专利名称：等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法及检测设备的制作方法
技术领域：
本发明涉及等离子显示屏荧光粉涂布，更具体地，涉及等离子显示屏荧光粉涂布 缺陷的检测方法及检测设备。
背景技术：
在对等离子显示屏基板进行荧光粉涂布的生产中，需要对等离子显示屏基板上涂 布的荧光粉进行缺陷检测。现有的技术多采用紫外灯照射涂布有荧光粉的等离子显示屏基 板，激发荧光粉发光，并在摄像部内部安装红、绿和蓝色的滤色片，从而分别对不同颜色的 荧光粉摄影。然后，摄像部将分别拍摄到的红、绿和蓝色荧光粉发光图像进行图像处理。例 如，针对红色的荧光粉发光图像，可以在其上设立坐标，定义零点坐标位置，然后将其上的 每个坐标位置的被测像素区对应的图像区与一个标准模板的发光图像上的相应坐标位置 的像素区对应的图像区进行例如色谱图的比对。对于某一个坐标位置的像素区对应的图像 区，其与标准模板上相应位置的像素区对应的图像区在色谱图上的坐标距离差的大小决定 了是否该像素区被判断为存在缺陷。这种检测技术需要在摄像部内部安装滤色片，而且需要分别对不同颜色的荧光粉 进行摄影。此外，在图像处理部中，需要分别对每种颜色的荧光粉图像的参数进行运算处 理，运算过程繁琐，且相应设备复杂。尤其是，现有技术中所进行的比对计算都是将被测基 板和一个标准模板的发光图像进行比对。然而，存在对于标准模板如何选择界定的问题。也 就是说，在实际检测中，并没有完全可靠的方法来选择真正没有缺陷的标准模板。虽然出现 了使用用多个模板的图像参数的平均值来做为比对标准的方法，但由于所用的多个模板是 在一个母板上印刷出的，若母板上某处有不为人所知的缺陷，则所用的多个模板上的缺陷 会在同一位置，仍然无法形成真正意义上的无缺陷的比对标准，容易造成误判断。
发明内容
本发明所要解决的一个技术问题是提供一种简单方便，避免使用标准模板进行比 较时产生的误判断的等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法。本发明所要解决的另一个技术问题是提供一种使用简单方便，避免使用标准模板 进行比较时产生的误判断的等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测设备。根据本发明的一个方面，提供了一种等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法， 包括以下步骤获取等离子显示屏基板上涂布的荧光粉发光的图像；在所获取的图像中将 第一图像区与相邻的第二图像区进行图像参数的比较；根据比较结果判断与第一和第二图 像区相对应的等离子显示屏的第一和第二像素区是否存在荧光粉涂布缺陷。进一步地，在判断的步骤后还包括，根据存在荧光粉涂布缺陷的像素区的数量和 位置判断是否需要对等离子体显示屏进行缺陷处理，以及在需要进行缺陷处理的情况下， 选择缺陷处理的方式。进一步地，该图像参数为灰度值。
进一步地，在该比较步骤中，将第一图像区的灰度值与相邻的一个第二图像区的 灰度值进行比较。进一步地，在该比较步骤中，将第一图像区的灰度值与相邻的多个第二图像区的 平均灰度值进行比较。进一步地，该判断步骤包括判断比较结果是否超过预定阈值；若超过预定阈值， 则判断当前图像区相对应的等离子显示屏的像素区存在荧光粉涂布缺陷。进一步地，预定阈值和/或图像区的大小是可调整的。进一步地，获取等离子显示屏基板上涂布的荧光粉发光的图像之前，还包括在等 离子显示屏基板上涂布所需涂布的多层荧光粉中的一层或部分层；或者在等离子显示屏基 板上涂布所需涂布的多层荧光粉。根据本发明的另一个方面，提供了一种等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测设 备，其包括图像获取部件，用于获取等离子显示屏基板上涂布的荧光粉发光的图像；以及 图像处理部件，用于在所获取的图像中将第一图像区与相邻的第二图像区进行图像参数的 比较，并根据比较结果判断与第一和第二图像区相对应的等离子显示屏的第一和第二像素 区是否存在荧光粉涂布缺陷，并进而根据存在荧光粉涂布缺陷的像素区的数量和位置判断 是否需要对所述等离子体显示屏进行缺陷处理，以及在需要进行缺陷处理的情况下，选择 缺陷处理的方式。进一步地，该图像获取部件包括发光部，用于照射等离子显示屏基板；摄像部， 用对等离子显示屏基板上涂布的荧光粉发光图像进行拍摄。进一步地，该检测设备还包括滑台控制部，其中，滑台控制部控制摄像部沿等离 子显示屏表面移动。进一步地，摄像部包括并列排布的多台摄像机，该多台摄像机的视野范围总和覆 盖整个涂布有荧光粉的等离子显示屏基板。本发明具有以下有益效果1.由于等离子显示屏基板上涂布的荧光粉上具有缺陷的区域是少数的点，而大部 分区域都是无缺陷的，从而本发明基于等离子显示屏基板的这一特点，避开了现有技术中 使用标准模板的发光图像与被测模板的发光图像比对的方法，而是将被测模板上的像素区 所对应的发光图像上的图像区与同一被测模板上相邻的像素区所对应的发光图像上的图 像区进行灰度值进行比较，来判断各个像素区的缺陷。这样，就避开了由于标准模板上具有 缺陷而导致误判断的情况。2.由于采用了灰度值比较的方法进行判断，例如，将像素区对应的图像区的灰度 范围定为0-256，通过比较相邻两个图像区的灰度值差，根据该灰度值差是否超过预定阈值 来判断涂布缺陷，此种数值比较的方法非常简单方便。
附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中图1示出了根据本发明的等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法的第一种检 查步骤流程图2示出了根据本发明的等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法的第二种检 查步骤流程图；图3示出了根据本发明的等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测设备的结构简图；图4示出了根据本发明的等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法中进行灰度 值比较时，当前的像素单元的灰度值与相邻的一个像素单元的灰度值进行比较的示意图；图5示出了根据本发明的等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法中进行灰度 值比较时，当前的像素单元的灰度值与相邻的多个像素单元的平均灰度值进行比较的示意 图。
具体实施例方式下面将参考附图并结合实施例，来详细说明本发明。如图3所示，本发明的等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测设备包括图像获取 部件1，用于获取等离子显示屏基板上涂布的荧光粉发光的图像；以及图像处理部件2，用 于在所获取的图像中将第一图像区与相邻的第二图像区进行图像参数的比较，并根据比较 结果判断与第一和第二图像区相对应的等离子显示屏的第一和第二像素区是否存在荧光 粉涂布缺陷，并进而根据存在涂布缺陷的像素区的数量和位置判断是否需要对所述等离子 体显示屏进行缺陷处理，以及在需要进行缺陷处理的情况下，选择缺陷处理的方式。如图3所示，优选地，该图像获取部件1包括发光部11，用于照射等离子显示屏 基板3，在本实施例中，为紫外灯管，其发射的紫外线波长范围为100-380i!m，；摄像部12， 用于对等离子显示屏基板3上涂布的荧光粉发光图像进行拍摄。从图3中可以看到，在本 实施例中，将紫外灯管安装在摄像部12旁，使其在进行检测时随摄像部12共同移动。在实 践中，也可以将紫外灯管固定放置，此时，其辐照范围应覆盖整个检测范围。优选地，等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测设备可以包括滑台控制部(图中未 示出)，用于控制摄像部12沿等离子体显示屏基板3的表面移动，从而可以得到整个等离子 体显示屏基板的视野范围。可以想象，也可以采用摄像部12固定不动，基板在一个机台控 制部的控制下移动的方法，以使摄像部12能拍摄到整个等离子显示屏基板3。另外，摄像部 12也可以包括并列排布的多台摄像机，并使多台摄像机的视野范围总和覆盖整个涂布有荧 光粉的等离子显示屏基板3，从而得到整个基板的视野范围。本发明的等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法包括以下步骤利用图像获取 部件1获取等离子显示屏基板3上涂布的荧光粉发光的图像，具体包括先用紫外灯管，即发 光部11照射涂布了荧光粉的等离子体显示屏基板3，然后用摄像部12对其发光图像进行拍 摄，获取发光图像；利用图像处理部件2在所获取的图像中将第一图像区与相邻的第二图 像区进行灰度值的比较，并根据比较结果判断与第一和第二图像区相对应的等离子显示屏 的第一和第二像素区是否存在荧光粉涂布缺陷。之后，将整个等离子体显示屏基板3划分 为若干区域，一旦判断出若干区域中的中间区域存在具有荧光粉涂布缺陷的像素区，或某 一个边缘区域中存在具有荧光粉涂布缺陷的像素区的个数超过限定的阈值，则可以判断整 个等离子显示屏基板3需要清洗，进而清洗相应的荧光粉层；当边缘区域中的具有缺陷的 像素区个数未超过限定的阈值，也可以使用激光的方法刻蚀掉掉具有缺陷的像素区的荧光 粉，并进行荧光粉涂布修补，此方法灵活方便。
可以理解，由于本发明避开了现有技术中使用标准模板的荧光粉发光图像与被测 模板的荧光粉发光图像比对的方法，而是将同一被测模板上的一个像素区对应的图像区与 相邻的像素区对应的图像区进行灰度值进行比较，来判断各个像素单元的缺陷，这样，就避 开了由于标准模板上具有缺陷而导致误判断的情况。本发明基于这样一个事实即等离子 显示屏基板上涂布的荧光粉上具有缺陷的区域是少数的点，而大部分区域都是无缺陷的。 此外，灰度值的比较方法简单方便且直观，在实践中，也可以根据具体情况使用其他参数比 较的方法。如图4所示，优选地，在所获取的图像中将当前像素单元与相邻的像素单元进行 灰度值的比较包括将第一图像区A的灰度值与相邻的一个图像区B的灰度值进行比较。进 而根据比较得到的灰度差值判断第一图像区A对应的荧光粉涂布区域是否存在涂布缺陷。 例如所有图像区的灰度范围为0-256，设定阈值为10，第一图像区A的灰度值为100，而第二 图像区B的灰度值为115，二者的差值大于阈值10，并且在将第二图像区B与其他图像区比 较后已经获知第二图像区B不存在涂布缺陷，则可以判断像素单元A对应的荧光粉涂布区 域存在涂布缺陷。此种比较方式简单快捷。如图5所示，优选地，在所获取的图像中将当前像素单元与相邻的像素单元进行 灰度值的比较包括将当前的第一图像区A的灰度值与相邻的多个像素区，例如B和C的平 均灰度值进行比较。进而根据比较得到的灰度差值判断第一图像区A对应的荧光粉涂布区 域是否存在涂布缺陷。例如所有图像区的灰度范围为0-256，设定阈值为10，第一图像区A 的灰度值为100，而第二图像区中B的灰度值为90，C的灰度值为80，第二图像区B和C的 平均灰度值为85，该平均灰度值85与第一图像区A的灰度值100的差值大于阈值10，则可 以判断第一图像区A对应的荧光粉涂布区域存在涂布缺陷。此种比较方式简单快捷，且相 对于与一个图像区进行比较的方法精确度更高。图4和图5所示的两种方法中所描述的预定阈值以及用于比较的图像区的大小是 可以根据检测精度来确定的。例如，当需要提高检测精度时，可以将预定阈值由原来的10 改为8，并且/或者将作为比较基础的像素单元改小。这样就很容易根据实际情况来增大或 减小检测精度。如图1所示，优选地，该方法在获取等离子显示屏基板3上涂布的荧光粉发光的图 像之前，还包括在所述等离子显示屏基板3上涂布所需涂布的多层荧光粉中的一层或部分 层。也就是说，在涂布了每层荧光粉之后，或者涂布了部分层的荧光粉之后，就使用本发明 的方法来进行缺陷检查。例如，如图1所示，若需要在等离子显示屏基板3上顺次涂布荧光 粉a、b和c，在印刷了荧光粉a后，即按照上文所述的方法进行印刷缺陷检查，若检查结果 为不合格，则马上进行荧光粉清洗，然后重新印刷荧光粉a，直至检查后结果为合格。之后以 同样方法印刷和检查荧光粉b、荧光粉c，之后进行后续工序。这种方法能够避免在涂布了 不合格的某层荧光粉后，继续不必要地涂布其他层。或者，该方法在获取等离子显示屏基板3上涂布的荧光粉发光的图像之前，还包 括在所述等离子显示屏基板3上涂布所需涂布的多层荧光粉。也就是说，在涂布了所有层 的荧光粉之后再使用本发明的方法来进行缺陷检查。具体如图2所示，若需要在等离子显 示屏基板上顺次涂布荧光粉a、b和c，则在顺次印刷了荧光粉a、b和c之后，再进行印刷缺 陷检查，若检查结果为不合格，则进行荧光粉清洗，将a、b和c层荧光粉全部清洗，然后重新顺次印刷荧光粉a、b和c，进行缺陷检查，直至检查合格后再进行后续工序。这种方法减少 了检测次数。此外，上文所描述的等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测设备可以作为独立的检 查设备对等离子体显示屏基板3执行检测，也可以安装在制作荧光粉的丝网印刷机上，成 为其附属设备。以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技 术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修 改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
权利要求
一种等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法，其特征在于，包括以下步骤获取等离子显示屏基板上涂布的荧光粉发光的图像；在所获取的图像中将第一图像区与相邻的第二图像区进行图像参数的比较；根据比较结果判断与所述第一和第二图像区相对应的所述等离子显示屏的第一和第二像素区是否存在荧光粉涂布缺陷。
2.根据权利要求1所述的离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法，其特征在于，在所 述判断的步骤后还包括，根据存在荧光粉涂布缺陷的像素区的数量和位置判断是否需要对 所述等离子体显示屏进行缺陷处理，以及在需要进行缺陷处理的情况下，选择缺陷处理的 方式。
3.根据权利要求1所述的离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法，其特征在于，所述 图像参数为灰度值。
4.根据权利要求3所述的离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法，其特征在于，在所 述比较步骤中，将所述第一图像区的灰度值与相邻的一个第二图像区的灰度值进行比较。
5.根据权利要求3所述的离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法，其特征在于，在所 述比较步骤中，将所述第一图像区的灰度值与相邻的多个第二图像区的平均灰度值进行比较。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法，其特 征在于，所述判断步骤包括判断所述比较结果是否超过预定阈值；若超过所述预定阈值，则判断当前图像区相对应的所述等离子显示屏的像素区存在荧 光粉涂布缺陷。
7.根据权利要求6所述的离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法，其特征在于，所述 预定阈值和/或所述图像区的大小是可调整的。
8.根据权利要求1所述的离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法，其特征在于，获取 等离子显示屏基板上涂布的荧光粉发光的图像之前，还包括在所述等离子显示屏基板上涂布所需涂布的多层荧光粉中的一层或部分层；或者在所述等离子显示屏基板上涂布所需涂布的多层荧光粉。
9.一种等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测设备，其特征在于，包括图像获取部件(1)，用于获取等离子显示屏基板上涂布的荧光粉发光的图像；以及图像处理部件(2)，用于在所获取的图像中将第一图像区与相邻的第二图像区进行图 像参数的比较，并根据比较结果判断与所述第一和第二图像区相对应的所述等离子显示屏 的第一和第二像素区是否存在荧光粉涂布缺陷，并进而根据存在荧光粉涂布缺陷的像素区 的数量和位置判断是否需要对所述等离子体显示屏进行缺陷处理，以及在需要进行缺陷处 理的情况下，选择缺陷处理的方式。
10.根据权利要求9所述的等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测设备，其特征在于，所 述图像获取部件包括发光部(11)，用于照射所述等离子显示屏基板(3)；摄像部(12)，用于对所述等离子显示屏基板(3)上涂布的荧光粉发光图像进行拍摄。
11.根据权利要求10所述的等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测设备，其特征在于，还包括滑台控制部，其中，所述滑台控制部控制所述摄像部(12)沿所述等离子显示屏表 面移动。
12.根据权利要求11所述的等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测设备，其特征在于， 所述摄像部(12)包括并列排布的多台摄像机，所述多台摄像机的视野范围总和覆盖整个 涂布有荧光粉的所述等离子显示屏基板(3)。
全文摘要
本发明提供了一种等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法及检测设备，该检测方法包括以下步骤获取等离子显示屏基板上涂布的荧光粉发光的图像；在所获取的图像中将第一图像区与相邻的第二图像区进行图像参数的比较；根据比较结果判断与第一和第二图像区相对应的等离子显示屏的第一和第二像素区是否存在荧光粉涂布缺陷，并进而根据存在荧光粉涂布缺陷的像素区的数量和位置判断整个等离子体显示屏是否存在荧光粉涂布缺陷。其中，在所获取的图像中将第一图像区与相邻的第二图像区进行图像参数的比较的步骤避开了现有技术中使用标准模板的发光图像与被测模板的发光图像比对判断的方法。这样，就避开了由于标准模板上具有缺陷而导致误判断的情况。
文档编号H01J9/42GK101800142SQ20101017826
公开日2010年8月11日 申请日期2010年5月11日 优先权日2010年5月11日
发明者陈超 申请人:四川虹欧显示器件有限公司