专利名称：发光二极管测试机台的自动化装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种发光二极管测试机台的自动化装置。
有鉴于此，本发明者集多年来从事相关行业的实际经验，不断的研发及设计，依据测试程序的需要，将整个检测流程予以自动化，并研发出适用的自动化设备，今终有所成。
本实用新型在于提供一种一种发光二极管测试机台的自动化装置，主要由一组进料结构、一定位测试结构及一组出料结构所组成，一组进料结构由下列各构件所组成，其进料端为一圆形振动盘，并有一平形振动盘与其相连接，且该平形振动盘延伸至测试区前端，并与测试组前端相连接；该平形振动盘向前延伸至测试端前方处的上方设置有一挡爪，该挡爪为一弹簧联动体；该挡爪上方处设置有一辅助进料送风口，其与空气输送管连接；平形振动盘下方与挡爪相对位置的前端处设置有一进料夹爪组；挡爪末端处设置有一导正爪，导正爪后端设置有一带料爪组，其呈一Γ型，前端立面处设置有数个等距缺口；一组定位测试结构由一定位爪组，设置于带料爪组对面的相对位置，其呈一E字型，凸出的三爪的前端分别设有一内凹的定位口，并与各测试站相对应；定位爪组的正下方为一测试组，其前端与平形振动盘的末端相连接，该测试组上方呈三个测试站，第一测试站下设一极性测试框脚探针座，第二测试站下为一旋转座，第三测试站下方为另一框脚探针座，其主要由该框脚探针座与发光二极管的针脚产生极性接触，并配合上方的亮度波长检测头；一组出料结构接设于测试区的末端由一胶质履带，其内侧有等宽的凹槽，且供与传动齿轮相啮合，并有数个出料座等距卡持于履带上；出料座为一倒L型的承接座，上方有一宽度及深度适中的沟槽；数气动推杆装设于出料座后方，且与各出料座相对应。
本实用新型在于还提供一种一种发光二极管测试机台的自动化装置，该定位测试结构设置有三个测试站。
本实用新型在于还提供一种一种发光二极管测试机台的自动化装置，该出料结构以履带承载出料座。
本实用新型在于还提供一种一种发光二极管测试机台的自动化装置，该导正爪侧面设置有一∏字型的定位孔，其另一垂直端面设置有一∏型导正孔。
本实用新型在于还提供一种一种发光二极管测试机台的自动化装置，该进料夹爪组由特殊凸轮联动，该特殊凸轮的一横向端面为板凸轮，而纵向端面为筒凸轮的合体。
本实用新型在于还提供一种一种发光二极管测试机台的自动化装置，该测试站下方的旋转座，下接一由空气致动的汽缸。
本实用新型在于还提供一种一种发光二极管测试机台的自动化装置，该第三测试站的一端设置有一凸起的定位柱。
本实用新型在于还提供一种一种发光二极管测试机台的自动化装置，该框脚探针座接设于定位爪组下方，其上面为两相间隔的长型片，并该两长型片下面各装设有探针。
本实用新型可达到检测流程自动化，且效率高，并可达到依测试结果分类及其受检测的准确度更加精准。
图2本实用新型出料结构立体外观图。
图3～10本实用新型的出料流程示意图。
图11、12本实用新型的进料夹爪组的结构平面示意图。
图13本实用新型进料夹爪组的结构动作放大图。
图14本实用新型导正爪结构的立体外观图。
图15本实用新型带料爪组的立体外观图。
图16本实用新型定位爪组的立体外观图。
图17本实用新型框脚探针座测试示意图。
图18本实用新型旋转结构的立体外观图。
图19本实用新型定位爪组三点定位示意图。
图20本实用新型气动推杆的立体外观图。
图21本实用新型气动推杆的动作示意图。
具体实施方式
为使贵审查委员能充份了解本实用新型的结构组成及其动作流程，兹以下列图示配合说明。
本实用新型是有关一种发光二极管测试机台的自动化装置，其主要系由一组进料结构、一定位测试结构及一组出料结构所组成，详图如图1及图2所示，该进料结构由下列各构件所组成其进料端为一圆形振动盘11，并有一平形振动盘12，如轨道般与其相连接，且该平形振动盘12延伸至测试段P前端，并恰可与测试段P前端相连接；该平形振动盘12向前延伸至测试段P前方的适当处时，上方设置有一挡爪21，该挡爪21为一由弹簧联动可供开合并具挡置发光二极管的作用；挡爪21上方适当处设置有一辅助进料送风口22，其与空气输送管连接，并有持续送风且可将发光二极管向前吹置的作用；平形振动盘12下方与挡爪21相对位置的前端适当处，设置有一进料夹爪组23，(请参阅图11、12、13)其由凸轮232配合横向传动轮235及纵向传动轮233产生联动，藉以控制进料夹爪组23的闭合及其前后往复运动；挡爪21末端适当处设置有一导正爪24(请参阅图14)，该导正爪21侧面与平形振动盘12的轨道相对位置有一∏字型缺口，其前端面亦有一相同大小的∏字型缺口；导正爪21后端设置有一带料爪组26，其呈一Γ型，前端立面处设置有四个等距缺口(请参阅图15)。
(请参阅图16～19)又，该定位测试结构由下列各构件所组成(请参阅图16)一定位爪组25，设置于带料爪组26对面的相对位置，其呈一E字型，凸出的三爪的前端分别设有一内凹的定位口(251、252、253)，并与各测试站(P1、P2、P3)相对应；(请参阅图18)定位爪组25的正下方为一测试段P，其前端恰可与平形振动盘12的末端相连接，该测试组上方呈三个测试站(P1、P2、P3)，第一测试站P1为极性测性，下接一极性探针座254(请参阅图17)，可测试发光二极管的极性是否符合测试的极性方向，第二测试站P2下为一旋转座28，该旋转座28下接一由空气致动的汽缸，其旋转与否乃取决于第一测试站P1下方的极性探针座254检测的结果，若不符合测试的极性方向，则由空气致动汽缸，并使其产生180度的旋转，使欲受测的发光二极管的受测极性向符合受测要求，第三测试站P3下方为一框脚探针座255，其主要由该框脚探针座255与发光二极管L的针脚L1产生极性接触，并配合上方的亮度波长检测头27，以检测该受测发光二极管的亮度及光波长；(请参阅图18及图19)再者，第三测试站P3的一端并设置有一凸起的定位柱P3，其目的在使发光二极管受定位爪组25的第三定位口253卡持时，除第三定位口253两边能夹持外，并与该定位柱P31能产生三点定位，使发光二极管不会有倾斜受测的情况。
(请参阅图2)另，该出料结构接设于测试区的末端，其由下列各构件所组成一胶质履带32，其内侧有等宽的凹槽，可供与传动齿轮33相啮合，并有数个出料座31等距卡特于履带32上；出料座31为一倒L型的承接座，上方有一宽度及深度适中的沟槽，该沟槽可承接受测完毕的料件。
由上述的进料结构、定位测试结构及出料结构所组而成的发光二极管测试机台的自动化装置，即为本实用新型。
本实用新型发光二极管测试机台的自动化结构所提供的测试进程如下单一进程欲受测的发光二极管集中于圆形振动盘11内→因振动，故由平形振动盘12沿轨道向前移行→发光二极管沿轨道集中于挡爪21前→进料夹爪组23夹住发光二极管的针脚向前移行出挡爪21→进料辅助送风口22以空气将发光二极管吹入导正爪24的侧面挡置孔241内→导正爪24向后退出(发光二极管因导正爪24前端面的导正孔242，故经导正后定位停留于轨道上)→带料爪组26纵向向前靠持，并以第一缺口261靠持发光二极管→带料爪组26将发光二极管横向带至第一测试站P1，完成后以纵向后退后再横向覆位→定位爪组25以纵向向前，并以第一定位口251靠持发光二极管L，以确实定位于第一测试站P1(定位爪组25下方的极性探针座254的探针2541，亦同时靠上发光二极管L的针脚L1，并检测其极性)→检测完毕，定位爪组25纵向向后覆位→带料爪组26纵向向前靠持，并以第二缺口262靠持发光二极管L→带料爪组26将发光二极管L横向带至第二测试站P2，完成后以纵向后过后再横向覆位→定位爪组25以纵向并以第二定位口252向前靠持发光一极管L，以确实定位于第二测试站P2(本测试站为一旋转座28，其旋转与否乃取决于第一测试站P1的极性探针座254检测的结果，若不符合测试的极性方向，则由空气致动汽缸，并使旋转座28产生180度的旋转，使欲受测的发光二极管L的受测极性向符合受测要求)→检测完毕，定位爪组25纵向向后覆位→带料爪组26纵向向前靠持，并以第三缺口263靠持发光二极管L→带料爪组26将发光二极管横向带至第三测试站P3，完成后以纵向后退后再横向覆位一定位爪组25，以纵向并以第三定位口253向前靠持发光二极管L，以确实定位于第三测试站P3(下方为另一框脚探针座255，并同时由该框脚探针座255与发光二极管L的针脚L1产生极性接触，并配合上方的亮度波长检测头27，以检测该受测发光二极管L的亮度及光波长)→检测完毕，定位爪组25纵向向后覆位→带料爪组26纵向向前靠持，并以第四缺口264靠持发光二极管一带料爪组26将发光二极管L横向带至出料座31，完成后以纵向后退后再横向覆位→出料座31及其上的发光二极管L随履带32的移行→移行至该分类等级的料盒B上方→(请参阅图20、21)由汽动推杆4动作将发光二极管L推落至料盒B中。
上述的进程为单一受测发光二极管的完整受测程序。
多颗以上的受测进程(亦即同行测试多数颗的发光二极管)进行测试前，将己完成封装的发光二极管L集中于圆形振动盘11中，发光二极管L会一颗一颗不分方向整列送至平形振动盘12的入口端，平形振动盘12逐渐将发光二极管往前移动至挡爪21，检测程序开始时(请配合参阅图3、4)平形振动盘12下方的进料夹爪组23会由惰轮232致动，夹住发光二极管L的针脚L1，并将其往前带至导正爪24之前，由辅助进料吹风口22将发光二极管L吹入至导正爪24侧面的挡置241孔内；(请配合参阅图5、6)当导正爪24退开后，带料爪组26即纵向向前移行，其第一缺口261即套住发光二极管L，并横向移行同时将发光二极管L带往第一测试站P1，定位爪组25的第一定位口251即向前套住发光二极管L，并进行第一次测试(极性测试)，此时带料爪组26则纵向后退，并横向移行覆位，测试完毕后，定位爪组25即纵向后退覆位，带料爪组26则纵向向前以第二缺口262套住发光二极管L，并向左移行同时将发光二极管L带往第二测试站P2，又，带料爪组26的第一缺口261亦重覆原先的带料动作，此时，定位爪组25即以纵向向前以第二定位口252套住第一进程的发光二极管L，其第一定位口251则套住第二进程的发光二极管，于此同时，亦即第一定位口251进行极性测试，第二定位口252则依据第一进程所测试极性的结果，产生旋转(第二测试站P2下方为一旋转座28)；当带料爪组26再纵向向前移行时，即开始第三进程(请配合参阅图7～10)，此时带料爪26的第三缺口263会将第一进程的发光二极管，第二缺口262会将第二进程的发光二极管、第一缺口261会将第三进程的发光二极管同时套住，并向左移行至各测试站，当带料爪组26退后并覆位时，则定位爪组25即纵向向前移行，并同时于第一测试站P1进行极性测试、第二测试站P2进行旋转(或不旋转等待)，第三测试站P3则由亮度波长检测头27进行光亮度及光波长的测试，如此类推，当第四进程的发光二极管被带料爪组26的第一缺口261带入第一测试站P1时，第一进程的发光二极管即已被带料爪组26的第四缺口264带至出料座31上，如此不断周而复始的藉由带料爪26的方形旋绕动作，将发光二极管不断的往前移行，不但可有效率的让测试工作依序进行，更能让发光二极管经测试后，确实依其检测的结果作分类。
(请参阅图18)又，其中的旋转座28装设于测试段P内的第二测试站P2下方，其目的为使受测的发光二极管均能以相同极性方向受测，使其于受测时，能以极性相同的测试角度进行检测，以确保受测数据的准确度，故该旋转座28的旋转与否系取决于第一测试站P1的极性测试结果，若极性测试的结果为反向，则当发光二极管进入第二受测位置P2的旋转座28时，即会由空气致动汽缸产生180度转向，若极性测试的结果为正向，则当发光二极管进入第二受测位置P2的旋转座28时，则不会产生转向。
完成测试的发光二极管即由带料爪26将其移行至出料座上，经由出料座31将该发光二极管带至该等级的出料口后，即由出料座后方的气动推杆4将其推落至该类料盒B中(请参阅图20、21)。
(请参阅图11、12及13)又，其中的进料夹爪组23由夹爪231、凸轮232、纵向传动轮233、弹簧234及横向传动轮235所组成，该弹簧234一端与夹爪231下方连接，另一端与纵向传动轮233相连接，可致动夹爪231；该纵向传动轮233的端面与凸轮232的横向端面2322(板凸轮)相接触；又，该横向传动轮235与凸轮232的纵向端面2321相接触再者该凸轮232的纵向端面2321呈一特殊不规则的端面，即该端面2321为一有起伏的端面，故可呈一特殊的动线而成一筒凸轮，故当凸轮232转动时，其特殊的动线可联动横向传动轮235，使进料夹爪组23产生前后的往复动作，另，该凸轮232转动时其横向端面2322亦因凸轮的偏心作用，可同时联动纵向传动轮233，并藉以致动夹爪231，使其产生开合的作用。
由上所述可知，本实用新型发光二极管测试机台的自动化装置，确可达到使检测发光二极管光亮度及光波长的检测流程自动化，且效率高，并可达到确实依测试结果分类；再者，亦可使发光二极管于测试时，能保持统一极性的方向受测，使其受检测的准确度更加精准的目的。
如上所述，仅为本实用新型的一较佳可行的实施例，不能以此限定本实用新型的实施范围，即凡依本实用新型的申请专利范围所作的均等变化或修饰，皆仍属本实用新型的专利涵盖范围内。
综合上述，本实用新型确实为一实用、进步的实用新型无疑，诚以完全符合专利法有关实用新型专利申请的规定。
权利要求1.一种发光二极管测试机台的自动化装置，其特征是主要由一组进料结构、一定位测试结构及一组出料结构所组成，一组进料结构由下列各构件所组成，其进料端为一圆形振动盘，并有一平形振动盘与其相连接，且该平形振动盘延伸至测试区前端，并与测试组前端相连接；该平形振动盘向前延伸至测试端前方处的上方设置有一挡爪，该挡爪为一弹簧联动体；该挡爪上方处设置有一辅助进料送风口，其与空气输送管连接；平形振动盘下方与挡爪相对位置的前端处设置有一进料夹爪组；挡爪末端处设置有一导正爪，导正爪后端设置有一带料爪组，其呈一Γ型，前端立面处设置有数个等距缺口；一组定位测试结构由一定位爪组，设置于带料爪组对面的相对位置，其呈一E字型，凸出的三爪的前端分别设有一内凹的定位口，并与各测试站相对应；定位爪组的正下方为一测试组，其前端与平形振动盘的末端相连接，该测试组上方呈三个测试站，第一测试站下设一极性测试框脚探针座，第二测试站下为一旋转座，第三测试站下方为另一框脚探针座，其主要由该框脚探针座与发光二极管的针脚产生极性接触，并配合上方的亮度波长检测头；一组出料结构接设于测试区的末端由一胶质履带，其内侧有等宽的凹槽，且供与传动齿轮相啮合，并有数个出料座等距卡持于履带上；出料座为一倒L型的承接座，上方有一宽度及深度适中的沟槽；数气动推杆装设于出料座后方，且与各出料座相对应。
2.根据权利要求1所述的发光二极管测试机台的自动化装置，其特征是该定位测试结构设置有三个测试站。
3.根据权利要求1所述的发光二极管测试机台的自动化装置，其特征是该出料结构以履带承载出料座。
4.根据权利要求1所述的发光二极管测试机台的自动化装置，其特征是该导正爪侧面设置有一∏字型的定位孔，其另一垂直端面设置有一∏型导正孔。
5.根据权利要求1所述的发光二极管测试机台的自动化装置，其特征是该进料夹爪组由特殊凸轮联动，该特殊凸轮的一横向端面为板凸轮，而纵向端面为筒凸轮的合体。
6.根据权利要求1所述的发光二极管测试机台的自动化装置，其特征是该测试站下方的旋转座，下接一由空气致动的汽缸。
7.根据权利要求1所述的发光二极管测试机台的自动化装置，其特征是该第三测试站的一端设置有一凸起的定位柱。
8.根据权利要求1所述的发光二极管测试机台的自动化装置，其特征是该框脚探针座接设于定位爪组下方，其上面为两相间隔的长型片，并该两长型片下面各装设有探针。
专利摘要本实用新型涉及一种发光二极管测试机台的自动化装置。主要由一组进料结构、一定位测试结构及一组出料结构所组成,一组进料结构由进料端,其进料端为一圆形振动盘;该平形振动盘向前延伸至测试端前方处的上方设置有一挡爪;该挡爪上方处设置有一辅助进料送风口,其与空气输送管连接;平形振动盘下方与挡爪相对位置的前端处设置有一进料夹爪组;定位爪组的正下方为一测试组,该测试组上方呈三个测试站。从而,可达到检测流程自动化,且效率高,并可达到依测试结果分类。
文档编号G01J9/00GK2519906SQ0127495
公开日2002年11月6日 申请日期2001年11月27日 优先权日2001年11月27日
发明者蔡忠谚 申请人:蔡忠谚