专利名称：彩色显像管电子束配列测试方法及装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种彩色显像管电子束配列测试方法及装置，特别涉及一种利用计算机图像处理技术进行彩色显像管电子束配列的测试方法及装置。
背景技术：
现有的彩色显像管配列测试无论是电子束还是荧光屏黑底配列，都是用显微镜手工进行测量的。目前荧光屏黑底配列已经实现了用计算机自动进行测量，但是电子束配列因为隐藏在黑底之下，目前仍需要用显微镜并辅以消磁器扰动的方法来测量，费时费力，精度不高，因此亟待进行改进。现有的彩管电子束着屏测试用测试仪是基于光斑亮度的全开全闭进行判定，未实现用计算机进行自动测量，因此未考虑到电子束的形状畸变，测试精度受到影响。
发明内容
本发明的目是为了提高彩色显像管电子束配列的测试精度及使测试过程更加简单方便而提出一种技术解决方案，该技术解决方案使测量精度更加精确，提高了彩色显像管电子束配列的测量效率和速度，。
本发明的技术解决方案是利用计算机图像处理技术，将待测彩管的荧光屏上的电子束配列图像读入计算机，通过电磁扰动和采样来识别电子束群组的典型间距，算出电子束配列聚散因子。
本发明的工作原理如下彩色显像管荧光屏电子束在受磁扰动之前，电子束的斑点隐藏于黑底条之下，当电子束受磁扰动后，外轮廓的斑点显现于荧光粉条之间，工作时用带电磁的摄像探头对彩色显像管荧光屏进行磁扰动，对经电磁扰动后显现于荧光粉条之间的电子束斑外轮廓截面的亮度分布进行分析，并对电子束群组典型间距a、b值进行采样，然后算出电子束配列聚散因子。其特点在于用计算机图像处理技术对彩色显像管电子束配列进行测试，包括以下步骤a、将待测彩色显像管的会聚和着屏在调试台上调整到正常状态；b、将装有电磁扰动器(7)的摄像探头贴在荧光屏上，并对电子束进行电磁扰动，电子束偏移量的扰动量由输入电流的大小来控制；c、经过电磁扰动的电子束位于荧光屏黑底中间并在黑底的两边可见并面积近似相等时，用摄像探头将荧光屏上电子束配列图像读入计算机；d、计算机将读入的电子束配列图像数据用最小二乘法进行拟合，形成完整的电子束图像并找出电子束中心，分析在无黑底影响时的电子束截面的亮度分布；e、计算机对电子束群组典型间距a、b值进行采样，并根据采集的a、b值及计算公式 计算出电子束配列的聚散因子；f、计算机(6)完成对计算数据的分析、计算、存储和显示。
电子束配列测试方法的测试装置由彩色显像管荧光屏、摄像探头及电子计算机组成；在摄像探头上安装有一磁扰动器，以形成对电子束的磁扰动；磁扰动器中的四块磁芯在扰动器的圆周上均匀对称设置，相互对称的两块磁芯各用电缆连接并与计算机连接在一起。在计算机内部装入图形处理卡，以对摄入的电子束配列图像进行接收；带有电磁的摄像探头与装入计算机内部的图形处理卡通过电缆与接口连接。
应用本发明可方便的测出电子束配列值，使测量过程快速高效，同时提高了测量精度，在实践中表明具有很好的效果。
图1为彩色显像管电子束配列测试方法的主要流程图；图2为电子束受磁扰动前光点隐藏于黑底条下的图形；图3为电子束受磁扰动后外轮廓显现于黑底条之间的图形；图4为图2A-A截面的亮度分布图；图5为电子束着屏测试原理图；图6-1为彩色显像管电子束配列测试装置图；图6-2为磁扰动器与摄像探头的连接示意图；图6-3为磁扰动器的连线。
具体实施例方式
以下结合附图对本发明作进一步详细说明。
参照图1的彩色显像管电子束配列测试方法的主要流程图，首先将待测彩色显像管荧光屏4的会聚和着屏调整到正常状态；将装有电磁铁芯7的摄像探头5贴在荧光屏4上进行电子束图像摄取，计算机根据摄取的图像，计算电子束3偏移量的大小，由计算机自动控制电磁扰动电流量的增大或减小，再进行电磁扰动；当电磁扰动达到一定量时，电子束3位于荧光屏黑底1的中间并在黑底的两边荧光粉条2中显现，此时，摄像探头5将荧光屏4中显现的电子束配列图像读入计算机6；由计算机将读入的电子束配列图像数据用最小二乘法进行图像拟合，使其成为一个完整的、不受黑底影响的电子束图像，并找出电子束图像的中心，然后对该电子束截面的亮度分布进行分析；由计算机6对电子束群组典型间距a、b值进行采样，并根据a、b值通过计算公式 计算出电子束配列的聚散因子；在计算时，为达到聚散因子为1的标准，而采用 的公式。最后，由计算机7完成对计算数据的分析、计算、存储和显示。
参照图2，电子束3在受磁扰动前，电子束3的光点外轮廓隐藏于黑底条1之下。
参照图3，电子束3受磁扰动后，电子束3的光点外轮廓显现于黑底条1之间；其中a为兰、红电子束间距，b为电子束群组间距。
图4为图2A-A截面的电子束亮度分布图，横坐标是截面距离，竖坐标是亮度，在A--A截面上去经计算机进行图像处理去除黑底的影响后，可对a、b值进行采样，通过对a、b值的计算可得出电子束配列聚散因子。
图5为电子束着屏测试用原理图。当仅考虑单个电子束和黑底的相对位置时，配以左右等值的电磁扰动，可作为电子束着屏测试用。图5a为一般状态下电子束与黑底的相对位置，当加以向左的电磁扰动时，产生向左位移s，如图5b，测量得A值；当加以向右的等强度电磁扰动时，产生向右同等位移s，如图5c，测量得B值，用图形处理方法测得A、B值，这时着屏误差为(A-B)/2。
当设置选项后，还可作为黑底配列测试装置用。
图6-1为彩色显像管电子束配列测试装置图，本发明的彩色显像管电子束配列装置由彩色显像管荧光屏4、带电磁的摄像探头5及电子计算机6组成。
图6-2表示在摄像探头5上安装有一组磁扰动器7，以形成对电子束的磁扰动；在计算机6的内部装入图形处理卡8，以对摄入的电子束配列图像进行处理；带有磁扰动器7的摄像探头5与装入计算机6内部的图形处理卡8通过电缆9连接。
图6-3表示磁扰动器7的连线方式。磁扰动器7中的四块磁芯10在扰动器7的圆周上均匀对称设置，相互对称的两块磁芯10各用电缆9连接并与计算机6连接在一起。
本发明提高了彩管电子束配列的测试精度，使测量精度更加精确。同时使测试过程更加简单方便，提高了彩管电子束配列的测量效率和速度。
权利要求
1.一种彩色显像管电子束配列测试方法，将待测彩色显像管荧光屏(5))的会聚和着屏调整到正常状态；其特征在于用计算机图像处理技术对彩色显像管电子束配列进行测试，包括以下步骤a、将装有电磁扰动器(7)的摄像探头(5)贴在荧光屏(4)上，并对电子束(3)进行电磁扰动；b、经过电磁扰动的电子束(3)位于荧光屏黑底(1)中间并在黑底(1)的两边可见并面积近似相等时，用摄像探头(5)将荧光屏上电子束(3)配列图像读入计算机(6)；c、计算机(6))将读入的电子束配列图像数据进行拟合，形成完整的电子束图像并找出电子束中心，分析在无黑底影响时的电子束截面的亮度分布；d、计算机(6)对电子束群组典型间距a、b值进行采样，并根据a、b值计算出电子束配列的聚散因子；e、计算机(6)完成对计算数据的分析、计算、存储和显示。
2.根据权利要求1所述的电子束配列测试方法，其特征在于所述的电子束偏移量的扰动量由输入电流的大小来控制；
3.根据权利要求1所述的电子束配列测试方法，其特征在于所述的电子束配列图的完整拟合是用最小二乘法来完成的。
4.根据权利要求1所述的电子束配列测试方法，其特征在于电子束配列的聚散因子是根据计算公式 进行计算的。
5.用于权利要求1所述的电子束配列测试方法的测试装置，由彩色显像管荧光屏(4)、摄像探头(5)及电子计算机(6)组成；其特征在于在摄像探头(5)上安装有一磁扰动器(7)，在计算机内部装入图形处理卡(8)，带有电磁的摄像探头(5)与装入计算机(6)内部的图形处理卡(8)通过电缆(9)与计算机接口连接。
6.根据权利要求5所述的电子束配列测试方法的测试装置，其特征在于所述的磁扰动器(7)的中的四块磁芯(10)在扰动器的圆周上均匀对称设置，相互对称的两块磁芯各用电缆(9)连接并与计算机(6)连接在一起。
全文摘要
本发明涉及一种利用计算机图像处理技术进行彩色显像管电子束配列的测试方法及装置，即将待测彩管荧光屏上4的电子束配列图像读入计算机6，通过电磁扰动和采样来识别电子束群组的典型间距，算出电子束配列聚散因子。其工作原理如下彩色显像管荧光屏4的电子束受磁扰动后，外轮廓的斑点显现于荧光粉条之间，用带电磁7的摄像探头5将电子束外轮廓斑点显现于荧光粉条之间的图像摄入计算机6，对其截面的亮度分布进行分析，并对电子束群组典型间距a、b值进行计算，然后算出电子束配列聚散因子。应用本发明可方便的测试出电子束配列值，使测量过程快速高效，同时提高了测量精度，在实践中具有很好的效果。
文档编号H01J9/42GK1529337SQ0313462
公开日2004年9月15日 申请日期2003年9月27日 优先权日2003年9月27日
发明者李勇军, 费民权, 鲁小平, 赵军 申请人:彩虹彩色显像管总厂