体地，当第一检查线IL1的焊盘部分L2-B的面对下边缘3b的表面被定义为第三表面时，下边缘3b和平行于第三表面并且穿过第三表面的第三假想平行线33之间的区域可以被定义为前述第二检查区域IA2。

在实施例中，第三假想平行线33可以被定义为穿过在第一方向DR1上彼此相邻的第一检查线IL1的焊盘部分L2-B的每个第三表面的线。

第一检查线IL1的最低焊盘部分与第二线L2的焊盘部分L2-B相对应，并且第二检查线IL2的最低焊盘部分与第二检查线IL2的焊盘部分IL2-B相对应。也就是说，当一条检查线包括多个焊盘部分时，检查线的最低焊盘部分指的是在多个焊盘部分之中最靠近基板301的下边缘3b的焊盘部分。

第一检查线IL1朝向基板301的下边缘3b延伸，并且与第一检查区域IA1和第二检查区域IA2重叠。

第二检查线IL2朝向基板301的下边缘3b延伸，并且与第一检查区域IA1重叠。然而，第二检查线IL2不与第二检查区域IA2重叠。从基板301的下边缘3b至第二检查线IL2的端部E2的距离D2比从基板301的下边缘3b至第一检查线IL1的端部E1的距离D1长。

在第一检查区域IA1中彼此相邻设置的第一检查线IL1和第二检查线IL2相对于插入在第一检查线IL1和第二检查线IL2之间的栅绝缘层311而位于不同的层上。例如，在第一检查区域IA1中，第一检查线IL1位于栅绝缘层311下，并且第二检查线IL2位于栅绝缘层311之上。因此，即使第一检查线IL1在第一检查区域IA1中位于相邻的第二检查线IL2之间，也可以因为第一检查线IL1被栅绝缘层311覆盖而有效地增大在第一检查区域IA1中相邻的暴露检查线(即相邻的第二检查线IL2)之间的距离。

仅第一检查线IL1存在于第二检查区域IA2中。也就是说，第二检查线IL2不存在于第二检查区域IA2中。因此，可以有效地增大在第二检查区域IA2中相邻的检查线(即相邻的第一检查线IL1)之间的距离。

图7是用于解释根据本公开的实施例的检查显示装置的偶数编号的数据线的方法的视图，图8是沿着图7的线I-I’截取的剖视图，图9是对图7的部分A进行放大的视图，并且图10是沿着图9的线I-I’截取的剖视图。

首先，制备其上设置了栅极线和数据线DL1至DLj的基板301。在实施例中，在图7和图8中，示出了第一数据线DL1至第六数据线DL6，但是为了方便解释，未示出栅极线。

在用于数据线DL1至DLj的检查过程中，数据驱动器136不连接至基板301，并且也不提供扇出线444。因此，所有数据线DL1至DLj保持在浮置状态。

如图7和图8中所图示，根据本公开的实施例的检查装置包括检查设备700和检测器800。

检查设备700提供检查信号。检查信号可以例如是具有预定时段的AC信号。

检查设备700位于基板301的第一检查区域IA1上，并且在第一检查区域IA1中沿着由第一箭头911所指示的方向移动。例如，检查设备700在第一检查区域IA1中沿着第一箭头911的方向从基板301的左边缘3c移动至基板301的右边缘3d。

图7、图9和图10图示检查的方法，其中沿着第一箭头911的方向移动的检查设备700位于第二检查线IL2中的一条上。

在第一检查区域IA1中，第一检查线IL1和第二检查线IL2沿着第一方向DR1交替设置。具体地，在第一检查区域IA1中，第一检查线IL1的线部分(即第三线L3的线部分L3-A)和第二检查线IL2的第二线部分IL2-A2沿着第一方向DR1交替设置。

如图10中所图示，第一检查线IL1的在第一检查区域IA1中的部分位于基板301和栅绝缘层311之间，并且第二检查线IL2的第一检查区域IA1中的部分位于栅绝缘层311上。因此，当第一检查区域IA1中的第一检查线IL1由栅绝缘层311保护时，第一检查区域IA1中的第二检查线IL2被暴露。

如图10中所图示，当检查设备700沿着第一检查区域IA1移动时，检查设备700的输出端子777仅以选择性方式接触第二检查线IL2。也就是说，在第一检查区域IA1中，检查设备700的输出端子777不接触第一检查线IL1。因此，当检查设备700在第一检查区域IA1中从基板301的左边缘3c移动至基板301的右边缘3d时，由检查设备700所提供的检查信号选择性地仅施加至第二检查线IL2。在该实施例中，第一检查区域IA1中的第二检查线IL2顺序地逐一接收检查信号。因为在第一检查区域IA1中相邻的第二检查线IL2之间的间隔d11充分大于检查设备700的输出端子777的宽度d22，所以在检查区域IA1中，输出端子777不一次同时接触两条或更多条相邻的第二检查线IL2。换言之，检查设备700的输出端子777一次仅接触第二检查线IL2中的一条。

在图7中所图示的实施例中，检测器800沿着数据线DL1至DLj的与基板301的上边缘3a相邻的端部移动。例如，检测器800沿着由图7中的第二箭头912所指示的方向移动。

图7中所图示的实施例示出沿着第二箭头912的方向移动的检测器800定位在数据线DL2中的一条的端部上，而沿着第一箭头911的方向移动的检查设备700定位在第二检查线IL2的从数据线DL2延伸的端部E2上。

参照图7，检测器800沿着第二箭头912的方向移动，同时以预定距离与数据线DL2间隔开。检测电容器CP形成在检测器800和数据线DL2之间。

当检查设备700接触第二检查线IL2中的一条时，检测器800定位在数据线DL2的连接至第二检查线IL2中的该一条的端部上。换言之，检查设备700和检测器800分别对应于彼此连接的第二检查线IL2和数据线DL2定位。

如图8中所图示，由检查设备700提供的检查信号通过检查设备700的输出端子777施加至第二检查线IL2。具体地，检查信号施加至第二检查线IL2的第二线部分IL2-A2。

施加至第二检查线IL2的检查信号通过连接至第二检查线IL2的数据线DL2传输至检测器800。检测器800分析所检测的检查信号以确定数据线DL2是否有缺陷。

当检查设备700在第一检查区域IA1中从基板301的左边缘3c移动至基板301的右边缘3d时，检查信号顺序地施加至第一检查区域IA1中的全部第二检查线IL2。因此，所有偶数编号的数据线DL2、DL4、…、和DLj(j是偶数)顺序地接收检查信号。

输出信号从检查信号施加的数据线生成并且传输至检测器800，并且该输出信号可以取决于对应数据线的电阻和电容而具有不同的值。

检测器800从偶数编号的数据线DL2、DL4和DLj(j是偶数)顺序地接收输出信号，并且基于输出信号确定在偶数编号的数据线DL2、DL4、…、和DLj中的每一条中是否存在缺陷。

下文中，对奇数编号的数据线DL1、DL3、…、DLj-1(j是偶数)执行缺陷检测，这将参照图11至图14详细描述。

图11是用于解释根据本公开的实施例的检查显示装置的奇数编号的数据线的方法的视图，图12是沿着图11的线I-I’截取的剖视图，图13是对图11的部分A进行放大的视图，并且图14是沿着图13的线I-I’截取的剖视图。

检查设备700位于基板301的第二检查区域IA2上，并且在第二检查区域IA2中沿着由第三箭头913所指示的方向移动。例如，检查设备700在第二检查区域IA2中沿着第三箭头913的方向从基板301的左边缘3c移动至基板301的右边缘3d。

图11、图13和图14图示检查的方法，其中沿着第三箭头913的方向移动的检查设备700位于第一检查线IL1中的一条上。

在第二检查区域IA2中，第一检查线IL1沿着第一方向DR1交替设置。具体地，在第二检查区域IA2中，第一检查线IL1的线部分(即第二线L2的线部分L2-A)沿着第一方向DR1交替布置。

如图14中所图示，第一检查线IL1的在第二检查区域IA2中的部分位于栅绝缘层311上。因此，第二检查区域IA2中的第一检查线IL1被暴露。

如图14中所图示，当检查设备700沿着第二检查区域IA2移动时，检查设备700的输出端子777接触第一检查线IL1。因此，当检查设备700在第二检查区域IA2中从基板301的左边缘3c移动至基板301的右边缘3d时，由检查设备700所提供的检查信号施加至第一检查线IL1。在该实施例中，第二检查区域IA2中的第一检查线IL1顺序地逐一接收检查信号。因为在第二检查区域IA2中相邻的第一检查线IL1之间的间隔d33充分大于检查设备700的输出端子777的宽度d22，所以在第二检查区域IA2中，输出端子777不一次同时接触两条或更多条相邻的第一检查线IL1。换言之，检查设备700的输出端子一次仅接触第一检查线IL1中的一条。

在图11中所图示的实施例中，检测器800沿着数据线DL1至DLj与基板301的上边缘3a相邻的端部移动。例如，检测器800沿着由图11中的第二箭头912所指示的方向移动。

图11中所图示的实施例示出沿着第二箭头912的方向移动的检测器800定位在数据线DL1中的一条的端部上，而沿着第三箭头913的方向移动的检查设备700定位在第一检查线IL1的从数据线DL1延伸的端部E1上。

参照图12，检测器800沿着第二箭头912的方向移动，同时以预定距离与数据线DL1间隔开。检测电容器CP形成在检测器800和数据线DL1之间。

当检查设备700接触第一检查线IL1中的一条时，检测器800定位在数据线DL1的连接至第一检查线IL1中的该一条的端部上。换言之，检查设备700和检测器800分别对应于彼此连接的第一检查线IL1和数据线DL1定位。

如图12中所图示，由检查设备700提供的检查信号通过检查设备700的输出端子777施加至第一检查线IL1。具体地，检查信号施加至第一检查线IL1的第二线L2、通过第二电容器CP2传输至第三线L3、并且通过第一电容器CP1传输至第一线L1。

施加至第一检查线IL1的检查信号通过连接至第一检查线IL1的数据线DL1传输至检测器800。检测器800分析所检测的检查信号以确定数据线DL1是否有缺陷。

当检查设备700在第二检查区域IA2中从基板301的左边缘3c移动至基板301的右边缘3d时，检查信号顺序地施加至第二检查区域IA2中的全部第一检查线IL1。因此，所有奇数编号的数据线DL1、DL3、…、和DLj-1(j是偶数)顺序地接收检查信号。

输出信号从检查信号施加的数据线生成并且传输至检测器800，并且该输出信号可以取决于对应数据线的电阻和电容而具有不同的值。

检测器800从奇数编号的数据线DL1、DL3、…、和DLj-1(j是偶数)顺序地接收输出信号，并且基于输出信号确定奇数编号的数据线DL1、DL3、…、和DLj-1中的每一条中是否存在缺陷。

下文中，将参照图15至图21详细描述确定数据线的缺陷的方法。

图15是示出从正常数据线检测到的输出信号的示意图。

例如，如图7中所图示，当在第一数据线DL1至第六数据线DL6中不存在缺陷时，从第一数据线DL1至第六数据线DL6检测到的第一输出信号至第六输出信号S1、S2、S3、S4、S5和S6可以具有图15中所图示的波形。

第一输出信号S1是从第一数据线DL1检测到的信号，第二输出信号S2是从第二数据线DL2检测到的信号，第三输出信号S3是从第三数据线DL3检测到的信号，第四输出信号S4是从第四数据线DL4检测到的信号，第五输出信号S5是从第五数据线DL5检测到的信号，并且第六输出信号S6是从第六数据线DL6检测到的信号。

奇数编号的数据线DL1、DL3和DL5连接至前述第一检查线IL1，并且偶数编号的数据线DL2、DL4和DL6连接至前述第二检查线IL2。因为第一检查线IL1具有比第二检查线IL2的电容大的电容(电容是由于第一电容器CP1或第二电容器CP2而引起的寄生电容)，所以连接至第一检查线IL1的奇数编号的数据线DL1、DL3和DL5的输出信号小于连接至第二检查线IL2的偶数编号的数据线DL2、DL4和DL6的输出信号。

分别从正常的奇数编号的数据线DL1、DL3和DL5检测的第一输出信号S1、第三输出信号S3和第五输出信号S5具有基本上相等的幅度。正常的第一输出信号S1、第三输出信号S3和第五输出信号S5具有在预定正常范围内的幅度。

此外，分别从正常的偶数编号的数据线DL2、DL4和DL6检测的第二输出信号S2、第四输出信号S4和第六输出信号S6具有基本上相等的幅度。正常的第二输出信号S2、第四输出信号S4和第六输出信号S6具有在预定正常范围内的幅度。

图16是图示数据线中的一条数据线的断开缺陷的视图，并且图17是图示从图16的数据线检测到的输出信号的示意图。

例如，如图16中所图示，当第五数据线DL5的一部分断开(在由图16的圆虚线所指示的区域中)的缺陷发生时，第一输出信号S1至第六输出信号S6可以具有图17中所图示的波形。

在图17中，第一输出信号S1是从第一数据线DL1检测到的信号，第二输出信号S2是从第二数据线DL2检测到的信号，第三输出信号S3是从第三数据线DL3检测到的信号，第四输出信号S4是从第四数据线DL4检测到的信号，第五输出信号S5是从第五数据线DL5检测到的信号，并且第六输出信号S6是从第六数据线DL6检测到的信号。

如图17中所图示，尽管第一输出信号S1、第二输出信号S2、第三输出信号S3、第四输出信号S4和第六输出信号S6具有如图15中所图示的正常幅度，但是第五输出信号S5具有接近于零的幅度。因此，当检测到具有如图17中所图示波形的输出信号时，确定在第五数据线DL5中发生断开缺陷。

图18是图示由于相邻数据线之间的接触而引起的短路缺陷的视图，并且图19是图示从图18的数据线检测到的输出信号的示意图。

例如，如图18中所图示，当彼此相邻的第四数据线DL4和第五数据线DL5彼此接触的短路缺陷发生(在由图18的圆虚线所指示的区域中)时，第一输出信号S1至第六输出信号S6可以具有图19中所图示的波形。

在图19中，第一输出信号S1是从第一数据线DL1检测到的信号，第二输出信号S2是从第二数据线DL2检测到的信号，第三输出信号S3是从第三数据线DL3检测到的信号，第四输出信号S4是从第四数据线DL4检测到的信号，第五输出信号S5是从第五数据线DL5检测到的信号，并且第六输出信号S6是从第六数据线DL6检测到的信号。

如图19中所图示，尽管第一输出信号S1、第二输出信号S2、第三输出信号S3和第六输出信号S6具有如图15中所图示的正常幅度，但是第四输出信号S4具有小于其正常幅度的幅度，并且第五输出信号S5具有大于其正常幅度的幅度。例如，第四输出信号S4和第五输出信号S5可以具有基本上相等的幅度。因此，当检测到具有如图19中所图示波形的输出信号时，确定在第四数据线DL4和第五数据线DL5之间发生短路缺陷。

图20是图示由于数据线和栅极线之间的接触而引起的短路缺陷的视图，并且图21是示出从图20的数据线检测到的输出信号的示意图。

例如，如图20中所图示，当第二数据线DL2接触栅极线中的一条栅极线的短路缺陷发生时，第一输出信号S1至第六输出信号S6可以具有图21中所图示的波形。

在图21中，第一输出信号S1是从第一数据线DL1检测到的信号，第二输出信号S2是从第二数据线DL2检测到的信号，第三输出信号S3是从第三数据线DL3检测到的信号，第四输出信号S4是从第四数据线DL4检测到的信号，第五输出信号S5是从第五数据线DL5检测到的信号，并且第六输出信号S6是从第六数据线DL6检测到的信号。

如图21中所图示，尽管第一输出信号S1、第三输出信号S3、第四输出信号S4、第五输出信号S5和第六输出信号S6具有如图15中所图示的正常幅度，但是第二输出信号S2具有小于其正常幅度的幅度。因此，当检测到具有如图21中所图示波形的输出信号时，确定在第二数据线DL2和栅极线之间发生短路缺陷。

在实施例中，当检测到数据线有缺陷时，检查设备700和检测器800可以确定数据线的哪个部分有缺陷。为此，检查设备700接触检查线的焊盘部分(例如最低焊盘部分)，检查线连接至包括有缺陷的部分的数据线。检查设备700将输出信号施加至焊盘部分。此后，在检查设备700的输出端子777接触焊盘部分的状态下，检测器800沿着有缺陷的数据线移动。例如，检测器800可以从数据线的上端部在与第二方向DR2相反的方向上移动。

从有缺陷的位置施加至检测器800的输出信号具有与正常输出信号不同的幅度。因此，可以确定有缺陷的数据线的准确位置(例如坐标)。

图22是根据本公开的另一实施例对图1的部分A进行放大的视图，并且图23是沿着图22的线I-I’截取的剖视图。

如图22和图23中所图示，第一检查线IL1的第一线L1、第二线L2和第三线L3可以彼此连接。

例如，第一线L1可以通过栅绝缘层311的第一接触孔CNT1连接至第三线L3，并且第二线L2可以通过栅绝缘层311的第二接触孔CNT2连接至第三线L3。作为更具体示例，第一线L1的焊盘部分L1-B可以通过第一接触孔CNT1连接至第三线L3的第一焊盘部分L3-B1，并且第二线L2的焊盘部分L2-B可以通过第二接触孔CNT2连接至第三线L3的第二焊盘部分L3-B2。

当第一线L1、第二线L2和第三线L3以该方式连接时，可以提高第一检查线IL1的检查信号传输能力。

在实施例中，除了第一接触孔CNT1和第二接触孔CNT2之外，图22和图23的其他配置与上述图3和图4的配置基本上相同。

图24是图示根据本公开的另一实施例的检查线的平面图。

如图24中所图示，彼此相邻的三条检查线可以形成群组，并且包括三条检查线的多个群组可以沿着第一方向DR1重复设置。图24示出沿着第一方向DR1设置的两个三检查线群组的示例。

第一检查线IL1、第二检查线IL2以及第三检查线IL3沿着第一方向DR1设置。

第一检查区域IA1、第二检查区域IA2和第三检查区域IA3位于基板301的非显示区域AR2中。第一检查区域IA1、第二检查区域IA2和第三检查区域IA3顺序地设置在基板301的显示区域AR1和基板301的下边缘3b之间。

在第一检查区域IA1至第三检查区域IA3之中，第一检查区域IA1最靠近显示区域AR1，并且第三检查区域IA3比显示区域AR1更靠近基板301的下边缘3b。第二检查区域IA2位于第一检查区域IA1和第三检查区域IA3之间。

第一检查区域IA1包括在第二检查线IL2的最低焊盘部分L2-B2和第三检查线IL3的最低焊盘部分IL3-B之间的区域。具体地，当第二检查线IL2的最低焊盘部分L2-B2与第三检查线IL3的最低焊盘部分IL3-B的面对表面分别被定义为第一表面和第二表面时，在平行于第一表面并且穿过第一表面的第一假想平行线11和平行于第二表面并且穿过第二表面的第二假想平行线22之间的区域可以被定义为前述第一检查区域IA1。

在实施例中，第一假想平行线11可以被定义为穿过在第一方向DR1上彼此相邻的第二检查线IL2的最低焊盘部分L2-B2的每个第一表面的线，并且第二假想平行线22可以被定义为穿过在第一方向DR1上彼此相邻的第三检查线IL3的最低焊盘部分IL3-B的每个第二表面的线。

第二检查区域IA2包括在第一检查线IL1的最低焊盘部分L2-B和第二检查线IL2的最低焊盘部分L2-B2之间的区域。具体地，当第一检查线IL1的最低焊盘部分L2-B与第二检查线IL2的最低焊盘部分L2-B2的面对表面分别被定义为第三表面和第四表面时，在平行于第三表面并且穿过第三表面的第三假想平行线33和平行于第四表面并且穿过第四表面的第四假想平行线44之间的区域可以被定义为前述第二检查区域IA2。

在实施例中，第三假想平行线33可以被定义为穿过在第一方向DR1上彼此相邻的第一检查线IL1的最低焊盘部分L2-B的每个第三表面的线，并且第四假想平行线44可以被定义为穿过在第一方向DR1上彼此相邻的第二检查线IL2的最低焊盘部分L2-B2的每个第四表面的线。

第三检查区域IA3是三个检查区域IA1至IA3中最靠近基板301的下边缘3b的检查区域。第三检查区域IA3包括在第一检查线IL1的最低焊盘部分L2-B和基板301的下边缘3b之间的区域。具体地，当第一检查线IL1的最低焊盘部分L2-B的面对下边缘3b的表面被定义为第五表面时，在下边缘3b和平行于第五表面并且穿过第五表面的第五假想平行线55之间的区域可以被定义为前述第三检查区域IA3。

在实施例中，第五假想平行线55可以被定义为穿过在第一方向DR1上彼此相邻的第一检查线IL1的最低焊盘部分L2-B的每个第五表面的线。

第一检查线IL1与所有检查区域IA1至IA3重叠。换言之，第一检查线IL1朝向基板301的下边缘3b延伸并且与第一检查区域IA1、第二检查区域IA2和第三检查区域IA3重叠。

第二检查线IL2朝向基板301的下边缘3b延伸并且与第一检查区域IA1和第二检查区域IA2重叠。第二检查线IL2不与第三检查区域IA3重叠。

第三检查线IL3朝向基板301的下边缘3b延伸并且仅与第一检查区域IA1重叠。第三检查线IL3不与第二检查区域IA2和第三检查区域IA3重叠。因此，从基板301的下边缘3b至第一检查线IL1的端部E1的距离D1(下文中，“第一距离”)、从基板301的下边缘3b至第二检查线IL2的端部E2的距离D2(下文中，“第二距离”)以及从基板301的下边缘3b至第三检查线IL3的端部E3的距离D3(下文中，“第三距离”)彼此不同。也就是说，第二距离D2大于第一距离D1并且小于第三距离D3。

第一检查区域IA1中的检查线中的两条相邻的检查线相对于栅绝缘层311位于不同的层上。例如，在第一检查区域IA1中，第一检查线IL1和第二检查线IL2定位在栅绝缘层311下，并且第三检查线IL3定位在栅绝缘层311之上。因此，即使第一检查线IL1和第二检查线IL2在第一检查区域IA1中位于相邻的第三检查线IL3之间，也可以因为第一检查线IL1和第二检查线IL2被栅绝缘层311覆盖而有效地增大第一检查区域IA1中相邻的暴露检查线(即相邻的第三检查线IL3)之间的距离。

第二检查区域IA2中的检查线中的两条相邻的检查线相对于栅绝缘层311位于不同层上。例如，在第二检查区域IA2中，第一检查线IL1定位在栅绝缘层311下，并且第二检查线IL2定位在栅绝缘层311之上。因此，即使第一检查线IL1位于第二检查区域IA2中的相邻的第二检查线IL2之间，也可以因为第一检查线IL1被栅绝缘层311覆盖而有效地增大第二检查区域IA2中的相邻的暴露检查线(即相邻的第二检查线IL2)之间的距离。

仅第一检查线IL1存在于第三检查区域IA3中。也就是说，第二检查线IL2和第三检查线IL3不存在于第三检查区域IA3中。因此，可以有效地增大在第三检查区域IA3中相邻的检查线(即相邻的第一检查线IL1)之间的距离。

当检查设备700沿着第一检查区域IA1移动时，检查分别连接至第三检查线IL3的数据线，并且当此后检查设备700沿着第二检查区域IA2移动时，检查分别连接至第二检查线IL2的数据线。随后，当检查设备700沿着第三检查区域IA3移动时，检查分别连接至第一检查线IL1的数据线。

在图24中所图示的实施例中，第一检查线IL1和第二检查线IL2可以具有与上述图3的第一检查线IL1的配置基本上相同的配置。此外，图24的第三检查线IL3可以具有与上述图3的第二检查线IL2的配置基本上相同的配置。

作为另一实施例，图24的第一检查线IL1和第二检查线IL2中的每一条可以具有与上述图22的第一检查线IL1的配置基本上相同的配置。

图25是图示根据本公开的另一实施例的检查线的平面图。

如图25中所图示，彼此相邻的四条检查线可以形成群组，并且包括四条检查线的多个群组可以沿着第一方向DR1重复设置。图25示出沿着第一方向DR1设置的两个四检查线群组的示例。

第一检查线IL1、第二检查线IL2、第三检查线IL3以及第四检查线IL4沿着第一方向DR1设置。

第一检查区域IA1、第二检查区域IA2、第三检查区域IA3和第四检查区域IA4位于基板301的非显示区域AR2中。第一检查区域IA1、第二检查区域IA2、第三检查区域IA3和第四检查区域IA4顺序地布置在基板301的显示区域AR1和基板301的下边缘3b之间。

在第一检查区域IA1至第四检查区域IA4之中，第一检查区域IA1最靠近显示区域AR1，并且第四检查区域IA4比显示区域AR1更靠近基板301的下边缘3b。第二检查区域IA2位于第一检查区域IA1和第三检查区域IA3之间，并且第三检查区域IA3位于第二检查区域IA2和第四检查区域IA4之间。

第一检查区域IA1包括在第三检查线IL3的最低焊盘部分L2-B3和第四检查线IL4的最低焊盘部分IL4-B之间的区域。具体地，当第三检查线IL3的最低焊盘部分L2-B3与第四检查线IL4的最低焊盘部分IL4-B的面对表面分别被定义为第一表面和第二表面时，在平行于第一表面并且穿过第一表面的第一假想平行线11和平行于第二表面并且穿过第二表面的第二假想平行线22之间的区域可以被定义为前述第一检查区域IA1。

在实施例中，第一假想平行线11可以被定义为穿过在第一方向DR1上彼此相邻的第三检查线IL3的最低焊盘部分L2-B3的每个第一表面的线，并且第二假想平行线22可以被定义为穿过在第一方向DR1上彼此相邻的第四检查线IL4的最低焊盘部分IL4-B的每个第二表面的线。

第二检查区域IA2包括在第二检查线IL2的最低焊盘部分L2-B2和第三检查线IL3的最低焊盘部分L2-B3之间的区域。具体地，当第二检查线IL2的最低焊盘部分L2-B2与第三检查线IL3的最低焊盘部分L2-B3的面对表面分别被定义为第三表面和第四表面时，在平行于第三表面并且穿过第三表面的第三假想平行线33和平行于第四表面并且穿过第四表面的第四假想平行线44之间的区域可以被定义为前述第二检查区域IA2。

在实施例中，第三假想平行线33可以被定义为穿过在第一方向DR1上彼此相邻的第二检查线IL2的最低焊盘部分L2-B2的每个第三表面的线，并且第四假想平行线44可以被定义为穿过在第一方向DR1上彼此相邻的第三检查线IL3的最低焊盘部分L2-B3的每个第四表面的线。

第三检查区域IA3包括在第一检查线IL1的最低焊盘部分L2-B和第二检查线IL2的最低焊盘部分L2-B2之间的区域。具体地，当第一检查线IL1的最低焊盘部分L2-B与第二检查线IL2的最低焊盘部分L2-B2的面对表面分别被定义为第五表面和第六表面时，在平行于第五表面并且穿过第五表面的第五假想平行线55和平行于第六表面并且穿过第六表面的第六假想平行线66之间的区域可以被定义为前述第三检查区域IA3。

在实施例中，第五假想平行线55可以被定义为穿过在第一方向DR1上彼此相邻的第一检查线IL1的最低焊盘部分L2-B的每个第五表面的线，并且第六假想平行线66可以被定义为穿过在第一方向DR1上彼此相邻的第二检查线IL2的最低焊盘部分L2-B2的每个第六表面的线。

第一检查区域IA1至第四检查区域IA4的第四检查区域IA4是最靠近基板301的下边缘3b的检查区域，并且第四检查区域IA4包括在第一检查线IL1的最低焊盘部分L2-B和基板301的下边缘3b之间的区域。具体地，当第一检查线IL1的最低焊盘部分L2-B的面对下边缘3b的表面被定义为第七表面时，在下边缘3b和平行于第七表面并且穿过第七表面的第七假想平行线77之间的区域可以被定义为前述第四检查区域IA4。

第一检查线IL1与所有检查区域IA1至IA4重叠。换言之，第一检查线IL1朝向基板301的下边缘3b延伸，并且与第一检查区域IA1、第二检查区域IA2、第三检查区域IA3和第四检查区域IA4重叠。

第二检查线IL2朝向基板301的下边缘3b延伸，并且与第一检查区域IA1、第二检查区域IA2和第三检查区域IA3重叠。第二检查线IL2不与第四检查区域IA4重叠。

第三检查线IL3朝向基板301的下边缘3b延伸，并且与第一检查区域IA1和第二检查区域IA2重叠。第三检查线IL3不与第三检查区域IA3和第四检查区域IA4重叠。

第四检查线IL4朝向基板301的下边缘3b延伸，并且仅与第一检查区域IA1重叠。第四检查线IL4不与第二检查区域IA2至第四检查区域IA4重叠。因此，从基板301的下边缘3b至第一检查线IL1的端部E1的距离D1(下文中，“第一距离”)、从基板301的下边缘3b至第二检查线IL2的端部E2的距离D2(下文中，“第二距离”)、从基板301的下边缘3b至第三检查线IL3的端部E3的距离D3(下文中，“第三距离”)以及从基板301的下边缘3b至第四检查线IL4的端部E4的距离D4(下文中，“第四距离”)彼此不同。也就是说，第四距离D4、第三距离D3、第二距离D2以及第一距离D1按长度排序。

第一检查区域IA1中的检查线中的两条相邻的检查线相对于栅绝缘层311位于不同的层上。例如，在第一检查区域IA1中，第一检查线IL1至第三检查线IL3定位在栅绝缘层311下，并且第四检查线IL4定位在栅绝缘层311之上。因此，即使第一检查线IL1至第三检查线IL3在第一检查区域IA1中位于相邻的第四检查线IL4之间，也可以因为第一检查线IL1至第三检查线IL3被栅绝缘层311覆盖而有效地增大第一检查区域IA1中相邻的暴露检查线(即相邻的第四检查线IL4)之间的距离。

第二检查区域IA2中的检查线中的两条相邻的检查线相对于栅绝缘层311位于不同层上。例如，在第二检查区域IA2中，第一检查线IL1和第二检查线IL2定位在栅绝缘层311下，并且第三检查线IL3定位在栅绝缘层311之上。因此，即使第一检查线IL1和第二检查线IL2在第二检查区域IA2中位于相邻的第三检查线IL3之间，也可以因为第一检查线IL1和第二检查线IL2被栅绝缘层311覆盖而有效地增大第二检查区域IA2中相邻的暴露检查线(即相邻的第三检查线IL3)之间的距离。

第三检查区域IA3中的检查线中的两条相邻的检查线相对于栅绝缘层311位于不同层上。例如，在第三检查区域IA3中，第一检查线IL1定位在栅绝缘层311下，并且第二检查线IL2定位在栅绝缘层311之上。因此，即使第一检查线IL1在第三检查区域IA3中位于相邻的第二检查线IL2之间，也可以因为第一检查线IL1被栅绝缘层311覆盖而有效地增大第三检查区域IA3中相邻的暴露检查线(即相邻的第二检查线IL2)之间的距离。

仅第一检查线IL1存在于第四检查区域IA4中。也就是说，第一检查线IL1至第三检查线IL3不存在于第四检查区域IA4中。因此，可以有效地增大第四检查区域IA4中相邻的检查线(即相邻的第一检查线IL1)之间的距离。

当检查设备700沿着第一检查区域IA1移动时，检查分别连接至第四检查线IL4的数据线，并且当检查设备700此后沿着第二检查区域IA2移动时，检查分别连接至第三检查线IL3的数据线。随后，当检查设备700沿着第三检查区域IA3移动时，检查分别连接至第二检查线IL2的数据线，并且随后当检查设备700沿着第四检查区域IA4移动时，检查分别连接至第一检查线IL1的数据线。

在图25中所图示的实施例中，第一检查线IL1至第三检查线IL3可以具有与上述图3的第一检查线IL1的配置基本上相同的配置。此外，图25的第四检查线IL4可以具有与上述图3的第二检查线IL2的配置基本上相同的配置。

作为另一实施例，图25的第一检查线IL1至第三检查线IL3中的每一条可以具有与上述图22的第一检查线IL1的配置基本上相同的配置。

在实施例中，本公开的显示装置可以包括除了上述图3、图24和图25的实施例之外的各种实施例。例如，群组中检查线的数量可以是五条或更多条。

下文中，将描述可以包括包含图3、图24和图25的实施例的所有实施例的通用结构。

基板301可以包括位于非显示区域AR2中的第一检查区域至第n检查区域，其中n是大于1的自然数。

第一检查区域至第n检查区域从在显示区域和基板301的下边缘3b之间的第一检查区域顺序地设置。第一检查区域IA1最靠近显示区域，并且第n检查区域最靠近基板301的下边缘3b。

沿着第一方向DR1设置的第一检查线至第n检查线可以形成群组。第一检查线至第n检查线位于非显示区域AR2中，并且它们分别连接至第一数据线至第n数据线。

第一检查线IL1朝向基板301的下边缘3b延伸，并且与第一检查区域至第n检查区域重叠。也就是说，第一检查线IL1与所有检查区域重叠而不管检查区域的数量。

作为检查线中除了第一检查线IL1之外的一条检查线的第p检查线朝向基板301的下边缘3b延伸，并且与第一检查区域至第(n-p+1)检查区域重叠，其中p是大于1并且小于或等于n的自然数。

在第q检查区域中彼此相邻的两条相邻的检查线相对于插入在这两条检查线之间的栅绝缘层311位于不同层上，其中q是小于n的自然数。

第q检查区域中的第(n-q)检查线和第(n-q+1)检查线相对于栅绝缘层311位于不同层上。

在第q检查区域中，第一检查线至第(n-q)检查线相对于栅绝缘层311位于基本上相同的层上。

第q检查区域包括在第(n-q+1)检查线的最低焊盘部分和第(n-q)检查线的最低焊盘部分之间的区域。此外，第q检查区域可以包括在分别穿过第(n-q+1)检查线的最低焊盘部分和第(n-q)检查线的最低焊盘部分的面对表面的两条假想平行线之间的区域。

第n检查区域包括在第一检查线IL1的最低焊盘部分和基板301的下边缘3b之间的区域。

在基板301的下边缘3b和第一检查线的第一端部至第n检查线的第n端部中的每一个端部之间的间隔可以彼此不同。例如，在第p检查线的端部和基板301的下边缘3b之间的距离大于在第(p-1)检查线的端部和基板301的下边缘3b之间的距离。

图26是图示根据本公开的另一实施例的检查线的平面图。

检查线的布置结构与上述图3的检查线的布置结构对称。

图26的第一检查线IL1与图3的第二检查线IL2基本上相同。

图26的第二检查线IL2与图3的第一检查线IL1基本上相同。

尽管未图示，但是上述图24和图25的检查线也可以具有如图26中所图示的对称形状。

图27是图示根据本公开的实施例的显示装置的显示区域的另一结构的视图。

多个像素R、G和B可以以如图27中所图示的方式布置在基板301的显示区域中。

例如，位于奇数编号的水平线HL1、HL3、…、和HLi-1中的像素分别连接至位于像素左侧的数据线DLL，并且位于偶数编号的水平线HL2、HL4、…、HLi中的像素分别连接至位于偶数编号的水平线HL2、HL4、…、HLi右侧的数据线DLR。

在实施例中，第(2y-1)栅极线和第2y栅极线彼此连接，其中y是自然数。例如，第一栅极线GL1和第二栅极线GL2彼此连接，并且第三栅极线GL3和第四栅极线彼此连接。

设置在图27的显示区域AR1中的数据线DLL和DLR的数量大于设置在图2的显示区域AR1中的数据线DL1至DLj的数量。例如，图27的显示区域AR1中的数据线DLL和DLR的数量可以是图2的显示区域AR1中的数据线DL1至DLj的数量的两倍。因此，连接至图27的数据线DLL和DLR的检查线的数量大于连接至图2的数据线DL1至DLj的检查线IL1和IL2的数量。因此，图27的检查线之间的间隔可以比图3的检查线IL1和IL2之间的间隔窄。

即使如图27所图示设置很大量数据线DLL和DLR，也可以使用图3、图24和图25中所图示的检查线结构容易地检查大量数据线DLL和DLR，因为相邻的暴露检查线之间的间隔充分间隔开，避免了在检查过程期间一次接触两条或更多条检查线的检查错误。

在图27中所图示的实施例中，根据本公开的实施例的显示装置可以进一步包括多条支持线VL。这些支持线VL共同连接至垂直定位的像素。支持线VL将支持电压(例如DC电压)施加至像素。这些支持线VL以及数据线DLL和DLR包括基本上相同的材料并且位于基本上相同的层上。

数据线DLL和DLR以及支持线VL可以沿着第一方向DR1交替设置。

可以采用对数据线DLL和DLR的缺陷检查来执行对支持线VL的缺陷检查。也就是说，通过上述检查方法一起检查支持线VL以及数据线DLL和DLR。为此，连接至支持线VL的检查线可以进一步布置在非显示区域AR2中。彼此相邻的数据线和支持线可以形成前述配对(或群组)。

即使当如图27中所图示设置很大量数据线DLL和DLR以及支持线VL时，也可以使用如图3、图24和图25中的一个所图示的检查结构容易地检查大量数据线DLL和DLR以及支持线VL，因为相邻的暴露检查线之间的间隔充分间隔开，避免了在检查过程期间一次接触两条或更多条检查线的检查错误。

图28是图示根据本公开的实施例的显示装置的显示区域的另一结构的视图。

如图28中所图示，多条栅极线GL1至GL9、多条数据线DL1至DLj、多条公共线CL1至CLj-1、多个像素RP、GP和BP、多个第一虚设像素DP1以及多个第二虚设像素DP2可以布置在根据本公开的本实施例的显示装置的显示区域中。

多个像素包括显示红色图像的红色像素RP、显示绿色图像的绿色像素GP、显示蓝色图像的蓝色像素BP、第一虚设像素DP1和第二虚设像素DP2。

尽管图28中未图示，但是像素DP1、RP、GP、BP和DP2中的每一个包括至少一个开关元件以及连接至开关元件的像素电极。每个开关元件连接至对应的栅极线和对应的数据线，并且图28示出连接至每个像素的开关元件的栅极线和数据线。换言之，图28示出在开关元件和每个像素的栅极线之间的电连接关系以及在开关元件和每个像素的数据线之间的电连接关系。例如，包括在第一水平线HL1的像素的第一虚设像素中的开关元件连接至第一栅极线GL1和第二数据线DL2。

在图28的实施例中，像素的位置基本上与像素电极的位置相对应，像素电极是像素中所包括的构成元件之中的元件。例如，在第二水平线HL2的像素之中，连接至第一数据线DL1的第一红色像素RP位于第三栅极线GL3和第四栅极线GL4之间。然而，第一红色像素RP的开关元件不位于第三栅极线GL3和第四栅极线GL4之间。下文中，图28的描述中像素(或虚设像素)的位置指的是像素的构成元件之中的像素电极的位置。例如，在与图28有关的描述中，“像素位于第一栅极线GL1和第二栅极线GL2之间”的短语表明“像素的像素电极位于第一栅极线GL1和第二栅极线GL2之间”。类似地，“像素位于第一数据线DL1和第一公共线CL1之间”的短语表明“像素的像素电极位于第一数据线DL1和第一公共线CL1之间”。

虚设像素DP1和DP2中的每一个可以是用于显示蓝色的像素。第一虚设像素DP1位于每条水平线中的最左侧位置处。第二虚设像素DP2位于每条水平线中的最右侧位置处。第一虚设像素DP1和第二虚设像素DP2通过遮光层(例如图30中所示的遮光层376)覆盖。

第一虚设像素DP1位于多条数据线DL1至DLj之中的位于最左侧位置处的第一数据线DL1和多条公共线CL1至CLj-1之中的位于最左侧位置处的第一公共线CL1之间。第二虚设像素DP2的像素电极位于多条数据线DL1至DLj之中的位于最右侧位置处的第j数据线DLj和多条公共线CL1至CLj-1之中的位于最右侧位置处的第(j-1)公共线CLj-1之间。

沿着第k水平线设置的像素DP1、RP、GP、BP和DP2位于第(2k-1)栅极线和第2k栅极线之间，其中k是自然数。例如，沿着第三水平线HL3设置的像素位于第五栅极线GL5和第六栅极线GL6之间。

公共线CL1至CLj-1中的每一条位于相邻数据线之间。例如，第一公共线CL1位于第一数据线DL1和第二数据线DL2之间。公共线CL1至CLj-1中的每一条传输公共电压。公共线CL1至CLj-1连接至公共电极(例如图30中所示的公共电极330)。来自公共线CL1至CLj-1的公共电压施加至公共电极。

像素DP1、RP、GP、BP和DP2中的每一个位于由两条栅极线、数据线和公共线所围绕的区域中。例如，在设置在第一水平线HL1中的像素DP1、RP、GP、BP和DP2之中，连接至第二数据线DL2的红色像素RP位于由第一栅极线GL1、第二栅极线GL2、第一公共线CL1和第二数据线DL2所围绕的区域中。

红色像素RP连接至定位在红色像素RP下的两条栅极线中的比该两条栅极线中的另一条栅极线更靠近红色像素RP的像素电极的一条栅极线。例如，第三水平线HL3中的红色像素RP连接至定位在红色像素RP下的第六栅极线GL6和第七栅极线GL7之中的更靠近红色像素RP的像素电极的第六栅极线GL6。然而，因为仅一条栅极线定位在设置在最后水平线中的红色像素RP下，所以最后水平线的红色像素RP连接至该一条栅极线。

绿色像素GP连接至定位在绿色像素GP之上的两条栅极线中比该两条栅极线中的另一条栅极线更靠近绿色像素GP的像素电极的一条栅极线。例如，第三水平线HL3中的绿色像素GP连接至定位在绿色像素GP之上的第四栅极线GL4和第五栅极线GL5之中的更靠近绿色像素GP的像素电极的第五栅极线GL5。然而，因为仅一条栅极线GL1定位在设置在第一水平线HL1中的绿色像素GP之上，所以第一水平线HL1的绿色像素GP连接至该一条栅极线GL1。

蓝色像素BP连接至定位在蓝色像素BP下的两条栅极线中比该两条栅极线中的另一条栅极线更靠近蓝色像素BP的像素电极的一条栅极线，或者连接至定位在蓝色像素BP之上的两条栅极线中比该两条栅极线中的另一条栅极线更靠近蓝色像素BP的像素电极的一条栅极线。例如，第三水平线HL3中的蓝色像素BP的一个连接至定位在蓝色像素BP下的第六栅极线GL6和第七栅极线GL7之中的更靠近蓝色像素BP的像素电极的第六栅极线GL6。另一方面，第三水平线HL3中的蓝色像素BP的另一个连接至定位在蓝色像素BP之上的第四栅极线GL4和第五栅极线GL5之中的更靠近蓝色像素BP的像素电极的第五栅极线GL5。

沿着奇数编号的水平线HL1、HL3…设置的像素DP1、RP、GP、BP、DP2中的每一个连接至位于对应像素的右侧的两条数据线中的最靠近对应像素的一条数据线。例如，第三水平线HL3中的绿色像素GP中的最左侧一个绿色像素GP连接至位于绿色像素GP中的最左侧一个绿色像素GP的右侧的数据线之中最靠近绿色像素GP中的最左侧一个绿色像素GP的第三数据线D3。

沿着偶数编号的水平线HL2、HL4…设置的像素DP1、RP、GP、BP和DP2中的每一个连接至位于对应像素左侧的两条数据线中的最靠近对应像素的一条数据线。例如，第四水平线HL4中的绿色像素GP中的最左侧一个绿色像素GP连接至位于绿色像素GP中的最左侧一个绿色像素GP的左侧的数据线之中最靠近绿色像素GP中的最左侧一个绿色像素GP的第二数据线DL2。

图29是图示图28的部分A的详细视图，并且图30是沿着图29的线I-I’截取的剖视图。

在图28的部分A中的像素之中，第二水平线HL2中的红色像素RP被定义为第一像素。此外，在部分A中的像素之中，位于第三水平线HL3中并且连接至第四数据线DL4的绿色像素GP被定义为第二像素。

如图29和图30中所图示，显示装置包括第一基板301、多条栅极线GL3、GL4和GL5、多个栅电极GE1和GE2、栅绝缘层311、多条数据线DL4和DL5、多个源电极SE1和SE2、多个漏电极DE1和DE2、多条公共线CL3、CL4和CL5、第一保护层321、层间绝缘层352、多个像素电极PE1和PE2、第二保护层322、公共电极330、第二基板302、遮光层376、滤色器354以及液晶层333。

第一像素包括如图29和图30中所图示的第一开关元件TFT1和第一像素电极PE1。

第一开关元件TFT1布置在由第四栅极线GL4、第五栅极线GL5、第四数据线DL4以及第四公共线CL4所围绕的区域(开关元件区域)中。第一开关元件TFT1可以是薄膜晶体管。

第一开关元件TFT1包括第一栅电极GE1、第一源电极SE1以及第一漏电极DE1。第一栅电极GE1连接至第四栅极线GL4，第一源电极SE1连接至第四数据线DL4，第一漏电极DE1连接至第一像素电极PE1。

第一栅电极GE1和第四栅极线GL4可以整体形成为单一结构。第一栅电极GE1可以具有从第四栅极线GL4朝向第五栅极线GL5突出的形状。第五栅极线GL5在多条栅极线之中最靠近第四栅极线GL4定位。

第四栅极线GL4的端部可以连接至另一层或外部驱动电路。第四栅极线GL4的端部可以具有比第四栅极线GL4的另一部分的面积大的面积。

第一源电极SE1和第四数据线DL4可以整体形成为单一结构。第一源电极SE1可以具有从第四数据线DL4朝向第一栅电极GE1突出的形状。

第一像素电极PE1布置在由第三栅极线GL3、第四栅极线GL4、第四公共线CL4以及第五栅极线DL5所围绕的区域(像素电极区域)中。

如图29中所图示，第一像素电极PE1可以包括彼此间隔开的多个分支电极440。每个分支电极440的一侧连接至第一连接电极771。每个分支电极440和与其相邻的栅极线重叠。例如，第一像素电极PE1的每个分支电极440的端部与第三栅极线GL3和第四栅极线GL4重叠。存储电容器形成在每个分支电极440与栅极线GL3和GL4之间的重叠部分处。

第一像素电极PE1连接至第一开关元件TFT1。具体地，第一像素电极PE1连接至第一开关元件TFT1的第一漏电极DE1。第一像素电极PE1和第一漏电极DE1可以由第一连接电极771彼此连接。第一连接电极771从第一像素电极PE1延伸至第一漏电极DE1之上的区域。如图29中所图示，第一连接电极771和第一像素电极PE1整体形成为单一结构。第一连接电极771可以对应于第一像素电极PE1的一部分。

第一连接电极771与第四公共线CL4的至少一部分和第四栅极线GL4重叠。

第一像素电极PE1和第一开关器件TFT1的第一漏电极DE1之间的连接部分被定义为第一连接部分651。如图29和图30中所图示，第一连接部分651指的是在第一漏电极DE1和第一像素电极PE1之间的接触界面。第一像素电极PE1可以通过穿过第一保护层321、层间绝缘层352和第二保护层322的第一漏极接触孔901而物理地接触第一漏电极DE1。

如图29中所图示，第一连接部分651可以位于第四数据线DL4和第一栅电极GE1之间。更具体地，第一连接部分651可以布置在由第四数据线DL4、第一栅电极GE1、第四栅极线GL4以及第一源电极SE1所围绕的区域中。

第一漏极接触孔901的位置可以与上述第一连接部分651的位置基本上相同。

将参照图30详细描述第一像素的构成元件的垂直关系。

第四栅极线GL4和第一栅电极GE1布置在第一基板301上。

第四栅极线GL4和第一栅电极GE1中的至少一个可以包括以下中的一种或者由以下中的一种形成：铝(Al)或其合金、银(Ag)或其合金、铜(Cu)或其合金和钼(Mo)或其合金。可替代地，第四栅极线GL4和第一栅电极GE1中的至少一个可以包括以下中的一种或者由以下中的一种形成：铬(Cr)、钽(Ta)和钛(Ti)。在实施例中，第四栅极线GL4和第一栅电极GE1中的至少一个可以具有包括具有不同物理属性的至少两个导电层的多层结构。

栅绝缘层311布置在第四栅极线GL4和第一栅电极GE1上。在一个实施例中，栅绝缘层311布置在包括了第四栅极线GL4和第一栅电极GE1的第一基板301的整个表面之上。

栅绝缘层311可以包括氮化硅(SiNx)、氧化硅(SiOx)等。栅绝缘层311可以具有包括具有不同物理属性的至少两个绝缘层的多层结构。

第四数据线DL4、第四公共线CL4以及半导体层344布置在栅绝缘层311上。尽管未图示，但是第四数据线DL4的端部可以连接至另一层或外部驱动电路。第四数据线DL4的端部可以具有比第四数据线DL4的另一部分的面积大的面积。

如图29中所图示，为了确保显示装置的最大透射率，第四数据线DL4的中间部分可以具有V字型弯曲形状。此外，第一像素电极PE1和第四公共线CL4的中间部分可以具有V字型弯曲形状。

第四数据线DL4可以包括难熔材料或者由难熔材料形成，难熔材料诸如钼、铬、钽、钛和/或其合金。数据线DL可以具有包括难熔层和低电阻导电层的多层结构。多层结构的示例可以包括或者由以下形成：包括铬或钼(合金)下层和铝(合金)上层的双层结构；以及包括钼(合金)下层、铝(合金)中间层和钼(合金)上层的三层结构。在可替代实施例中，除了前述材料之外，第四数据线DL4可以包括任何合适的金属和/或导体或者由任何合适的金属和/或导体形成。

第四公共线CL4可以包括与上述第四数据线DL4中所包括的材料基本上相同的材料。

半导体层344至少与第一栅电极GE1的一部分重叠。

半导体层344可以包括非晶硅、多晶硅等。

第一欧姆接触层321a和第二欧姆接触层321b布置在半导体层344上。第一欧姆接触层321a和第二欧姆接触层321b彼此面对，第一开关元件TFT1的沟道区插入在第一欧姆接触层321a和第二欧姆接触层321b之间。

第一欧姆接触层321a和第二欧姆接触层321b中的至少一个可以包括硅化物或者采用n型杂质(例如磷(P)或磷化氢(PH3))以高浓度掺杂的n+氢化非晶硅或者由硅化物或者采用n型杂质(例如磷(P)或磷化氢(PH3))以高浓度掺杂的n+氢化非晶硅形成。

第一源电极SE1布置在第一欧姆接触层321a上。在实施例中，尽管未图示，但是第一源电极SE1也可以布置在栅绝缘层311上。第一源电极SE1的至少一部分与半导体层344和第一栅电极GE1重叠。第一源电极SE1和前述第四数据线DL4可以包括基本上相同的材料并且具有基本上相同的结构(多层结构)。第一源电极SE1和第四数据线DL4可以在基本上相同的过程中基本上同时形成。

第一漏电极DE1布置在第二欧姆接触层321b和栅绝缘层311上。第一漏电极DE1的至少一部分与半导体层344和第一栅电极GE1重叠。第一漏电极DE1连接至第一像素电极PE1。第一漏电极DE1和第四数据线DL4可以包括基本上相同的材料并且具有基本上相同的结构(多层结构)。第一漏电极DE1和第四数据线DL4可以在基本上相同的过程中基本上同时形成。

第一保护层321布置在第四数据线DL4、第一源电极SE1以及第一漏电极DE1上。在一个实施例中，第一保护层321布置在第一基板301的包括第四数据线DL4、第一源电极SE1和第一漏电极DE1的整个表面之上。第一保护层321具有第一漏极接触孔901和公共接触孔904。第一漏极接触孔901定位在第一连接部分651之上，并且公共接触孔904定位在第四公共线CL4之上。

第一保护层321可以包括无机绝缘材料或者由无机绝缘材料形成，无机绝缘材料例如氮化硅(SiNx)或氧化硅(SiOx)。在一个实施例中，可以使用具有光敏性并且大约4.0介电常数的无机绝缘材料。第一保护层321可以具有包括下无机层和上有机层的双层结构。第一保护层321可以具有大于或基本上等于大约的厚度，例如在从大约至大约的范围中。

层间绝缘层352布置在第一保护层321上。层间绝缘层352具有第一漏极接触孔901和公共接触孔904。第一漏极接触孔901定位在第一连接部分651之上，并且公共接触孔904定位在第四公共线CL4之上。

层间绝缘层352可以包括具有低介电常数的有机层。例如，层间绝缘层352可以包括具有比第一保护层321的介电常数低的介电常数的光敏有机层或者由具有比第一保护层321的介电常数低的介电常数的光敏有机层形成。

公共电极330布置在层间绝缘层352上。公共电极330通过公共接触孔904连接至第四公共线CL4。

公共电极330可以包括透明金属层，透明金属层包括例如氧化铟锌(“IZO”)或氧化铟锡(“ITO”)。

第二保护层322布置在公共电极330、层间绝缘层352、第一保护层321以及第一漏电极DE1上。

第二保护层322可以包括与上述第一保护层321中所包括的材料基本上相同的材料。

第一像素电极PE1和第一连接电极771布置在第二保护层322上。第一像素电极PE1连接至第一漏电极DE1。具体地，第一像素电极PE1通过第一连接电极771和第一漏极接触孔901连接至第一漏电极DE1。

第一像素电极PE1可以包括透明金属层，透明金属层包括例如上述IZO或ITO。当第一像素电极PE1包括IZO时，公共电极330可以包括ITO。

遮光层376布置在第二基板302上。遮光层376可以与每条栅极线、每条数据线、每条公共线以及每个开关元件的区域相对应布置。遮光层376具有限定像素区域的开口。

尽管未图示，但是遮光层376可以布置在第一基板301而不是第二基板302上。在该实施例中，遮光层376可以布置在第二保护层322上。在该实施例中，遮光层376也可以与每条栅极线、每条数据线、每条公共线以及每个开关元件的区域相对应步骤。

滤色器354布置在第二基板302上。在该实施例中，滤色器354布置在遮光层376的与像素区域相对应的开口的一部分处。滤色器354的边缘可以布置在遮光层376上。

覆盖层722布置在遮光层376和滤色器354上。覆盖层722可以布置在第二基板302的包括遮光层376的整个表面之上。覆盖层722用作基本上最小化布置在覆盖层722和第二基板302之间的构成元件(例如诸如遮光层376和滤色器354的第二基板302的构成元件)的高度差。在一些实施例中，在显示装置中可以省略覆盖层722。

液晶层333布置在第一基板301和第二基板302之间。液晶层333可以包括具有负介电各向异性并且垂直取向的液晶分子。可替代地，液晶层333可以包括可光聚合的材料，其中可光聚合的材料可以是活性单体或活性基团。

如图29中所图示，第二像素包括第二开关元件TFT2和第二像素电极PE2。

第二开关元件TFT2布置在由第四栅极线GL4、第五栅极线GL5、第三公共线CL3以及第四数据线DL4所围绕的区域(开关元件区域)中。第二开关元件TFT2可以是薄膜晶体管。

第二开关元件TFT2包括第二栅电极GE2、第二源电极SE2和第二漏电极DE2。第二栅电极GE2连接至第五栅极线GL5，第二源电极SE2连接至第四数据线DL4，并且第二漏电极DE2连接至第二像素电极PE2。

第二栅电极GE2和第五栅极线GL5可以整体形成为单一结构。第二栅电极GE2可以具有从第五栅极线GL5朝向第四栅极线GL4突出的形状。

第五栅极线GL5的端部可以连接至另一层或外部驱动电路。第五栅极线GL5的端部可以具有比第五栅极线GL5的另一部分的面积大的面积。

第二源电极SE2和第四数据线DL4可以整体形成为单一结构。第二源电极SE2可以具有从第四数据线DL4朝向第二栅电极GE2突出的形状。

第二像素电极PE2布置在由第五栅极线GL5、第六栅极线GL6、第三公共线CL3以及第四数据线DL4所围绕的区域(像素电极区域)中。

如图29中所图示，第二像素电极PE2可以包括彼此间隔开的多个分支电极450。每个分支电极450的一侧连接至第二连接电极772。每个分支电极450和与其相邻的栅极线重叠。例如，第二像素电极PE2的每个分支电极450的端部与第五栅极线GL5和第六栅极线GL6重叠。存储电容器形成在每个分支电极450与栅极线GL5和GL6之间的重叠部分处。

第二像素电极PE2连接至第二开关元件TFT2。具体地，第二像素电极PE2连接至第二开关元件TFT2的第二漏电极DE2。第二像素电极PE2和第二漏电极DE2可以由第二连接电极772彼此连接。第二连接电极772从第二像素电极PE2延伸至第二漏电极DE2之上的区域。如图29中所图示，第二连接电极772和第二像素电极PE2整体形成为单一结构。第二连接电极772可以与第二像素电极PE2的一部分相对应。

第二连接电极772至少与第五栅极线GL5的一部分重叠。

第二像素电极PE2和第二开关元件TFT2的第二漏电极DE2之间的连接部分被定义为第二连接部分652。如图29中所图示，第二连接部分652指的是在第二漏电极DE2和第二像素电极PE2之间的接触界面。第二像素电极PE2可以通过穿过第一保护层321、层间绝缘层352和第二保护层322的第二漏极接触孔902物理地接触第二漏电极DE2。

第二连接部分652比第二栅电极GE2更靠近第四数据线DL4布置。例如，从第四数据线DL4至第二连接部分652的距离小于从第四数据线DL4至第二栅电极GE2的距离。在该实施例中，每个距离与在穿过第四数据线DL4、第二连接部分652以及第二栅电极GE2的全部的假想直线中所包括的区段的长度相对应。

如图29中所图示，第二连接部分652可以布置在第四数据线DL4和第二栅电极GE2之间。更具体地，第二连接部分652可以布置在由第四数据线DL4、第二栅电极GE2、第五栅极线GL5以及第二源电极SE2所围绕的区域中。

第二漏极接触孔902的位置可以与上述第二连接部分652的位置基本上相同。

在实施例中，每条栅极线和每个栅电极包括与上述第一栅电极GE1中所包括的材料基本上相同的材料。每个源电极、每个漏电极、每条数据线以及每条公共线可以包括与上述第一源电极SE1中所包括的材料基本上相同的材料。每个像素电极和每个连接电极可以包括与上述第一像素电极PE1中所包括的材料基本上相同的材料。

尽管未图示，但是根据本公开的实施例的显示装置可以进一步包括第一偏光器和第二偏光器。当彼此面对的第一基板301的表面与第二基板302的表面分别被定义为对应基板的上表面、并且与上表面相对的表面分别被定义为对应基板的下表面时，第一偏光器布置在第一基板301的下表面上，并且第二偏光器布置在第二基板302的下表面上。

第一偏光器的透射轴和第二偏光器的透射轴可以彼此正交，并且透射轴中的一个平行于栅极线GL设置。在示例性实施例中，显示装置可以包括第一偏光器和第二偏光器中的仅一个。

尽管未图示，但是根据本公开的实施例的显示装置可以进一步包括遮光电极。遮光电极可以布置在第二保护层322上并且与每条数据线DL(例如第五数据线DL5)重叠。遮光电极可以沿着数据线DL布置。遮光电极可以包括与第一像素电极PE1中所包括的材料基本上相同的材料。

遮光电极接收前述公共电压。遮光电极基本上防止在数据线DL(例如第五数据线DL5)和对应像素的像素电极PE(例如第一像素电极PE1)之间生成电场。此外，因为遮光电极和接收基本上相同公共电压的公共电极330变得等电势，所以在遮光电极和公共电极330之间已经穿过液晶层333的光被第二偏光器阻挡。因此，可以在对应于数据线DL的部分处基本上防止光泄漏。此外，因为遮光电极可以替代遮光层376的在数据线DL上的一部分，所以当使用遮光电极时，可以移除遮光层376的在每条数据线DL上的一部分。因此，当使用遮光电极时，可以进一步增大像素的开口率。

如上所述，数据线DL和公共线CL可以布置在基本上相同的层上。例如，数据线DL和公共线CL可以布置在栅绝缘层311上。

数据线DL和公共线CL可以沿着第一方向DR1交替设置。

可以采用针对数据线DL的缺陷检查而执行针对公共线CL的缺陷检查。也就是说，可以在上述检查方法中一起检查公共线CL和数据线DL。为此，连接至公共线CL的检查线IL可以进一步布置在显示装置的非显示区域AR2中。彼此相邻的数据线DL和公共线CL可以如上所述分组(或配对)。

即使当很大量数据线DL1至DLj以及公共线CL1至CLj-1如图28设置时，也可以使用图3、图24和图25中的一个所图示的检查线结构容易地检查大量数据线DL1至DLj以及公共线CL1至CLj-1，因为相邻的暴露检查线之间的间隔充分间隔开，避免了在检查过程期间一次接触两条或更多条检查线的检查错误。

在实施例中，第一保护层321、层间绝缘层352、第二保护层322、公共电极330、第二基板302、遮光层376和滤色器354可以布置在图4、图5和图6中所图示的第一检查线IL1、第二检查线IL2和栅绝缘层311上。

在该实施例中，布置在图4、图5和图6的第一检查线IL1、第二检查线IL2和栅绝缘层311上的第一保护层321、层间绝缘层352、第二保护层322、公共电极330、第二基板302、遮光层376和滤色器354可以与全部第一检查线IL1和全部第二检查线IL2重叠。

根据本公开的实施例的检查线IL的结构不仅可以适用于数据线DL1至DLj、支持线VL以及公共线CL1至CLj-1，而且还可以适用于栅极线GL1至GLi。

此外，根据本公开的实施例的检查线IL的结构不仅可以适用于液晶显示(“LCD”)装置，而且还可以适用于诸如有机发光二极管(“OLED”)显示装置的其他类型的显示装置。

如上文所述，根据本公开的一个或多个实施例，显示装置以及检查显示装置的信号线的方法提供以下效果。

根据本公开的一个或多个实施例，在相同检查区域中的检查线相对于插入在检查线之间的绝缘层布置在不同层上。因此，可以有效地增大在相同检查区域中暴露检查线之间的间隔。因此，即使数据线的数量是大的，连接至数据线的相邻的检查线之间的间隔也可以充分加宽以有助于对大量数据线的缺陷检查。

尽管已经参照本公开的实施例图示并且描述了本公开了，但是对于本领域普通技术人员明显的是，可以对本公开作出各种形式和细节上的改变而不脱离本公开的精神和范围。