多工位光闸测试方法

文档序号:6129580阅读:269来源:国知局
专利名称:多工位光闸测试方法
多工位光闸测试方法
技术领域
本发明涉及一种大批量测试光闸的多工位光闸测试方法。背景技术
现有激光器等设备中, 一般都设置有一个或多个光闸,以控制光路的通断,满足一个激光设备中有多种光路的选择,而现有光闸的使用过程中,经常因其性能不好,而影响整个激光设备的光路的选择。
光闸长时间使用时,会老化等问题,并在徼光设备高速等情况下,光闸会坚持不了多久就会毁坏,而这些需要在检测的情况下才能检测的出来。故需要提供一种检测光闸的方法,以克服上述问题。

发明内容
本发明所欲解决的技术问题在于提供对光闸进行老化测试、破坏性测试及变速测试等测试需求的一种多工位光闸测试方法。
本发明所采用的技术方案提供一种多工位光闸测试方法,用于测试多个光闸,通过PLC控制器控制,测试光闸,该方法包括如下步骤
第一步系统初始化;
第二步等待命令;
第三步根据控制面板的指令,检测光闸摆动速度是否为默认初始状态;第四步如果光闸摆动速度为默认初始状态,则工位默认;第五步检测光闸摆动速度是否改变;
第六步如果光闸摆动速度没有改变,则继续保持光闸摆动速度的默认初始状态,并检测测试开关是否置位TEST档;
第七步如果光闸置位TEST档,检测光闸是否有故障,即PLC控制
器确定其发出的控制信号与光闸摆动所反馈的到位信号的时间间隔是否小
于或等于预设值;
第八步如果两个信号时间间隔小于或等于预设值,则光闸无故障,PLC控制器检测是否收到终止检测信号;
第九步如果没有收到,则返回到第二步循环检测;如果收到,则停止
对光闸进行检测。
本发明实现光闸到位检测和故障检测,光闸老化过程中,如果有光闸出现过一次动作不正常,即被记录,自动停止该光闸动作并出现该工位异常标志,实现无人化自动化,且本发明操作简便,上电即可工作,操作简
单易懂。


图1为本发明多工位光闸测试装置的示意图;图2为图1所示多工位光闸测试的流程示意图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明。请参阅图1和图2,为本发明多工位光闸测试装置l的示意图,本测试装置1用于测试光闸10的到位检测及故障检测,包括容置20只光闸10的测试工位20 (当然根据实际需要,可以扩展到40只光闸或更多只光闸)、与每只-光闸20分别连接的电路板30、与该电路板30连接的PLC控制器40及由该PLC控制40控制的控制面板50,其中,光闸20与电路板30通过一线缆60连接,并给光闸20提供电力供应,以及控制光闸10摆动信号,并传回光闸10的到位信息;电路板30用于反馈信号转换成PLC控制器40可识别的信号,并提供驱动光闸10动作信号;PLC控制器40自动判断光闸10是否故障,通过编程实现各种逻辑功能,且电路板30与PLC控制40通过一控制线70连接,该控制线70用来传输光闸10实时状态及驱动光闸10信号;控制面板50上设有多个按键,分别为ON/OFF、停止/TEST、速度/选择、增加/减少及复位/确定,其中ON与OFF、停止与TEST、速度与选择分别位于同一个按钮上,这些按键直接与PLC控制器40相连,并通过PLC编程来定义功能,及调整参数。
本发明多工位光闸测试方法为一个循环检测光闸10的到位检测及故障检测,需要超长时间测试, 一般为48个小时(根据实际需要,也可适当延长和缩短测试的时间),当然为了满足特殊需要,如破坏性测试,看极端速度下,光闸10可以坚持多久后毁坏,具体检测方法下面将详细论述。
第一步系统初始化81,光闸IO摆动时间范围给一个常用的预设值,如果时间间隔小于或等于该预设值,则光闸10无故障;如果时间间隔多于这个预设值,就判定为"问题"光闸,会报警,达到了检验老化的目的。第二步等待控制面板50命令82,即启动ON。
第三步根据控制面板50的指令,检测光闸IO摆动速度是否为默认初始状态83。
第四步如果光闸摆动速度为默认初始状态,工位默认84, g卩默认
选择所有20个工位,测试20只光闸,因为速度与选择位于同一按钮上,一般默认初始状态为测试光闸10的摆动速度,表明检测所有的光闸10,当然如果不是速度,表明选择光闸的个数及位置。
第五步检测光闸摆动速度是否改变,即检测增加减少按钮是否按下85,即调速。
第六步如果光闸摆动速度没有改变,则继续保持光闸IO摆动速度的默认初始状态,并检测控制面板的测试开关是否置位TEST档86,开始检测光闸10。
第七步如果测试开关置位TEST档,检测光闸是否有故障87,即PLC控制器40判断其发出的控制信号与光闸10摆动时反馈的到位信号,两个信号时间间隔是否小于或等于预设值,即默认的初始范围,如果两个信号时间间隔大于预设值,就判定为"问题"光闸,会报错,达到检验光闸老化的目的,同时自动停止该光闸动作并出现该工位异常标志,实现无人化自动化。
第八步如果两个信号时间间隔小于或等于预设值,则光闸无故障,PLC控制器检测是否收到终止检测信号,及检测自动手动按钮是否按下88。
第九步如果没有收到,即没有按下自动手动按钮,则返回到第二步循环检测;如果收到,则停止对光闸进行检测,即结束89。
其中当第三步控制面板50不是默认测试光闸摆动速度,则对光闸10工位的个数及位置进行选择确认,即选择光闸,通过控制增加或减少按钮90,记忆选择光闸91,并控制复位/确定92,接着进行第五步。
其中当第六步中,如果光闸摆动速度改变,则光闸以改变后的摆动速度进行摆动,即光闸摆动速度太慢或太快时,控制控制面板的增加或减少按钮85,来调速93,并同时测试光闸IO在不同速度时,光闸10的摆动是否有故障,而且还为了满足特殊需要,如破坏性测试,看极端速度下,光闸IO可以检测多久后毁坏。
其中当第八步检测光闸有故障,即检测两个信号时间间隔大于预设值,则光闸有故障;接着相对放宽限制,即增加预设值,再次确认故障,并纪录该次故障94;故障再次确认,则停止检测,记录完故障后,并停止摆动报错95,回到第二步循环检测。
本发明实现光闸到位检测和故障检测,光闸老化过程中,如果有光闸出现过一次动作不正常,即被记录,自动停止该光闸动作并出现该工位异 常标志,实现无人化自动化,且本发明操作简便,上电即可工作,操作简
单易懂。
权利要求
1. 一种多工位光闸测试方法,用于测试多个光闸,其特征在于,通过PLC控制器控制,测试光闸,该方法包括如下步骤第一步系统初始化;第二步等待命令;第三步根据指令,检测光闸摆动速度是否为默认初始状态;第四步如果光闸摆动速度为默认初始状态,则工位默认;第五步检测光闸摆动速度是否改变;第六步如果光闸摆动速度没有改变,则继续保持光闸摆动速度的默认初始状态,并检测测试开关是否置位TEST档;第七步如果测试开关置位TEST档,检测光闸是否有故障,即PLC控制器确定其发出的控制信号与光闸摆动所反馈的到位信号的时间间隔是否小于或等于预设值;第八步如果两个信号时间间隔小于或等于预设值,则光闸无故障,PLC控制器检测是否收到终止检测信号;第九步如果没有收到,则返回到第二步循环检测;如果收到,则停止对光闸进行检测。
2. 如权利要求1所述的多工位光闸测试方法,其特征在于,第三步中进一歩包括如果光闸摆动速度不为默认初始状态,则对光闸工位的个 数及位置进行选择确认。
3. 如权利要求1所述的多工位光闸测试方法,其特征在于,第六步中进 一步包括如果光闸摆动速度改变,则光闸以改变后的摆动速度进行 摆动。
4. 如权利要求l所述的多工位光闸测试方法,其特征在于,第八步中进 一步包括如果两个信号时间间隔大于预设值,则光闸有故障;增加 预设值,再次确认并记录该次故障;故障再次确认,则停止检测,并 停止摆动报错。
全文摘要
本发明提供对光闸进行老化测试、破坏性测试及变速测试等测试需求的一种多工位光闸测试方法,用于测试多个光闸,通过PLC控制器控制,测试光闸,主要通过检测光闸是否有故障,即PLC控制器确定其发出的控制信号与光闸摆动所反馈的到位信号的时间间隔是否小于或等于预设值,如果两个信号时间间隔小于或等于预设值,则光闸无故障,如果两个信号时间间隔大于预设值,则光闸有故障,达到检测的目的。本发明实现光闸到位检测和故障检测,光闸老化过程中,如果有光闸出现过一次动作不正常,即被记录,自动停止该光闸动作并出现该工位异常标志,实现无人化自动化,且本发明操作简便,上电即可工作,操作简单易懂。
文档编号G01M11/00GK101464207SQ20071012508
公开日2009年6月24日 申请日期2007年12月18日 优先权日2007年12月18日
发明者义 张, 梁云峰, 高云峰 申请人:深圳市大族激光科技股份有限公司
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