一种二维硒化钨的生长方法

文档序号:33550597发布日期:2023-03-22 10:36阅读:来源:国知局

技术特征:
1.一种二维硒化钨的生长方法,其特征是,以硒化钨为靶材,加热;加热到目标温度时,通入保护气体,进行化学气相沉积,将硒化钨沉积在衬底上,生长完成后,迅速降温以阻止合成的硒化钨受到刻蚀,得到二维硒化钨;在加热过程中,从衬底向靶材通入保护气体。2.如权利要求1所述的二维硒化钨的生长方法,其特征是,所述衬底为sio2/si衬底。3.如权利要求1所述的二维硒化钨的生长方法,其特征是,所述保护气体为氩气。4.如权利要求1所述的二维硒化钨的生长方法,其特征是,在开始加热前,通入保护气体以清洗气路,保护气体的流动方向为从衬底向靶材方向。5.如权利要求4所述的二维硒化钨的生长方法,其特征是,在开始加热前,通入保护气体以清洗气路时,保护气体的流速为500sccm。6.如权利要求1-5任一项所述的二维硒化钨的生长方法,其特征是,在加热时,通入保护气体,保护气体的流速为80-120sccm。7.如权利要求1-5任一项所述的二维硒化钨的生长方法,其特征是,所述目标温度为1150℃,化学气相沉积的气压为标准大气压。8.如权利要求1-5任一项所述的二维硒化钨的生长方法,其特征是,进行化学气相沉积时,将保护气体从靶材吹扫向衬底,保护气体的气流速度为80-120sccm。9.如权利要求1-5任一项所述的二维硒化钨的生长方法,其特征是,硒化钨和衬底都放置在化学气相沉积的管式炉中,硒化钨置于管式炉的中部,衬底距离硒化钨的距离为19-25cm。10.如权利要求1-5任一项所述的二维硒化钨的生长方法,其特征是,迅速降温以阻止硒化钨沉积的方式为,将衬底所在的装置暴露在外界,以迅速降温。

技术总结
本发明属于材料技术领域,具体涉及一种二维硒化钨的生长方法,以硒化钨为靶材,加热;加热到目标温度时,通入保护气体,进行化学气相沉积,将硒化钨沉积在衬底上,生长完成后,迅速降温以阻止合成的硒化钨受到刻蚀,得到二维硒化钨;在加热过程中,从衬底向靶材通入保护气体;本申请的二维硒化钨可以通过控制温度,得到不同的晶体形态,且底层的硒化钨的尺寸较好;本申请的硒化钨晶体的均匀性较好,各层之间的耦合作用差异较大;两层硒化钨之间具有均匀的应变分布和层间耦合,二维硒化钨的整体质量较高。量较高。量较高。


技术研发人员:王广 吕志权 周溯媛 杨鸣 彭刚
受保护的技术使用者:中国人民解放军国防科技大学
技术研发日:2022.12.02
技术公布日:2023/3/21
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