一体式芯片SMT检测和良品分拣装置的制作方法

本实用新型涉及器件测试装置，具体涉及一种一体式芯片SMT检测和良品分拣装置。

背景技术：

随着人们对信息安全的要求越来越高，传统的数字密码或九宫格密码已不能满足人们对信息安全的要求。生物识别广泛应用于新一代的电子设备，而指纹具有的稳定性和唯一性使得指纹检测识别装置的应用非常广泛。

指纹芯片通常在出厂质检、回收品检查、使用性能检测等情况都需进行检测，通常情况下，需要人工进行逐一检测，然后将不良品挑拣出，再对良品进行封装。经过检测的芯片常以编带形式进行封装，常用的编带封装是以一条布有芯片贮格的载带配以芯片贮格上的熔封盖带构成，芯片在进行编带前通常需再次检测，以确保封装好的芯片均为合格品，由于芯片体积较小，因此如能以自动设备进行芯片检测并自动剔除不良品，将能有效提升效率。

技术实现要素：

本实用新型的目的是提供一种一体式芯片SMT检测和良品分拣装置，该一体式芯片SMT检测和良品分拣装置通过核心板的设置，可对获得的检测信号直接进行传输和处理，高效准确的完成对芯片性能的检测。

为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种一体式芯片SMT检测和良品分拣装置，包括底板、转盘座、转盘、若干测试载具、开盖机构和封装机构，所述转盘座、开盖机构和封装机构均固定安装于底板上表面，所述转盘可转动的设置于转盘座上方，所述若干测试载具沿周向均匀设置于转盘上表面；

所述测试载具进一步包括PCB板、载板、测试板、测试座和压板，所述压板通过一安装柄与载板活动连接，所述测试座嵌入载板的通孔内，所述测试板安装于载板下表面且位于测试座下方，所述PCB板设置于载板下表面，所述压板一侧具有一缺口部，此缺口部内活动安装有一卡扣，所述载板一侧设置有一与卡扣对应的卡接部，此卡接部位于卡扣正下方，所述卡扣通过一转轴活动安装于压板的缺口部内且卡扣可绕转轴旋转，所述卡扣进一步包括卡钩部和按压部，所述卡扣的卡钩部用于与卡接部扣接；

所述开盖机构由安装板、气缸和活动板组成，所述气缸通过所述安装板安装于底板上表面且位于转盘一侧，所述活动板通过一连接块与气缸的活塞杆固定连接，此活动板用于与测试载具卡扣的按压部接触连接；

所述封装机构进一步包括吸料机构、良品运载机构和次品运载机构，所述良品运载机构和次品运载机构平行设置，所述吸料机构与良品运载机构和次品运载机构垂直设置且位于良品运载机构和次品运载机构上方，所述吸料机构进一步包括支撑座、吸料电机、吸料丝杆和吸嘴，所述支撑座安装于底板上表面，所述吸料电机安装于支撑座一端的内侧表面，所述吸料电机的输出轴与设置于支撑座一端的外侧表面的主动轮连接，此主动轮通过皮带与其下方的从动轮传动连接，此从动轮与所述吸料丝杆连接，所述吸嘴通过一安装块与套装于吸料丝杆上的滑块固定连接；

所述压板下表面设置有一凸块，此凸块位于所述测试座正上方，所述载板上表面开有供待测芯片电路板嵌入的仿形槽，所述PCB板一端安装有排线座，另一端上表面具有电接触区，所述PCB板位于排线座和电接触区之间区域具有一跳线部，所述测试针依次嵌入测试座和测试板的通孔内，此测试针上端与待检测指纹芯片的连接器电接触，测试针下端与所述PCB板的电接触区电接触，一核心板通过灰排线与排线座电连接，此核心板用于产生和处理检测信号。

上述技术方案中进一步改进的方案如下：

1. 上述方案中，所述核心板设置于底板下表面。

2. 上述方案中，所述凸块的材质为橡胶。

3. 上述方案中，所述卡钩部位于按压部的中部。

4. 上述方案中，所述跳线部位于PCB板靠近排线座一侧。

由于上述技术方案的运用，本实用新型与现有技术相比具有下列优点：

1、本实用新型一体式芯片SMT检测和良品分拣装置，其封装机构进一步包括吸料机构、良品运载机构和次品运载机构，所述良品运载机构和次品运载机构平行设置，所述吸料机构与良品运载机构和次品运载机构垂直设置且位于良品运载机构和次品运载机构上方，所述吸料机构进一步包括支撑座、吸料电机、吸料丝杆和吸嘴，所述支撑座安装于底板上表面，所述吸料电机安装于支撑座一端的内侧表面，所述吸料电机的输出轴与设置于支撑座一端的外侧表面的主动轮连接，此主动轮通过皮带与其下方的从动轮传动连接，此从动轮与所述吸料丝杆连接，所述吸嘴通过一安装块与套装于吸料丝杆上的滑块固定连接，封装机构的设置，通过吸料机构将检测后的产品按照良品次品分开运载后封装，实现检测封装的一体化操作，自动化程度高，提高生产效率。

2、本实用新型一体式芯片SMT检测和良品分拣装置，其压板一侧具有一缺口部，此缺口部内活动安装有一卡扣，所述载板一侧设置有一与卡扣对应的卡接部，此卡接部位于卡扣正下方，所述卡扣通过一转轴活动安装于压板的缺口部内且卡扣可绕转轴旋转，所述卡扣进一步包括卡钩部和按压部，所述卡扣的卡钩部用于与卡接部扣接，压板上卡扣的设置灵活方便，便于待测芯片的取放；其次，其开盖机构由安装板、气缸和活动板组成，所述气缸通过所述安装板安装于底板上表面且位于转盘一侧，所述活动板通过一连接块与气缸的活塞杆固定连接，此活动板用于与测试载具卡扣的按压部接触连接，开盖机构与测试载具卡扣的按压部设置，可以自动实现对测试载具压板的打开，大大节约了劳动力，提高工作效率。

3、本实用新型一体式芯片SMT检测和良品分拣装置，其压板下表面设置有一凸块，此凸块位于所述测试座正上方，所述载板上表面开有供待测芯片电路板嵌入的仿形槽，凸块的材质为橡胶，压板下表面凸块的设置可以对待测芯片起到很好的压紧固定作用，提高检测的准确性和灵敏性，仿形槽的设置，提高对待检测产品的定位精度，从而保证测试结果的准确性。

4、本实用新型一体式芯片SMT检测和良品分拣装置，其PCB板一端安装有排线座，另一端上表面具有电接触区，所述PCB板位于排线座和电接触区之间区域具有一跳线部，所述测试针依次嵌入测试座和测试板的通孔内，此测试针上端与待检测指纹芯片的连接器电接触，测试针下端与所述PCB板的电接触区电接触，一核心板通过灰排线与排线座电连接，此核心板用于产生和处理检测信号，核心板的设置，可对获得的检测信号直接进行传输和处理，高效准确的完成对芯片性能的检测。

附图说明

附图1为本实用新型一体式芯片SMT检测和良品分拣装置结构示意图；

附图2为本实用新型分拣装置局部结构示意图；

附图3为本实用新型分拣装置局部分解示意图；

附图4为本实用新型分拣装置测试载具局部分解示意图。

以上附图中：1、底板；2、转盘座；3、转盘；4、测试载具；401、PCB板；402、载板；403、测试板；404、测试座；405、压板；406、凸块；407、测试针；411、排线座；412、跳线部；413、缺口部；414、卡扣；415、卡接部；416、卡钩部；417、按压部；418、转轴；5、开盖机构；501、安装板；502、气缸；503、活动板；6、封装机构；7、吸料机构；701、支撑座；702、吸料电机；703、吸料丝杆；704、吸嘴；705、主动轮；706、从动轮；707、滑块；8、良品运载机构；9、次品运载机构。

具体实施方式

实施例1：一种一体式芯片SMT检测和良品分拣装置，包括底板1、转盘座2、转盘3、若干测试载具4、开盖机构5和封装机构6，所述转盘座2、开盖机构5和封装机构6均固定安装于底板1上表面，所述转盘3可转动的设置于转盘座2上方，所述若干测试载具4沿周向均匀设置于转盘3上表面；

所述测试载具4进一步包括PCB板401、载板402、测试板403、测试座404和压板405，所述压板405通过一安装柄与载板402活动连接，所述测试座404嵌入载板402的通孔内，所述测试板403安装于载板402下表面且位于测试座404下方，所述PCB板401设置于载板402下表面，所述压板405一侧具有一缺口部413，此缺口部413内活动安装有一卡扣414，所述载板402一侧设置有一与卡扣414对应的卡接部415，此卡接部415位于卡扣414正下方，所述卡扣414通过一转轴418活动安装于压板405的缺口部413内且卡扣414可绕转轴418旋转，所述卡扣414进一步包括卡钩部416和按压部417，所述卡扣14的卡钩部416用于与卡接部415扣接；

所述开盖机构5由安装板501、气缸502和活动板503组成，所述气缸502通过所述安装板501安装于底板1上表面且位于转盘3一侧，所述活动板503通过一连接块与气缸502的活塞杆固定连接，此活动板503用于与测试载具4卡扣414的按压部417接触连接；

所述封装机构6进一步包括吸料机构7、良品运载机构8和次品运载机构9，所述良品运载机构8和次品运载机构9平行设置，所述吸料机构7与良品运载机构8和次品运载机构9垂直设置且位于良品运载机构8和次品运载机构9上方，所述吸料机构7进一步包括支撑座701、吸料电机702、吸料丝杆703和吸嘴704，所述支撑座701安装于底板1上表面，所述吸料电机702安装于支撑座701一端的内侧表面，所述吸料电机702的输出轴与设置于支撑座701一端的外侧表面的主动轮705连接，此主动轮705通过皮带与其下方的从动轮706传动连接，此从动轮706与所述吸料丝杆703连接，所述吸嘴704通过一安装块与套装于吸料丝杆703上的滑块707固定连接；

所述压板405下表面设置有一凸块406，此凸块406位于所述测试座404正上方，所述载板402上表面开有供待测芯片电路板嵌入的仿形槽，所述PCB板401一端安装有排线座411，另一端上表面具有电接触区，所述PCB板401位于排线座411和电接触区之间区域具有一跳线部412，所述测试针407依次嵌入测试座404和测试板403的通孔内，此测试针407上端与待检测指纹芯片的连接器电接触，测试针407下端与所述PCB板401的电接触区电接触，一核心板通过灰排线与排线座411电连接，此核心板用于产生和处理检测信号。

上述核心板设置于底板1下表面；上述凸块406的材质为橡胶。

实施例2：一种一体式芯片SMT检测和良品分拣装置，包括底板1、转盘座2、转盘3、若干测试载具4、开盖机构5和封装机构6，所述转盘座2、开盖机构5和封装机构6均固定安装于底板1上表面，所述转盘3可转动的设置于转盘座2上方，所述若干测试载具4沿周向均匀设置于转盘3上表面；

所述测试载具4进一步包括PCB板401、载板402、测试板403、测试座404和压板405，所述压板405通过一安装柄与载板402活动连接，所述测试座404嵌入载板402的通孔内，所述测试板403安装于载板402下表面且位于测试座404下方，所述PCB板401设置于载板402下表面，所述压板405一侧具有一缺口部413，此缺口部413内活动安装有一卡扣414，所述载板402一侧设置有一与卡扣414对应的卡接部415，此卡接部415位于卡扣414正下方，所述卡扣414通过一转轴418活动安装于压板405的缺口部413内且卡扣414可绕转轴418旋转，所述卡扣414进一步包括卡钩部416和按压部417，所述卡扣14的卡钩部416用于与卡接部415扣接；

所述开盖机构5由安装板501、气缸502和活动板503组成，所述气缸502通过所述安装板501安装于底板1上表面且位于转盘3一侧，所述活动板503通过一连接块与气缸502的活塞杆固定连接，此活动板503用于与测试载具4卡扣414的按压部417接触连接；

所述封装机构6进一步包括吸料机构7、良品运载机构8和次品运载机构9，所述良品运载机构8和次品运载机构9平行设置，所述吸料机构7与良品运载机构8和次品运载机构9垂直设置且位于良品运载机构8和次品运载机构9上方，所述吸料机构7进一步包括支撑座701、吸料电机702、吸料丝杆703和吸嘴704，所述支撑座701安装于底板1上表面，所述吸料电机702安装于支撑座701一端的内侧表面，所述吸料电机702的输出轴与设置于支撑座701一端的外侧表面的主动轮705连接，此主动轮705通过皮带与其下方的从动轮706传动连接，此从动轮706与所述吸料丝杆703连接，所述吸嘴704通过一安装块与套装于吸料丝杆703上的滑块707固定连接；

所述压板405下表面设置有一凸块406，此凸块406位于所述测试座404正上方，所述载板402上表面开有供待测芯片电路板嵌入的仿形槽，所述PCB板401一端安装有排线座411，另一端上表面具有电接触区，所述PCB板401位于排线座411和电接触区之间区域具有一跳线部412，所述测试针407依次嵌入测试座404和测试板403的通孔内，此测试针407上端与待检测指纹芯片的连接器电接触，测试针407下端与所述PCB板401的电接触区电接触，一核心板通过灰排线与排线座411电连接，此核心板用于产生和处理检测信号。

上述卡钩部416位于按压部417的中部；上述跳线部412位于PCB板401靠近排线座411一侧。

采用上述一体式芯片SMT检测和良品分拣装置时，其通过吸料机构将检测后的产品按照良品次品分开运载后封装，实现检测封装的一体化操作，自动化程度高，提高生产效率；其次，压板上卡扣的设置灵活方便，便于待测芯片的取放；再次，开盖机构与测试载具卡扣的按压部设置，可以自动实现对测试载具压板的打开，大大节约了劳动力，提高工作效率；再次，压板下表面凸块的设置可以对待测芯片起到很好的压紧固定作用，提高检测的准确性和灵敏性，仿形槽的设置，提高对待检测产品的定位精度，从而保证测试结果的准确性；再次，核心板的设置，可对获得的检测信号直接进行传输和处理，高效准确的完成对芯片性能的检测。

上述实施例只为说明本实用新型的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本实用新型的内容并据以实施，并不能以此限制本实用新型的保护范围。凡根据本实用新型精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。