专利名称：用于灯管粉层厚度测试的透过率测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种用于灯管粉层厚度测试的透过率测试装置。
目前的用于灯管粉层厚度测试的透过率测试装置大都采用白炽灯、卤钨灯等作为其光源，这些光源虽然强度大，但是其功耗大，体积大，寿命短，不稳定，成本高，并且由它所组成的测试装置容易受到环境光等外界杂散光的影响，进而影响测量精度。
本实用新型的目的是提供一种体积小、功耗小、不易受外界干扰的测试装置。
为了达到上述目的本实用新型采取下列措施用于灯管粉层厚度测试的透过率测试装置具有底盘，在底盘上平行设有两支架，在一支架上设有发光二极管，在另一支架上设有测试探头。
本实用新型的优点是体积小、功耗小、成本低、抗干扰性强。
以下结合附图
对本实用新型作详细说明。
附图是本实用新型的结构示意图。
用于灯管粉层厚度测试的透过率测试装置具有底盘1，在底盘上平行设有两支架，在一支架上设有发光二极管2，在另一支架上设有测试探头4。
在发光二极管2和测试探头4之间设置正透镜5和滤光片6，发光二极管2的发光中心位于正透镜5的焦点上，并且发光二极管2与正透镜5位于同一支架上，滤光片6与测试探头4位于另一支架上。在发光二极管2旁设置了参考探头3。发光二极管2用交流恒流调制器7驱动。
发光二极管的发光点位于正透镜的焦点上，并通过交流恒流调制器发光；参考探头和测试探头是受光器，分别接收来自参考端和测试端的光信号，并将其转变成电信号；由于受光器接收到的是交流调制信号，因此该测试装置可以消除环境光等杂散光的影响；此外，该测试装置采用双光路系统，同时检测源端信号及测试端信号，配合使用滤光片可以达到抗干扰的作用。
权利要求1．一种用于灯管粉层厚度测试的透过率测试装置，其特征在于它具有底盘[1]，在底盘上平行设有两支架，在一支架上设有发光二极管[2]，在另一支架上设有测试探头[4]。
2．根据权利要求1所述的一种用于灯管粉层厚度测试的透过率测试装置，其特征在于在发光二极管[2]和测试探头[4]之间设置正透镜[5]和滤光片[6]，发光二极管[2]的发光中心位于正透镜[5]的焦点上，并且发光二极管[2]与正透镜[5]位于同一支架上，滤光片[6]与测试探头[4]位于另一支架上。
3．根据权利要求1所述的一种用于灯管粉层厚度测试的透过率测试装置，其特征在于在发光二极管[2]旁设置了参考探头[3]。
4．根据权利要求1所述的一种用于灯管粉层厚度测试的透过率测试装置，其特征在于发光二极管[2]用交流恒流调制器[7]驱动。
专利摘要本实用新型公开了一种用于灯管粉层厚度测试的透过率测试装置具有底盘,在底盘上平行设有两固定支架,一固定支架上依次设有发光二极管、凸透镜,在二极管旁设有参考探头,另一固定支架上对应依次设有滤色片、测试探头。本实用新型的优点是体积小、功耗小、成本低、抗干扰性强。
文档编号G01N21/59GK2463830SQ0120545
公开日2001年12月5日 申请日期2001年1月11日 优先权日2001年1月11日
发明者潘建根, 章军, 张维 申请人:杭州远方仪器有限公司