利用管式PECVD设备制备背面钝化膜的方法与流程

文档序号:18399887发布日期:2019-08-09 23:46阅读:1112来源:国知局
本发明属于太阳能电池工艺
技术领域
,涉及一种利用管式pecvd设备制备背面钝化膜的方法。
背景技术
:perc(passivatedemitterandrearcell),即钝化发射极和背面电池,最早在1983年由澳大利亚科学家martingreen提出,目前已成为太阳能电池新一代的常规电池。perc通过在电池的背面添加一个电介质钝化层,最大化跨越p-n结的电势梯度,有效减少硅片背面少数载流子复合速率,降低背面的发射率,增加长波段太阳光的吸收,使得电池效率有了大的提升;并且由于钝化层的介入,电池片的翘曲度也得到了一定的改善。perc核心工艺——背面钝化膜的制备,直接影响背钝化效果的好坏。目前主流技术是在硅片背面制备alox/sinx叠层结构,alox膜具有优异的背钝化效果,sinx膜起到保护alox膜的作用。现有背面钝化膜的制备方法主要有两种:一种是用板式pecvd设备一次性完成alox/sinx叠层的制备;另一种是用ald设备和管式pecvd分别完成alox膜和sinx膜的制备。这些制备方法中存在的主要缺点有:1、板式pecvd设备昂贵,维护频率高,制造成本高,制备alox膜过程中所消耗的工艺气体多;2、ald设备和管式pecvd设备的方式,需要两种设备,即两道工序,设备成本高,工艺复杂。技术实现要素:本发明要解决的技术问题是克服现有技术的不足,提供一种设备投资成本低、维护频率低、制备成本低的利用管式pecvd设备制备背面钝化膜的方法。为解决上述技术问题,本发明采用的技术方案是:一种利用管式pecvd设备制备背面钝化膜的方法,包括以下步骤:s1、将硅片置于管式pecvd设备的炉管中,将炉管恒温至270℃~320℃;s2、往管式pecvd设备的炉管中通入nh3,开启中频电源,对硅片进行前处理;s3、往管式pecvd设备的炉管中通入n2o和三甲基铝,开启中频电源,在步骤s2中经前处理后的硅片背面沉积alox膜;s4、将管式pecvd设备的炉管升温到420℃~470℃,同时在升温过程中通入nh3和n2o,开启中频电源,对步骤s3中沉积有alox膜的硅片进行后处理;s5、往管式pecvd设备的炉管中通入sih4和nh3,开启中频电源,在步骤s4中经后处理后的alox膜上沉积第一sinx膜;s6、往管式pecvd设备的炉管中通入sih4和nh3,开启中频电源,在步骤s5中的第一sinx膜上沉积第二sinx膜,完成对背面钝化膜的制备。上述的制备方法,进一步改进的,所述步骤s2中,所述前处理的工艺条件为:nh3流量3500sccm~7000sccm,炉管内压力200pa~230pa,温度270℃~320℃,中频功率4000w~8000w,时间15s~45s。上述的制备方法,进一步改进的,所述步骤s3中,所述沉积alox膜的工艺条件为:n2o流量3000sccm~8000sccm,三甲基铝流量0.5mg/min~1.5mg/min,炉管内压力200pa~230pa,温度270℃~320℃,中频功率4000w~8000w,时间60s~150s;所述三甲基铝经蒸发器从液态蒸发为气态,并由ar携带进入管式pecvd设备的炉管中。上述的制备方法,进一步改进的,所述步骤s3中,所述alox膜的折射率为1.58~1.67;所述alox膜的厚度为10nm~25nm。上述的制备方法,进一步改进的,所述步骤s4中,所述后处理的工艺条件为:nh3流量3000sccm~7000sccm,n2o流量2000sccm~6000sccm,炉管内压力200pa~230pa,中频功率为4000w~8000w,时间150s~300s。上述的制备方法,进一步改进的,所述步骤s5中,所述沉积第一sinx膜的工艺条件为:nh3流量5000sccm~10000sccm,sih4流量500sccm~1200sccm,炉管内压力200pa~230pa,温度420℃~470℃,中频功率8000w~14000w,时间300s~500s。上述的制备方法,进一步改进的,所述步骤s5中,所述第一sinx膜的折射率为1.95~2.05;所述第一sinx膜的厚度为30nm~50nm。上述的制备方法,进一步改进的,所述步骤s6中,所述沉积第二sinx膜的工艺条件为:nh3流量4000sccm~8000sccm,sih4流量500sccm~1500sccm,炉管内压力200pa~230pa,温度420℃~470℃,中频功率8000w~14000w,时间300s~700s。上述的制备方法,进一步改进的,所述步骤s6中,所述第二sinx膜的折射率为2.00~2.10;所述第二sinx膜的厚度为30nm~70nm。上述的制备方法,进一步改进的,所述步骤s1中,所述硅片在进入管式pecvd设备之前还包括对硅片进行制绒、扩散、刻蚀清洗和氧化退火处理;所述步骤s2中,所述通入nh3之前还包括对管式pecvd设备进行抽真空和检漏;所述步骤s3中,所述通入n2o和三甲基铝之前还包括对管式pecvd设备依次进行抽真空、n2吹扫和抽真空;所述步骤s4中,所述炉管进行升温之前还包括对管式pecvd设备依次进行抽真空、n2吹扫和抽真空。与现有技术相比,本发明的优点在于:(1)本发明提供了一种利用管式pecvd设备制备背面钝化膜的方法,通过利用管式pecvd设备并改良工艺流程和工艺参数即可实现perc电池背面钝化膜的制备,不仅有利于提高旧产线或旧设备的利用率,同时还具有设备投资成本低、维护频率低、制备成本低等优点,且由此制得的太阳电池也具有较高的光电转换效率,对于实现perc电池的广泛应用具有十分重要的意义。具体实施方式以下结合具体优选的实施例对本发明作进一步描述,但并不因此而限制本发明的保护范围。以下实施例中所采用的材料和仪器均为市售。本发明的实施例中,若无特别说明,所采用的工艺为常规工艺,所采用的设备为常规设备,且所得数据均是三次以上试验的平均值。实施例1:一种利用管式pecvd设备制备背面钝化膜的方法,包括以下步骤:(1)将完成制绒、扩散、刻蚀清洗和氧化退火工序的p型硅片送入管式pecvd设备的炉管中,抽真空、恒温至温度为280℃、检漏工艺步骤。(2)步骤(1)完成后,往管式pecvd设备的炉管中通入nh3,开启中频电源,对硅片进行前处理。前处理的工艺条件为:nh3流量控制在5000sccm,炉管内压力210pa,温度280℃,中频功率7000w。前处理的时间为30s。本发明中,在alox膜沉积前进行前处理,旨在清洁硅片表面、使硅片表面温度分布更为均匀,为alox膜沉积提供良好的衬底。(3)步骤(2)完成后,对管式pecvd设备进行抽真空、n2吹扫、抽真空,旨在抽空残余反应气体,清洁硅片表面。(4)步骤(3)完成后,往管式pecvd设备的炉管中通入n2o和tma(三甲基铝),开启中频电源,在步骤(2)中经前处理后的硅片背面沉积alox膜,其中alox膜的折射率为1.60,厚度为20nm。沉积alox膜的工艺条件为:n2o流量3500sccm,三甲基铝流量1.3mg/min,炉管内压力210pa,温度280℃,中频功率7500w,时间为120s;三甲基铝经蒸发器从液态蒸发为气态,并由ar携带进入管式pecvd设备的炉管中。本发明中,通过调整气体流量比、工艺时间以及中频功率等因素,将alox膜的折射率控制在1.58-1.67,膜厚控制10-25nm,同时改善alox晶体结构,提高钝化效果。(5)步骤(4)完成后,对管式pecvd设备进行抽真空、n2吹扫、抽真空,旨在抽空残余反应气体,清洁硅片表面。(6)步骤(5)完成后,将管式pecvd设备的炉管升温至430℃,同时在升温过程中通入nh3和n2o,开启中频电源,对步骤(4)中沉积有alox膜的硅片进行后处理,其中后处理的工艺条件为:nh3流量3000sccm,n2o流量3500sccm,炉管内压力220pa,中频功率4800w,处理时间200s。本发明中,在alox膜沉积后进行后处理,旨在为alox膜提供充足的h和o,合理匹配气体流量比、工艺时间以及中频功率等因素,修复硅片表面晶体缺陷,改善alox晶体结构,提高钝化效果。(7)步骤(6)完成后,对管式pecvd设备进行抽真空,旨在抽空残余反应气体。(8)步骤(7)完成后,往管式pecvd设备的炉管中通入sih4和nh3,开启中频电源,在步骤(6)中经后处理后的alox膜上沉积第一sinx膜,其中第一sinx膜的折射率为1.96,厚度为45nm。沉积第一sinx膜的工艺条件为:nh3流量7800sccm,sih4流量800sccm,炉管内压力220pa,温度430℃,中频功率9500w,处理时间450s。本发明中,匹配气体流量比、工艺时间以及中频功率等因素,将sinx膜的折射率控制在1.95-2.05,膜厚控制30-50nm,提高sinx膜的保护作用,增加入射光吸收率。(9)步骤(8)完成后,对管式pecvd设备进行抽真空,旨在抽空残余反应气体。(10)步骤(9)完成后,往管式pecvd设备的炉管中通入sih4和nh3,开启中频电源,在步骤(8)中的第一sinx膜上沉积第二sinx膜,其中第二sinx膜的折射率为2.03,厚度为60nm,完成对背面钝化膜(alox/sinx叠层)的制备。沉积第二sinx膜的工艺条件为:nh3流量6800sccm,sih4流量1050sccm,炉管内压力220pa,温度430℃,中频功率13000w,处理时间600s。本发明中,匹配气体流量比、工艺时间以及中频功率等因素,将sinx膜的折射率控制在2.00-2.10,膜厚控制30-70nm,提高sinx膜的保护作用,增加入射光吸收率。将制备有背面钝化膜直白的硅片进过正面膜沉积、丝网印刷、烧结形成电池,进行电性能测试。与利用板式pecvd设备完成背面钝化制备的电池片(由现有生产线正常生产)的测试结果进行对比,结果如表1所示。表1管式pecvd设备与板式pecvd设备制得的电池片的电性能数据对比设备uociscrserrshuntffeta管式pecvd0.67409.76160.00109611.08282.3022.16板式pecvd0.67409.74560.00105804.36282.3522.14由表1可知,直接表征钝化效果的电池开路电压uoc以及最终的电池效率数据显示管式pecvd制备的背面钝化膜已经达到了板式pecvd制备所得背面钝化膜同等水平的钝化效果。对比两种设备的投资成本,维护频率和tma耗气量数据如下表2所示。表2管式pecvd设备与板式pecvd设备投资成本、维护频率和tma耗气量对比设备投资成本维护频率稼动率tma耗量管式pecvd72%60天98%5~7mg/片板式pecvd100%10天92%7~9mg/片由表2可知,本发明方法具有设备投资成本低、维护频率低、制备成本低等优点,对于实现perc电池的广泛应用具有十分重要的意义。以上实施例仅是本发明的优选实施方式,本发明的保护范围并不仅局限于上述实施例。凡属于本发明思路下的技术方案均属于本发明的保护范围。应该指出,对于本
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的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下的改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。当前第1页12
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