专利名称：芯片型电容器高压筛选装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种筛选机，特别涉及一种芯片型电容器高压筛选装置。
背景技术：
芯片型电容器为使用于电子产品上的重要元件之一，芯片型电容器在制作完成之后，需要通过筛选装置的高压检测，以确保其能够正常使用。
目前现有的筛选装置是利用筛选机构分离出单一个芯片型电容器，让该芯片型电容器给一测试装置检测，并根据检测结果，再利用分料机构将通过检测与没通过检测的芯片型电容器分别移至不同的存放区，藉以筛选出测试通过的芯片型电容器。
此现有的筛选装置一次只能针对一个芯片型电容器进行检测，因此现有筛选装置的筛选周期难以缩短，所以其筛选的效率不好，难以符合使用者的需求。
实用新型内容为解决上述的缺陷，本实用新型的主要目的在于提供一种芯片型电容器高压筛选装置，其可提高筛选的效率，增加筛选装置的产量，以符合使用者的需求。
为此，本实用新型提供了一种芯片型电容器高压筛选装置，用以筛选芯片型电容器，其包括一整列定位组、一移位吸头组、一夹测组、与一分料收料组，其藉由该整列定位组，让至少一芯片型电容器被整列为特定方向，并输送定位于一特定位置；再藉由该移位吸头组上的至少一吸嘴与移动机构，与该夹测组的至少一对接夹头与开合机构，让芯片型电容器夹制于该对接夹头上，并藉于该测试装置对芯片型电容器进行检测，从而产生一测试结果，最后通过该分料收料组并根据该测试结果，将该芯片型电容器分类存放，即可筛选芯片型电容器。
根据本实用新型的芯片型电容器高压筛选装置可同时检测多个芯片型电容器，且移位吸头组在夹测组测试芯片型电容器时，可再次吸取下一批待测试的芯片型电容器，因而其可加快筛选速度，提高筛选机的工作效率，满足使用者的需求。
图1是本实用新型的结构立体外观图。
图2是本实用新型的储料斗组的右视图。
图3是本实用新型的整列定位组的前视图。
图4是本实用新型的移位吸头组的右视图。
图5是本实用新型的移位吸头组吸取芯片型电容器的示意图。
图6是本实用新型的夹测组的前视图。
图7是本实用新型的夹测纽夹置芯片型电容器的示意图。
图8是本实用新型的分料收料组的前视图。
具体实施方式
为能对本实用新型的特征、目的、及功效，有着更加深入地了解与认同，现结合附图对根据本实用新型的优选实施例说明如下请参阅图1所示，本实用新型的芯片型电容器高压筛选装置，用以筛选芯片型电容器90，其包括一储料斗组10、一整列定位组20、一移位吸头组30、一夹测组40、与一分料收料组50。
请再参阅图2所示，该储料斗组10具有一漏斗状的储料桶11、一进料滑道12、与一振动送料器13，该储料桶11的底端设一正对该进料滑道12的开口，该进料滑道12设于该振动送料器13上，该进料滑道12的末端位于该整列定位组20之上，以通过该振动送料器13的振动将芯片型电容器90由该储料桶11经该进料滑道12掉落至该整列定位组20上。且该进料滑道12的末端端缘121可与该进料滑道12呈一斜角，其可让芯片型电容器90能更均匀洒落于整列定位组20上。且为避免整列定位组20上累积过多的芯片型电容器90，其中该进料滑道12在该整列定位组20的上方处装设一侦测器14，当整列定位组20上的芯片型电容器90累积到达一定高度时，振动送料器13即停止运作。
请再参阅图3所示，本实用新型藉由该整列定位组20，让至少一芯片型电容器90被整列为特定方向，并加以输送定位于一特定位置。该整列定位组20具有一振动送料器21、一整列平台22、与一罩盖23，该整列平台22设于该振动送料器21之上，且该整列平台22的表面设有至少一整列槽221，其藉由该振动送料器21的振动，让芯片型电容器90掉落于该整列槽221内以整列为特定方向，该罩盖23安装于该整列平台22上，并让该整列平台22的边端222裸露于该罩盖23之外，且该整列平台22与该罩盖23的间隙恰容许单一个芯片型电容器90通过振动沿着该整列槽221滑移至该整列平台22的边端222，而该特定位置即为该整列平台22的边端222，且该整列平台22上可设一可调式挡片24，该可调式挡片24可通过一固定螺丝241锁于该罩盖23上，若芯片型电容器90的横截面为长方形，本实用新型可藉由移动该可调式挡片24，以调整该整列平台22与该可调式挡片24之间，供芯片型电容器90通过的间隙，使芯片型电容器90只能以平躺的方式进入该罩盖23内，其可增加该整列平台22的整列效率。
请再参阅图4所示，该移位吸头组30具有至少一吸嘴31与一移动机构32，此处吸嘴31的数量根据整列槽221的数量而定，本实施例的数量是8个，但并不以此为限。该吸嘴31设于该移动机构32上且该吸嘴31连接有一真空发生器(图中未示出)，且该真空发生器与该吸嘴31之间设有一压力侦测器33，以侦测该吸嘴31是否吸取到芯片型电容器90。又该移动机构32具有一横向移动滑轨321与一纵向移动滑轨322，以使其可横向移动与纵向移动。
请再参阅图5所示，当芯片型电容器90通过振动沿着该整列槽221滑移至该整列平台22的边端222时，该吸嘴31会借着该移动机构32的移动与芯片型电容器90接触，以利用吸力吸取芯片型电容器90，同时利用压力侦测器33判断是否吸取到芯片型电容器90，而本实用新型还可包括一遮挡片60，该遮挡片60在芯片型电容器90位于该特定位置时，掩盖住该芯片型电容器90，并在该移位吸头组30吸取芯片型电容器90时，平移以裸露出该芯片型电容器90，其可减少芯片型电容器90在该整列平台22上掉落的机率。
请再参阅图6与图7所示，该夹测组40具有至少一对接夹头41，此处该对接夹头41的数量根据吸嘴31的数量而定，该对接夹头41分别设于一开合机构42的两侧，且该对接夹头41连接有一可输出高压测试的测试装置(图未示)，该吸嘴31通过吸力吸取位于该特定位置的芯片型电容器90后，通过该移动机构32将芯片型电容器90移至于该夹测组40处，同时该对接夹头41通过该开合机构42的移动，将芯片型电容器90夹制于该对接夹头41上，并藉于该测试装置对芯片型电容器90进行检测，从而产生一测试结果。
请再参阅图8所示，该分料收料组50具有两收料盒51与至少一分料机构52，此处该分料机构52的数量根据该对接夹头41的数量而定，且该分料机构52位于该对接夹头41的下方，当芯片型电容器90测试完成之后，该对接夹头41放开芯片型电容器90，让芯片型电容器90掉落入该分料机构52，该分料机构52根据该测试结果，选择该两收料盒51的其中之一让该芯片型电容器90落入，藉以筛选芯片型电容器90。
其中该分料机构52包括一滑移槽521、一推移杆522、与一复位弹簧523，且该两收料盒51的上方各自设有一进料孔道53，该滑移槽521具有一承接口521a与一底部开口521b，该滑移槽521通过该推移杆522与该复位弹簧523可在该两收料盒51上左右滑移而具有一常设位置与一启动位置，并使该底部开口521b在该常设位置与该启动位置分别正对该两进料孔道53的其中之一，且该承接口521a在该滑移槽521位于该常设位置与该启动位置时，均可承接自该对接夹头41落下的芯片型电容器90。又该分料机构52具有一传感器524，该传感器524侦测该滑移槽521是否处于该启动位置，以确定该分料机构52是否正确动作。以本实施例来说，若芯片型电容器90测试通过，则该滑移槽521通过该推移杆522移至启动位置，以将测试通过的芯片型电容器90集中于左方的收料盒51，此时传感器524会确认该滑移槽521是否处于启动位置，以确保该滑移槽521的动作正常，若芯片型电容器90测试不通过或是芯片型电容器90因不明原因而在测试前已经掉落，则因此时滑移槽521处于常设位置，因而其会被收集于右方的收料盒51，等待进一步的测试，所以在此设计之下，可确保左方的收料盒51下的芯片型电容器90均为通过测试的合格品。
如上所述，本实用新型可同时检测多个芯片型电容器，且本实用新型的移位吸头组在夹测组测试芯片型电容器时，可再次吸取下一批待测试的芯片型电容器，因而其可加快筛选速度，提高筛选机的工作效率，满足使用者的需求。
以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包括在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1.一种芯片型电容器高压筛选装置，用以筛选芯片型电容器(90)，其特征在于，所述芯片型电容器高压筛选装置包括一整列定位组(20)，藉由所述整列定位组(20)，至少一芯片型电容器(90)被整列为特定方向，并加以输送定位于一特定位置；一移位吸头组(30)，所述移位吸头组(30)具有至少一吸嘴(31)与一移动机构(32)，所述吸嘴(31)设于所述移动机构(32)上且所述吸嘴(31)连接有一真空发生器；一夹测组(40)，所述夹测组(40)具有至少一对接夹头(41)，所述对接夹头(41)分别设于一开合机构(42)的两侧，且所述对接夹头(41)连接有一测试装置，所述吸嘴(31)通过吸力吸取位于所述特定位置的芯片型电容器(90)，并通过所述移动机构(32)将所述芯片型电容器(90)移至所述夹测组(40)处，同时所述对接夹头(41)通过所述开合机构(42)的移动，将芯片型电容器(90)夹制于所述对接夹头(41)上，并通过在所述测试装置对芯片型电容器(90)进行检测，产生一测试结果；一分料收料组(50)，所述分料收料组(50)具有两收料盒(51)与至少一分料机构(52)，且所述分料机构(52)位于所述对接夹头(41)的下方，当所述芯片型电容器(90)测试完成之后，所述对接夹头(41)放开芯片型电容器(90)，让芯片型电容器(90)掉落到所述分料机构(52)，所述分料机构(52)根据所述测试结果，选择所述两收料盒(51)的其中之一让所述芯片型电容器(90)落入，藉以筛选所述芯片型电容器(90)。
2.根据权利要求1所述的芯片型电容器高压筛选装置，其特征在于，还包括一储料斗组(10)，所述储料斗组(10)具有一漏斗状的储料桶(11)、一进料滑道(12)、与一振动送料器(13)，所述储料桶(11)的底端设一正对所述进料滑道(12)的开口，所述进料滑道(12)设于所述振动送料器(13)上，所述进料滑道(12)的末端位于所述整列定位组(20)之上，以通过所述振动送料器(13)的振动将所述芯片型电容器(90)由所述储料桶(11)经所述进料滑道(12)掉落至所述整列定位组(20)上。
3.根据权利要求2所述的芯片型电容器高压筛选装置，其特征在于，所述进料滑道(12)的末端端缘(121)与所述进料滑道(12)呈一斜角。
4.根据权利要求2所述的芯片型电容器高压筛选装置，其特征在于，所述进料滑道(12)在所述整列定位组(20)的上方处装设一侦测器(14)。
5.根据权利要求1所述的芯片型电容器高压筛选装置，其特征在于，所述整列定位组(20)具有一振动送料器(21)、一整列平台(22)、与一罩盖(23)，所述整列平台(22)设于所述振动送料器(21)之上，且所述整列平台(22)的表面设有至少一整列槽(221)，其藉由所述振动送料器(21)的振动，让所述芯片型电容器(90)掉落到所述整列槽(221)内以整列为特定方向，所述罩盖(23)安装于所述整列平台(22)上并让所述整列平台(22)的边端(222)裸露于所述罩盖(23)之外，且所述整列平台(22)与所述罩盖(23)的间隙恰容许单一个芯片型电容器(90)通过振动沿着所述整列槽(221)滑移至所述整列平台(22)的边端(222)，而所述特定位置即为所述整列平台(22)的边端(222)。
6.根据权利要求5所述的芯片型电容器高压筛选装置，其特征在于，还包括一遮挡片(60)，所述遮挡片(60)在芯片型电容器(90)位于所述特定位置时，掩盖住所述芯片型电容器(90)，并在所述移位吸头组(30)吸取芯片型电容器(90)时，平移以裸露出所述芯片型电容器(90)。
7.根据权利要求5所述的芯片型电容器高压筛选装置，其特征在于，且所述整列平台(22)上可设一可调式挡片(24)，所述可调式挡片(24)可通过一固定螺丝(241)锁于所述罩盖(23)上，以调整所述整列平台(22)与所述可调式挡片(24)之间，供所述芯片型电容器(90)通过的间隙。
8.根据权利要求1所述的芯片型电容器高压筛选装置，其特征在于，所述真空发生器与所述吸嘴(31)之间设有一压力侦测器(33)，以侦测所述吸嘴(31)是否吸取到所述芯片型电容器(90)。
9.根据权利要求1所述的芯片型电容器高压筛选装置，其特征在于，所述移动机构(32)具有一横向移动滑轨(321)与一纵向移动滑轨(322)，以使其可横向移动与纵向移动。
10.根据权利要求1所述的芯片型电容器高压筛选装置，其特征在于，所述分料机构(52)包括一滑移槽(521)、一推移杆(522)、与一复位弹簧(523)，且所述两收料盒(51)的上方各自设有一进料孔道(53)，所述滑移槽(521)具有一承接口(521a)与一底部开口(521b)，所述滑移槽(521)通过所述推移杆(522)与所述复位弹簧(523)可在所述两收料盒(51)上左右滑移，从而具有一常设位置与一启动位置，并使所述底部开口(521b)在所述常设位置与所述启动位置分别正对所述两进料孔道(53)的其中之一，且所述承接口(521a)在所述滑移槽(521)位于所述常设位置与所述启动位置时，均可承接从所述对接夹头(41)落下的芯片型电容器(90)。
11.根据权利要求10所述的芯片型电容器高压筛选装置，其特征在于，所述分料机构(52)具有一传感器(524)，所述传感器(524)侦测所述滑移槽(521)是否处于启动位置。
专利摘要本实用新型公开了一种芯片型电容器高压筛选装置，其包括一整列定位组、一移位吸头组、一夹测组、与一分料收料组，该整列定位组可同时整列多个芯片型电容器，并通过该移位吸头组同时吸取给夹测组进行夹持测试，最后利用分料收料组根据测试结果加以分类，据此该移位吸头组在该夹测组测试芯片型电容器时，可再次吸取下一批待测试的芯片型电容器，且可同时检测多个芯片型电容器，因此可快速地筛选芯片型电容器，提高筛选机的工作效率。
文档编号B07C5/02GK2853200SQ200520142699
公开日2007年1月3日 申请日期2005年12月8日 优先权日2005年12月8日
发明者刘兴康, 曾明灿 申请人:伯士恩有限公司