专利名称：具有防止压力过大的测试装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种测试装置，特别是涉及一种具有防止压力过大的测试装置(OVER-PRESSURE PROTECTION TESTING APPARATUS)。
背景技术：
各类电路板如主机板或显示卡等在生产过程中，必须经过一系列的测试，以验证电路板的各部功能是否正常，判断电路板是否能够销售或继续加工。
如图1A与1B所示，现有习知测试电路板的设备是主要包括一电路板测试机台1及利用于该电路板测试机台1中之一电路板测试治具2。电路板测试治具2是主要包括一第一测试单元21、一第二测试单元22及一载板23，其中第一测试单元21亦称之为下针盘，而第二测试单元22亦称之为上天板。
第二测试单元22是电连结于电路板测试机台1的压床11，而第一测试单元21是固定于电路板测试机台1的下天台12上面，载板23是设置于第一测试单元21与第二测试单元22之间，载板23之一面是承载电路板3，当电路板测试机台1的压床11向下施压时，第二测试单元22是朝施压方向移动，以使第二测试单元22、载板23及第一测试单元21互相抵接，据以量测载板23所承载的一电路板3。
另一方面，当电路板是一主机板时，为了测试主机板上的CPU插座，必须在开始测试前将CPU晶片插置于插座，并在完成测试后将CPU晶片拔离插座，若插拔动作一不小心，往往会造成CPU晶片上的针脚被折弯或折断。因此，为了降低CPU晶片于测试时产生大量损耗的情形，通常是以一晶片转接板来替代CPU晶片，以进行测试。而转接板则具有与CPU晶片相同的电性导通点，然后再将晶片转接板的转接脚插置于CPU插座上。如此一来，在测试程序中，被反复插拔于CPU插座的便成为转接板而非CPU晶片。
由于现习知技术测试主机板上的CPU插座需要以人工方式置放CPU或转接卡，这样的过程耗费时间以及人力，若要将此测试过程自动化，检测的机器必须设计适当的机构，避免测试过程中因机台的操作不当或是让受测元件受到不当的外力而导致受测元件损坏。另一方面，近年来随着CPU晶片制程的改变以及外引脚数量的增加，使得CPU插座的结构已随之改变，例如目前使用的CPU插座模组更包括有一做为限制CPU用的盖子。因此在实际测试这类型的CPU插座模组时，若限制CPU用的盖子没有打开或是盖子没有开好，将会造成测试治具、CPU插座模组以及受测电路板的损坏。
因此，如何提供一种具有防止压力过大的测试装置，以适当机构避免测试过程中受测元件受到不当外力损坏，且适当机构亦能够搭配测试模组以达到自动化测试的功效，正是当前的重要课题之一。
由此可见，上述现有的测试主机板在结构与使用上，显然仍存在有不便与缺陷，而亟待加以进一步改进。为了解决测试主机板存在的问题，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用的设计被发展完成，而一般产品又没有适切的结构能够解决上述问题，此显然是相关业者急欲解决的问题。
有鉴于上述现有的测试主机板存在的缺陷，本发明人基于从事此类产品设计制造多年丰富的实务经验及专业知识，并配合学理的运用，积极加以研究创新，以期创设一种新型结构的具有防止压力过大的测试装置，能够改进一般现有的测试主机板，使其更具有实用性。经过不断的研究、设计，并经反复试作样品及改进后，终于创设出确具实用价值的本发明。
发明内容
本发明的目的在于，克服现有的测试主机板存在的缺陷，而提供一种新的具有防止压力过大的测试装置，所要解决的技术问题是使其具有弹性元件以避免测试过程中导电模组受到不当外力而损坏，并具有第三测试板以供测试模组装设，能够自动测试电路板上的导电模组，从而更加适于实用。
本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。
本发明提出的一种具有防止压力过大的测试装置，其是测试一导电模组是否准确连结于一电路板，其包括一第一测试板，其是具有一第一表面、一第二表面与一穿透孔，其中该穿透孔是贯穿该第一表面与该第二表面；至少一第一导柱，其是设置于该第一表面；一第二测试板，其是设置于该第一表面，且该第一导柱是穿设于该第二测试板；至少一弹性元件，其一端是设置于该第二测试板；以及一第三测试板，其是设置于该穿透孔中，且该弹性元件的另一端是设置于该第三测试板。
本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。
前述的具有防止压力过大的测试装置，其还包括一定位板；复数个支柱，其中该等支柱的第一端是组设于该第一表面，且该等支柱的第二端是组设该定位板；一弹性模组，其是设置于该定位板与该第一表面之间，并组设于该定位板。
前述的具有防止压力过大的测试装置，其中所述的弹性模组包括一套筒柱，其中该套筒柱的第一端是组设于该定位板；一套筒，其是套设于该套筒柱的第二端；以及一第一弹簧，其是环设于该套筒柱，且该第一弹簧的第一端是组设于该套筒柱，该第一弹簧的第二端是组设于该套筒的筒口端。
前述的具有防止压力过大的测试装置，其还包括至少一第二导柱，其是穿设于该第二测试板并组设于该第三测试板，且该第二导柱与该套筒柱共轴心线；该第二导柱是一螺栓，其中该螺栓是以无螺纹部穿设于该第二测试板。
前述的具有防止压力过大的测试装置，其还包括一测试模组，其是设置于该第三测试板，并具有一测试基座、一框架与至少一测试元件，其中该测试基座是设置于该第三测试板，该框架是沿该测试基座外缘设置于该第三测试板，该测试元件是设置于该测试基座。
前述的具有防止压力过大的测试装置，其中所述的测试元件是一金属圆柱。
前述的具有防止压力过大的测试装置，其中所述的框架是由弹性材质或由塑胶材质所构成。
前述的具有防止压力过大的测试装置，其还包括一探针，其是侦测该第三测试板以及该电路板的一距离，并产生一侦测结果；以及一开关，其是依据该侦测结果停止该具有防止压力过大的测试装置作动。
前述的具有防止压力过大的测试装置，其中所述的导电模组是一插座模组，该插座模组包括一基座，其是设置于该电路板；以及一固定杆，其是设置于该基座。
前述的具有防止压力过大的测试装置，其还包括一导电模组通孔，其中该固定杆是穿越该导电模组通孔。
前述的具有防止压力过大的测试装置，其中所述的第二测试板与该第三测试板是由电木材质所构成。
本发明与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。由以上技术方案可知，为了达到前述发明目的，本发明的主要技术内容如下本发明的具有防止压力过大的测试装置，其是测试一导电模组是否准确连结于一电路板，包括一第一测试板、至少一第一导柱、一第二测试板、至少一弹性元件以及一第三测试板。其中第一测试板是具有一第一表面、一第二表面与一穿透孔，且穿透孔是贯穿第一表面与第二表面，第一导柱是设置于第一表面，第二测试板是设置于第一表面，且第一导柱是穿设于第二测试板，弹性元件的一端是设置于第二测试板且弹性元件的另一端是设置于第三测试板，以及第三测试板是设置于穿透孔中。
借由上述技术方案，本发明具有防止压力过大的测试装置至少具有下列优点具有弹性元件以避免测试过程中导电模组受到不当外力而损坏，并具有第三测试板以供测试模组装设，故能够自动测试电路板上的导电模组。
综上所述，本发明特殊结构的具有防止压力过大的测试装置，其具有上述诸多的优点及实用价值，并在同类产品中未见有类似的结构设计公开发表或使用而确属创新，其不论在产品结构或功能上皆有较大的改进，在技术上有较大的进步，并产生了好用及实用的效果，且较现有的具有防止压力过大的测试装置具有增进的多项功效，从而更加适于实用，而具有产业的广泛利用价值，诚为一新颖、进步、实用的新设计。
上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。
图1A为一显示现有习知测试装置的示意图；图1B为一显示现有习知测试装置的分解示意图；以及图2为本发明较佳实施例的具有防止压力过大的测试装置的示意图；图3A为一本发明较佳实施例的具有防止压力过大的测试装置，其中具有防止压力过大的测试装置包括定位板的示意图；图3B为一本发明较佳实施例的具有防止压力过大的测试装置，其中测试模组是装置于第三测试板的局部示意图；图3C为一本发明较佳实施例的具有防止压力过大的测试装置，其中具有防止压力过大的测试装置包括定位板的侧视图；图4A为一本发明较佳实施例的具有防止压力过大的测试装置，其中具有防止压力过大的测试装置用于电路板测试治具示意图；以及图4B为一本发明较佳实施例的具有防止压力过大的测试装置，其中具有防止压力过大的测试装置用于电路板测试治具的分解示意图。
1电路板测试机台11压床12下天台 2电路板测试治具
21第一测试单元 22第二测试单元23载板 24测试装置3电路板31电子元件32导电模组 321基座322固定杆 323盖子4具有防止压力过大的测试装置41第一测试板411第一表面412第二表面413穿透孔 414导电模组通孔42第二测试板 43第三测试板44第一导柱 45弹性元件51定位板 52支柱53弹性模组 531套筒柱532套筒533第一弹簧54第二导柱 55测试模组551测试基座552框架553测试元件56探针57开关具体实施方式
为更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本发明提出的具有防止压力过大的测试装置其具体实施方式
、结构、特征及其功效，详细说明如后。
如图2所示，本发明较佳实施例的具有防止压力过大的测试装置，其是测试一导电模组是否准确连结于一电路板，包括一第一测试板41、至少一第一导柱44、一第二测试板42、至少一弹性元件45以及一第三测试板43。
第一测试板41是具有一第一表面411、一第二表面412与一穿透孔413，且穿透孔413是贯穿第一表面411与第二表面412，第一导柱44是设置于第一表面411，第二测试板42是设置于第一表面411，且第一导柱44是穿设于第二测试板42，弹性元件45的一端是设置于第二测试板42，且弹性元件45的另一端是设置于第三测试板43，第三测试板43是设置于穿透孔413中。在本实施例中弹性元件45是可为一弹簧，第二测试板42与第三测试板43是可由电木材质所构成。另一方面，本实施例更可包括一导电模组通孔414，其是让电路板上插座模组的固定杆与盖子能够穿越于导电模组通孔414而不与第一测试板41抵触。
如图3A、图3B与图3C所示，其中图3B是与图3A不同视角的一局部示意图，图3C是图3A自X轴方向的侧视图。与图2所示不同的是，本实施例的具有防止压力过大的测试装置更可包括一定位板51、复数个支柱52、一弹性模组53以及至少一第二导柱54。其中支柱52的第一端是组设于第一表面411，且支柱52的第二端是组设于定位板51。弹性模组53是设置于定位板51与第一表面411之间，并组设于定位板51，且弹性模组53是包括一套筒柱531、一套筒532以及一第一弹簧533，其中套筒柱531的第一端是组设于定位板51，套筒532是套设于套筒柱531的第二端，第一弹簧533是环设于套筒柱531，且第一弹簧533的第一端是组设于套筒柱531，第一弹簧533的第二端是组设于套筒532的筒口端。第二导柱54是穿设于第二测试板42并组设于第三测试板43，且第二导柱54与套筒柱531共轴心线。在本实施例中，第二导柱54可以是一螺栓，且螺栓是以无螺纹部穿设于第二测试板42。
另一方面，第二测试板42与第三测试板43是可沿第二导柱54产生相互位移并使得弹性元件45受到压缩，第一测试板41与第二测试板42可沿第一导柱44产生相互位移，并使得第二导柱54与弹性模组53相接后，第二导柱54向上施力于套筒532使得第一弹簧533受到压缩。
本实施例的具有防止压力过大的测试装置更可包括一测试模组55，其中测试模组55是设置于第三测试板43，并具有一测试基座551、一框架552与至少一测试元件553。测试基座551是设置于第三测试板43，框架552是沿测试基座551外缘设置于第三测试板43，测试元件553是设置于测试基座551。在本实施例中，测试元件553的至少一部分是可凸出于测试模组55，且测试元件553的至少一部分是可插入导电元件。另一方面，测试元件553是可以是一金属圆柱，框架552是可由弹性材质或塑胶材质所构成。
本实施例的具有防止压力过大的测试装置更可包括一探针56以及一开关57，其中探针56是侦测第三测试板43以及电路板的一距离，并产生一侦测结果，开关57是依据侦测结果停止具有防止压力过大的测试装置作动。
如图4A与图4B所示，本实施例的具有防止压力过大的测试装置4更可具体实施于电路板测试机台1与电路板测试治具2。其中电路板测试治具2包括一测试装置24、具有防止压力过大的测试装置4及一载板23。具有防止压力过大的测试装置4是电连接于压床11，测试装置24是固定于下天台12上面，载板23是设置于第一测试单元21与第二测试单元22之间，载板23的一面是承载电路板3，电路板3是可为一主机板，导电模组32是可为一插座模组并包括一基座321以及一固定杆322与一盖子323，其中基座321是设置于电路板3，固定杆322是设置于基座321。具有防止压力过大的测试装置4测试电路板3时，测试模组55的测试元件553是与导电模组32电连接，且固定杆322与盖子323是穿越导电模组通孔414而不与第一测试板41抵触。
具有防止压力过大的测试装置4是连结于电路板测试机台1的压床11，而测试装置24是固定于电路板测试机台1的下天台12上面，当电路板测试机台1的压床11向下施压时，具有防止压力过大的测试装置4是朝施压方向移动，以使具有防止压力过大的测试装置4、载板23及测试装置24互相抵接，据以量测载板23所承载的一电路板3。当测试元件553是与导电模组32电连接后，若压床11仍向下施压，第二测试板42与第三测试板43是沿第二导柱54产生相互位移并使得弹性元件45受到压缩。之后若压床11仍不停止向下施压，第一测试板41与第二测试板42是沿第一导柱44产生相互位移，并使得第二导柱54与弹性模组53相接，且第二导柱54向上施力于套筒532使得第一弹簧533受到压缩。
以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。
权利要求
1.一种具有防止压力过大的测试装置，其是测试一导电模组是否准确连结于一电路板，其特征在于其包括一第一测试板，其是具有一第一表面、一第二表面与一穿透孔，其中该穿透孔是贯穿该第一表面与该第二表面；至少一第一导柱，其是设置于该第一表面；一第二测试板，其是设置于该第一表面，且该第一导柱是穿设于该第二测试板；至少一弹性元件，其一端是设置于该第二测试板；以及一第三测试板，其是设置于该穿透孔中，且该弹性元件的另一端是设置于该第三测试板。
2.根据权利要求1所述的具有防止压力过大的测试装置，其特征在于其还包括一定位板；复数个支柱，其中该等支柱的第一端是组设于该第一表面，且该等支柱的第二端是组设该定位板；一弹性模组，其是设置于该定位板与该第一表面之间，并组设于该定位板。
3.根据权利要求2所述的具有防止压力过大的测试装置，其特征在于其中所述的弹性模组包括一套筒柱，其中该套筒柱的第一端是组设于该定位板；一套筒，其是套设于该套筒柱的第二端；以及一第一弹簧，其是环设于该套筒柱，且该第一弹簧的第一端是组设于该套筒柱，该第一弹簧的第二端是组设于该套筒的筒口端。
4.根据权利要求3所述的具有防止压力过大的测试装置，其特征在于其还包括至少一第二导柱，其是穿设于该第二测试板并组设于该第三测试板，且该第二导柱与该套筒柱共轴心线；该第二导柱是一螺栓，其中该螺栓是以无螺纹部穿设于该第二测试板。
5.根据权利要求1所述的具有防止压力过大的测试装置，其特征在于其还包括一测试模组，其是设置于该第三测试板，并具有一测试基座、一框架与至少一测试元件，其中该测试基座是设置于该第三测试板，该框架是沿该测试基座外缘设置于该第三测试板，该测试元件是设置于该测试基座。
6.根据权利要求5所述的具有防止压力过大的测试装置，其特征在于其中所述的测试元件是一金属圆柱。
7.根据权利要求5所述的具有防止压力过大的测试装置，其特征在于其中所述的框架是由弹性材质或由塑胶材质所构成。
8.根据权利要求1所述的具有防止压力过大的测试装置，其特征在于其还包括一探针，其是侦测该第三测试板以及该电路板的一距离，并产生一侦测结果；以及一开关，其是依据该侦测结果停止该具有防止压力过大的测试装置作动。
9.根据权利要求1所述的具有防止压力过大的测试装置，其特征在于其中所述的导电模组是一插座模组，该插座模组包括一基座，其是设置于该电路板；以及一固定杆，其是设置于该基座。
10.根据权利要求9所述的具有防止压力过大的测试装置，其特征在于其还包括一导电模组通孔，其中该固定杆是穿越该导电模组通孔。
11.根据权利要求1所述的具有防止压力过大的测试装置，其特征在于其中所述的第二测试板与该第三测试板是由电木材质所构成。
全文摘要
本发明是关于一种具有防止压力过大的测试装置，其是测试一导电模组是否准确连结于一电路板，包括一第一测试板、至少一第一导柱、一第二测试板、至少一弹性元件以及一第三测试板。其中第一测试板是具有一第一表面、一第二表面与一穿透孔，且穿透孔是贯穿第一表面与第二表面，第一导柱是设置于第一表面，第二测试板是设置于第一表面，且第一导柱是穿设于第二测试板，弹性元件的一端是设置于第二测试板且弹性元件的另一端是设置于第三测试板，以及第三测试板是设置于穿透孔中。
文档编号G01R31/28GK1782715SQ200410095550
公开日2006年6月7日 申请日期2004年11月29日 优先权日2004年11月29日
发明者李元强, 王忠平, 江润成, 潘聪富, 陈道宏 申请人:华硕电脑股份有限公司