专利名称：检针装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及用于检测缝纫制品等的检针装置。
背景技术：
检针装置是通过使服饰、被褥等缝纫制品(被检查物)沿一定方向移动，利用混入被检查物中金属片的磁场的紊乱，检测出折断的缝纫针、遗忘的缝纫针、订书钉等其他金属异物。
检针装置作为检查部的检查能力，可以完全检查出折断的缝纫针、遗忘的缝纫针、钉书钉等其他金属类异物，同时，在不受外界干扰影响的异物以外的物体通过时，仍具有进行检针的能力。
图12是表示从上方看到的原有检针装置的示意图。原有的检针装置900的结构是，传送带950通过设置在检查部901上的中空部。
在此传送带上承载被检查物，通过使其在中空部内沿x方向移动，在被检查物内部存在金属片时，发出检测信号。在检查部901上设置有按单一方向缠绕的椭圆形的线圈。
对于原有的检针装置，存在的问题是不能正确探知金属品在缝制品中的埋没位置。为此，鉴于这一问题，提出了特许文献1的检针装置(参考特许文献1-实开平5-40895号公报)。
这种检针装置的x方向的检查部内的结构概要图如图13所示。图13的检针装置，在检查部801上配备有用于检测金属片的线圈组810和用于产生固定磁场的磁铁820。
线圈组810是这样构成的，使配置在中间的线圈815、配置在其两侧且缠绕方向与线圈815相反向的两个串连线圈814、816进行并联，三个线圈814、815、816配置在被检查物的移动方向x上。
对应金属片的移动，线圈体810基于磁通密度的变化检测出交链的磁量数的变化率，产生输出电压。
然而，对于原有的检针装置，例如对于在线圈或线圈组附近检测灵敏度是Φ0.5的金属片，那么在线圈或者线圈组远处最多能够检测出Φ1.0的金属片。所以，由于存在于中空部内的金属片位置不同，而检测灵敏度也不同的问题依然存在。
另一方面，如果提高检查部的检测灵敏度，由于整体检查灵敏度提高对于中空部以外的磁场变化也会产生反应，受到外界噪音的影响，在没有异物混入时会产生错误检测的问题。
发明内容
本发明是鉴于以上问题点而提出的技术方案，其目的是提供一种在进行异物检测时，防止出现检测灵敏度因存在于中空部内的金属片的位置而产生的差异，同时，实现提高耐噪音性、不受中空部以外外界噪音影响的检针装置。
本方案1所述的检针装置，其特征在于使被检查物通过位于检查部中央的中空部而构成的检针装置，具备配置在所述检查部上的第1线圈组；夹住所述中空部配置在与所述第1线圈组相反一侧的直流磁场发生部；以及配置在该直流磁场发生部的第2线圈组。
本方案2所述的检针装置，其特征在于在本方案1所记载的检针装置中，第1线圈组和第2线圈组在被检查物的移动方向上，各自至少配备2个线圈。
本方案3所述的检针装置，其特征在于在本方案2中所记载的检针装置中，直流磁场发生部部由对应于各线圈的另外的永磁体构成。
本方案4所述的检针装置，其特征在于在本方案1～3中任一项所记载的检针装置中，直流磁场发生部由相互具有所定间隙、在与被检查物移动方向垂直的方向上排列的永磁体构成。
本方案5所述的检针装置，其特征在于在本方案1～4中任一项所记载的检针装置中，在夹着第1线圈组和第2线圈组、与直流磁场发生部相反的一侧，配置能产生与该直流磁场发生部产生的静磁场的方向相同的静磁场的第2直流磁场发生部。
本发明的检针装置，因为存在于中空部远离线圈组的位置情况下交链磁通量增大，在中空部内金属片存在时与金属片不存在时磁通量的变化也增大，所以可以提高检测灵敏度并提高抗噪性。
采用本方案1的发明所述的检针装置，使被检查物通过位于检查部中央的中空部而构成，具备配置在所述检查部上的第1线圈组、夹住所述中空部配置在与所述第1线圈组相反一侧的直流磁场发生部、以及配置在该直流磁场发生部的第2线圈组，所以存在于中空部中远离线圈组的位置情况下交链磁通量增大，在中空部内金属片存在时与金属片不存在时磁通量的变化也增大，从而可以提高检测灵敏度并提高抗噪性。
采用本方案2的发明所述的检针装置，除了具有本方案1所记载的检针装置的效果外，由于第1线圈组和第2线圈组在被检查物的移动方向上，各自至少配备2个线圈，所以，能够抵消因外界干扰噪音导致的磁通量变化，从而实现优异的抗噪效果。
采用本方案3的发明所述的检针装置，除了具有本方案2所记载的检针装置的效果外，由于直流磁场发生部由对应于各线圈的另外的永磁体构成，所以，具有能够防止直流磁场发生部的折断、损伤的效果。
采用本方案4的发明所述的检针装置，除了具有本方案1～3任何一项所记载的检针装置的效果外，由于直流磁场发生部由相互具有所定间隙、在与被检查物移动方向垂直的方向上排列的永磁体构成，所以，能够在该垂直方向上得到均匀的检测磁通量，从而具有能够防止检测误差的效果。
采用本方案5的发明所述的检针装置，除了具有本方案1～4任何一项所记载的检针装置的效果外，由于在夹着第1线圈组和第2线圈组、与直流磁场发生部相反的一侧，配置能产生与该直流磁场发生部产生的静磁场的方向相同的静磁场的第2直流磁场发生部，所以，能够减少泄漏磁通量，从而能够进一步提高检测灵敏度。
图1是表示本发明所述检针装置的立体图。
图2是表示第1实施例的检针装置的检查部内部线圈配置的示意图。
图3是上述实施例的检针装置的检查部上侧支架的破碎截面图。
图4是上述实施例的检针装置的检查部的线圈组的列状配置的俯视图。
图5是上述实施例的检针装置的检查部的电路概略结构图。
图6是上述实施例的检针装置中表示检测输出波形的图。
图7是从上方看到的第2实施例的检针装置的线圈配置的俯视图。
图8是表示第2实施例的检针装置的检查部内部的线圈配置的示意图。
图9是表示第2实施例的检针装置的检查部内部的直流磁场发生部和线圈组的配置俯视图。
图10是第2实施例的检针装置根据线圈组之间的高度的检测灵敏度的曲线图。
图11是表示第2实施例的检针装置的线圈组与被检查物的移动方向的关系的俯视图，图11(a)是表示与被检查物的移动方向x平行配置的线圈组的图，图11(b)是表示相对于被检查物的移动方向x斜倾配置的线圈组的图。
图12是从上方看到的原有检针装置的示意图。
图13是表示原有检针装置的检查部内部的线圈配置结构例的示意念图。
图中1-检查部，2-中空部，10、210-第1线圈组，11、12、13、211、212-铁芯，14、15、15、214、215-线圈，20、220-直流磁场发生部，30、230-第2线圈组，34、35、36、234、235、236-线圈，40、240-第2直流磁场发生部，50-传送带，100、200-检针装置，A、B-支架。
具体实施例方式
以下，利用附图对用于实施本发明的优选方式进行说明，但在不超出本发明宗旨的限度之内，本发明并不仅限于以下所述实施例。
(实施例1)图1表示本发明所述检针装置的外观形状示例之一的立体图。图1中，x轴表示被检查物的移动方向，y轴表示与被检查物的移动方向正交方向的中空部2的宽度方向，z轴表示中空部2的高度方向。
如图1所示，检针装置100为使传送带50通过设置在检查部1上的中空部2内部的结构，通过将被检查物承载于该传送带50上并使其在中空部2内移动，被检查物内存在金属片时，就会发出检测信号。
图2是本实施形式的检针装置100的检查部2内部线圈的配置示意图。
如图2所示，检查部1由构成中空部上侧的支架A和构成中空部下侧的支架B组成，并做成在中央具有中空部2的框形状。在支架A上，其内部安装有直流磁场发生部40，第1线圈组10设置成与直流磁场发生部40的中空部一侧接触。
另一方，在支架B上，其内部安装有直流磁场发生部20，第2线圈组30设置成与直流磁场发生部40的中空部一侧接触。
第1线圈组10由三个缠绕成圆筒状的、分别有铁芯11、12、13的线圈14、15、16构成，在平行于被检查物的移动方向x上配置。由于线圈组10、30是由小型的线圈构成，所以容易制造，能够将制造成本抑制得很抵。
线圈15配置在第2直流磁场发生部40的x方向的中央部位置，比配置在其两侧的线圈14、16直径要大。而且，在中央配置的线圈15与两侧配置的线圈14、16，以缠绕方向相互逆向的方式缠绕形成。
另外，这三个线圈14、15、16的顶面，位于同一平面上。第1线圈组10和第2直流磁场发生部40，以收放进原有检针装置的支架A那么大的尺寸进行配置。
第2线圈组30具备与第1线圈组10的结构一样的线圈34、35、36。第2线圈组30和第2直流磁场发生部20，以收放进原有检针装置的支架B那么大的尺寸进行配置。
第1线圈组10和第2线圈组30采用将线圈14、15、16和线圈34、35、36以把中空部2夹在中间的对峙方式配置。而且第1线圈体10的铁芯11和第2线圈体30的铁芯31配置成同心状，另外，铁芯12和铁芯32也配置成同心状。
并且，铁芯13和铁芯33也配置成同心状。因此，第1线圈组10和第2线圈组30间通过的磁通量呈现直线状。
图3是检针装置100的检查部1上侧破碎支架的断面图。直流磁场发生部40，如图3所示，在与被检查物移动方向相垂直的y方向上，由形成一体的板状永磁体构成。
图4是表示检针装置100的检查部1内部线圈组10列状配置的俯视图。在直流磁场发生部40的中空部一侧，如图4所示，与被检查物的移动方向x平行配置的线圈14、15、16以规定间隔，在与被检查物相垂直的方向y上呈多列状排布。
另一方面，直流磁场发生部20由永磁体制成，具有与由相同永磁体制成的直流磁场发生部40的板厚相同的板厚。
另外，直流磁场发生部20以及40采用共同的同极性方式配置，即，与基于通过第1线圈组10的直流磁场发生部20的静磁场相同的方向，配置发生静磁场的第2直流磁场发生部40。
在直流磁场发生部20的中空部一侧，与直流磁场发生部40一样，第2线圈组30的构成要素线圈34、35、36在与被检查物移动方向相垂直的方向y上呈多列状排布。
再有，第1线圈组10和第2线圈组30在直行方向y上也夹住中空部2，各自的线圈相互对峙，并且相互对峙的线圈的各自铁芯以同心状配置。
其次，图5是检针装置100的检查部1的电路概略示意图。图5显示的是用于合成第1线圈组10的输出电压的电路结构。另外，第2线圈组30的电路结构与第1线圈组10的电路结构相同。
对于第1线圈组10，如图5所示，在线圈15两侧配置的线圈14和16串联连接，与在x方向上位于第2直流磁场发生部40中央部的线圈15并联连接。
线圈14以及线圈16串连连接的输出电压与线圈15的输出电压叠加之后，经过图中未示出的前置放大器放大，产生检测输出。由于在y方向存在多个线圈组，所以这些信号同时被放大，产生检测输出。
这样，能够得到由多个第1线圈组10产生的在y方向的多个检测输出。还有，由于多个第2线圈组30也采用同样的结构，从而可以获得多个检测输出。
由前置放大器暂时放大的各检测输出，通过其后的各自的后置放大器(图中未显示)输入中央处理装置(图中未显示)被软处理。软处理在判别出外界干扰的检测输出和真正的检输出之后，设定适当的阈值，从超过该阈值的输出获得检测信号，这样可以除去噪音的干扰。
这种判断在多数检测信号整体变化时，可以判断为来自外部干扰的检测输出。与此相对，在特定的检测信号发生变化时，可以判断为真正的检测输出。
图6是表示第1线圈组10的检测输出波形的波形图。另外，检测输出虽然是来自线圈15的输出电压和来自线圈14以及线圈16的输出电压叠加之后的输出，但为了便于说明，图中表示的是叠加之前的输出电压。
这样，各自的输出电压形成3个峰值。另外，口径大的线圈15的输出电压比线圈14以及线圈16串联连接的输出电压高。由此，在上述的线圈14以及线圈16串联连接的输出电压与线圈15的输出电压叠加之后的输出电压中，能够根据设定的检测阈值，检测金属片。
另外，在有外界干扰噪音的场合，由于通过中空部2的磁通量速度比输送带的速度要快，所以，配置在其两侧的线圈14以及线圈15的波形的周期变短。因此，在有外界干扰噪音的场合，线圈14以及线圈16串联连接的输出电压与线圈15的输出电压叠加之后的输出电压变低，低于检测阈值。
与此相对，在被检查物中混入异物的场合，与输送带的速度成比例，三个信号依次分别输出，三个线圈的输出电压的叠加输出并不降低，仍在检测阈值以上。因此可以防止由于外界干扰引起的误操作。另外，第2线圈组30的检测输出的波形与第1线圈组10的检测输出波形相同。
采用该检针装置100，由于第1线圈组10和第2线圈组30把中空部2对峙夹住，并且，将对峙的各自铁芯配置成同心状，使得通过第1线圈组10和第2线圈组30的磁通量为直线形状，所以，直流磁场发生部20侧的检测灵敏度与第1线圈组10侧的检测灵敏度相同，从而具有均匀的检测能力，能够防止因为在中空部高度方向z金属片的存在位置而对检测灵敏度产生差异。
由于在夹住第1线圈组10以及第2线圈组30且与直流磁场发生部20相反一侧，配置了第2直流磁场发生部40，该第2直流磁场发生部40产生与通过第1线圈组10的第2直流磁场发生部20的静磁场方向相同的静磁场，所以，磁通量的泄漏明显减少，通过第1线圈组10以及第2线圈组30的磁通量增大，进一步提高了检测灵敏度。
并且，第1线圈组10以及第2线圈组30，由于各线圈以所定间隔在与被检查物移动方向垂直的y方向上排列，在与被检查物移动方向垂直的y方向上夹住中空部2配置，所以，在与被检查物移动方向相垂直方向y上的中空部2内部的磁通量变得均匀，从而能够防止检测误差。
第1线圈组10和第2线圈组30，由于相互对峙的最外表面都位于同一平面上，所以增加了通过第1线圈组10或者第2线圈组30磁通量，即提高了通过第1线圈组10或者第2线圈组30的磁通量密度，所以，能够应对金属片在远离线圈组10、30的平面上通过的情况。
另外，第1线圈组10和第2直流磁场发生部40及第2线圈组30和第1直流磁场发生部20，由于配置成可以收入原有检针装置中的支架A及B，所以也可以利用原来的检针装置，有选择地设置线圈组、直流磁场发生部，具有易于维护、更新等优点。
并且，在特定的检测输出发生变化的场合，由于可以确定检测输出是从哪个线圈组发出的，从而可以确定中空部内部的金属片的位置。
另外，在上述实施例中，作为第1线圈组10或者第2线圈组30的构成要素的每个线圈14、15、16或者34、35、36，虽然设定成接触直流磁场发生部40或者20，但并不限定于此。
例如，也可以设定成使直流磁场发生部40或者20在移动方向x上较短，仅使中央的线圈15或30接触直流磁场发生部40或20。另外，直流磁场发生部40或20，可以不采用一体成形的永磁体，也可以使用小型的永磁体的组合。
实施例2以下，参照图7～11对另一实施例进行说明。第2实施例的检针装置200配备有线圈组210、直流磁场发生部240、第2线圈组230、和第2直流磁场发生部240。另外，对于与图1对应的部分给与相同的参照符号。
图7是从上方所见的检针装置200的线圈配置的示意图。如图7所示，检针装置200相对于被检查物移动方向x，倾斜配置线圈组210以及直流磁场发生部240，在直流磁场发生部240的磁通量与被检查物移动方向x之间，通过设定“角度”而使检测信号变大。
图8是检针装置200的检查部内部的线圈配置示意图。在支架A上，如图8所示，在其内部设置有直流磁场发生部240，使线圈组210接触直流磁场发生部240的中空部一侧。
在支架B上，在内部设置有直流磁场发生部220，使线圈组230接触直流磁场发生部220的中空部一侧。线圈组210、230采用夹住中空部2对称配置。
线圈组210具备有铁芯211、212的两个线圈214、215。两个线圈214、215具有相同口径，以相互反向的方式缠绕形成。两个线圈214、215做成相互的顶面为同一平面状。
线圈组230具备有铁芯231、232的两个线圈234、235。两个线圈234、235采用与线圈组210同样的构成，各线圈配置成夹住中空部2为同心状。
直流磁场发生部220由与线圈234、235各自对应的单体小型同规格的永磁体221、222组合而成。永磁体221在尺寸和形状上最大限度对应线圈234。同样，永磁体222在尺寸和形状上最大限度对应线圈235。
直流磁场发生部240，由与永磁体221、222相同形状、相同大小、单体的永磁体241、242构成，其顶面也位于同一平面上，按照其产生的静磁场与直流磁场发生部220的静磁场方向一致的要求将直流磁场发生部240配置在支架A上。与直流磁场发生部220同样，永磁体241和242在尺寸和形状上最大限度地对应线圈214、215。
图9(a)是表示检针装置200的支架A的直流磁场发生部240以及线圈组210的配置俯视图。图9(b)是检针装置200的支架B的直流磁场发生部230及线圈组220的配置俯视图。
这里，线圈体230和直流磁场发生部220的组合、以及线圈体230和直流磁场发生部240的组合，都相对移动方向X倾斜配置，以便在被检查物的移动方向X上具有所定“角度”。
如图9(a)所示，直流磁场发生部240，在被检查物移动方向x上具有所定间隙，而且倾斜配置永磁体241、242。线圈214、215也与各永磁体241、242一起，在被检查物移动方向x上为同一倾斜方向。线圈214、215夹住中空部2与线圈234、242为同心状配置。
直流磁场发生部240，其配置在x方向上的永磁体241、242，在与被检查物移动方向相垂直的y方向上相互之间按照所定间隙排列。y方向的所定间隙比x方向的永磁体241、242的所定间隙要小。永磁体241、242上也设置有线圈214、215。
如图9(b)所示，直流磁场发生部220，其各永磁体221、222在被检查物的移动方向x上相互存在所定间隙，而且倾斜配置。该倾斜方向，与夹着中空部而配置的直流磁场发生部240的方向相同。线圈234、235也与各永磁体221、222与一起，在被检查物的移动方向x上具有s所定间隙，且倾斜配置。
另外，直流磁场发生部220，由在与被检查物移动方向相垂直的y方向上相互之间按照所定间隙排列配置在x方向上的永磁体221、222而构成。在排列的永磁体221、222上也配置了线圈234、235。另外，永磁体221、222和线圈234、235的配置，无论在x方向还是y方向，都配置成与线圈234、235对应的线圈214、215呈同心状。
如上所述，采用检针装置200，由于具备配置在检查部1上的线圈组210、夹住中空部2配置在与线圈组210相反一侧的直流磁场发生部220、以及配置在该直流磁场发生部220的线圈组230，所以，在中空部2远离线圈组210的位置上存在金属片的情况下，交链磁通量数提高，检测能力也提高，并能保持整体的均一性。
由于能够增大在中空部2中金属片存在时和不存在时磁通量的变化，因金属片的检测电压(反应电压)变大，从而可以提高异物的检测灵敏度。结果，与外界干扰噪音的差变大，相对地的提高了抗噪性能。
对于这点，参照图10给予详细说明。图10是表示传送带50在中空部2的下方通过时，用于进行检针装置200与如图13所示的原有装置在中空部内z方向的位置上铁球的检测比较的实验结果，是表示两者的检测灵敏度的曲线图。
图10所示的曲线图的x轴表示距离传送带50的带表面的通过高度。原点表示金属片通过支架B附近的传送带面上的情况，x轴右端表示金属片通过支架A附近的情况。曲线图中的y轴表示相应的检测电压的大小。
图10是使用铁球的示范例。实际的检查对象(异物)是缝纫等折断的针。由永磁体产生的磁场，根据其形状产生一定程度的直线形，因断针在移动时的姿态产而生交链磁通量的差异。
比如，断针移动时的姿态保持在z方向时交链磁通量最大，其姿态在x方向上时交链磁通量比较大，其姿势在y方向时交链磁通量就最小。因为这个差异比较大，所以用来表现铁球的性能。
根据图10，在Φ1.0的金属片通过处于中空部远离支架A的位置的支架B附近时，即该金属片通过传送带的上边时，相应于采用原有装置时为检测电压E0的反应，采用检针装置200时为检测电压E1的反应。
对两者进行比较的话，E1＞E0，且E1/E0＝9～9.36。所以，采用检针装置200，在原有装置不能检测的远离支架A的位置上的交链磁通量升高，检测能力提高。
另外，在支架A附近，检针装置200的检测电压E3比原有装置的检测电压E4大，即E3＞E4。该检测电压E3为与靠近支架B的检测电压E1基本相同或稍大一点的值，最大值为Emax。换而言之，检针装置200的检测电压最大值Emax＝E3，比原有装置的最大值Emax＝E4要大得多。
同样，对于最小值，检针装置200的检测电压的最小值Emin(图中未显示)也比原有装置的检测电压的最小值Emin＝E0要大得多。
因此，整体的检测能力得到了提高。能够增大中空部2中金属片存在时和不存在时的磁通量变化。因为可以增大磁通量的变化，所以提高了检测的灵敏度。
这一结果，提高了与外界干扰噪音的差异，相对地提高了抗噪性能。因而检针装置200可以容易且可靠地进行金属片的检测。
这里，定义传送带面上的通过高度方向z的检测电压的最大值Emax和最小值Emin之差ΔE表示检测倍率，该差值ΔE越小，金属片的检测越容易。
将检针装置200和原有装置的ΔE进行比较，原有装置的检测倍率为ΔE0＝E4/E0＝6.00，而检针装置200的检测倍率为ΔE1＝E3/Emin＝1.95～2.25。由于ΔE1＜ΔE0，这表明检针装置200的检测倍率值ΔE1比原有装置的检测倍率ΔE1的值要小。
因此，采用检针装置200，能够进一步使金属片的检测容易且可靠地进行。
以下进一步对为小尺寸铁球的Φ0.8的金属片在传送带面上通过时进行说明。在此情况下的检针装置200的检测电压E2比E1的值要低，比原有装置中Φ1.0时的检测电压E0的值要高。表示该比值的E2/E0＝5.16～5.4。
这种情况的Emin比原有装置的最小值E0仍然大很多，检测倍率ΔE2为2.11～2.21。ΔE2＜ΔE0，对于Φ0.8的金属片的检测而言，比原来装置要优秀。
所以，采用检针装置200，对于小到Φ0.8的金属片仍然能得到比原有装置的Φ1.0的金属片通过时的检测电压E0更高的检测电压E2，可以可靠地检测到Φ0.8的金属片。采用检针装置200，与Φ1.0的金属片情况一样，能够容易且可靠地进行Φ0.8的金属片的检测。
另外，采用检针装置200，由于线圈组210和线圈组230各自在被检查物的移动方向x上配备两个线圈214、215及234、235，从而能够抵消外部干扰的噪音引起的磁通量的变化，进一步提高抗噪性能。针对此点进行详细说明。
实施例1中概述的检针装置100的线圈组10、30，在移动方向x上配备了三个线圈，通过两侧的线圈分别与中央线圈有间隙并适当分开，从而抵消了通过中空部内速度快时的外界干扰噪音，能够检测该速度慢时的正常检测信号，防止了因外界干扰噪音而引起的错误检测。
但是，从时间上看，可知在移动方向x上配置的线圈间的距离短的装置可以抵消外界干扰的噪音。而且，该线圈间的间距短的话，由于来自中空部之外的外界干扰噪音源侵入时侵入角度变小，能够抵消外界干扰噪音的范围变宽。
另一方面，线圈组的检测灵敏度具有这样的倾向构成线圈组10、30的线圈间的距离越长检测灵敏度变好，线圈间距离越短检测灵敏度变差，即与抗噪性的特性相反的结果。
而且检测灵敏度与线圈口径成比例，线圈口径越大，检测反应的强度也就越大。但是，如果线圈口径增大的化，存在不能被收纳进支架内的物理性制约。
综合考虑这些因素，对于检针装置200来说，为了不扩大线圈口径而得到抗噪性能和检测灵敏度的相互协调，采取了使线圈组210和230在各自移动方向x上整体距离与实施例1相比更短的范围内，在两个线圈之间存在所定间隔的配置方式。
因此，采用检针装置200，能够不降低检测能力，抵消因外界干扰的磁通变化，并具有优异的抗噪性能。
另外，检针装置200是在移动方向x上一体配置了检测部1的检针头一体型检针装置，其特征在于，不是使该检针头整体相对于与被检查物的移动方向x倾斜交差地配置，而是使在检查部1内部配置的线圈组210、230(x方向上配置两个线圈)相对于被检查物的移动方向x斜向配置。
关于这一点，参照图11来进行详细说明。图11中，图11(a)表示与被检查物移动方向x平行配置的线圈214、215，图11(b)表示与被检查物移动方向x斜向配置的线圈214、215。
采用检针装置200，如图11(b)所示，由于线圈214、215配置成相对于移动方向x有规定角度θ，因这个角度θ，即使例如断针在移动时的姿态与x方向或者y方向平行，也会有角度θ这么大的倾斜，因而交链磁通量有增加的趋势，这样，由于检测反应也增大，因此检测灵敏度上升。
另外，采用检针装置200，线圈组210、230，因为在检查部1内部x方向上组合配置的小型线圈在y轴方向也复数配置，尽管受到检测带宽度的制约，仍可能增大与移动方向x所成的角度θ(参考图7、9)。
也就是说，对于图12所示的原有的检针装置900，检测头内部的线圈910是长椭圆型，即使按照在图12中所示的虚线倾斜配置，这一倾斜角度会受到检测头901的宽度限制，而对于检针装置200来说就不存在这样的问题。
另外，采用检针装置200，由于直流磁场发生部220和240由对应于各线圈234、235及214、215的单体永磁体构成，特别安装了对应于永磁体221、222或241、242的线圈234、235或214、215的线圈，可以防止直流磁场发生部220及240的折断和损坏。
另外，直流磁场发生部220、240，由于使对应各线圈的永磁体221、222或者241、242，在x方向和y方向都按照相互间所定间隔排列，所以，不易受到相邻的磁通量的变化的影响。
在y方向上各线圈按照所设定的间隔排列，不易受到相邻磁通量变化的影响，能够确定在y方向上混入异物的地点。
由于在x轴的设定的间隙比y方向上设定的间隙要大，混入有异物的被检查物在x方向移动时，传动带的移动速度与外界干扰噪音通过速度之差，正负2波的检测电压错开时间输出，中央处理装置将负的第2波进行反转处理，因而可以检测异物。另外，由于使小型永磁体按照所定间隔配置，所以，直流磁场发生部220、240的制造很容易，从而能够将成本抑制得很低。
还有，在上述的实施例中，使线圈组夹住中空部而上下配置，但也可以夹住中空部而左右配置。另外，在实施例中，使线圈组与直流磁场发生部两者夹住中空部而在两边设置，但也可一边是线圈组和直流发生部，另一边只有线圈组。
另外，两个直流磁场发生部的N极和S极，夹着中空部的极性统一成同一极性的话即可，并不仅仅限定于图2、8所示的直流磁场发生部20、40或者220、240的极性。与图2、8相反在z方向下边为N极、上边为S极的排列也可以。
另外，在上述实施例中，作为线圈组构成要素的两个线圈在x方向存在所定间隙而配置，但并不限定于此，也可以做成相互接触的连续配置。此时，消除噪音的效果更大。
同样，在实施例2中，直流磁场发生部配置成单体的永磁体在x方向具有所定间隙，但并不限定于此，例如，也可以使单体的永磁体相互接触而在x方向连续。
另外，在上述实施例中，对z方向的配置来说，虽然采用相对于中空部的大致中央呈上下对称的配置，但并不局限于此。比如，也可以是支架的位置保持不变，像穿了“木屐”似的配置在支架上，以使在一方支架内设置的线圈体及直流磁场发生部的位置，比在另一方支架内的位置更靠近中空部一侧。
本发明通过使要检测是否混入了金属的物品在所定方向移动，利用混入这些物品中的金属片对磁场的干扰，可以检测混入的金属片，同时，能够应用于不受外界干扰的左右、要求金属以外的物品通过的所有产业领域。
权利要求
1.一种检针装置，使被检查物通过位于检查部中央的中空部而构成，其特征在于，具备配置在所述检查部上的第1线圈组；夹住所述中空部配置在与所述第1线圈组相反一侧的直流磁场发生部；配置在该直流磁场发生部的第2线圈组。
2.根据权利要求1所述的检针装置，其特征在于第1线圈组和第2线圈组在被检查物的移动方向上，各自至少配备2个线圈。
3.根据权利要求2所述的检针装置，其特征在于直流磁场发生部由对应于各线圈的单体的永磁体构成。
4.根据权利要求1～3任何一项所述的检针装置，其特征在于直流磁场发生部由相互具有所定间隙、在与被检查物移动方向垂直的方向上排列的永磁体构成。
5.根据权利要求1～4任何一项所述的检针装置，其特征在于在夹住第1线圈组和第2线圈组、与直流磁场发生部相反的一侧，配置能产生与该直流磁场发生部产生的静磁场的方向相同的静磁场的第2直流磁场发生部。
全文摘要
本发明涉及用于检测缝纫制品等的检针装置。提供一种在进行异物检测时，防止因存在于中空部内金属片的位置而对检测灵敏度产生差异，同时，提高了抗干扰性，不受中空部以外外界噪音影响的检针装置。这种使被检查物通过位于检查部(1)中央的中空部(2)的检针装置(100)具有配置在检查部(1)而成的第1线圈组(10)、夹住中空部(2)配置在与第1线圈组(10)相反一侧的直流磁场发生部(20)、以及配置在直流磁场发生部(20)上而成的第2线圈组(30)。
文档编号G01V3/10GK1749779SQ20051006625
公开日2006年3月22日 申请日期2005年4月25日 优先权日2004年9月14日
发明者日比野明男 申请人:株式会社羽岛