专利名称：印制线路板生产用NaPS微蚀液的分析方法
技术领域：
本发明涉及溶液分析领域，尤其是一种印制线路板生产用NaPS微蚀液的分析方 法。
背景技术：
在印制线路板(PCB)的生产过程中，许多工序要对印制板图形表面进行微蚀处 理。在NaPS微蚀液的配方中，NaPS的含量高低对微蚀速率影响很大，直接影响产品的加工 质量。因此，必须找到一种分析准确的方法来测定槽液中NaPS的含量。
发明内容
本发明提供了一种印制线路板生产用NaPS微蚀液的分析方法，可有效分析出印 制线路板生产用NaPS微蚀液中NaPS的含量高低。本发明为了解决其技术问题所采用的技术方案是一种印制线路板生产用NaPS微蚀液的分析方法，按如下步骤进行a.移取1ml微蚀液置于250ml锥形瓶中，加入50ml去离子(DI)水、5ml浓度20% 的H2S04和30ml0. 1M的EDTA溶液(GBZ3-2002职业性慢性锰中毒诊断标准，附录B，B2. 2试 剂中摘录0. 1M的EDTA溶液依地酸钠(EDTA-2Na) 3. 7g溶于蒸馏水100ml)，再加入3 5gKI后摇勻，放暗处存放15min ；b.用0. IN Na2S203标准溶液滴定至谈黄色时，加入2ml浓度1 %的淀粉溶液后呈 蓝色，继续用0. IN Na2S203 #准溶液滴定至蓝色消失为止，记录0. IN Na2S203标准溶液消耗 的体积(ml)；c.通过如下公式计算出微蚀液中NaPS的含量NaPS (g/L) = 119XNXV，其中:N为Na2S203标准溶液的当量浓度数；V为Na2S203标准溶液消耗的体积(ml)。本发明的有益效果是本发明在NaPS与KI反应之前，用EDTA与Cu2+络合，从而 克服了分析时印制线路板生产用NaPS微蚀液中Cu2+的干扰，NaPS与KI反应后产生12，用 Na2S203滴定12，从而测定NaPS含量，本发明所用分析方法简便，又消除了 Cu2+对分析结果的 影响，使分析结果真实准确。
具体实施例方式实施例一种印制线路板生产用NaPS微蚀液的分析方法，按如下步骤进行a.移取1ml微蚀液置于250ml锥形瓶中，加入50ml去离子(DI)水、5ml浓度20% 的H2S04和30ml0. 1M的EDTA溶液(GBZ3-2002职业性慢性锰中毒诊断标准，附录B，B2. 2试 剂中摘录0. 1M的EDTA溶液依地酸钠(EDTA-2Na) 3. 7g溶于蒸馏水100ml)，再加入3 5g KI后摇勻，放暗处存放15min ；
b.用0. IN Na2S2O3标准溶液滴定至谈黄色时，加入2ml浓度1 %的淀粉溶液后呈 蓝色，继续用0. IN Na2S2O3S准溶液滴定至蓝色消失为止，记录0. IN Na2S2O3标准溶液消耗 的体积(ml)；c.通过如下公式计算出微蚀液中NaPS的含量NaPS (g/L) = 119 XNX V，其中:N为Na2S2O3标准溶液的当量浓度数(本例为0. 1)；V为Na2S2O3标准溶液消耗的体积(ml)。
本发明的原理分析如下NaPS是氧化剂，它与KI反应产生I2，用Na2S2O3滴定I2，从而测定NaPS含量，上述 方法称为间接碘量法。在PCB生产操作过程中，溶液中会产生Cu2+，而Cu2+也是氧化剂，它 也与KI反应产生Cu2I2和12，从而干扰分析。本发明在NaPS与KI反应之前，用EDTA与Cu2+络合，从而克服了分析时Cu2+的干 扰，使间接碘量法测定印制线路板生产用NaPS微蚀液成为现实。本发明所用分析方法简便，又消除了 Cu2+对分析结果的影响，使分析结果真实准 确。
权利要求
一种印制线路板生产用NaPS微蚀液的分析方法，其特征在于按如下步骤进行a.移取1ml微蚀液置于250ml锥形瓶中，加入50ml去离子(DI)水、5ml浓度20％的H2SO4和30ml0.1M的EDTA溶液，再加入3～5g KI后摇匀，放暗处存放15min；b.用0.1N Na2S2O3标准溶液滴定至谈黄色时，加入2ml浓度1％的淀粉溶液后呈蓝色，继续用0.1N Na2S2O3标准溶液滴定至蓝色消失为止，记录0.1N Na2S2O3标准溶液消耗的体积；c.通过如下公式计算出微蚀液中NaPS的含量NaPS(g/L)＝119×N×V，其中N为Na2S2O3标准溶液的当量浓度数；V为Na2S2O3标准溶液消耗的体积。
全文摘要
本发明公开了一种印制线路板生产用NaPS微蚀液的分析方法，按如下步骤进行a.移取1ml微蚀液置于250ml锥形瓶中，加入50ml去离子(DI)水、5ml浓度20％的H2SO4和30ml0.1M的EDTA溶液，再加入3～5g KI后摇匀，放暗处存放15min；b.用0.1N Na2S2O3标准溶液滴定至谈黄色时，加入2ml浓度1％的淀粉溶液后呈蓝色，继续用0.1N Na2S2O3标准溶液滴定至蓝色消失为止，记录0.1N Na2S2O3标准溶液消耗的体积；c.通过如下公式计算出微蚀液中NaPS的含量NaPS(g/L)＝119×N×V，其中N为Na2S2O3标准溶液的当量浓度数；V为Na2S2O3标准溶液消耗的体积。本发明在NaPS与KI反应之前，用EDTA与Cu2+络合，克服了分析时印制线路板生产用NaPS微蚀液中Cu2+的干扰，NaPS与KI反应后产生I2，用Na2S2O3滴定I2，从而测定NaPS含量，分析方法简便，分析结果真实准确。
文档编号G01N31/16GK101865900SQ20091003062
公开日2010年10月20日 申请日期2009年4月17日 优先权日2009年4月17日
发明者杨雪林 申请人:江苏苏杭电子有限公司